1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Известия РАН. Серия физическая
  4. T. 87, № 10, 2023

Известия РАН. Серия физическая, 2023, T. 87, № 10, стр. 1389-1396

О закономерностях формирования фрактальных структур на поверхности металлических пленок разной толщины

Д. В. Иванов 1, А. С. Антонов 1, Н. Б. Кузьмин 1, Н. Ю. Сдобняков 1, *, М. С. Афанасьев 2, 3

1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Тверской государственный университет”
Тверь, Россия

2 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “МИРЭА – Российский технологический университет”
Москва, Россия

3 Фрязинский филиал Федерального государственного бюджетного учреждения науки “Института радиотехники и электроники имени В.А. Котельникова Российской академии наук”
Фрязино, Россия

* E-mail: nsdobnyakov@mail.ru

Поступила в редакцию 20.04.2023
После доработки 22.05.2023
Принята к публикации 28.06.2023

Аннотация

С помощью сканирующего туннельного микроскопа изучена морфология поверхности наноразмерных пленок меди и никеля на слюде. Определены высотные параметры и значения фрактальной размерности для пленок меди и никеля разной толщины. Указаны характерные размеры структурных агломератов для пленок меди и никеля в зависимости от толщины. Выбор толщины пленки и условий ее получения позволяют формулировать рекомендации по развитию технологии “выращивания” структур с заданной морфологией поверхности.

Список литературы

  1. Mwema F.M., Akinlabi E.T., Oladijo O.P. et al. // In: Modern manufacturing processes. Amsterdam: Elseviers, 2020. P. 13.

  2. Ţălu Ş., Yadav R.P., Mittal A.K. et al. // Opt. Quantum. Electron. 2017. V. 49. No. 7. P. 256.

  3. Nikpasand K., Elahi S.M., Sari A.H., Boochani A. // Mater. Sci. Poland. 2020. V. 38. No. 2. P. 328.

  4. Astinchap B. // Optik (Stuttgart). 2019. V. 178. P. 231.

  5. Martynenko Y.V., Nagel M.Y. // Nanotechnol. Russ. 2009. V. 4. No. 9. Art. No. 612.

  6. Korsukov V.E., Butenko P.N., Kadomtsev A.G. et al. // Nanosyst. Phys. Chem. Math. 2018. V. 9. No. 1. P. 58.

  7. Karbivska L., Karbivskii V., Romansky A. et al. // Proc. 39th ELNANO (Piscataway, 2019). P. 214.

  8. Марков О.И., Хрипунов Ю.В., Емельянов В.М., Жусубалиев Ж.Т. // Изв. ЮЗГУ. Сер. Техн. и технол. 2019. Т. 9. № 1(30). С. 78.

  9. Huang C., Yang C.Z. // Appl. Phys. Lett. 1999. V. 74. No. 12. P. 1692.

  10. Cheng W., Dong S., Wang E. // J. Phys. Chem. B. 2005. V. 109. No. 41. Art. No. 19213.

  11. Сдобняков Н.Ю., Антонов А.С., Иванов Д.В. Морфологические характеристики и фрактальный анализ металлических пленок на диэлектрических поверхностях: монография. Тверь: Тверской гос. ун-т, 2019. 168 с.

  12. Сдобняков Н.Ю., Антонов А.С., Иванов Д.В., Семенова Е.М. // В кн: Перспективные материалы и технологии. Минск: Изд. центр БГУ, 2021. С. 253.

  13. Иванов Д.В., Антонов А.С., Сдобняков Н.Ю. и др. // Физ.-хим. асп. изуч. класт. нанострукт. и наноматер. 2019. № 11. С. 138.

  14. Антонов А.С., Сдобняков Н.Ю., Иванов Д.В. и др. // Хим. физика и мезоскопия. 2017. Т. 19. № 3. С. 473.

  15. Иванов Д.В., Антонов А.С., Сдобняков Н.Ю. и др. // Физ.-хим. асп. изуч. класт. нанострукт. и наноматер. 2018. № 10. С. 291.

  16. Панин А.В, Шунуров А.Р. // Физ. мезомеханика. 2000. Т. 3. № 5. С. 101.

  17. Федер Е. Фракталы. М.: Мир, 1991. 254 с.

  18. Ролдугин В.И. // Усп. хим. 2003. Т. 72. № 10. С. 823.

  19. Самсонов В.М., Кузнецова Ю.В., Дьякова Е.В. // ЖТФ. 2016. Т. 86. № 2. С. 71; Samsonov V.M., Kuznetsova Y.V., D’yakova E.V. // Tech. Phys. 2016. V. 86. No. 2. P. 227.

  20. Иванов Г.С., Брылкин Ю.В. // Геометрия и графика. 2016. Т. 4. № 1. С. 4.

  21. Брылкин Ю.В., Кусов А.Л., Флоров А.В. // Изв. КБГУ. 2014. Т. 4. № 5. С. 86.

  22. Белко А.В., Никитин А.В., Стрекаль Н.Д., Герман А.Е. // Поверхность. Рентген., синхротрон., нейтрон. иссл. 2009. № 5. С. 11.

  23. Wu M.K., Friedlander S.K. // J. Colloid Interface Sci. 1993. V. 159. P. 246.

  24. Oh C., Sorensen C.M. // J. Colloid Interface Sci. 1997. V. 193. P. 17.

  25. Tirado-Miranda M., Schmitt A., Callejas-Fernandez J. et al. // Langmuir. 2000. V. 16. P. 7541.

  26. Wu M.K., Friedlander S.K. // J. Colloid Interface Sci. 1993. V. 159. P. 246.

  27. Douketis C., Wang Z., Wang Z. et al. // Prog. Surf. Sci. 1995. V. 50. No. 1–4. P. 187.

  28. Zahn W., Zösch A. // Fresenius J. Analyt. Chem. 1995. V. 365. No. 1–3. P. 168.

  29. Van Put A., Vertes A., Wegrzynek D. et al. // Fresenius J. Analyt. Chem. 1994. V. 350. No. 7–9. P. 440.

  30. Mannelquist A., Almquist N., Fredriksson S. // Appl. Phys. A. 1998. V. 66. Suppl. № 1. P. S891.

  31. Zahn. W., Zösch A. // Fresenius J. Analyt. Chem. 1997. V. 358. No. 1–2. P. 119.

  32. http://gwyddion.net.

  33. Иванов Д.В., Васильев С.А., Сдобняков Н.Ю. и др. // Физ.-хим. асп. изуч. класт. нанострукт. и наноматер. 2020. № 12. С. 424.

  34. Makabe A., Oshikawa W., Saitou M. // Trans. Japan. Soc. Mech. Engin. C. 2001. V. 67. No. 664. P. 1955.

  35. Torabi M., Dolati A. // Int. J. Surf. Sci. Engin. 2016. V. 10. No. 5. P. 444.

  36. Kolokoltsev V., Borovitskaya I., Nikulin V. et al. // Proc. 7th Int. Cong. EFRE 2020 (Tomsk, 2020). P. 971.

  37. Arman A., Ţălu Ş., Luna C. et al. // J. Mater. Sci. 2015. V. 26. P. 9630.

  38. https://www.digitalsurf.com.

  39. Кузьменко А.П., Динт Н., Кузько А.Е. и др. // Изв. вузов. Матер. электрон. техн. 2016. Т. 19. № 3. С. 195.

  40. Трусов Л.И., Холмянский В.А. Островковые металлические пленки. М.: Металлургия, 1973. 320 с.

  41. Сдобняков Н.Ю., Соколов Д.Н. Изучение термодинамических и структурных характеристик наночастиц металлов в процессах плавления и кристаллизации: теория и компьютерное моделирование: монография. Тверь: Твер. гос. ун-т, 2018. 176 с.

  42. Соколов Ю.В., Железный Ю.В. // Письма в ЖТФ. 2003. Т. 29. № 8. С. 91; Sokolov Yu.V., Zhelezny$\overset{\lower0.5em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle\smile}$}}{\iota } $ V.S. // Tech. Phys. Lett. 2003. V. 29. No. 8. P. 627.

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Известия РАН. Серия физическая

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал