Приборы и техника эксперимента, 2023, № 6, стр. 189-195

Экспресс-метод импедансной спектроскопии твердотельных образцов малых размеров на частотах 20 кГц–1 ГГц

В. А. Милюшенко a, Б. Пинтер a, С. Б. Бибиков b*

a Словенский институт качества и метрологии
1000 Словения, Любляна

b Институт биохимической физики им. Н.М. Эмануэля РАН
119334 Москва, ул. Косыгина, 4, Россия

* E-mail: sbb.12@yandex.ru

Поступила в редакцию 29.01.2023
После доработки 16.04.2023
Принята к публикации 14.06.2023

Аннотация

Предложена простая и эффективная методика экспресс-диагностики материалов, позволяющая максимально оперативно проводить подготовку образцов, собственно измерения и получение данных о материальных параметрах, в частности, о дисперсии диэлектрической проницаемости. Разработан экспресс-метод импедансной спектроскопии образцов малых размеров на частотах от 20 кГц до 1 ГГц на базе векторного анализатора цепей, с использованием конусной коаксиальной измерительной ячейки и переходников для присоединения двухполюсных объектов к коаксиальному входу прибора. Измерительная ячейка рассчитана для дисковых образцов с диаметром до 6 мм при максимальном объеме до 0.1 см3, а также для образцов в виде прямоугольных пластин, которые можно вписать в окружность того же диаметра. Переходники позволяют также подключать двухполюсники в виде сосредоточенных навесных или элементов поверхностного монтажа. В отличие от измерений в коаксиальном тракте, в предлагаемой методике не требуется обеспечения точного присоединительного поперечного размера, что позволяет оперативно производить пробоподготовку. Рассмотрены вопросы определения частотного диапазона, в котором погрешность измерения не превышает допускаемую величину. Предложен способ увеличения верхней границы рабочей частоты измерительной ячейки с исследуемым образцом с помощью дополнительной калибровки. Разработанная программа управления процессами стандартной и дополнительной калибровки, процессом измерений в определенном диапазоне частот, на которых погрешность измерения не превышает допускаемую величину, позволяет получить значения сопротивлений, емкости, индуктивности и других электрических характеристик измерительной ячейки с исследуемым образцом в течение нескольких секунд.

Список литературы

  1. Маркевич И.А., Селютин Г.Е., Дрокин Н.А., Беляев Б.А. // Журн. СФУ. Серия: Техника и технология. 2018. Т. 11. № 2. С. 190. https://doi.org/10.17516/1999-494X-0022

  2. Маркевич И.А., Дрокин Н.А., Селютин Г.Е. // ЖТФ. 2019. Т. 89. № 9. С. 1400. https://doi.org/10.21883/JTF.2019.09.48066.42

  3. Лепешев А.А., Павлов А.В., Дрокин Н.А. // Журн. СФУ. Серия: Техника и технология. 2019. Т. 12. № 3. С. 366. https://doi.org/10.17516/1999-494X-0144

  4. Милюшенко В.А. Радиотехнические измерения в диапазоне высоких частот (ВЧ) и сверхвысоких частот (СВЧ) // Тезисы докладов всесоюзной науч.-техн. конференции, 12–14 сент. 1984. Новосибирск, 1984. С. 102.

  5. Брандт А.А. Исследования диэлектриков на сверхвысоких частотах. Москва: Физматгиз, 1963. С. 186.

Дополнительные материалы отсутствуют.