ЖЭТФ, 2020, том 157, вып. 1, стр. 90-96
© 2020
КИНЕТИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ ФОНОНОВ И
СТРУКТУРНЫЕ НЕОДНОРОДНОСТИ ТВЕРДЫХ РАСТВОРОВ
МОНОАЛЮМИНАТОВ Y1-xErxAlO3
И. E. Лезоваa, О. В. Карбаньb, A. В. Тарановc*, E. Н. Хазановc**, E. В. Чарнаяa
a Санкт-Петербургский государственный университет
199034, Санкт-Петербург, Россия
b Ижевская государственная сельскохозяйственная академия
426069, Ижевск, Россия
c Институт радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова Российской академии наук
125009, Москва, Россия
Поступила в редакцию 19 июня 2019 г.,
после переработки 24 июля 2019 г.
Принята к публикации 26 июля 2019 г.
Исследованы особенности низкотемпературной теплоемкости, транспортные характеристики фононов в
области гелиевых температур и наноструктурные неоднородности в монокристаллах твердых растворов
эрбиевых моноалюминатов YAlO3 : Er, синтезированных методом направленной кристаллизации.
DOI: 10.31857/S0044451020010101
усиления при низком пороге, а вдоль оси c — для
слабого усиления и накопления энергии в режиме
модуляции добротности (Q-switch) [3].
1. ВВЕДЕНИЕ
Синтезированные Багдасаровым и Каминским
Иттриевые моноалюминаты YAlO3, как и ит-
моноалюминаты, легированные неодимом [4], имели
трий-алюминиевые гранаты Y3Al5O12 (YAG), синте-
хорошие лазерные характеристики, сопоставимые с
зируются на основе окиси иттрия Y2O3 и окиси алю-
характеристиками YAG:Nd. При этом они способ-
миния Al2O3 в соотношениях соответственно 1 : 1 и
ны принимать более высокую концентрацию акти-
1:3. При легировании редкоземельными (РЗ) иона-
ватора, чем монокристаллы YAG [5]. С другой сто-
ми оба материала соответствуют требованиям кван-
роны, алюминаты страдали от ряда неконтролиру-
товой электроники как активные лазерные среды,
емых дефектов, что ограничивало их конкуренцию
обладают высокой механической прочностью, хо-
c YAG. Структура YAlO3 : Re, как и YAG : Re, со-
рошей теплопроводностью, высокой прозрачностью,
держит фрагменты слоев Re3Al и Al3Re [1], причем
удачным сочетанием спектральных свойств [1].
расстояние Re-Al в обоих слоях соответствует рас-
Монокристаллы YAG являются кубическими и
стоянию в оксидах. Можно ожидать, что процессы
оптически-однородными. В последние годы это поз-
дефектообразования YAlO3 : Re и YAG : Re при син-
волило на основе YAG: Re (Re — РЗ-элемент) реа-
тезе из оксидов будут подобны. Нестехиометрия со-
лизовать поликристаллические керамики, не усту-
ставов твердых растворов связана, как правило, с
пающие по эффективности монокристаллам, а по
возможностью замещения иттрием и РЗ-ионами по-
ряду механических свойств и превосходящие их
зиций Al [6] (в YAG в октаэдрическом окружении
[2]. Моноалюминаты имеют ромбическую решетку
кислорода).
(a = 0.5179 нм, b = 0.5329 нм, c = 0.77370 нм) и
В отличие от YAlO3 и YAlO3 :Nd, монокрис-
оптически двуосны. Лазерные стержни на их осно-
таллы YAlO3 : Er непрозрачны при энергии фото-
ве вдоль оси b могут использоваться для мощного
на ν
> 35000 см-1 [8], что, по-видимому, связа-
* E-mail: taranov@cplire.ru
но с дефектами формирования центров окраски.
** E-mail: khazanov@cplire.ru
Спектр дополнительного поглощения после γ-облу-
90
ЖЭТФ, том 157, вып. 1, 2020
Кинетические характеристики фононов...
чения YAlO3 : Er существенно отличается от спектра
регистрируемый сигнал S ∝ ΔT . Измеряемой вели-
YAlO3 : Nd, что, возможно, обусловлено изменением
чиной является время регистрации максимума сиг-
дефектной подсистемы при взаимозамещении ионов
нала, tm(T ), однозначно связанное с коэффициен-
Y3+ Er3+ [7].
том диффузии D(T), tm = L2/2D (случай «плос-
Можно было бы ожидать появления областей
кой» геометрии). В условиях только упругого (рэ-
несмешиваемости для монокристаллов YAlO3 : Er,
леевского) рассеяния НФ, согласно выражению (1),
однако рентгеноструктурные методы не выявили
D(T ) = D0(T ) = 1/3v2τ0 ∝ T-4 (v = 5.4 · 105 см/с —
подобных неоднородностей. В то же время ЯМР-ис-
средняя по поляризациям скорость звука, τ0 — вре-
следования твердых растворов YAlO3 : Er, синтези-
мя упругого рассеяния), а задний фронт регистри-
рованных методом направленной кристаллизации,
руемого сигнала S(t) ∝ t-1/2. Измерение временных
показали склонность к кластеризации твердых раст-
характеристик рассеяния позволяет избежать необ-
воров с формированием микрообластей различных
ходимости калибровки болометра при сравнитель-
фаз в структуре твердого раствора [8].
ных измерениях.
Цель данной работы — анализ особенностей низ-
Включение неупругих фонон-фононных процес-
котемпературной теплоемкости, кинетических ха-
сов, обусловленных ангармонизмом кристалличес-
рактеристик фононов тепловых частот в области ге-
кой решетки, может менять распределение НФ и
лиевых температур и структуры твердых растворов
влиять на результат измерения tm. При гелиевых
моноалюминатов YAlO3 : Er, синтезированных мето-
температурах из трехфононных процессов эффек-
дом направленной кристаллизации.
тивными могут быть только процессы распада [10].
В одномерном случае диффузионная длина lph в
процессе жизни фонона относительно распада, обу-
2. МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ
словленного ангармонизмом решетки, составляет
Образцы твердых растворов моноалюминатов
lph(ω) = D0(ω)τph(ω),
(2)
Y1-xErxAlO3 (x = 0.07, 0.1, 0.15, 0.2, 0.45) исследо-
вались в рамках трех экспериментальных методик.
где τph(ω) — время неупругого фонон-фононного
Температурные зависимости теплоемкости, c(T ),
рассеяния относительно спонтанного распада. Как
исследовались на установке PPMS-9 + Ever-Cool-II
будет показано ниже, типичное значение D0
производства Quantum Design в нулевом магнитном
105 см/с2 соответствует времени жизни фонона
поле в температурном диапазоне 1.9-220 K.
относительно упругого рассеяния τ0 = 10-7-10-6 с.
Исследования и анализ транспорта неравновес-
Теоретические оценки τph(ω) [11] для фононов
ных фононов (НФ) в монокристаллах в режиме
тепловых частот в области гелиевых температур и
диффузии в области гелиевых температур подроб-
экспериментальные наблюдения [12] при T = 3 K
но изложены в работе [9]. Метод основан на нагреве
дают значение τph(ω)
= 10-3-10-2 с. Это поз-
металлической (Au) пленки инжектора НФ корот-
воляло исключить влияние неупругого рассеяния,
ким (длительностью менее 100 нс) импульсом тока
обусловленного ангармонизмом решетки, в образ-
до температуры Th, при которой ΔT = Th -T0 ≪ T0.
цах длиной L < 1 см. Рассеяние НФ в этом слу-
При этом фононы являются слабонеравновесными,
чае определяется только структурными особенно-
а исследуемый образец имеет температуру термо-
стями материала. Данный метод может быть ин-
стата. Это позволяет исследовать температурные
формативен при анализе упругого рассеяния фоно-
зависимости НФ путем изменения температуры T0
нов, обусловленного разницей масс ионов на пози-
термостата. Импульсы НФ регистрируются на про-
циях замещения [13], низкоэнергетических шоттки-
тивоположной инжектору грани образца широкопо-
подобных возбуждений, обусловленных магнитным
лосным сверхпроводящим болометром (Sn). Превы-
взаимодействием ионов [9]. Включение неупругих
шение температуры болометра над равновесной тем-
процессов типа захват-переизлучение двухуровне-
пературой описывается решением нестационарного
выми системами (ДУС) может приводить к задерж-
уравнения диффузии
ке прихода максимума регистрируемого сигнала и
(
)
к затягиванию его заднего фронта. При этом длину
L2
ΔT (t) ∝ t-1/2 exp
-
,
(1)
lR и время τR пробега фононов относительно рассея-
4D(T)t
ния (захвата) на ДУС можно оценить из выражения
где L — длина образца в направлении распростра-
теории диффузии, аналогичного (2):
нения НФ. Измерения проводились в пределах «ли-
lR =
D0τR ≥ L.
(3)
нейного» участка характеристики болометра, когда
91
И. E. Лезова, О. В. Карбань, A. В. Таранов и др.
ЖЭТФ, том 157, вып. 1, 2020
Исследования изображений поверхности скола
C, мДж/г. K
образцов с нанометровым разрешением проводилось
101
при комнатной температуре с помощью сканирую-
щего зондового микроскопа Р4-SPM-MTD (в режи-
ме атомно-силовой микроскопии, АСМ), работаю-
щего в контактной моде. Применялись кремниевые
прямоугольные кантилеверы SC12 промышленного
изготовления. Последовательное двукратное скани-
100
рование каждой строки с регистрацией при первом
проходе рельефа, а затем распределения латераль-
x = 0.45
ных сил позволило получать микротопографическое
изображение и локальные физико-механические ха-
0.20
рактеристики поверхности (в частности, сил тре-
ния) одного и того же участка. При этом различия
0.15
в физико-механических свойствах отдельных обла-
стей проявлялись в виде распределения светлых и
10-1
темных пятен на АСМ-изображении в режиме сил
трения. Наибольшее поле сканирования составляло
7 × 7 мкм2.
0.07
3. РЕЗУЛЬТАТЫ ИССЛЕДОВАНИЙ И
10-2
ОБСУЖДЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ
0
10
101
T, K
На рис. 1 приведены температурные зависимости
теплоемкости ряда твердых растворов Y1-xErxAlO3
Рис.
1. (В цвете онлайн) Температурные зависимос-
в области низких температур. Из характера зави-
ти теплоемкости твердых растворов Y1-xErxAlO3 при
симостей следует, что в области гелиевых темпе-
различных значениях x, указанных около кривых, и
ратур теплоемкость определяется наличием низко-
Y2.4Er0.6Al5O12 (сплошная линия)
энергетических возбуждений. Энергия низшего воз-
бужденного уровня мультиплета4I15/2 иона Er3+
в YAlO3 : Er составляет около 51 K (в YAG : Er —
ратур, что свидетельствует об общей природе
28 К), т.е. в обоих случаях энергии слишком высо-
низкоэнергетических уровней в их составе.
ки для наблюдаемых особенностей.
Основным механизмом упругого рассеяния фо-
Аналогичные характеристики зависимостей
нонов тепловых частот в области гелиевых темпера-
наблюдались нами в ряде монокристаллов Er-
тур в твердых растворах замещения является рас-
содержащих твердых растворов YAG : Er
[14],
сеяние на «дефекте» массы ионов на позициях за-
TmAG : Er [15], GGG : Er [16]. В работе [9] было
мещения Y3+ Re3+. Эффективность данного ме-
показано, что наличие низкоэнергетических воз-
ханизма рассеяния хорошо поддается расчету в ку-
буждений в YAG: Er обусловлено крамерсовой
бических монокристаллах твердых растворов и бы-
природой иона Er3+, когда возможно снятие вы-
ла подробно рассмотрена в работе [13] на примере
рождения основного уровня в «нулевом» внешнем
YAG : Re.
магнитном поле за счет взаимодействия магнитных
На рис. 2 приведена концентрационная зави-
моментов соседних ионов. Энергия Δ соответству-
симость упругого рассеяния в твердых растворах
ющего расщепления основного уровня в YAG : Er,
YAG : Re при T = 3.4 K, нормированная на квадрат
как показано в работе [14], в исследуемом интер-
длины образца в направлении распространения теп-
вале концентрации твердого раствора составляет
лового импульса на основании данных работы [13].
примерно
1
К. На рис.
1
также приведена за-
В верхней части рис. 2 штрихами приведена концен-
висимость для
20-процентного состава YAG: Er
трационная зависимость с учетом вклада неупру-
(Y2.4Er0.6Al5O12). Отметим, что зависимости C(T )
гого рассеяния на ДУС в YAG: Er [17]. Там же
для одинакового процентного состава Er в обоих
приведены данные для монокристаллов YAlO3 : Re
материалах близки в области гелиевых темпе-
(Re = Lu; Er). Превышение в данных для YAlO3 : Er
92
ЖЭТФ, том 157, вып. 1, 2020
Кинетические характеристики фононов...
2
t /Lm ,2
с/см
S
a
YAG:Re
T = 3.77 K
- Lu
10-3
- Yb
- Tm
3.38 K
- Er
- Ho
3.12 K
- Dy
- Tb
2.91 K
YAlO :Re3
2.54 K
- Lu
- Er
2.20 K
10-4
0
50
100
150
200
250
t, мкс
S
б
T = 3.83 K
3.41 K
3.05 K
0.1
1
3
x
2.73 K
2.48 K
Рис. 2. Концентрационная зависимость упругого рассея-
2.31 K
ния в твердых растворах YAG : Re и YAlO3 : Re при
T = 3.4 K, нормированная на квадрат длины образца
2.19 K
0
50
t, мкс
при концентрациях 7 % и 10 % скорее свидетельству-
ет об увеличении упругого рассеяния, чем о рассе-
Рис. 3. Сигналы НФ при различных температурах в об-
янии на ДУС. Данный факт позволяет предполо-
разцах YAG: Er 7 %, L = 0.68 см (а) и YAlO3 : Er 7 %,
жить, что некоторое превышение данных tm/L2 для
L = 0.76 см (б) при различных температурах
YAlO3 : Er на рис. 2 по сравнению с темпом упру-
гого рассеяния на дефекте масс может быть связа-
но с дополнительным механизмом рассеяния на де-
S
фектах структуры, присущих исследуемым твердым
растворам. Данные для YAlO3 : Lu хорошо ложат-
ся на калибровочную зависимость tm/L2, и рассея-
ние фононов, так же как и в YAG : Re, определяется
только разницей масс Y Re на позициях замеще-
1
ния.
2
Рисунок 3 демонстрирует различие в экспери-
3
ментальных зависимостях для образцов 7-процент-
4
ного состава в YAG: Er и YAlO3 :Er. Эффективный
захват и переизлучение при взаимодействии фоно-
5
нов с ДУС в YAG : Er приводят к задержке и уши-
102
103
рению максимума сигнала в YAG; при этом в об-
t, мкс
разце YAlO3 : Er присутствует только упругое рас-
Рис. 4. Зависимости заднего фронта регистрируемых сиг-
сеяние. Рассеяние на ДУС в YAlO3 : Er проявляется
налов в двойном логарифмическом масштабе для образ-
явно только в образцах с 45-процентным составом
цов Y1-xErxAlO3: кривая 1 x = 0.45, T = 3.85 K; 2
примеси.
x = 0.45, T = 3.4 K; 3 x = 0.2, T = 3.4 K; 4 x = 0.1,
На рис. 4 приведены зависимости заднего фрон-
T = 3.4 K; 5 x = 0.07, T = 3.4 K. Прямая линия соот-
та регистрируемых сигналов при T
= 3.8 К в
ветствует зависимости S ∝ t-1/2
двойном логарифмическом масштабе для образцов
YAlO3 : Er всех исследуемых концентраций. Зависи-
93
И. E. Лезова, О. В. Карбань, A. В. Таранов и др.
ЖЭТФ, том 157, вып. 1, 2020
D, с/см2
На рис. 5 приведены температурные зависимос-
106
ти коэффициента диффузии D(T). Характер зави-
симостей при увеличении температуры (энергии фо-
нонов) для ряда составов меняется от рэлеевского
(пропорционально T-4) в сторону геометрического
(зависимость от T отсутствует). Температурные за-
висимости такого рода рассеяния могут быть описа-
ны формулой D = AD0 + B [18], соответствующей
нерезонансному рассеянию на структурных неодно-
родностях (например, включениях другой фазы).
Здесь первое слагаемое
(
)2
9
x
105
A=
2
1-x
(x = ρ1v210v20, ρ0 и ρ1 — плотности соответствен-
но основной и дополнительной фаз, v0 и v1 — сред-
ние по поляризациям скорости звука в основной и
дополнительной фазах) описывает рэлеевское рас-
сеяние и определяется всеми дефектами системы,
которые в длинноволновом пределе можно считать
точечными. Оценка сделана в предположении нали-
чия двух фаз — YAlO3 и Y1-xErxAlO3. Второе сла-
гаемое
2
v0R
B=
104
3
c
100
101
определяется геометрическим рассеянием на вклю-
чениях характерного размера R ≥ λ, имеющих объ-
T, K
емную долю c. Оценки показывают, что при T = 3 K
Рис. 5. (В цвете онлайн) Температурные зависимости
(область «включения» рассеяния на неоднороднос-
коэффициента диффузии D(T ) в ряде образцов: Δ
тях) длина волны фонона λ ∼ 30-40 нм (c ≈ 0.1).
Y0.8Er0.2AlO3; Y0.93Er0.07AlO3; Y0.9Er0.1AlO3;
Сплошная линия на рис. 5 соответствует зависи-
▽ — Y0.85Er0.15AlO3; Y0.55Er0.45AlO3; × — образец
мости D(T ) ∝ T-4 в образце Y0.8Lu0.2AlO3, синтези-
Y0.8Lu0.2AlO3, синтезированный по методу Чохральского.
рованном методом Чохральского, которая отражает
Сплошная линия — зависимость D ∝ T-4. Штриховые
только упругое диффузионное рассеяние на дефек-
линии — аппроксимация по формуле D = AD0 + B
на позициях замещения.
те масс ионов Y3+ Lu3+
Таким образом, из изложенного выше следует,
что в области гелиевых температур в отсутствие
мости 1-4 сглажены для улучшения восприятия. За-
неупругого фонон-фононного взаимодействия, вы-
тягивание сигнала наблюдается только в образцах
званного ангармонизмом решетки в монокристал-
с концентрациями 45 %, что свидетельствует об эф-
лах твердых растворов YAlO3 : Er, рассеяние фоно-
фективном рассеянии НФ на ДУС. Для всех осталь-
нов тепловых частот обусловлено упругим механиз-
ных концентраций зависимость спада заднего фрон-
мом на позициях замещения ионов и на нанострук-
та имеет вид S(t) ∝ t-1/2, как и должно наблюдать-
турных неоднородностях твердого раствора, когда
ся в классической диффузии при упругом рассеянии
средний размер неоднородности сопоставим с дли-
фононов. Это означает, что длина свободного про-
ной волны λ фонона или превышает ее. Расслоение
бега относительно захвата на ДУС в этих образцах,
на области, обедненные и обогащенные РЗ-ионами,
lR > L, а величина τR в разы больше, чем в об-
при сохранении гомогенной структуры раствора в
разцах YAG : Re аналогичных концентраций [9], т. е.
целом наблюдалось в монокристаллах YAG : Еr и
рассеяние фононов на ДУС в алюминатах с эрбием
YAG : Ho, синтезированных методом направленной
при концентрациях 7 % и 10 % при гелиевых темпе-
кристаллизации [19].
ратурах в данном случае не может конкурировать с
При AСM-исследовании поверхности сколов мо-
более эффективным упругим рассеянием.
нокристаллов твердых растворов Y1-xErxAlO3 бы-
94
ЖЭТФ, том 157, вып. 1, 2020
Кинетические характеристики фононов...
а
б
в
нм
нA
нA
400
0.02
0.02
нм
300
z
нм
0
0
400
300
500
200
400
200
300
-0.02
200
–0.02
100
y
100
100
0
x
-0.04
0
100
200
300
400
500
нм
Рис. 6. (В цвете онлайн) АСМ-изображения скола монокристалла Y0.8Er0.2AlO3: а — метод изображения рельефа; б,в
метод изображения сил трения. Масштаб на рис. в: 100 нм по осям x и y; 0.01 нA по оси z
ло выявлено наличие нанообластей с различными
Из данных по кинетике фононов в области
физико-химическими характеристиками. Структу-
гелиевых температур и АСМ-исследований поверх-
ра представляла собой чередующиеся полосы раз-
ностей сколов образцов в монокристаллах твердых
личной яркости шириной 20-100 нм в зависимости
растворов Y1-xErxAlO3, синтезированных методом
от концентрации легирующего элемента. Характер-
направленной кристаллизации, следует возмож-
ное изображение в режиме сил трения приведено на
ность фазового расслоения структуры твердого
рис. 6 для Y0.8Er0.2AlO3.
раствора. На основании характера зависимостей,
Поскольку использовались зонды с полярной по-
представленных на рис. 5, можно ожидать, что
верхностью (оксиды кремния), уменьшение капил-
изменение концентрации твердого раствора приво-
лярных сил свидетельствует об уменьшении поляр-
дит к изменению как размера, так и концентрации
ности поверхности и большей гидрофобности. Оче-
фазовых неоднородностей в YAlO3 : Er. При этом
видно, что фаза, обогащенная эрбием, обладает бо-
твердый раствор на микроуровне остается в целом
лее химически-активной поверхностью.
гомогенным.
Отметим, что зависимость величины сил трения
от скорости сканирования была исследована в диа-
Финансирование. Работа выполнена в рам-
пазоне 0.9-45 мкм/с. Для областей с незначитель-
ках Государственного задания 2020 г. при частич-
ными изменениями химического состава увеличе-
ной поддержке Российского фонда фундаменталь-
ние скорости сканирования практически не влияло
ных исследований (грант № 18-07-00191).
на контрастность. Для гладких поверхностей с низ-
кой шероховатостью (среднеквадратичная шерохо-
ватость Sq < 5 нм) локальные области с одинаковой
ЛИТЕРАТУРА
кристаллической структурой и различным содержа-
1. R. A. Cation, J. Sol. St. Chem. 128, 69 (1997).
нием РЗ-элементов могут быть надежно разделены.
Таким образом, показано, что особенности низ-
2. А. А. Каминский, А. В. Таранов, Е. Н. Хазанов,
котемпературной теплоемкости обусловлены нали-
М. Ш. Акчурин, КЭ 42, 880 (2012).
чием низкоэнергетических возбуждений иона Er3+,
связанных с крамерсовой природой иона, когда воз-
3. J. Kvapil, B. P. Jos Kvapil, J. Kubelka et al., Czech
J. Phys. B 36, 751 (1986).
можно снятие вырождения основного уровня в нуле-
вом внешнем магнитном поле за счет взаимодейст-
4. Х. С. Багдасаров, А. А. Каминский, Письма в
вия магнитных моментов соседних ионов. Энергия
ЖЭТФ 9, 501 (1969).
соответствующего расщепления основного уровня в
YAlO3 : Er в исследуемом интервале концентрации
5. M. J. Weber, M. Bass, K. Andringe et al., Appl. Phys.
твердого раствора составляет Δ < 1 K.
Lett. 15, 342 (1969).
Большая длина свободного пробега фононов теп-
6. Jiri Kvapil, Jos Kvapil, B. Perner et al., Cryst. Res.
ловых частот в области гелиевых температур отно-
Technol. 20, 473 (1985).
сительно захвата на ДУС (lR > L) в исследован-
ных образцах позволяет корректно оценить кинети-
7. Д. Ю. Сугак, А. О. Матковский, З. Фрукач,
ческие характеристики упругого рассеяния.
А. Н. Дурыгин, Неорг. Матер. 33, 744 (1997).
95
И. E. Лезова, О. В. Карбань, A. В. Таранов и др.
ЖЭТФ, том 157, вып. 1, 2020
8. Л. С. Воротилова, С. Н. Иванов, В. С. Касперович
15. E. В. Чарная, E. В. Шевченко, E. Н. Хазанов и др.,
и др., ФТТ 34, 2911 (1992).
Радиотехн. и электрон. 64, 819 (2019).
9. Е. И. Саламатов, А. В. Таранов, Е. Н. Хазанов и
16. И. E. Лезова, E. В. Шевченко, E. В. Чарная и др.,
др., ЖЭТФ 154, 826 (2018).
ФТТ 60, 1906 (2018).
10. И. Б. Левинсон, Письма в ЖЭТФ 27, 194 (1978).
17. Е. Н. Хазанов, А. В. Таранов, Е. В. Шевченко,
11. И. Б. Левинсон, Письма в ЖЭТФ 37, 157 (1983).
Е. В. Чарная, ЖЭТФ 148, 56 (2015).
12. С. Н. Иванов, А. В. Таранов, Е. Н. Хазанов,
ЖЭТФ 99, 1311 (1991).
18. Е. И. Саламатов, А. В. Таранов, Е. Н. Хазанов,
Е. В. Чарная, Е. В. Шевченко, ЖЭТФ 152, 910
13. S. N. Ivanov, E. N. Khazanov, T. Paszkiewicz et al.,
(2017).
Z. Phys. B 99, 535 (1996).
14. E. V. Shevchenko, E. V. Charnaya, E. N. Khazanov
19. О. В. Карбань, С. Н. Иванов, Е. И. Саламатов,
et al., J. Alloys Comp. 717, 183 (2017).
С. Г. Быстров, Неорг. матер. 37, 841 (2001).
96