1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
  4. № 10, 2023

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2023, № 10, стр. 36-40

Защитные покрытия W–Re-термопар для применений в агрессивных средах

Г. В. Киричук a, *, А. А. Козлов a, П. А. Прокопович a, А. Ю. Гойхман a, К. Ю. Максимова a

a Научно-образовательный центр “Функциональные наноматериалы” Балтийского федерального университета им. И. Канта
236041 Калининград, Россия

* E-mail: gv.kirichuk@gmail.com

Поступила в редакцию 17.07.2022
После доработки 12.09.2022
Принята к публикации 12.09.2022

Аннотация

Описан метод роста защитного покрытия оксида гафния (HfO2) на поверхности вольфрам-рениевой (W–Re) термопары, исследованы структурные и морфологические свойства, химический состав покрытия, а также проведены температурные испытания термопар с защитным покрытием. Найдены оптимальные условия формирования стойких к окислению и высоким температурам (выше 2000°C) покрытий. В результате испытаний была подтверждена способность покрытия HfO2 замедлять процессы деградации и разрушения термопары при работе в агрессивной окисляющей среде.

Ключевые слова: теплозащита, теплозащитные покрытия, высокотемпературная термопара, оксид гафния.

Список литературы

  1. Asamoto R.R., Novak P.E. // Rev. Sci. Instrum. 1967. V. 38. № 8. P. 1047. https://doi.org/10.1063/1.1720964

  2. Burns G.W., Hurst W.S. Some Studies on the Behavior of W–Re Thermocouple Materials at High Temperatures, 1972.

  3. Москаленко Н.Ю. Разработка термостойкого покрытия проводов коллектора термопар для авиационного двигателя. Выпускная квалификационная работа магистра: направление 22.04. 02 “Металлургия”; образовательная программа 22.04. 02_10 “Разработка, технологии и материалы в авиадвигателестроении”.

  4. Рогельберг И.Л., Бейлин В.М. Сплавы для термопар. Справочник. М.: Металлургия, 1983. 360 с.

  5. Волькенау Б.В. // Изв. Томского политех. ун-та. Инжиниринг георесурсов. 1950. Т. 70. № 1. С. 24.

  6. Zhang Z., Tian B., Liu Y., Du Z., Lin Q., Jiang Z. // Materials. 2019. V. 12. № 12. P. 1981. https://doi.org/10.3390/ma12121981

  7. Каблов Е.Н., Жестков Б.Е., Гращенков Д.В., Сорокин О.Ю., Лебедева Ю.Е., Ваганова М.Л. // Теплофизика высоких температур. 2017. Т. 55. № 6. С. 704. https://doi.org/10.7868/S0040364417060059

  8. Mergia K., Liedtke V., Speliotis T., Apostolopoulos G., Messoloras S. // Adv. Mater. Res. 2009. V. 59. P. 87. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/AMR.59.87

  9. Борисов А.М., Полянский М.Н., Савушкина С.В., Лаптев И.Н., Данькова Т.Е., Ткаченко Н.В., Востриков В.Г., Каменских А.И. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2017. № 7. С. 43. https://doi.org/10.7868/S020735281707006X

  10. Савушкина С.В., Полянский М.Н., Высотина Е.А., Ашмарин А.А. // Изв. Томского политех. ун-та. Инжиниринг георесурсов. 2018. Т. 329. № 10. С. 30.

  11. Hackley J.C., Gougousi T. // Thin Solid Films. 2009. V. 517. № 24. P. 6576. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.04.033

  12. Ho M.Y., Gong H., Wilk G.D., Busch B.W., Green M.L., Voyles P.M., Muller D.A., Bude M., Lin W.H., See A., Loomans M.E., Lahiri S.K. // J. Appl. Phys. 2003. V. 93. № 3. P. 1477. https://doi.org/10.1063/1.1534381

  13. Dhanunjaya M., Manikanthababu N., Pathak A.P., Rao S.N. // AIP Conf. Proceed. 2016. V. 1731. № 1. P. 080071. https://doi.org/10.1063/1.4947949

  14. Ma C.Y., Wang W.J., Wang J., Miao C.Y., Li S.L., Zhang Q.Y. // Thin Solid Films. 2013. V. 545. № 545. P. 279. https://doi.org/10.1016/j.tsf.2013.08.068

  15. Kappa M., Ratzke M., Reif J. // Solid State Phenomena. 2005. V. 108. P. 723. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/SSP.108-109.723

  16. Płóciennik P., Zawadzka A., Strzelecki J., Łukasiak Z., Korcala A. // Pulsed Laser Deposition (PLD) of Hafnium Oxide Thin Films // 16th Int. Conf. on Transparent Optical Networks (ICTON). IEEE, 2014. P. 1. https://doi.org/10.1109/ICTON.2014.6876620

  17. Nishide T., Honda S., Matsuura M., Ide M. // Thin Solid Films. 2000. V. 371. № 1–2. P. 61. https://doi.org/10.1016/S0040-6090(00)01010-5

  18. Баранцев Н.С., Зенкевич А.В., Лебединский Ю.Ю., Сипайло И.П., Гладков В.П., Неволин В.Н. // Перспективные материалы. 2008. № 6. С. 26.

  19. Андрюшкин А.Ю., Цой А.А., Симонова М.А. // Управления рисками в техносфере. 2016. № 2. С. 37.

  20. Бабичев А.П., Бабушкина Н.А., Братковский А.М. и др. // Физические величины: справочник. М.: Энергоатомиздат, 1991. 1232 с.

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал