1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
  4. № 9, 2023

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2023, № 9, стр. 96-102

Использование специальных устройств для рентгеноинтерферометрического исследования структурных несовершенств в монокристаллах

Г. Р. Дрмеян a, b, *, М. С. Василян a

a Институт прикладных проблем физики Национальной академии наук Республики Армения
0014 Ереван, Республика Армения

b Ширакский государственный университет им. М. Налбандяна
3126 Гюмри, область Ширак, Республика Армения

* E-mail: drm-henrik@mail.ru

Поступила в редакцию 21.01.2023
После доработки 22.02.2023
Принята к публикации 22.02.2023

Аннотация

Разработано, изготовлено и протестировано универсальное устройство для рентгеноинтерферометрического исследования структурных несовершенств в монокристаллах. Устройство может служить как для нанесения царапин на поверхности кристаллического блока интерферометра, так и для его изгиба. Предложена также технология для генерации дислокации в блоке интерферометра. Экспериментально доказано, что муаровые топографические картины, полученные с помощью двукратного рентгеновского интерферометра, зависят от ориентации отражающих плоскостей относительно дефекта (дислокации). Показано, что кратные интерферометры позволяют одновременно наблюдать изображения различных структурных несовершенств. Полученные результаты дают возможность судить о пространственной ориентации дефектов и распределении полей напряжений, вызванных этими дефектами, т.е. поля напряжений можно визуализировать в виде муаровых картин рентгеновских лучей. Результаты, полученные в работе, могут положить основу для решения обратной задачи, а именно восстановления полей механических напряжений в кристаллических блоках интерферометра с помощью расшифровки муаровых картин.

Ключевые слова: кратный интерферометр, муаровая топограмма, изгиб кристаллического блока, структурные дефекты, царапина, генерация дислокаций, деформационное поле.

Список литературы

  1. Lang A.R., Miuscov V.F. // Appl. Phys. Let. 1965. V. 7. Iss. 8. P. 214. https://doi.org/10.1063/1.1754384

  2. Lider V.V. // Usp. Phys. Sciences. 2014. V. 57. Iss. 11. P. 1099. https://doi.org/10.3367/UFNe.0184.201411e.1217

  3. Bonse U., Hart M. // Z. Phys. 1966. B. 190. № 4. S. 455. https://doi.org/10.1007/BF01327264

  4. Hart M. // Brit. J. Appl. Phys. (J. Phys. D). 1968. V. 1. Iss. 11. P. 1405. https://DOI.org/10.1088/0022–3727/1/11/303

  5. Drmeyan H.R. // Acta Crystallogr. A. 2004. V. 60. P. 521. https://doi.org/10.1107/S0108767304016502

  6. Hart M. // Phylos. Mag. (Abingdon) 1972. V. 26. Iss. 4. P. 821. https://doi.org/10.1080/14786437208226958

  7. Bonse U., Creff W., Materlik G. // Rev. Phys. Appl. (Paris). 1976. V. 11. № 1. P. 83. https://doi.org/10.1051/rphysap:0197600110108300

  8. Fezzaa K., Lee W-K. J. // J. Appl. Crystallogr. 2001. V. 34. Iss. 2. P. 166. https://doi.org/10.1107/S0021889801002072

  9. Drmeyan H.R., Mkhitaryan S.A. // Explor. Mater. Sci. Res. 2022. V. 3. Iss. 2. P. 124. https://doi.org/10.47204/EMSR.3.2.2022.124-129

  10. Azaroff L.V., Kaplow R., Kato N., Weiss R.J., Wilson A.J.C., Young R.A. // International Series in Pure and Applied Physics (1st Edition), N.Y.: McGraw–Hill Inc., 1974. P. 736.

  11. Ohler M., Hartwig J. // Acta Crystallogr. A. 1999. V. 55. P. 413. https://doi.org/10.1107/s0108767398010514

  12. Authier A. Dynamical Theory of X-ray Diffraction. Oxford: Oxford Univ. Press, 2001. 680 p. https://cds.cern.ch/record/1447864/files/9780198528920_ TOC.pdf

  13. Creagh D.C., Hart M. // Phys. Status Sol. 1970. V. 37. Iss. 2. P. 753. https://doi.org/10.1002/pssb.19700370226

  14. Christiansen G., Gerward L., Andersen L.A. // J. Appl. Crystallogr. 1971. V. 4. Iss. 5. P. 370. https://doi.org/10.1107/S0021889871007222

  15. Yoneyama A., Momose A., Seya E., Hirano K., Takeda T., Itaia Y. // Rev. Sci. Instrum. 1999. V. 70. V. 12. P. 4582. https://doi.org/10.1063/1.1150116

  16. Drmeyan H.R. // J. Surf. Invest: X-Ray, Synchrotron Neutron Tech. 2015. V. 9. Iss. 2. P. 336. https://doi.org/10.1134/S1027451015010292

  17. Eyramjyan T.H., Mesropyan M.H., Mnatsakanyan T.S., Balyan M.K. // Acta Crystallogr. A. 2020. V. 76. P. 390. https://doi.org/10.1107/S2053273320002314

  18. Aboyan A.O., Khzardzhyan A.A., Bezirganyan P.H., Bezirganyan S.E. // Phys. Status Sol. A. 1990. V. 118. Iss. 1. P. 11. https://doi.org/10.1002/pssa.2211180102

  19. Gerward L. // Z. Physik. 1973. B. 259. S. 313. https://doi.org/10.1007/BF01395937

  20. Chen W.M., McNally P.J., Shvyd’ko Y.V., Tuomi T., Danilewsky A.N., Lerche M. // J. Cryst. Growth. 2003. V. 252. Iss. 1–3. P. 113.

  21. Yoshimura J. // Acta Crystallogr. A. 2015. V. 71. P. 368. https://doi.org/10.1107/S2053273315004970

  22. Drmeyan H.R. // J. Surf. Invest.: X-Ray, Synchrotron Neutron Techn. 2020. V. 14. Iss. 6. P. 1270. https://doi.org/10.1134/S1027451020060282

  23. Blagov A.E., Kocharyan V.R., Eliovich Ya.A., Targonsky A.V., Movsisyan A.E., Korzhov V.A., Shahverdyan A.V., Mkrtchyan A.H., Kovalchuk M.V. // J. Contemporary Phys. (Armenian Academy of Sciences). 2022. V. 57. Iss. 2. P. 192. https://doi.org/10.3103/S1068337222020086

  24. X-Ray Technology. Handbook. Book 2 / Ed. Klyuev V.V. M.: Mashinostroenie, 1992. 368 p. https://www.studmed.ru/klyuev–v–v–red–rentgenotehnika–spravochnik–v–2–h–kn–kn–2_01441d20f04.html

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал