Дефектоскопия, 2019, № 8, стр. 59-66

Использование двухлучевой интерферометрии в системах контроля деформации поверхностей

В.Е. Махов, А.И. Потапов, Я.Г. Смородинский, Е.Я. Маневич

Полный текст (PDF) / Полный текст (HTML)