Дефектоскопия, 2020, № 7, стр. 28-43
Влияние качества изображений в оптико-электронных системах на точность определения исследуемых параметров объектов
В.Е. Махов, С.Е. Шалдаев, А.И. Потапов, Я.Г. Смородинский
В.Е. Махов, С.Е. Шалдаев, А.И. Потапов, Я.Г. Смородинский
Пн.-пт.: 10.00-19.00
