Дефектоскопия, 2022, № 1, стр. 13-25

Диагностика полупроводниковых изделий по параметрам низкочастотного шума

М.И. Горлов, В.А. Сергеев

EDN: ZQNIMU
DOI: 10.31857/S013030822201002X

Полный текст (PDF) / Полный текст (HTML)

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Дефектоскопия

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал