Дефектоскопия, 2023, № 7, стр. 58-60

Методика измерения толщины неэлектропроводящего покрытия на немагнитном электропроводящем основании с автоматическим учетом влияния удельной электропроводности основания

М.В. Сясько, И.П.Соловьев, П.В. Соломенчук

Полные тексты статей выпуска доступны в ознакомительном режиме только авторизованным пользователям.

Инструменты

Дефектоскопия