1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Физика плазмы
  4. T. 49, № 10, 2023

Физика плазмы, 2023, T. 49, № 10, стр. 1034-1039

Определение послойных профилей изотопов водорода в углероде и бериллии на основе методик электронной спектроскопии

В. П. Афанасьев a, *, Л. Г. Лобанова a, **

a Национальный исследовательский университет “МЭИ”
Москва, Россия

* E-mail: v.af@mail.ru
** E-mail: lida.lobanova.2017@mail.ru

Поступила в редакцию 15.05.2023
После доработки 25.06.2023
Принята к публикации 01.07.2023

Аннотация

Построена количественная методика интерпретации сигнала спектроскопии пиков упруго отраженных электронов, позволяющая осуществлять послойный анализ содержания изотопов водорода в конструкционных материалах, применяемых в сооружаемом международном экспериментальном термоядерном реакторе ITER. Определены относительные концентрации содержания протия и дейтерия в углеводородных образцах. Определены относительные концентрации содержания дейтерия в бериллиевом образце.

Ключевые слова: метод электронной спектроскопии, отражение электронов, спектроскопия пиков упруго отраженных электронов (СПУОЭ), метод инвариантного погружения, малоугловое приближение

Список литературы

  1. Schwarz-Selinger T., von Keudell A., Jacob W. // J. Appl. Phys. 1999. V. 86. 3988. https://doi.org/10.1063/1.371318

  2. Kimura K., Nakajima K., Yamanaka S., Hasegawa M., Okushi H. // Appl. Phys. Lett. 2001. V. 78. 1679. https://doi.org/10.1063/1.1356452

  3. Yubero F., Tokesi K. // Appl. Phys. Lett. 2009. V. 95. № 8. 084101. https://doi.org/10.1063/1.3202402

  4. Afanas’ev V.P., Gryazev A.S., Kaplan P.S., Köppen M., Ridzel O.Yu., Subbotin N.Yu., Hansen P. // J. Phys.: Conf. Ser. 2017. V. 891. 012303. https://doi.org/10.1088/1742-6596/891/1/012303

  5. Afanas’ev V.P., Bodisko Yu.N., Kaplyan P.S., Lobano-va L.G., Ridzel, O.Yu., Strukov A.N. // J. Phys.: Conf. Ser. 2020. V. 1713. 012001. https://doi.org/10.1088/1742-6596/1713/1/012001

  6. Афанасьев В.П., Грязев А.С., Капля П.С., Костановский И.А., Ридзель О.Ю. // Сб. науч. Тр. XIX конф. Взаимодействие плазмы с поверхностью. С. 30.

  7. Vos M., Went M.R.// Surf. Interf. Anal. 2007. V. 39. № 11. P. 871. https://doi.org/10.1002/sia.2603

  8. Tanuma S., Powell C.J., Penn D.R. // Surf. Interf. Anal. 1993. V. 20. 1. P. 77. https://doi.org/10.1002/sia.740200112

  9. Afanas’ev V.P., Afanas’ev M.V., Lubenchenkov, Batra-kov A.A., Efremenko D.S., Vos M. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2010. V. 177. P. 35. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2010.01.002

  10. Afanas’ev V.P., Efremenko D.S., Kaplya P.S. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 2016. 210. P. 16. https://doi.org/10.1016/j.elspec.2016.04.006

  11. Afanas’ev V.P., Bodisko Yu.N., Gryazev A.S., Efremen-ko D.S., Kaplya P.S. // Journal of Surface Investigation: X‑ray, Synchrotron and Neutron Techniques. 2020. V. 14. № 6. P. 1324. https://doi.org/10.1134/S102745102006021X

  12. Афанасьев В.П., Лобанова Л.Г. // Изв. РАН. Сер. физическая. 2022. V. 86. № 5. P. 621. https://doi.org/10.31857/S0367676522050039

  13. Salvat-Puiol F., Werner W.S.M. // Phys. Rev. B. 2011. V. 83. 195416. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.83.195416

  14. Salvat F., Jablonski A., Powell C.J. // Comp Phys Comm. 2005. V. 165. № 2. 157. https://doi.org/10.1016/j.cpc.2004.09.006

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Физика плазмы

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал