Физика плазмы, 2023, T. 49, № 4, стр. 391-394

Уточнение результатов измерения времени жизни неустойчивых ионов ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и HD

А. А. Терентьев *

Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Москва, Россия

* E-mail: Terentev_AA@nrcki.ru

Поступила в редакцию 14.10.2022
После доработки 06.12.2022
Принята к публикации 29.12.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

Повторной обработкой уточнены результаты измерения времени жизни отрицательных молекулярных ионов ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и HD: время жизни иона ${\text{D}}_{2}^{ - }$ равно 3.9 ± 0.1 мкс, а иона HD – 4.6 ± 0.1 мкс. Уточнены значения энергии пучка, при которой проводились измерения. Показано, что результаты измерения делятся на две группы, внутри которых время жизни для ионов ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и HD совпадает с хорошей точностью.

Ключевые слова: водород, дейтерий, ион, отрицательный, молекулярный, время жизни, период полураспада

В работе [1] были представлены результаты измерения времени жизни отрицательных молекулярных ионов ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и HD в основном состоянии. Как выяснилось позже, при проведении экспериментов и при обработке результатов был допущен ряд неточностей. Это не перечеркивает основного результата работы – время жизни указанных ионов в основном состоянии намного больше, чем время жизни автоотрывного состояния. В этой статье рассмотрены упомянутые неточности и подправлены результаты [1]. При этом новых измерений не проводилось, использовались только результаты [1].

На рис. 1 приведена схема установки ДИВО. Ионы, выходящие из источника магнетронного типа ИИ, ускоряются до энергии Uуск и попадают в магнит-монохроматор ММ с магнитным полем Bмм, который выделяет компоненту нужной массы. Затем пучок проходит через систему формирования пучка СФП (две квадрупольных линзы и два корректирующих конденсатора – вертикальный и горизонтальный), где он дофокусируется и попадает в измерительную часть установки. Здесь пучок проходит 180° электростатический анализатор ЭА с напряжением UЭА, из которого он направляется в петлю П и через фильтр Ф в ВЭУ.

Рис. 1.

Схема экспериментальной установки: ИИ – ионный источник, ММ – магнит-монохроматор, СФП – система фокусировки пучка, ЭА – электростатический анализатор с пространственной фокусировкой, П – петля (360-градусный анализатор с пространственной фокусировкой), Ф – цилиндрический фокусирующий фильтр, ВЭУ – вторичный электронный умножитель.

Молекулярные ионы образовывались в источнике в результате реакций

${{{\text{D}}}^{--}} + {{{\text{D}}}^{--}} \to {\text{D}}_{2}^{ - } + e$
и

${{{\text{H}}}^{--}} + {{{\text{D}}}^{--}} \to {\text{H}}{{{\text{D}}}^{--}} + e.$

Пучок ионов проходил петлю П либо по прямой, либо по круговой траектории, разница в длинах траекторий составляла 270 мм. При этом интенсивность пучка, попадающего в ВЭУ, менялась с N1 до N2, а разница времени прохождения ионов по тракту Δt зависела от энергии пучка. Время жизни τ определялось выражением

$\tau = \frac{{\Delta t}}{{\ln ({{N}_{1}}{\text{/}}{{N}_{2}})}}$

Эксперименты проводились сериями, сначала для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ при разных энергиях извлекаемых из источника ионов, а затем для HD. В каждой серии вычислялось время жизни τ, которое затем усреднялось для каждых энергии и типа иона для разных серий. Надо иметь в виду, что чем больше время жизни иона, тем больше времени требуется на набор статистики при неизменном режиме работы установки. Исходя из имевшихся ресурсов, верхний предел измерения τ составлял 100–200 мкс.

Сначала хотелось бы рассказать об одной особенности проводимых в [1] измерений.

В измерениях для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ было получено значительное количество серий, в которых время жизни оказывалось чрезмерно большим, а погрешность измерений составляла сотни процентов. Часто бывало, что в начале серии получалось вполне корректное значение τ, а начиная с некоторого момента счеты N1 и N2 становились примерно равными. Такие серии считались бракованными и в окончательные результаты не вошли.

В каждой серии было по 90 измерений, кроме тех серий, которые были прерваны по техническим причинам, например, из-за перегорания нити накала источника. На самом деле, количество измерений не имеет никакого значения. Значение имеет общее время измерения – 3–4 часа, а основное значение имеет общее количество зарегистрированных частиц (счетов) в серии, которое составляло 40–150 тыс. счетов в серии (по каждому из измерений N1 и N2).

Для HD наблюдалось другое. Часто при настройке установки на HD счетов не было вовсе. Также счеты могли внезапно пропасть посреди серии.

Во всех таких случаях можно было перенастроить установку и обнаружить пучок D, по которому всегда проводилась первичная настройка измерительного тракта. Параметры этого пучка не изменялись в пределах точности настройки.

Наблюдаемые значения можно объяснить тем, что в какой-то момент молекулярные ионы перестают образовываться в источнике. При этом ${\text{D}}_{2}^{ - }$ сопровождаются некой долгоживущей, возможно, стабильной компонентой. Какие условия влияют на образование ионов, выяснить не удалось. Режим работы источника оставался тем же в пределах разброса настроек, изменением параметров его работы восстановить образование ионов не удалось ни разу. Выяснить природу долгоживущей компоненты также не удалось.

Вообще, процессы, идущие в источнике, оказались не так очевидны, как считалось. Их влияние на ход измерений еще придется исследовать.

Теперь можно перейти к коррекции результатов обработки [1]. Во-первых, в измерениях для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ при энергии 950 эВ есть серии с очень большой погрешностью. Удаление любой из них приводит к уменьшению общей погрешности. Во время проведения этих серий параметры работы установки были очень неустойчивы по техническим причинам, что дало большой статистический разброс в результатах измерений. Эти серии было решено исключить из окончательных результатов.

Во-вторых, хочется рассмотреть точность определения энергии пучка E0. Здесь надо отметить, что E0 в [1] не является сильно значимым фактором. Она определяет лишь время движения частиц по тракту установки. Вот в работе [2], где использовался метод расщепленного пучка, E0 определяла энергию взаимодействия исходных ионов. Здесь же эта энергия определялась внутренними параметрами ионного источника.

В используемой схеме измерения E0 можно определить тремя способами:

– по значению ускоряющего напряжения Uуск;

– по значению магнитного поля в магните-монохроматоре Bмм;

– по значению напряжения на электростатическом анализаторе UЭА.

При обработке результатов в [1] в качестве E0 принималось значение Uуск. Но, поскольку ионы выходят изнутри источника, они начинают ускоряться еще в электрическом поле разряда и получают некоторую часть разрядного напряжения. Таким образом, энергия ионов на входе в магнит-монохроматор будет больше Uуск. Определить эту прибавку энергии затруднительно, поскольку неизвестны ни область, из которой выходят ионы, ни распределение электрического поля внутри источника. Напряжение разряда в экспериментах [1] составляло 50–100 В и не регистрировалось.

Значение Bмм тоже нельзя считать надежным источником для определения E0. Дело в том, что ионы выходят из источника не по радиусу цилиндра-катода, а имеют некоторое распределение по направлениям, которое неизвестно. Кроме того, они отклоняются в рассеянном поле магнита источника BИИ. Поскольку направление движения ионов на входе в магнит-монохроматор неизвестно, точно определить E0 по значению Bмм невозможно.

Электростатический анализатор оказался наиболее удобным средством для определения E0. Пучок частиц на его входе хорошо сформирован и имеет угловой разброс меньше 1°. Геометрия коллиматорных щелей (на рис. 1 не показаны) обеспечивает попадание пучка на рабочую траекторию анализатора. Сам анализатор использовался во многих предыдущих экспериментах, многократно проверен, и хорошо известно, что для прохождения через него частиц с энергией 1 кэВ, необходимо иметь UЭА = 1250 В. Измерения UЭА велись с точностью ±2.5 В и регистрировались.

Было принято решение повторно обработать результаты [1], считая характеристикой энергии ионов значение UЭА: E0 = UЭА/1.25.

Сначала определялось значение E0 в каждой серии экспериментов. Усредненные значения приведены в табл. 1. Далее в тексте используются скорректированные значения E0.

Таблица 1.

Средние значения E0 для использованных Uуск

Ион ${\text{D}}_{2}^{ - }$ HD
Uуск, В 800 950 1200 950
E0, эВ 670 850 1020 850

Оказалось, что E0 в экспериментах была меньше Uуск. Это невозможно объяснить неупругими потерями энергии, например, при рассеянии на остаточном газе – рассеянные ионы неизбежно покинули бы рабочую траекторию установки. Можно предложить два объяснения: либо молекулярные ионы выходят из области в источнике, имеющей потенциал меньше Uуск, либо они образуются вне источника, в пучке вышедших из него исходных ионов D. Проверка этих предположений требует отдельного исследования и выходит за рамки данной статьи.

При повторной обработке также обнаружилось, что иногда меньшему значению E0 соответствовало большее значение Bмм. Причина этого, видимо, в том, что между сериями производилась подстройка установки. При этом менялось угловое распределение выходящих из источника ионов.

После определения энергии ионов было вычислено время их прохождения по петле Δt так же, как и в [1] при помощи программы SIMION 7.0 [3], а затем и время жизни τ для каждой серии. Результаты показаны на рис. 2, серии приведены в порядке их получения. В целом время жизни оказывается примерно на 10% больше, указанного в [1].

Рис. 2.

Значения времени жизни τ для каждой серии измерений: ${\text{D}}_{2}^{ - }$, 670 эВ (а), ${\text{D}}_{2}^{ - }$ 850 эВ (б), ${\text{D}}_{2}^{ - }$, 1020 эВ (в), HD, 850 эВ (г).

После этого было усреднено время жизни для каждого значения энергии ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и для каждого типа иона.

Исправленные результаты для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ следующие: 4.06 ± 0.09 мкс (для 670 эВ), 3.84 ± 0.12 мкс (для 850 эВ) и 3.81 ± 0.06 мкс (для 1020 эВ). Среднее значение времени жизни τ = 3.9 ± 0.1 мкс.

Для иона HD время жизни составляет τ = = 4.6 ± 0.1 мкс.

И последнее, на что хотелось бы обратить внимание. На рис. 2г показаны значения времени жизни HD для всех серий. Хорошо видно, что они делятся на две группы: (А) с меньшим значением τ и (Б) с большим. Тот же эффект наблюдается для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ при E0 = 1020 эВ (рис. 2в). Для энергий 670 и 850 эВ эффект выражен слабее, но при желании его можно увидеть и здесь (рис. 2а, б). Можно вычислить средние значения τ и дисперсии для каждой группы. Результат приведен в табл. 2. Легко видеть, что разница в средних значениях τ групп А и Б для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и HD (~2 мкс) сильно превышает три стандартных отклонения (~0.3 мкс). Это позволяет утверждать, что группы относятся к разным измеряемым величинам, или к двум разным процессам, идущим в установке. Но главное, хорошо видно, что значения τ в каждой группе для ${\text{D}}_{2}^{ - }$ и HD совпадают с хорошей точностью.

Таблица 2.

Время жизни τ, мкс, для двух групп серий измерений

Группа ${\text{D}}_{2}^{ - }$ HD
670 эВ 850 эВ 1020 эВ Среднее 850 эВ
(А) 2.49 ± 0.09 1.54 ± 0.62 3.03 ± 0.08 2.81 ± 0.1 3.01 ± 0.04
(Б) 4.97 ± 0.13 3.37 ± 0.14 6.22 ± 0.4 5.03 ± 0.11 5.00 ± 0.05

Подобные результаты получены в работе [4]: для ${\text{D}}_{2}^{ - }$, были обнаружены три фракции с разными временами жизни, правда, эти времена намного больше, чем полученные в нашей работе. Для ${\text{H}}_{2}^{ - }$ и HD авторы [4] упоминают только по одной фракции. У нас же, кроме двух групп, присутствует долгоживущая компонента, о которой упоминалось в начале статьи, и время жизни которой измерить не удалось. Так что компонент (фракций) у нас тоже три.

Соответствуют ли две группы измерений двум состояниям ионов – такое предположение напрашивается, но никаких подтверждений ему нет. Чему соответствуют эти группы, осталось неясным.

Список литературы

  1. Беляев В.А., Козлов Д.А., Терентьев А.А., Тренин А.Е. // Физика плазмы. 2017. Т. 43. С. 874.

  2. Беляев В.А., Дубровин М.М., Козлов Д.А., Терен-тьев А.А., Тренин А.Е., Шолин Г.В. // Физика плазмы. 2010. Т. 36. С. 1024.

  3. Computer code SIMION 3D Version 7.0 Sci. Instrum. Services, Ringoes, NJ 08551, USA.

  4. Heber O., Golser R., Gnaser H., Berkovits D., Toker Y., Eritt M., Rappaport M.L., Zajfman D. // Phys. Rev. A. 2006. V. 73. P. 0605019(R).

Дополнительные материалы отсутствуют.