Известия РАН. Серия физическая, 2023, T. 87, № 5, стр. 692-695

Влияние поверхностных трещин и текстуры на остаточные напряжения в вольфраме после воздействия плазмы

И. И. Балаш 123*, С. Р. Казанцев 124, А. Н. Шмаков 134, П. А. Пиминов 14, В. М. Борин 1

1 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки “Институт ядерной физики имени Г.И. Будкера Сибирского отделения Российской академии наук”
Новосибирск, Россия

2 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки “Институт химии твердого тела и механохимии Сибирского отделения Российской академии наук”
Новосибирск, Россия

3 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки “Институт сильноточной электроники Сибирского отделения Российской академии наук”
Томск, Россия

4 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки “Федеральный исследовательский центр “Институт катализа имени Г.К. Борескова Сибирского отделения Российской академии наук”, Центр коллективного пользования “Сибирский кольцевой источник фотонов”
Кольцово, Россия

* E-mail: ilyabalash@yandex.ru

Поступила в редакцию 28.11.2022
После доработки 15.12.2022
Принята к публикации 25.01.2023

Аннотация

Исследованы вольфрамовые образцы, облученные электронным пучком на установке BETA с целью моделирования плазменного взаимодействия в вакуумной камере термоядерного реактора. Методы рентгеновской дифракции использовались для измерения остаточных напряжений на вольфрамовых образцах, в том числе изготовленных по спецификациям ИТЭР.

Список литературы

  1. Ikeda K. // Nucl. Fusion. 2007. V. 47. No. 6. P. 2.

  2. Makhlaj V.A., Garkusha I.E., Malykhin S.V. et al. // Phys. Scripta. 2009. V. 2009. No. T138. Art. No. 014060.

  3. Warren B.E. X-Ray diffraction. N.Y.: Dover publications, 1990. 400 p.

  4. Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Теория упругости. М.: Физматлит, 2003. 259 с.

  5. Аракчеев А.С., Шмаков А.Н., Шарафутдинов М.Р. и др. // ЖСХ. 2016. Т. 57. № 7. С. 1389; Arakcheev A.S., Sharafutdinov M.R., Tolochko B.P. et al. // J. Struct. Chem. 2016. V. 57. No. 7. P. 1314.

  6. Trunev Yu.A., Arakcheev A.S., Burdakov A.V. et al. // AIP Conf. Proc. 2016. V. 1771. Art. No. 060016.

  7. Шмаков А.Н., Толочко Б.П., Дементьев Е.Н., Шеромов М.А. // ЖСХ. 2016. Т. 57. № 7. С. 1395; Shmakov A.N., Tolochko B.P., Dementiev E.N., Sheromov M.A. // J. Struct. Chem. 2016. V. 57. No. 7. P. 1321.

  8. Balash I.I., Arakcheev A.S., Sharafutdinov A.N. et al. // AIP Conf. Proc. 2020. V. 2299. Art No. 040006.

Дополнительные материалы отсутствуют.