Химическая физика, 2019, T. 38, № 10, стр. 22-25

Строение фотополимера, используемого в аддитивных технологиях, по данным метода спектроскопии комбинационного рассеяния

А. В. Павликов 123*, Е. А. Константинова 1234, И. Г. Калинина 5, С. М. Шебанов 6

1 Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Москва, Россия

2 Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Москва, Россия

3 Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Москва, Россия

4 Московский физико-технический институт (университет)
Московская обл., Долгопрудный, Россия

5 Институт химической физики имени Н.Н. Семёнова Российской академии наук
Москва, Россия

6 ЗАО “ЛЭКИС” (Лаборатория экспериментальных исследований)
Москва, Россия

* E-mail: pavlikov@physics.msu.ru

Поступила в редакцию 20.03.2019
После доработки 24.04.2019
Принята к публикации 20.05.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

Методом спектроскопии комбинационного рассеяния света проведено исследование промышленного фотополимера, используемого в принтерах трехмерной печати. Установлено, что в спектре комбинационного рассеяния света изделия аддитивного производства отсутствуют линии при 1405 и 2992 см–1, соответствующие деформационным и валентным колебаниям в C–H-связях, которые присутствуют в спектре исходного жидкого фотополимера. Данный эффект свидетельствует об изменении колебательного спектра после процесса полимеризации. Полученная информация может быть полезна для разработки технологических покрытий на основе полученных образцов.

Ключевые слова: аддитивные технологии, фотополимеры, 3D-печать, комбинационное рассеяние света.

ВВЕДЕНИЕ

В последние годы наблюдается рост публикаций, посвященных описанию основных принципов аддитивных технологий и изучению материалов, полученных с их помощью [13]. Аддитивные технологии – это технологии послойного создания спроектированного объекта из различных материалов. При послойном нанесении материала с помощью трехмерной (3D) печати могут использоваться такие материалы, как дерево и металл [2]. Возможно нанесение тонких покрытий методами молекулярно-лучевой эпитаксии [4], осаждением из газовой фазы [5], термическим и магнетронным распылением [6]. При этом спектр используемых материалов существенно увеличивается. Указанные методы позволяют наносить не только тонкие покрытия (толщиной от единиц нанометров и более), но и полупроводниковые, диэлектрические.

Последние годы наибольшую популярность приобрели методы 3D-печати пластиками [7]. Данный способ печати, также являющийся одной из разновидностей аддитивных технологий, заключается в послойном нанесении жидкого вещества, застывающего на поверхности.

Влияние ультрафиолетового лазерного излучения [8] и многофотонного поглощения фемтосекундного излучения [9] на процессы полимеризации изучались методом оптического поглощения и отражения. Исследование спектроскопическими методами процессов полимеризации нанесенных покрытий зачастую имеет немаловажную практическую [10] и научную ценность [11]. Поэтому для определения толщины и пористости покрытий, их химического состава используются методы ИК-спектроскопии [1013] и комбинационного рассеяния света (КРС) [1315].

МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

В данной работе исследовались исходная фотополимерная смола Formlabs Tough v1 Resin и изделие, полученное на принтере Formlabs Form 2, работающем по принципу лазерной стереолитографии (SLA). Для полимеризации в этом методе используется ультрафиолетовый лазер.

Регистрация спектров КРС проводилась на микрораманоской установке Horiba Jobin Yvon HR800 в геометрии обратного рассеяния с использованием 10- и 50-кратных объективов. Источником возбуждения служил гелий-неоновый лазер (λ = 633 нм) мощностью W = 10 мВт.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ДАННЫЕ

На рис. 1 представлен спектр КРС исходного фотополимера и поверхности изделия, полученного из него методом 3D-печати. Спектры представлены с вычетом фона, но без нормировки.

Рис. 1.

Cпектр КРС исходного жидкого фотополимера (1) и поверхности изделия (2), полученного из него, методом 3D-печати; ν1 = 1405 см–1 и ν2 = 2992 см–1.

В спектрах КРС как исходного образца, так и готового аддитивного изделия присутствует широкая полоса рассеяния в области 2800–3050 см–1, имеющая сложную составную форму. В этой полосе можно выделить отдельные пики с максимумами при 2880, 2928 и 2958 см–1. Положение максимумов этих пиков определено благодаря выполненному разложению спектра КРС на составляющие в компьютерном приложении.

На рис. 2 представлен результат моделирования спектра фотополимера в области 2700–3100 см–1. Эта область соответствует валентным колебаниям C–H-связей [15, 16]. Линия 1 имеет максимум при 2893 см–1 и соответствует вкладу симметричных валентных колебаний; линия 2 имеет максимум при 2928 см–1 и соответствует вкладу ассимметричных валентных колебаний. Линия 3 имеет максимум при 2958 см–1 и аналогично предыдущему пику приписывается вкладу ассиметричных валентных колебаний. Четвертый пик при 2992 см–1, согласно литературным данным [17], также следует связывать с ассиметричными валентными C–H-колебаниями эпоксидной группы.

Рис. 2.

Результат разложения спектра КРС исходного жидкого фотополимера в области от 2700 до 3100 см–1 (подробнее см. в тексте).

Для сравнения было выполнено разложение участка спектра КРС изделия аддитивного производства на отдельные составляющие, которое представлено на рис. 3. В этом разложении можно говорить о наличии только трех пиков с максимумами при 2882, 2928 и 2958 см–1. Два последних значения в точности совпадают с теми, что присутствуют в спектре исходного фотополимера, первое – несколько смещено в сторону меньших волновых чисел, а четвертое отсутствует.

Рис. 3.

Результат разложения спектра КРС изделия аддитивного производства в области от 2700 до 3100 см–1; обозначения те же что и на рис. 2 (см. текст).

Результат разложения спектра исходного жидкого фотополимера в области от 300 до 1800 см–1 представлен на рис. 4. Интенсивность сигнала слабее, о чем можно судить по отношению сигнал/шум, но тем не менее можно выделить более 15 линий. Волновые числа, соответствующие максимумам линий, следующие: 370, 450, 604, 758, 857, 885, 970, 1057, 1124, 1254, 1297, 1396, 1405, 1454, 1640, 1722 см–1. Из рис. 4 видно, что огибающая указанных пиков дает хорошее совпадение с экспериментом.

Рис. 4.

Сравнение экспериментального спектра КРС фотополимера (1) и огибающей пиков разложения (2) в области от 300 до 1800 см–1; ν1 = 1405 см–1.

В состав фотополимеров может входить акрил, полиизопрен, полиамиды, эпоксидные смолы, полиимиды, стирольные блок-сополимеры. Валентные колебания двойной C=O-связи в акрилах дают пики при 1716 см–1, а в амидах – при 1639 см–1 [15, 16]. Пики в районе 1454 и 1722 см–1 связаны с симметричными и ассиметричными C–O–C-колебаниями. Еще одна интенсивная линия при 604 см–1 может быть связана с деформационными колебаниями C–H-связей [15, 16].

Обсудим происхождение линии с максимумом при ν1 = 1405 см–1. Согласно литературным данным [18], в спектрах углеводородов полоса деформационных колебаний CH2 находится в области 1480–1440 см–1, но в присутствии соседних нитрильных, нитро- или карбонильных групп эта полоса детектируется при 1405–1450 см–1. Сравнение спектров исходного фотополимера и изделия, полученного на 3D-принтере, позволяет сделать вывод о том, что главное различие состоит в отсутствии двух линий в спектре изделия: это линии при ν1 = 1405 см–1 и ν2 = 2992 см–1 (см. рис. 1).

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Установленный эффект свидетельствует об изменении колебательного спектра после процесса полимеризации, что, в свою очередь, обусловлено перестройкой химических связей в образце аддитивной технологии по сравнению с исходным материалом. Полученная информация важна как с фундаментальной точки зрения изучения колебательных спектров новых материалов, так и с практической, поскольку процесс полимеризации существенно влияет на механические свойства образцов и очень важно иметь метод независимого контроля данного процесса.

Исследования были выполнены на оборудовании ЦКП Физического факультета МГУ.

Работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки России в рамках выполнения соглашения № 14.625.21.0041 от 26.09.17 (уникальный идентификатор RFMEFI62517X0041).

Список литературы

  1. Tofail S.A.M., Koumoulos E.P., Bandyopadhyay A. et al. // Mater. Today. 2018. V. 21. Issue 1. P. 22.

  2. Кузнецов П.А., Васильева О.В., Теленков А.И., Савин В.И., Бобырь В.В. // Новости материаловедения. Наука и техника. 2015. № 2. С. 4.

  3. Шеховцов А.А., Карпова Н.П. // Научно-методический электронный журнал “Концепт”. 2015. Т. 13. С. 141.

  4. Cho A.Y., Arthur J.R. // Prog. Solid State Chem. 1975. V. 10. Pt. 3. P. 157.

  5. Asatekin A., Barr M.C., Baxamusa S.H. et al. // Mater. Today. 2010. V. 13. Issue 5. P. 26.

  6. Ishii K. // J. Vac. Sci. Technol., A. 1989. V. 7. № 2. P. 256.

  7. Leonards H., Engelhardt S., Hoffmann A. et al. // Proc. SPIE. 2015. V. 9353; https://doi.org/10.1117/12.2081169

  8. Западинский Б.А., Котова А.В., Матвеева И.А. и др. // Хим. физика. 2010. Т. 29. № 10. С. 87.

  9. Залесский А.Д., Данильченко Н.А., Барбашов Ю.В. и др. // Хим. физика. 2012. Т. 31. № 6. С. 3.

  10. Norman H. Tennent, Joost Caen, Patrick Courtney, Enrique Lozano Di // e-PS. 2009. V. 6. P. 107.

  11. Любимова Г.В., Шашкова В.Т., Любимов А.В., Западинский Б.И. // Хим. физика. 2010. Т. 29. № 4. С. 84.

  12. Luís Eduardo Silva Soares, Rick Rocha e Airton Abrahão Martin, Antonio L.B. Pinheiro, Marcelo Zampieri // Quim. Nova. 2005. V. 28. № 2. P. 229.

  13. Pavlikov A.V., Gayduchenko I.A., Mussabek G.K. et al. // J. Nanoelectron. Optoelectron. 2012. V. 7. № 6. P. 629.

  14. Merad L., Cochez M., Margueron S. et al. // Polym. Testing. 2009. V. 28. Issue 1. P. 42.

  15. Larkin P. // Chapter 7 – General Outline and Strategies for IR and Raman Spectral Interpretation. Infrared and Raman Spectroscopy. Elsevier, 2011. P. 117.

  16. Diem M. Modern Vibrational Spectroscopy and Micro-Spectroscopy: Theory, Instrumentation and Biomedical Applications. First Ed. John Wiley & Sons, Ltd., 2015.

  17. Hachuła B., Nowak M., Kusz J. // Chem. Crystallogr. 2010. V. 40. P. 201.

  18. Socrates G. Infrared and Raman Characteristic Group Frequencies. Tables and Charts. Third Ed. John Wiley & Sons, Ltd. 2001.

Дополнительные материалы отсутствуют.