Химическая физика, 2019, T. 38, № 10, стр. 22-25
Строение фотополимера, используемого в аддитивных технологиях, по данным метода спектроскопии комбинационного рассеяния
А. В. Павликов 1, 2, 3, *, Е. А. Константинова 1, 2, 3, 4, И. Г. Калинина 5, С. М. Шебанов 6
1 Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Москва, Россия
2 Всероссийский научно-исследовательский институт оптико-физических измерений
Москва, Россия
3 Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Москва, Россия
4 Московский физико-технический институт (университет)
Московская обл., Долгопрудный, Россия
5 Институт химической физики имени Н.Н. Семёнова Российской академии наук
Москва, Россия
6 ЗАО “ЛЭКИС” (Лаборатория экспериментальных исследований)
Москва, Россия
* E-mail: pavlikov@physics.msu.ru
Поступила в редакцию 20.03.2019
После доработки 24.04.2019
Принята к публикации 20.05.2019
Аннотация
Методом спектроскопии комбинационного рассеяния света проведено исследование промышленного фотополимера, используемого в принтерах трехмерной печати. Установлено, что в спектре комбинационного рассеяния света изделия аддитивного производства отсутствуют линии при 1405 и 2992 см–1, соответствующие деформационным и валентным колебаниям в C–H-связях, которые присутствуют в спектре исходного жидкого фотополимера. Данный эффект свидетельствует об изменении колебательного спектра после процесса полимеризации. Полученная информация может быть полезна для разработки технологических покрытий на основе полученных образцов.
ВВЕДЕНИЕ
В последние годы наблюдается рост публикаций, посвященных описанию основных принципов аддитивных технологий и изучению материалов, полученных с их помощью [1–3]. Аддитивные технологии – это технологии послойного создания спроектированного объекта из различных материалов. При послойном нанесении материала с помощью трехмерной (3D) печати могут использоваться такие материалы, как дерево и металл [2]. Возможно нанесение тонких покрытий методами молекулярно-лучевой эпитаксии [4], осаждением из газовой фазы [5], термическим и магнетронным распылением [6]. При этом спектр используемых материалов существенно увеличивается. Указанные методы позволяют наносить не только тонкие покрытия (толщиной от единиц нанометров и более), но и полупроводниковые, диэлектрические.
Последние годы наибольшую популярность приобрели методы 3D-печати пластиками [7]. Данный способ печати, также являющийся одной из разновидностей аддитивных технологий, заключается в послойном нанесении жидкого вещества, застывающего на поверхности.
Влияние ультрафиолетового лазерного излучения [8] и многофотонного поглощения фемтосекундного излучения [9] на процессы полимеризации изучались методом оптического поглощения и отражения. Исследование спектроскопическими методами процессов полимеризации нанесенных покрытий зачастую имеет немаловажную практическую [10] и научную ценность [11]. Поэтому для определения толщины и пористости покрытий, их химического состава используются методы ИК-спектроскопии [10–13] и комбинационного рассеяния света (КРС) [13–15].
МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
В данной работе исследовались исходная фотополимерная смола Formlabs Tough v1 Resin и изделие, полученное на принтере Formlabs Form 2, работающем по принципу лазерной стереолитографии (SLA). Для полимеризации в этом методе используется ультрафиолетовый лазер.
Регистрация спектров КРС проводилась на микрораманоской установке Horiba Jobin Yvon HR800 в геометрии обратного рассеяния с использованием 10- и 50-кратных объективов. Источником возбуждения служил гелий-неоновый лазер (λ = 633 нм) мощностью W = 10 мВт.
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ДАННЫЕ
На рис. 1 представлен спектр КРС исходного фотополимера и поверхности изделия, полученного из него методом 3D-печати. Спектры представлены с вычетом фона, но без нормировки.
В спектрах КРС как исходного образца, так и готового аддитивного изделия присутствует широкая полоса рассеяния в области 2800–3050 см–1, имеющая сложную составную форму. В этой полосе можно выделить отдельные пики с максимумами при 2880, 2928 и 2958 см–1. Положение максимумов этих пиков определено благодаря выполненному разложению спектра КРС на составляющие в компьютерном приложении.
На рис. 2 представлен результат моделирования спектра фотополимера в области 2700–3100 см–1. Эта область соответствует валентным колебаниям C–H-связей [15, 16]. Линия 1 имеет максимум при 2893 см–1 и соответствует вкладу симметричных валентных колебаний; линия 2 имеет максимум при 2928 см–1 и соответствует вкладу ассимметричных валентных колебаний. Линия 3 имеет максимум при 2958 см–1 и аналогично предыдущему пику приписывается вкладу ассиметричных валентных колебаний. Четвертый пик при 2992 см–1, согласно литературным данным [17], также следует связывать с ассиметричными валентными C–H-колебаниями эпоксидной группы.
Для сравнения было выполнено разложение участка спектра КРС изделия аддитивного производства на отдельные составляющие, которое представлено на рис. 3. В этом разложении можно говорить о наличии только трех пиков с максимумами при 2882, 2928 и 2958 см–1. Два последних значения в точности совпадают с теми, что присутствуют в спектре исходного фотополимера, первое – несколько смещено в сторону меньших волновых чисел, а четвертое отсутствует.
Результат разложения спектра исходного жидкого фотополимера в области от 300 до 1800 см–1 представлен на рис. 4. Интенсивность сигнала слабее, о чем можно судить по отношению сигнал/шум, но тем не менее можно выделить более 15 линий. Волновые числа, соответствующие максимумам линий, следующие: 370, 450, 604, 758, 857, 885, 970, 1057, 1124, 1254, 1297, 1396, 1405, 1454, 1640, 1722 см–1. Из рис. 4 видно, что огибающая указанных пиков дает хорошее совпадение с экспериментом.
В состав фотополимеров может входить акрил, полиизопрен, полиамиды, эпоксидные смолы, полиимиды, стирольные блок-сополимеры. Валентные колебания двойной C=O-связи в акрилах дают пики при 1716 см–1, а в амидах – при 1639 см–1 [15, 16]. Пики в районе 1454 и 1722 см–1 связаны с симметричными и ассиметричными C–O–C-колебаниями. Еще одна интенсивная линия при 604 см–1 может быть связана с деформационными колебаниями C–H-связей [15, 16].
Обсудим происхождение линии с максимумом при ν1 = 1405 см–1. Согласно литературным данным [18], в спектрах углеводородов полоса деформационных колебаний CH2 находится в области 1480–1440 см–1, но в присутствии соседних нитрильных, нитро- или карбонильных групп эта полоса детектируется при 1405–1450 см–1. Сравнение спектров исходного фотополимера и изделия, полученного на 3D-принтере, позволяет сделать вывод о том, что главное различие состоит в отсутствии двух линий в спектре изделия: это линии при ν1 = 1405 см–1 и ν2 = 2992 см–1 (см. рис. 1).
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Установленный эффект свидетельствует об изменении колебательного спектра после процесса полимеризации, что, в свою очередь, обусловлено перестройкой химических связей в образце аддитивной технологии по сравнению с исходным материалом. Полученная информация важна как с фундаментальной точки зрения изучения колебательных спектров новых материалов, так и с практической, поскольку процесс полимеризации существенно влияет на механические свойства образцов и очень важно иметь метод независимого контроля данного процесса.
Исследования были выполнены на оборудовании ЦКП Физического факультета МГУ.
Работа выполнена при финансовой поддержке Минобрнауки России в рамках выполнения соглашения № 14.625.21.0041 от 26.09.17 (уникальный идентификатор RFMEFI62517X0041).
Список литературы
Tofail S.A.M., Koumoulos E.P., Bandyopadhyay A. et al. // Mater. Today. 2018. V. 21. Issue 1. P. 22.
Кузнецов П.А., Васильева О.В., Теленков А.И., Савин В.И., Бобырь В.В. // Новости материаловедения. Наука и техника. 2015. № 2. С. 4.
Шеховцов А.А., Карпова Н.П. // Научно-методический электронный журнал “Концепт”. 2015. Т. 13. С. 141.
Cho A.Y., Arthur J.R. // Prog. Solid State Chem. 1975. V. 10. Pt. 3. P. 157.
Asatekin A., Barr M.C., Baxamusa S.H. et al. // Mater. Today. 2010. V. 13. Issue 5. P. 26.
Ishii K. // J. Vac. Sci. Technol., A. 1989. V. 7. № 2. P. 256.
Leonards H., Engelhardt S., Hoffmann A. et al. // Proc. SPIE. 2015. V. 9353; https://doi.org/10.1117/12.2081169
Западинский Б.А., Котова А.В., Матвеева И.А. и др. // Хим. физика. 2010. Т. 29. № 10. С. 87.
Залесский А.Д., Данильченко Н.А., Барбашов Ю.В. и др. // Хим. физика. 2012. Т. 31. № 6. С. 3.
Norman H. Tennent, Joost Caen, Patrick Courtney, Enrique Lozano Di // e-PS. 2009. V. 6. P. 107.
Любимова Г.В., Шашкова В.Т., Любимов А.В., Западинский Б.И. // Хим. физика. 2010. Т. 29. № 4. С. 84.
Luís Eduardo Silva Soares, Rick Rocha e Airton Abrahão Martin, Antonio L.B. Pinheiro, Marcelo Zampieri // Quim. Nova. 2005. V. 28. № 2. P. 229.
Pavlikov A.V., Gayduchenko I.A., Mussabek G.K. et al. // J. Nanoelectron. Optoelectron. 2012. V. 7. № 6. P. 629.
Merad L., Cochez M., Margueron S. et al. // Polym. Testing. 2009. V. 28. Issue 1. P. 42.
Larkin P. // Chapter 7 – General Outline and Strategies for IR and Raman Spectral Interpretation. Infrared and Raman Spectroscopy. Elsevier, 2011. P. 117.
Diem M. Modern Vibrational Spectroscopy and Micro-Spectroscopy: Theory, Instrumentation and Biomedical Applications. First Ed. John Wiley & Sons, Ltd., 2015.
Hachuła B., Nowak M., Kusz J. // Chem. Crystallogr. 2010. V. 40. P. 201.
Socrates G. Infrared and Raman Characteristic Group Frequencies. Tables and Charts. Third Ed. John Wiley & Sons, Ltd. 2001.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Химическая физика