Координационная химия, 2020, T. 46, № 11, стр. 663-671

Структура и магнитные свойства комплексов анион-радикалов кислорода на краях графенового листа с малой энергией связи

В. Ю. Осипов 1*, Д. В. Бухвалов 23, К. Такаи 4

1 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе
Санкт-Петербург, Россия

2 Физико-технический институт, Уральский федеральный университет
Екатеринбург, Россия

3 Колледж науки, Институт физики и химии материалов Нанкинского лесотехнического университета
Нанкин, Китайская Народная Республика

4 Кафедра химической науки и технологии, Университет Хосэй
Токио, Япония

* E-mail: osipov@mail.ioffe.ru

Поступила в редакцию 19.04.2020
После доработки 06.05.2020
Принята к публикации 08.05.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Методами электронного парамагнитного резонанса и квантово-химической теории функционала электронной плотности изучены образующиеся при возбуждении микроволновым излучением комплексы анион-радикалов кислорода на зигзагообразных краях искривленных графеновых листов. Энергия связи комплекса уменьшается от 700 до 42 мэВ с увеличением расстояния между атомом кислорода и зизгзагообразным краем графенового листа от 1.46 до 1.64 Å. Конфигурации и энергии связи комплексов зависят как от топологии нижележащего слоя графена (одно- или двухслойный, плоский или изогнутый), так и от типа атомных групп, терминирующих краевые атомы углерода посредством σ-связей. Образование комплексов с низкой энергией диссоциации (<70 мэВ) возможно лишь при криогенных температурах в результате переноса электронного заряда от края к молекуле О2. Температурное поведение парамагнитной спиновой восприимчивости комплекса свидетельствует об антиферромагнитном взаимодействии спина S = 1/2 ион-радикала ${\text{O}}_{2}^{{--*}}$ с краевыми спинами, расположенными вне “размагниченной” из-за ухода электронного заряда области. При T > 50 K происходит необратимая диссоциация комплекса с отрывом молекулы О2 от края. Существование комплексов с низкой энергией диссоциации расширяет представления о химической связи ионного типа с большим расстоянием между взаимодействующими агентами.

Ключевые слова: ион-радикал кислорода, графен, краевые состояния, парамагнитная восприимчивость, спектроскопия ЭПР

Графены и материалы на основе нанографеновых листов являются материалами с развитой π-электронной системой и необычными электронными свойствами [13]. К последним можно отнести как орбитальный диамагнетизм [46], сильно превосходящий таковой для больших планарных ароматических молекул, так и необычный парамагнетизм, обусловленный краевыми электронными состояниями на границах типа зигзаг [710]. Парамагнетизм связан с появлением пика плотности электронных состояний в точ-ке контакта π- и π*-зон графена, а в терминах секстетов Клара11 – с периодически расположенными вдоль границы типа зигзаг неспаренными π-электронами, идущими через два зигзага на третий [2, 11, 12] (рис. 1). При этом подразумевается, что внешние σ-связи графенового листа насыщены функциональными группами – водородом, гидроксильными или карбоксильными группами. Необычные π-электронные состояния краев графена обуславливают их необычные химические свойства, в частности каталитические. Так, края специально перфорированного графена выступают в качестве эффективного катализатора реакции восстановления нитробензола до анилина [13]. Частично это связано с тем, что края выступают в качестве доноров π-электронов третьим молекулярным агентам, оказавшихся в непосредственной близости от них, и тем самым способствуют протеканию специфических химических реакций с участием третьих агентов.

Рис. 1.

Схема возникновения делокализованных спиновых состояний на краях идеального графенового листа в рамках представления π-электронной подсистемы в виде секстетов Клара (ароматических π-секстетов). Схемы (1), (2), (3)  – резонансные эквивалентные конфигурации, демонстрирующие присутствие краевых делокализованных спинов на границах типа зигзаг в концентрации 1 спин на три ароматических кольца.

Рис. 2.

Температурная зависимость интегральной интенсивности (а) и ширины ЭПР сигнала (б) в образце вакуумированного нанографита ng110-vac, связанного с краевыми π-электронными состояниями. Панель (а): штриховая линия – температурно-независимая составляющая Паули (χп) в парамагнитной восприимчивости, сплошная линия – сглаживание в рамках закона Кюри (χк${{\left( {T - \,\,\Theta } \right)}^{{ - 1}}}$) для температурно-зависимой компоненты χк. Давление в капилляре ~2 × 10–6 Торр. Микроволновая мощность PМВ = = 0.02 мВт. Частота ν = 9.081 ГГц.

Углеродные наноматериалы, включая фуллерены и многостенные нанотрубки, активно исследуются начиная с 1990-х годов. В 1996 году японский исследователь Фуджита предсказал наличие необычных краевых π-электронных состояний для зигзагообразных краев графеновых листов [14, 15]. Среди предсказанных необычных свойств – парамагнетизм, обусловленный неспаренными краевыми спинами. На протяжении 15 последующих лет краевые состояния и парамагнетизм Кюри, связанный с ними, отмечался для целого класса углеродных нанодисперсных материалов с высокой степенью графитизации в индивидуальных листах и фрагментах нанометрового диапазона. Среди них нанографиты, активированные углеродные волокна, турбостратный углерод, углеродные наногорны, графеновые нанохлопья и другие углеродные sp2-продукты [16, 17]. Cуществование краевых состояний в планарных графеновых листах было доказано методами сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) [18, 19]. СТМ-изображения демонстрируют хорошо выраженную ароматическую гексагональную структуру в виде секстетов Клара с увеличенной яркостью изображения на зигзагообразных краях. Тем не менее наиболее ярко краевые π-электронные спиновые состояния в комбинации с достаточно развитым орбитальным диамагнетизмом и высокой степенью графитизации sp2-гибридизованного материала проявляются лишь в одном из доступных материалов – так называемых нанографитах, полученных отжигом детонационных алмазов. Как известно, орбитальный диамагнетизм является фундаментальным свойством графитового материала с развитой π-электронной системой, ароматической структурой слоев и положением уровня Ферми в точке контакта между связывающими π- и антисвязывающими π*-зонами. Последующий материал будет излагаться применительно к нанографитам, полученным из пятинанометровых наноалмазов. Получаемые по такой технологии нанографиты представляют собой морфологически сложный материал, т.е. ансамбль углеродных наночастиц луковичной формы и связанных с ними отщепившихся графеноподобных элементов самых разных топологий и форм, в том числе и субнанометровых. Поэтому в целях краткости обсуждаемые элементы нанографитовых частиц будут в дальнейшем обозначаться как нанографены.

Краевые π-электронные состояния обуславливают появление необычного парамагнетизма и сигнала ЭПР с g-фактором, равным 2.0014–2.0019, и шириной линии, чрезвычайно чувствительной к внешним молекулярным парамагнитным агентам [20]. Так в атмосфере кислорода (или воздуха) линия ЭПР от краевых спинов нанографенов существенно уширяется за счет диполь-дипольного и магнитного взаимодействия со спинами S = 1 триплетного кислорода. Уширение зависит от количества сорбированного на наночастицах кислорода [21]. Максимальное количество кислорода, сорбированного из воздуха при комнатной температуре и нормальном давлении, составляет ~55 молекул О2 на одну наночастицу (5–6 нм), состоящую из ~11 500 атомов углерода. Уширение линии ЭПР, пропорциональное парциальному давлению кислорода, является критерием наличия в графеноподобной углеродной системе локализованных краевых состояний.

Функционализация зигзагообразных краев графена карбонильными группами приводит к исчезновению краевых π-электронов и пика в плотности электронных состояний в точке контакта π- и π*-зон, но край, терминированный по такой схеме, легко дополнительно функционализируется ионами Fe2+ [22] (схема 1 ). Для карбонильных групп в определенных конфигурациях связывание ими ионами двухвалентного железа “включает” снова π-электронные краевые состояния, а ионы Fe2+ могут дополнительно эффективно связывать молекулярный кислород. Такие системы могут выступать в качестве катализаторов и носителей молекулярного кислорода, выделяемого, например, при микроволновом разогреве.

Схема 1 .

С помощью просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения в работах [13, 20, 23] были получены изображения частиц нанографенов/нанографитов (NG), изготовленных как путем отжига детонационных алмазов, так и расщеплением интеркалированного кислотами графита на одно- и многослойные графеновые листы. На таких изображениях обычно отчетливо видны складки и искривления наноразмерных графеновых листов, участки идеальной гексагональной структуры с хорошей планарностью, а также края частиц.

В настоящей работе изложены результаты исследований, выполненных в последние годы авторами статьи, по наблюдению на краях графеновых листов криогенных комплексов анион-радикала кислорода, связанных с зигзагообразными сегментами краев короткой протяженности (до 7–8 зигзагов) [24]. Возникновение химических связей и комплексов с их низкой энергией (<70 мэВ) при криогенных температурах недостаточно изучено и поэтому заслуживает отдельного внимания. Графеновый зигзагообразный край можно также рассматривать как элемент гипотетической планарной ароматической молекулы, насыщенной одним типом атомных групп по периферии, например атомарным водородом, с числом гексагональных колец N > 200.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Для получения нанографита/нанографена полиэдрической формы с размером частиц не более 5–6 нм использовали коммерчески доступный детонационный наноалмаз (ДНА), очищенный в кипящей соляной кислоте и свободный от ферромагнитных примесей. Последний отжигали в атмосфере аргона при температуре не ниже 1750°С в течении 35 и 110 мин. Cтруктурное качество нанографеновых частиц контролировали с помощью рамановской спектроскопии (λвозб = 532 нм) путем наблюдения характеристических полос рассеяния G и D при ~1590 и ~1345 см–1, связанных c базальными графеновыми листами и краевыми линейными дефектами соответственно и их обертонов типа 2D, D+G. Минимальное содержание пентагонов и гептагонов в ароматических гексагональных листах контролировали по глубине провала между D- и G-полосами, следуя методам, описанным в [23, 25]. Для исследования собственных магнитных свойств нанографита/нанографена использовали порошкообразные образцы в вакуумированных запаянных кварцевых трубках с внутренним диаметром 0.8 мм и длиной не более 45 мм, а для исследования комплексов анион-радикалов кислорода с краями графенов использовали те же капиллярные трубки с исследуемым материалом, но запаянные на воздухе при атмосферном давлении. Вес навесок в капиллярах составлял не более 0.8 мг. Ограничение по весу диктовалось проводимостью порошкообразного образца и падением добротности резонатора в случае, если количество материала превышало критическое (~1.4–1.6 мг). Двум образцам, исследованным в данной работе, присвоены обозначения ng35 и ng110. Дополнительные индексы в обозначениях образцов “air” или “vac” указывают на тип атмосферы (воздух или вакуум) в капилляре при комнатной температуре. Сигналы ЭПР регистрировали с помощью спектрометра X-band EPR JEOL JES-FA 300 (Япония) на микроволновой частоте ~9.03 ГГц. Охлаждение образца осуществляли с помощью криостата проточного типа Oxford Instrument ESR900. Стабилизацию температуры в диапазоне 3–100 К осуществляли с точностью не менее ±0.03 K, а в диапазоне 120–220 К ±0.1 К. Для образца ng35-air давление внутри капилляра при Т < 60 K опускалось ниже 20 Торр вследствие сорбции основных газообразных компонент (N2 и О2), сопровождающейся ожижением и отвердеванием молекулярных кластеров на наночастицах и в пространстве между ними. Интенсивности сигналов ЭПР корректировали с учетом небольшого изменения добротности резонатора при понижении температуры и при необходимом увеличении веса образца для роста амплитуды регистрируемого сигнала и отношения сигнал/шум. Изменение добротности контролировали по изменению интенсивности специфических сигналов ЭПР Mn2+: MgO стандарта. Интенсивности скорректированных сигналов ЭПР были прямо пропорциональны весам образцов.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

На рис. 2 представлена температурная зависимость интегральной интенсивности сигнала ЭПР для частиц NG-нанографена в вакууме в интервале 5–300 К. Впервые подобные результаты были получены в [21]. Парамагнитная спиновая восприимчивость, соответствующая интегральной интенсивности сигнала ЭПР, состоит из двух частей – температурно-независимой восприимчивости Паули (χп) и компоненты Кюри (χк), связанной с локализованными на зигзагообразных краях спинами. При этом χк = С/(T – Θ), где С-константа Кюри, пропорциональная концентрации спинов, Θ – температура Вейса, которая в случае нанографенов ng110 равна примерно −17 K и обусловлена слабым антиферромагнитным взаимодействием краевых спинов между собой. Парамагнетизм Паули связан с π-электронной подсистемой графенов, и его величина пропорциональна локальной плотности электронных состояний на уровне Ферми. В широком диапазоне температур от 17 до 300 К спиновая восприимчивость примерно следует закону Кюри, при этом при Т ≈ 300 K уже слабо зависит от температуры и определяется в основном составляющей Паули: χ (300 K) ≈ 1.27χп. Ширина линии ЭПР при этом уменьшается с понижением температуры в соответствии с законом Корринга22 (рис. 2б): $\Delta {{H}_{{{\text{пп}}}}}~\left( T \right)~~{\text{const}} + \left( {{{4{\pi }} \mathord{\left/ {\vphantom {{4{\pi }} \hbar }} \right. \kern-0em} \hbar }} \right)~$ × , здесь $~\hbar $ $ - $ постоянная Планка, $~{{J}_{{{\text{край}} - \pi }}}~{\text{ - }}$интеграл обменного взаимодействия краевых спинов с π-электронами, $D\left( {{{E}_{{\text{Ф}}}}} \right)$ – плотность состояний на уровне Ферми, ${{k}_{{\text{Б}}}}$ – постоянная Больцмана, Т – температура. Наличие такой зависимости является свидетельством присутствия в системе локализованных неспаренных спинов, связанных обменом с проводящими носителями, т.е. π-электронами графенового листа. Наклон зависимости ΔHпп(T) на участке 20–300 К определяется обменным интегралом ${{J}_{{{\text{край}} - {\pi }}}}$ и плотностью состояний на уровне Ферми. Стрелочкой выделена точка перегиба на графике ΔHпп(T). Она разделяет его на два участка с разными трендами по оси температур: квазилинейный при T = 20–55 К и сублинейный при T > 60 К (рис. 2б). Последний связан возможно с уменьшением $D\left( {{{E}_{{\text{Ф}}}}} \right)$ или изменением положения уровня Ферми при температурах свыше 60 К. С понижением Т краевой неспаренный π-электрон локализуется преимущественно вблизи краев, а именно в пределах полоски шириной 1–2 ароматических кольца. При T < 17 K имеет место небольшое падение восприимчивости (рис. 2а). Оно связано с антиферромагнитным взаимодействием части краевых спинов с молекулярным кислородом, остающимся на частицах NG в следовых количествах даже после вакуумирования. Эта особенность устраняется при более глубоком вакуумировании образца c прогревом при температуре ~673 К.

Для образца нанографена NG-air (ng35), запаянного в капилляре с воздухом33, при понижении температуры в интервале от 293 до 145 К происходит уширение сигнала ЭПР от краевых π-электронных состояний вследствие прогрессирующей сорбции парамагнитного кислорода на базальных плоскостях и диполь-дипольного механизма уширения линии ЭПР (рис. 3). При Т ≈ 125 К линия уширяется до уровня практической ненаблюдаемости так, что на ее фоне становится виден44 синглетный узкий сигнал c g-фактором g ≈ 2.0024 и шириной ΔHпп ≈ 0.48 мТ от дефектов типа оборванных σ‑связей в решетке нанографена или, возможно, их комплексов с кислородом, стабильных при комнатной температуре (рис. 3, спектры при T = = 125–135 K). Последний, что удивительно, практически не чувствителен к присутствию триплетного кислорода, физсорбированного на материале. При дальнейшем понижении температуры ниже 100 К широкий сигнал уже не наблюдается, а интенсивность узкого сигнала возрастает по амплитуде, но не совсем по закону Кюри–Вейса (рис. 3, спектры при T = 73–93 K). Ширина узкого сигнала при этом не зависит от температуры и составляет ~0.45 мТ. В дальнейшем мы будем анализировать температурное поведение узкого сигнала как при плавном понижении температуры до 3–4 К, так и при последующем плавном прогреве капилляра с образцом NG-air до 70–80 К после формирования при его облучении микроволнами новых парамагнитных комплексов, ответственных за возникновение “нового” сигнала ЭПР с такими же g-фактором и шириной линии.

Рис. 3.

Температурная зависимость сигнала ЭПР в образце нанографита ng35-air, находящегося в запаянном капилляре в атмосфере воздуха (парциальное давление кислорода ~150 Торр), снятая в условиях плавного понижения температуры от комнатной до ~70 K (на кривых представлена температура в Кельвинах; микроволновая мощность PМВ = 0.1 мВт; частота ν = 8.941 ГГц).

В ходе тщательных исследований данной системы методом ЭПР мы обнаружили необычные комплексы анион-радикала кислорода с краем графенового листа. Впервые такие комплексы экспериментально наблюдали в [26], а затем в [27] была объяснена природа их возникновения с использованием методов квантовой химии. Комплекс появляется при охлаждении нанографенов, помещенных в запаянный капилляр с воздухом, до гелиевых температур (Т ≈ 5 K) c последующим обязательным возбуждением порошка в капилляре микроволновым излучением мощностью до 200 мВт и резким сбросом мощности до ~0.1 мВт. Участие кислорода в образовании “новых” парамагнитных центров критическое. Следуя [26], комплекс возникает только в кислородсодержащей атмосфере при электризации наночастиц порошка и его одновременном разогреве за счет вихревых микроволновых токов, в ходе которого ранее физсорбированный молекулярный кислород (S = 1) вначале десорбируется с поверхности частиц в результате перегрева системы на 50–70 К, а затем внезапно адсорбируется обратно при резком выключении “разогревающей” мощности. В результате быстрой обратной сорбции часть молекул кислорода оказывается захваченной на краях в форме новых парамагнитных комплексов–димеров ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$ (SZE =1/2...S[${\text{O}}_{2}^{ - }$] = 1/2). На рис. 4 показана температурная зависимость интегральной интенсивности сигнала ЭПР образца NG-air, снятая в двух режимах: в условиях плавного понижения температуры от 290 до 5 К (кривая 1), с регистрацией спектров при малой мощности PМВ = = 0.1 мВт, и в условиях микроволнового облучения образца при Т = 5 К собственным полем электромагнитной волны резонатора при максимальной мощности (PМВ = 200 мВт) с последующим сбросом мощности до первоначального уровня PМВ = 0.1 мВт и регистрацией спектров при плавном повышении температуры до Т = 90 К (кривая 2). Разница между интегральными интенсивностями (DIN) сигналов 1 и 2 в зависимости от температуры описывает температурный ход сигнала ЭПР, связанного с низкотемпературным химическим комплексом с температурой диссоциации (разрушения комплекса) порядка 50 К. При температуре свыше 50 К молекула кислорода отрывается от края, а электрон с ${\text{O}}_{2}^{ - }$ возвращается на зигзагообразный край (ZE). Комплекс образуется за счет ионной связи в результате переноса электрона от края (подложки) к молекуле кислорода, оказавшейся около этого края. Край ZE при этом играет роль донора электронов, а молекула кислорода является акцептором. В табл. 1 и на рис. 5 показаны энергии связи и некоторые типичные схемы фиксации молекулы кислорода около края графена, рассчитанные методом функционала электронной плотности; для краев, терминированных водородом, или гидроксильными и карбоксильными группами для листов с различными искривлениями. Детали расчетов и используемые приближения ранее были изложены в [27]. Для выбранных комплексов с энергией связи до 720 мэВ дополнительно рассчитывали расстояния от нижележащей графеновой плоскости до ближайшего атома кислорода (${{d}_{{{\text{C}} - {\text{O}}}}}$ ) и магнитные моменты молекулы ${\text{O}}_{2}^{ - }$. Как видно из табл. 1, наименьшие энергии связей имеют комплексы ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$ около искривленной поверхности одно- и/или двухслойного графена, терминированные карбоксильными группами и атомарным водородом. Расстояние между краем и одним из атомов молекулы кислорода при этом больше (1.60–1.64 Å), чем в случае такого же комплекса ZE-O$_{2}^{--}$для плоского листа графена (1.46–1.50 Å), но меньше, чем для молекулы триплетного кислорода, адсорбированной на плоской поверхности графена и связанной c ней ван-дер-ваальсовыми силами (3.7 Å). Отметим, что комплекс ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$ образован ион-радикалом кислорода, связанным с краем графена посредством химической связи. Данная связь носит ионный характер для расстояний С–О 1.60–1.64 Å и почти ковалентный – в случае 1.46–1.53 Å. Это подтверждается сравнением расстояний С–О с типичными длинами ковалентных связей С–О (1.43 Å для большинства соединений и увеличенное до 1.54 Å для некоторых молекул [28]). Перенос электрона с подложки на молекулу кислорода приводит, как это было показано в [27], к возникновению размагниченной55 области в форме полукруга вокруг углеродного сайта с комплексом. Так, в первом ряду атомов углерода вдоль границы зигзаг магнитные моменты в узлах сильно уменьшены – на 0.25 μБ для центрального узла, образующего химическую связь, и на 0.21, 0.15 и 0.1 μБ соответственно для первого, второго и третьего узлов, отстоящих от центрального по радиус-вектору на 2.4, 5.0 и 7.3 Å.

Рис. 4.

Температурные зависимости интегральной интенсивности ЭПР-сигнала комплекса ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$ в образце нанографита ng35-air, полученные после облучения последнего при T = 5 К микроволновым излучением мощностью 200 мВт (кривая 2) и без такового (кривая 1). Кривая 2 демонстрирует необратимый распад комплексов с малой энергией связи (≤70 мэВ) при T = 50$ - $52 K, PМВ = 0.1 мВт. Частота ν = 8.941 ГГц.

Таблица 1.

Энергии связей комплексов ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$, рассчитанные методом функционала электронной плотности для графеновых слоев с разной топологией и типом границ*

Число слоев Морфология Энергия связи, мэВ
1 Плоский 405a
370b
718c
Искривленный 72a
68b
478c
2 Плоский 160a
142b
208c
Искривленный 46a
42b
398c

* Функциональные группы на краю: a –H, b –COOH, c –OH.

Рис. 5.

Cтереометрические конфигурации, раcсчитанные методом функционала электронной плотности, для физсорбированной молекулы О2 вблизи края однослойного графена (2.459 Å над плоскостью) (a), комплекса ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$ (энергия связи 1001 мэВ) и трех молекул азота, физсорбированных на краю плоского однослойного графена (б), комплекса ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$ с малой энергией диссоциации (46 мэВ) на краю искривленного двухслойного графена (в). Белым цветом показаны атомы водорода, терминирующие край графенового листа. Построения выполнены с помощью программы Mercury, депонированной в Кембриджском центре кристаллографических данных (ССDC).

Для рассчитанных комплексов ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$, приведенных в табл. 1, построены зависимости энергии связи от расстояния С–О и магнитного момента иона ${\text{O}}_{2}^{ - }$ (рис. 6a, 6б). С увеличением расстояния С–О от 1.46 до 1.64 Å и магнитного момента ${\text{O}}_{2}^{ - }$ от 0.86 до 0.965 μБ энергия связи плавно уменьшается от ~700 вплоть до ~45 мэВ в соответствии с трендом, обуславливающим появление криогенных комплексов с малой энергией связи и спином S = 1/2 у составляющего агента ${\text{O}}_{2}^{ - }$. Малая энергия связи у части комплексов (<100 мэВ) и увеличенное расстояние С–О обуславливают умеренно слабое взаимодействие между агентами ионного типа, слабее которого оказывается только ван-дер-ваальсовое взаимодействие между молекулой О2 и плоским графеновым листом. Значения энергии связей, расстояний С–О и магнитных моментов ${\text{O}}_{2}^{ - }$, соответствующих “условно криогенным” комплексам, отмечены пунктирными областями на рис. 6а, 6б.

Рис. 6.

Рассчитанные методом функционала электронной плотности зависимости энергии связи комплекса ZE-${\text{O}}_{2}^{ - }$, образующегося на краю графена, от длины химической связи С–О (а) и магнитного момента ион-радикала ${\text{O}}_{2}^{ - }$ (б) для конфигураций с разной топологией ZE края и типов функционализирующих атомных групп. Точки, обведенные пунктирной линией, соответствуют конфигурациям нескольких комплексов с энергией связи ≤160 мэВ (на базе двух- и однослойного искривленного графенов с краем, функционализированным группами –Н и –СООН).

Представленная на рис. 4 (кривая 2) температурная зависимость интенсивности сигнала ЭПР комплекса может быть достаточно неплохо описана в области T < 55 K законом Блинни–Бауэрса для комплексов, состоящих из соседних спинов 1/2, связанных антиферромагнитно и находящихся в основном S = 0 синглетном состоянии при нулевой Т в рамках синглет-триплетной модели [29]. Здесь предполагается, что комплекс состоит из двух составных спинов 1/2, первый из которых анион-радикал ${\text{O}}_{2}^{{ - *}}$, а второй – краевой спин, отстоящий на более удаленное расстояние от первого вдоль края. В связи с тем что количество комплексов при Т > 50 K резко падает в результате их диссоциации или отрыва анион-радикалов кислорода от края, то для описания DIN(T) следует использовать произведение функции Блинни–Бауэрса и эмпирического коэффициента заполнения адсорбционных краевых центров молекулами кислорода (S(T)). Последний имеет вид сглаженной ступенчатой функции с размытием порядка ΔT ≈ 7 K вблизи Tд ≈ 47–50 K: $S\left( T \right) = {{\left[ {\exp \left[ {{{\left( {T - {{T}_{{\text{д}}}}} \right)} \mathord{\left/ {\vphantom {{\left( {T - {{T}_{{\text{д}}}}} \right)} {\Delta T}}} \right. \kern-0em} {\Delta T}}} \right] + 1} \right]}^{{~ - 1}}}$, где Tд – эффективная температура десорбции анион-радикалов ${\text{O}}_{2}^{{ - *}}$ с адсорбционных краевых центров, при которой молекула становится нейтральной и квази-свободной в двух или трех измерениях. В нашем случае $S\left( T \right)$ описывает относительное число химсорбированных агентов на поверхности твердого тела по сравнению с количеством специфических адсорбционных центров, полностью заполняемых в конкретном сорбционном процессе, в зависимости от температуры. Параметр синглет-триплетной энергетической щели, найденный при подгонке теоретической кривой под экспериментальные точки, равен 2J/${{k}_{{\text{Б}}}}$ ≈ –22 K.

Диссоциация и развал комплекса при температурах свыше 50 К означают, что только немногие конфигурации, связанные с искривленным графеновым листом как однослойным, так и двухслойным и краем, терминированным водородом или карбоксилами, могут обеспечить такое поведение комплексов. Энергии связи этих четырех конфигураций приведены в табл. 1. Комплексам с энергией связи ~70 мэВ соответствует температура диссоциации ~45 К, а комплексам с энергией связи 42–46 мэВ – по крайней мере, на 10 К меньшие значения. При оценках использовали привязку к энергии парообразования воды – 0.46 эВ/молекула при T = 290 К и давлении ~15 Tорр. Отметим, что при переходе от многоэлектронной модели комплекса к одноэлектронной в рамках применяемого метода функционала электронной плотности используется ряд приближений, делающих некорректной прямую подстановку рассчитанных значений энергии связи в термодинамические формулы. Однако оценка температур диссоциации возможна косвенными методами [30]. Один из таких методов – сравнение энергии связи, полученной в расчетах для исследуемого случая, с таковой, рассчитанной для системы с уже известными температурой фазового перехода, теплотой испарения и вычисленными энергиями межмолекулярного взаимодействия. Одной из систем с моделируемым переходом жидкость–пар является вода. В этом случае энергия испарения расходуется на разрушение коллективных водородных связей между структурными элементами – молекулами воды или кластерами на их основе. Усредненная расчетная энергия связи между двумя молекулами воды (~0.4 эВ) при этом с точностью ~15% совпадает с экспериментальной теплотой испарения. Некоторые детали такого сравнения изложены в [31, 32].

Молекула кислорода, связанная с краем ZE планарного однослойного графенового листа, имеет наибольшую энергию связи в интервале от 0.37 до 0.72 эВ независимо от типа функциональных групп на поверхности (–H, –COOH или –OH). Для краев, насыщенных только ОН-группами, энергии связей комплексов большие (~0.40–0.47 эВ) даже в случае искривленных графенов. Такие комплексы стабильны при комнатной температуре и исчезают только при T > 373 K и более высоких температурах (вплоть до 500 K), например в ходе сопутствующего удаления сорбированной воды и других слабо-связанных адсорбатов. Комплексы с малой энергией связи (≤72 мэВ) не могут возникать при комнатной температуре, но будучи созданными, например при микроволновом или лазерном облучении образца, существуют лишь при криогенных температурах при Т < 50 К. Отличие химической сорбции молекул О2 на краю от физической сорбции на базальных графеновых плоскостях заключается в том, что химсорбция по указанному выше механизму сопровождается перебросом почти полного электронного заряда (0.77–0.88 е) с края на молекулу кислорода. В результате меняются магнитные моменты как молекулы кислорода, так и по меньшей мере трех десятков атомов углерода в области графенового листа под молекулой кислорода.

Таким образом, зигзагообразный край графенового листа может образовывать комплексы с молекулой кислорода за счет переноса π-электрона с края подложки на молекулу кислорода. Образование комплекса и перенос электрона от одного агента к другому происходят при низкой температуре (T ≈ 5 K) в результате облучения микроволновым излучением и электризации части частиц вихревыми токами. Магнитные моменты индивидуальных компонент комплекса меняются на стадии его образования, и для молекулы кислорода величина спина снижается с 1 до 1/2 (за счет изменения зарядового состояния). При этом участок графеновой решетки под комплексом “размагничивается”. Энергия диссоциации комплекса зависит от изогнутости графеновой подложки и количества слоев в ней. Наименьшей энергией связи (≤72 мэВ) обладают комплексы для искривленного графенового листа с краем, терминированным атомарным водородом или карбоксильными группами. Плоские графеновые листы образуют с кислородом более стабильные комплексы с энергией связи ~0.37–0.72 эВ. Последние устойчивы при комнатной температуре и могут диссоциировать с высвобождением молекулярного кислорода в интервале от ~400 до 500 К.

Указанный эффект может найти применение для накопления и хранения анион-радикалов кислорода в порошках нанографенов при низких температурах в целях последующей управляемой десорбции молекул кислорода.

Авторы декларируют отсутствие конфликта интересов.

Список литературы

  1. Physics and Chemistry of Graphene: Graphene to Nanographene (Second Edition) / Eds. Enoki T., Ando T. Singapore: Jenny Stanford Publishing, 2019. 642 p.

  2. Zhang J., Terrones M., Park C.R. et al. // Carbon. 2016. V. 98. P. 708.

  3. Enoki T., Takai K., Osipov V. et al. // Chem. Asian J. 2009. V. 4. № 6. P. 796.

  4. McClure J.W. // Phys. Rev. 1956. V. 104. № 3. P. 666.

  5. Safran S.A., DiSalvo F.J. // Phys. Rev. B. 1979. V. 20. P. 4889.

  6. Panich A.M., Osipov V.Yu., Takai K. // New Carbon Mat. 2014. V. 29. № 5. P. 392.

  7. Enoki T., Takai K. // Solid State Comm. 2009. V. 149. P. 1144.

  8. Andersson O.E., Prasad B.L.V., Sato H. et al. // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. P. 16387.

  9. Osipov V.Yu., Shames A.I., Enoki T. et al. // Diam. Relat. Mat. 2009. V. 18. № 2–3. P. 220.

  10. Wakabayashi K., Fujita M., Ajiki H., Sigrist M. // Phys. Rev. B. 1999. V. 59. P. 8271.

  11. Solà M. // Front Chem. 2013. V. 1. P. A22.

  12. Wassmann T., Seitsonen A.P., Saitta A.M. et al. // J. Am. Chem. Soc. 2010. V. 132. № 10. P. 3440.

  13. Savaram K., Li M., Tajima K. et al. // Carbon. 2018. V. 139. P. 861.

  14. Fujita M., Wakabayashi K., Nakada K., Kusakabe K. // J. Phys. Soc. Jpn. 1996. V. 65. P. 1920.

  15. Nakada K., Fujita M., Dresselhaus G., Dresselhaus M.S. // Phys. Rev. B. 1996. V. 54. P. 17954.

  16. Bandow S., Kokai F., Takahashi K. et al. // Appl. Phys. A. 2001. V. 73. P. 281.

  17. Takai K., Oga M., Sato H. et al. // Phys. Rev. B. 2003. V. 67. P. 214202.

  18. Kobayashi Y., Fukui K., Enoki T., Kusakabe K. // Phys. Rev. B. 2006. V. 73. P. 125415.

  19. Kobayashi Y., Fukui K., Enoki T. et al. // Phys. Rev. B. 2005. V. 71. P. 193406.

  20. Osipov V.Yu., Enoki T., Takai K. et al. // Carbon. 2006. V. 44. P. 1225.

  21. Osipov V.Yu., Shames A.I., Enoki T. et al. // Diam. Relat. Mat. 2010. V. 19. № 5–6. P. 492.

  22. Panich A.M., Shames A.I., Tsindlekht M.I. et al. // J. Phys. Chem. C. 2016. V. 120. P. 3042.

  23. Bogdanov K., Fedorov A., Osipov V. et al. // Carbon. 2014. V. 73. P. 78.

  24. Enoki T., Kobayashi Y., Katsuyama C. et al. // Diam. Relat. Mat. 2007. V. 16. № 12. P. 2029.

  25. Osipov V.Yu., Baranov A.V., Ermakov V.A. et al. // Diam. Relat. Mat. 2011. V. 20. № 2. P. 205.

  26. Shames A.I., Osipov V.Yu., Vul’ A.Ya. et al. // Carbon. 2013. V. 61. P. 173.

  27. Boukhvalov D.W., Osipov V.Yu., Shames A.I. et al. // Carbon. 2016. V. 107. P. 800.

  28. Gunbas G., Hafezi N., Sheppard W.L. et al. // Nature Chem. 2012. V. 4. P. 1018.

  29. Bleaney B, Bowers K.D. // Proc. R. Soc. London. A. 1952. V. 214. P. 451.

  30. Boukhvalov D.W., Dreyer D.R., Bielawski C.W., Son Y.-W. // ChemCatChem. 2012. V. 4. № 11. P. 1844.

  31. Lee C., Chen H., Fitzgerald G. // J. Chem. Phys. 1995. V. 102. P. 1266.

  32. Резников В.А. // Фазовые переходы, межфазные границы и нанотехнологии. 2014. № 4. С. 93. http://pti-nt.ru/ru/issue/publication/61-k-ponyatiyu-vodorodnoiy-svyazi-i-energii-svyazi-v-vode.

Дополнительные материалы отсутствуют.