Кристаллография, 2020, T. 65, № 4, стр. 540-545

О двух высокосимметричных трафаретах для кристаллических структур неорганических соединений

С. В. Борисов 1*, Н. В. Первухина 12, С. А. Магарилл 1

1 Институт неорганической химии им. А.В. Николаева СО РАН
Новосибирск, Россия

2 Новосибирский национальный исследовательский государственный университет
Новосибирск, Россия

* E-mail: borisov@niic.nsc.ru

Поступила в редакцию 21.01.2020
После доработки 21.01.2020
Принята к публикации 26.02.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Кристаллографический анализ минералов гексагонального пудреттита KNa2B3Si12O30 с симметрией P6/mcc и кубического поллуцита CsAlSi2O6 (Ia$\bar {3}$d) показал характерные особенности двух вариантов энергетически стабильных атомных конфигураций, популярных среди природных и синтезированных неорганических соединений. Это структуры с минимальным числом параметров (не фиксированных симметрией координат базисных атомов) и минимальными объемами независимых частей элементарных ячеек (V*). В структурах силикатов с большим количеством тетраэдрических катионов востребована симметрия плоскостей скользящего отражения и винтовых осей, обеспечивающая и стабильность, и плотную упаковку топологически связанных фрагментов (темплатов) этих структур.

ВВЕДЕНИЕ

Трактовка симметрии как фундаментального свойства материализованного пространства+ энергии – свойства, создающего стабильные атомные конфигурации [1], выделяет две группы популярных структурных типов, имеющих предельную симметрию – или кубическую Fm$\bar {3}$m, или гексагональную P6/mmm.

Среди кубических структурных типов был выполнен кристаллографический анализ высокосимметричных алмаза-сфалерита, шпинели, граната и ряда близких структур, а также корунда и турмалина с псевдокубическими подрешетками. Среди гексагональных – апатита и, например, сложного по составу минерала крашенинниковита KNa2CaMg(SO4)F с высокой симметрией P63/mcm [2].

Кристаллографический анализ имеет в своей основе следующее представление механизма образования кристаллических структур: трансляционная симметрия, как самая определяющая, возникает в результате преобразований всех колебаний материальных частиц (атомов, их химически прочных группировок) в плоские стоячие упругие волны разных направлений и частот. Каждая такая волна по своей сути есть трансляционное упорядочение частиц в направлении, перпендикулярном фронту волны. Узловые плоскости этих волн – кристаллографические плоскости (hkl) с высокой атомной плотностью, а следовательно, с максимальными величинами структурных амплитуд Fhkl, рассчитанными для данных атомов.

Кристаллизация означает, что степени свободы всех материальных частиц кристаллизующегося вещества сокращаются до их количества у частиц в объеме трансляционной ячейки структуры (V0). Выделившаяся при этом энергия – теплота кристаллизации, в которую входит и эффект от сокращения степеней свободы частиц поворотными осями и зеркальными плоскостями уже в объеме элементарной ячейки. В большей части случаев эта дополнительная симметрия инициируется локальной (точечной) симметрией стабильных атомных фрагментов, имеющихся в кристаллизующемся веществе [2, 3]. Менее известны функции элементов симметрии, включающих в себя переносы: плоскостей скользящего отражения и винтовых осей. Создавая упорядоченные конфигурации из связанных (или изолированных) атомных фрагментов, они в той же мере сокращают степени свободы структуры, как и их точечные аналоги. Например, плоскость скользящего отражения вдоль цепочки чередующихся тетраэдров SiO4 и AlO4, связанных общими вершинами, образует жесткую взаимную ориентацию для каждого сорта тетраэдров.

Особенности организации близких по кристаллохимии структур кубических поллуцита CsAlSi2O6 (Ia$\bar {3}$d), анальцима Na1.71(Al1.8,Si4.2)O12 ⋅ ⋅ 2H2O (Ia$\bar {3}$d) и гексагонального пудреттита KNa2B3Si12O30 (P6/mcc) будут предметом настоящей работы.

КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЙ АНАЛИЗ

По координатам базисных атомов структуры пудреттита KNa2B3Si12O30 [4] были рассчитаны Fhkl для следующих наборов атомов: для всех катионов (Fк); только для анионов O (Fа); только для катионов кремния (FSi); для калия с анионами (FK+O); для натрия с анионами (FNa+O); для K + Na + + O (FK+Na+O); для всех атомов (FΣ). Их наибольшие величины представлены в табл. 1, анализ которой покажет детали индивидуальных и взаимных упорядочений атомов разных сортов в этой структуре. При минимальных контактах катион–катион 3.0–3.5 Å их “скелетной” подрешеткой будет подрешетка на координатных плоскостях (030), ($\bar {3}$30) и (004) с числом узлов в объеме элементарной ячейки 36, равным числу катионов в ней (табл. 2). Гексагональная подъячейка с aк = = a/3 = 3.42, cк= c/4 = 3.38 Å показана на рис. 1а. Еще одно упорядочение катионов в этом диапазоне dhkl можно отметить, выбрав подрешетку на плоскостях (114), ($\bar {2}$14), (1$\bar {2}$4), связанных тройной осью. Рассчитанные по [5] размеры ее элементарного ромбоэдра $a_{r}^{'}$ = 3.60 Å, αr = 110.7° (табл. 2) свидетельствуют об упорядочении катионов решеткой, близкой к объемно-центрированной кубической с параметрами aI = 4.09 Å, αI = 92.6°.

Таблица 1.  

Наиболее плотноупакованные атомами семейства кристаллографических плоскостей (максимальные Fhkl) в пудреттите KNa2B3Si12O30: для всех атомов (FΣ), для катионов (Fк), для Si (FSi), для анионов O (Fа), для K+O (FK+O), для Na + O (FNa+O), для K + Na + O (FK+Na+O)

hkl dhkl FΣ Fк FSi Fа FK + O FNa+O FK+Na+O
110 5.13 175   127 112 78 73  
004 3.38 237 162 248 75      
030 2.96 178 189 131        
114 2.82 172 159 101       77
024 2.69 145 88   57 85   68
006 2.25   168 95 192 166 160 133
034 2.23     112 50 76 82 108
133 2.16     72 113 113 113 113
125 2.10   79 79 103 103 103 103
135 1.82 110 115 115        
050 1.78 176 97 101 80   94 71
008 1.69 268 227 165   63 69 91
$\bar {2}$61 1.67 111 92 92        
054 1.57 110 96 92        
038 1.47 142 124 82       63
250 1.42 123 142 101        
00 10 1.35 122   120 55      
Таблица 2.  

Параметры подъячеек для пудреттита KNa2B3Si12O30 и поллуцита CsAlSi2O6

Координатные плоскости подрешетки (hkl) и их dhkl: (hkl)/dhkl Трансляции и углы подрешетки: a/α, b/β, c Матрица перехода к подрешетке и число узлов подрешетки в элементарной ячейке
KNa2B3Si12O30 (P6/mcc, Z = 2, a = 10.253, c = 13.503 Å, V0 = 1229.31 Å3 [4])
Катионные подрешетки
(030) ($\bar {3}$30) (004)
2.96 2.96 3.38
(114) ($\bar {2}$14) (124)
2.82 2.82 2.82
3.42 3.42 3.38
90 90 120
3.60 3.60 3.60
110.7 110.7 110.7
{1/3 1/3 0 || –1/3 0 0 || 0 0 1/4}
(36)
{1/3 1/3 1/12 || –1/3 0 1/12 || 0 –1/3 1/12}
(36)
Анионные подрешетки
(133) ($\bar {4}$13) (3$\bar {4}$3)
2.16 2.16 2.16
(133) (00$\bar {6}$) ($\bar {4}$13)
2.16 2.25 2.16
2.22 2.22 2.22
79.48 79.48 79.48
2.84 3.34 2.84
50.26 60 50.26
{5/39 7/39 1/9 || –7/39 –2/39 1/9 || 2/39 –5/39 1/9}
(117)
{2/26 8/26 0 || –2/26 5/26 1/6 || 6/26 2/26 0}
(78)
Подрешетка для всех атомов
(050) ($\bar {5}$00) (008)
1.78 1.78 1.78
2.05 2.05 1.69
90 90 120
{0 1/5 0 || –1/5 0 0 || 0 0 1/8}
(200)
CsAlSi2O6 (Ia$\bar {3}$d, Z = 16, a = 13.6645 Å, V0 = 2551.42 Å3 [6])
Катионная подрешетка
(400) (040) (004)
3.42 3.42 3.42
3.42 3.42 3.42
90 90 90
{1/4 0 0 || 0 1/4 0 || 0 0 1/4}
(64)
Анионная подрешетка c Cs
($\bar {2}$35) (5$\bar {2}$3) (35$\bar {2}$)
2.22 2.22 2.22
2.22 2.22 2.22
88.45 88.45 88.45
{–11/234 19/234 31/234 || 31/234 –11/234 19/234 || 19/234 31/234 –11/234}
(234)
Анионная подрешетка
(61$\bar {1}$) ($\bar {1}$61) (1$\bar {1}$6)
2.22 2.22 2.22
2.22 2.22 2.22
88.45 88.45 88.45
{37/234 7/234 –5/234 || –5/234 37/234 7/234 || 7/234 –5/234 37/234}
(234)
Рис. 1.

Пудреттит KNa2B3Si12O30: а – xy-проекция структуры, ее сечения координатными плоскостями гексагональной катионной подрешетки с параметрами подъячейки aк, bк; в начале координат показаны шесть ориентаций плоскостей скользящего отражения с, плоскости m при z = 0, 1/2; б – yz-проекция структуры и ее сечения плоскостями катионных (с индексом к) и анионных (индекс а) подрешеток.

Из табл. 1 и рис. 1б следует, что катионы и анионы упорядочены своими плоскостями (006), находящимися в “противофазе”, т.е. сдвинутыми на 1/2d006. Тройка связанных симметрией плоскостей (133), ($\bar {4}$13), (3$\bar {4}$3) образует искаженную кубическую подрешетку с aа = 2.22 Å, αа = 79.48°, с 117 узлами на 60 позиций кислорода в ячейке и упорядочивает анионы. В другой комбинации плоскостей (133), ($\bar {4}$13), (00$\bar {6}$) получаем подъячейку с 78 узлами (табл. 2). Упорядочение всех атомов в xy-проекции структуры осуществляют в какой-то степени плоскости {050}, но вдоль оси с в диапазоне до dhkl ∼ 1.5 Å оно не выражено (рис. 1б).

Кристаллографический анализ кубических структур анальцима и поллуцита был сделан в [6]. При одинаковой симметрии и близком составе эти структуры однотипны, так что будем иметь дело с более упорядоченным поллуцитом. В табл. 3 даны значения наибольших Fhkl поллуцита для разных наборов атомов. Можно видеть, что гексагональной катионной подрешетке пудреттита с параметрами а = 3.42, с = 3.38 Å в поллуците соответствует кубическая на координатных плоскостях (400), (040), (004) с ак = 3.42 Å (табл. 2). На 64 узла в элементарной ячейке приходится 64 катиона в позициях, близких к узлам (рис. 2). При почти равных трансляциях объем гексагональной подъячейки пудреттита ∼34.5 Å3, а кубической поллуцита почти 40 Å3. И эта разница не только из-за более крупных размеров катионов у поллуцита, но и по причине более высокой его симметрии, обеспечившей стабильность этой относительно “рыхлой” структуры [7].

Таблица 3.  

Наиболее плотноупакованные атомами семейства кристаллографических плоскостей (максимальные Fhkl) в поллуците CsAlSi2O6: для всех атомов (FΣ), для катионов (Fк), для Cs + O (FCs + O) и для анионов O (Fа) [6]

hkl dhkl FΣ Fк FCs+O Fа
004 3.42 1360 1137 984 175
233 2.91 559 514 410  
044 2.42 835 924 605 90
116 2.22 177 352 163 175
235 2.22 347 188 496 159
444 1.97 524 791 381 267
237 1.74 516 452 372 64
008 1.71 836 659 789 177
048 1.53 610 593 601  
448 1.39 410 556 480 81
277 1.35 512 442 347 71
04 10 1.27 155   122 122
088 1.21 498 462 560  
Рис. 2.

Поллуцит CsAlSi2O6: yz-проекция структуры, ее сечения координатными плоскостями катионной подрешетки (040), (004). Символом Si обозначены позиции, занятые статистически (Si/Al). Элементы симметрии показаны в части проекции [6].

В упорядочении анионов этих структур также есть аналогия. Подрешетке с ромбоэдром aа = = 2.22 Å, αа = 79.48°, у пудреттита (табл. 2) соответствует анионная подрешетка поллуцита на координатных плоскостях ($\bar {2}$35), (5$\bar {2}$3), (35$\bar {2}$) с размерами ромбоэдра подъячейки: ar = 2.22 Å; αr = = 88.45° с удвоенным числом узлов в элементарной ячейке поллуцита (234 узла против 117, (табл. 2)). Это при удвоенном объеме элементарной ячейки поллуцита 2551 Å3 по сравнению с пудреттитом 1229 Å3. Принципиальное отличие в том, что у поллуцита анионное упорядочение включает в себя позиции крупного и тяжелого катиона Cs (табл. 2, 3), а у пудреттита ни калий, ни натрий в анионную подрешетку не входят. Возможно, в этом одна из причин различия в реализовавшейся симметрии двух структур.

Обратим внимание на необычную особенность кубических структур (гранат, анальцим, поллуцит [6]). Кристаллографические плоскости (611) и (235) имеют одинаковые dhkl и дают одинаковые по размерам, но разные по ориентации подрешетки при условии, что тройки координатных плоскостей выбираются так, чтобы суммы индексов h + k + l были равны, например 6: (61$\bar {1}$), ($\bar {1}$61), (1$\bar {1}$6) и ($\bar {2}$35), (5$\bar {2}$3), (35$\bar {2}$). В обратном пространстве эти тройки “векторов” оказываются связанными псевдоосью шестого порядка, отсутствующей в случае кубической симметрии. Проверка показала, что подобная ситуация имеет место и в других случаях совпадений dhkl для разных кристаллографических плоскостей в кубических структурах, причем значения структурных амплитуд для них разные. Например, у подъячеек на плоскостях (33$\bar {3}$), ($\bar {3}$33), (3$\bar {3}$3) и (5$\bar {1}$$\bar {1}$), ($\bar {1}$5$\bar {1}$), ($\bar {1}$$\bar {1}$5) будут одинаковые размеры, но разная ориентация осей [6].

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Будем рассматривать кристаллическую структуру из данного набора атомов как тот максимальный по симметрии пространственный трафарет (шаблон), в котором удалось разместить все атомы с допустимыми для них окружениями, с допустимыми по длине контактами и даже с дефектами в виде заполнений позиций атомами разных сортов или с другой статистикой. Задача трафарета – сократить степени свободы материальных частиц (атомов), а значит, и объем независимой части ячейки. И здесь, в кубических (примитивных) группах симметрии, объем пространства, характеризующий структуру (информационная ячейка, V* [1]), в пределе будет 1/48 часть объема элементарной ячейки, а в гексагональных 1/24 часть ее. Максимальная кратность элемента симметрии кубических групп 6 ($\bar {3}$), гексагональных также 6, но в сочетании с другими выигрывают кубические. Остаться в гексагональной симметрии зародыш кристалла может, если организует в своей локальной симметрии как минимум тройную ось с перпендикулярной к ней зеркальной плоскостью.

У боро- и алюмосиликатов в кристаллизующейся среде уже имеются прочные связи тетраэдров, и суть кристаллизации сводится к организации их симметричной взаимной ориентации (конформации). Статистически разнообразные по ориентациям, они превращаются в упорядоченные плоскостями скользящего отражения, как нельзя лучше подходящими для этого (рис. 3). Стабильность такой конфигурации была показана на простых структурах датолита–окаямaлита, где после дегидратации первой и существенного изменения состава:

$\begin{gathered} {\text{C}}{{{\text{a}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{B}}}_{{\text{2}}}}{\text{S}}{{{\text{i}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{O}}}_{{\text{8}}}}{\text{(OH)}}\;({\text{датолит}}){\kern 1pt} --{\kern 1pt} {\text{Si}}{{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}{\kern 1pt} --{\kern 1pt} {{{\text{H}}}_{{\text{2}}}}{\text{O}} = \\ = {\text{C}}{{{\text{a}}}_{{\text{2}}}}{{{\text{B}}}_{{\text{2}}}}{\text{Si}}{{{\text{O}}}_{7}}\;{\text{(окаямaлит)}} \\ \end{gathered} $
сохранились цепочки из чередующихся тетраэдров SiO4 и ВО4 вдоль плоскости скользящего отражения [8]. Факт присутствия цепочек из чередующихся SiO4- и ВО4-тетраэдров, стабилизированных плоскостью скользящего отражения, зафиксирован в фазах высокого давления минерала данбурита CaSi2B2O8 [9].

Рис. 3.

Плоскость скользящего отражения вдоль трансляции а упорядочивает ориентацию тетраэдров двух типов в двухзвенной их цепочке (структуры данбурита, датолита, окаямолита [8, 9]).

В группе структур, родственных с поллуцитом, симметрия плоскостей скользящего отражения также обязательно присутствует: кирчхоффит CsBSi2O6I41/acd, лейцит – I41/a, анальцим Na1.71(Al1.8,Si4.2)O12 · 2H2O – Ia$\bar {3}$d [6]. Упорядоченные этими плоскостями цепочки тетраэдров, связанных общими вершинами, идут вдоль координатных осей всех трех направлений.

Происхождение гексагональных структур силикатов с дополнительными тетраэдрическими катионами (Ве, В, Al…), к которым относятся оссумилит, миларит и их многочисленные разновидности и аналоги [10], по-видимому, связано с образованием исходного фрагмента с локальной симметрией 6/m, исключившей возможность кубической симметрии. В пудреттите таким фрагментом будет сдвоенное зеркальной плоскостью гексагональное кольцо из 12 SiO4-тетраэдров. Тетраэдры ВО4 участвуют в связи этих колец друг с другом и за счет плоскостей со скользящим отражением вдоль оси 6 (рис. 1а) организуют цепочки с чередованием звеньев из двух связанных зеркальной плоскостью SiO4-тетраэдров, соединенных тетраэдрами ВО4. Многочисленные структуры силикатов и их аналогов демонстрируют востребованность элементов симметрии, включающих в себя повороты и отражения с параллельными переносами. Они позволяют сохранять прочные связи между стабильными фрагментами и при этом сокращать их степени свободы, повышая энергетическую стабильность конфигураций. Их присутствие также исключает частные позиции с высокой точечной симметрией, которые трудно реализовать при сложном атомном составе кристаллизующейся фазы. В соответствии с обобщенными критериями стабильности V* и S = = nS/nP (где nS – число не зафиксированных симметрией координат базисных атомов структуры, а nP – число атомов в примитивной ячейке) относительная стабильность гексагональной структуры пудреттита с V* = V0/24 = 51.3 Å3 и S = 11/96 = = 0.115 в 2 раза ниже стабильности кубической структуры поллуцита с V* = V0/96 = 26.6 Å3, S = = 4/80 = 0.05 [1, 11].

Тенденцию к реализации высокой симметрии можно видеть в распределении минералов с известной кристаллической структурой по группам пространственной симметрии. По данным на 2008 г. [12] из ∼350 кубических минералов к группам с высшей симметрией (Fm$\bar {3}$m, Fd$\bar {3}$m, Ia$\bar {3}$d) отнесены более половины. Среди ∼340 гексагональных минералов почти половина с высшей симметрией (P6/mmm, P6/mmc, P63/mmc, P6/mcc). Аналогичная картина наблюдается и в других сингониях. И хотя почти половина известных структур – ромбические и моноклинные, имеет место явная тенденция к возможно более высокой симметрии [12].

Все эти факты утверждают определяющую роль симметрии в организации пространства взаимодействующих материальных частиц и достижении энергетически стабильных конфигураций, имеющих минимальное число параметров – степеней свободы частиц этой системы [1].

Список литературы

  1. Borisov S.V., Magarill S.A., Pervukhina N.V. // Crystallogr. Rep. 2020. V. 65. № 1. P. 5.

  2. Borisov S.V., Magarill S.A., Pervukhina N.V. // J. Struct. Chem. 2019. V. 60. № 8. P. 1191.

  3. Borisov S.V., Pervukhina N.V., Magarill S.A. // J. Struct. Chem. 2016. V. 27. P. 1673.

  4. Grice J.D., Ersit T.S., Van Velthuisen J., Dunn P.J. // Can. Mineral. 1987. V. 25. P. 763.

  5. Gromilov S.A., Bykova E.A., Borisov S.V. // Crystallogr. Rep. 2011. V. 56. № 6. P. 947.

  6. Borisov S.V., Pervukhina N.V., Magarill S.A. // J. Struct. Chem. 2020. V. 61.

  7. Borisov S.V. // J. Struct. Chem. 1995. V. 36. № 6. P. 1061.

  8. Borisov S.V., Pervukhina N.V., Magarill S.A. // J. Struct. Chem. 2019. V. 60. № 2. P. 268.

  9. Borisov S.V., Magarill S.A., Pervukhina N.V. // J. Struct. Chem. 2020. V. 61.

  10. Wells A.F. Structural Inorganic Chemistry. Oxford: Clarendon Press, 1986.

  11. Borisov S.V., Pervukhina N.V., Magarill S.A. // Crystallogr. Rep. 2020. V. 65. № 2. P. 197.

  12. Николаев С.М. Статистика современной минералогической информации. Новосибирск: Академическое издательство ГЕО, 2009.

Дополнительные материалы отсутствуют.