Журнал неорганической химии, 2020, T. 65, № 10, стр. 1386-1391

Исследование химического взаимодействия в системе Sb2Te3–InSe и свойства полученных фаз

И. И. Алиев a*, Н. А. Мамедова a, Ф. М. Садыгов b, Н. М. Садыгов c, И. Г. Меликова a

a Институт катализа и неорганической химии им. акад. М.Ф. Нагиева НАН Азербайджана
Az1143 Баку, пр-т Г. Джавида, 113, Азербайджан

b Бакинский государственный университет
Az1173 Баку, ул. З. Халилова, 30, Азербайджан

c Институт геологии НАН Азербайджана
Az1143 Баку, пр-т Г. Джавида, 115, Азербайджан

* E-mail: iradam@rambler.ru

Поступила в редакцию 11.12.2019
После доработки 29.05.2020
Принята к публикации 30.05.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Комплексными методами физико-химического анализа (дифференциальный термический, рентгенофазовый, микроструктурный), а также измерением микротвердости и плотности изучен характер взаимодействия в системе Sb2Se3–GaSe и построена Т–х-фазовая диаграмма. Установлено, что система Sb2Te3–InSe является квазибинарным сечением тройной взаимной системы Sb,In||Se,Te. В системе Sb2Te3–InSe образуются соединения InSb2SeTe3 и In3Sb2Se3Te3, инконгруэнтно плавящиеся при 525 и 600°С соответственно. Выявлено, что область твердых растворов на основе Sb2Te3 доходит до 3 мол. %, а на основе InSe – до 2 мол. %. Соединения Sb2Te3 и InSe образуют эвтектику с координатами 20 мол. % InSe и 510°С. Изучены температурные зависимости удельной электропроводности и коэффициента термо-э.д.с. твердых растворов (Sb2Te3)1 –x(InSe)x (х = 0.01, 0.02, 0.03).

Ключевые слова: фазообразование, эвтектика, квазибинарный, твердый раствор, электропроводность

ВВЕДЕНИЕ

Получение полифункциональных материалов с заданными свойствами основано на изучении диаграмм состав–свойство многокомпонентных систем. Известно, что халькогениды индия, сурьмы и сплавы на их основе обладают оптическими [16], фотоэлектрическими [710], термоэлектрическими и люминесцентными свойствами [1117] и широко используются в электронной промышленности, а также вызывают интерес как полупроводники. Исследованы фазовые диаграммы многих систем с участием индия и сурьмы [1824] и некоторые физико-химические свойства их сплавов [2527]. Поэтому получение материалов на основе халькогенидов сурьмы и индия является актуальной задачей и требует фундаментальных поисков.

Цель настоящей работы – исследование химического взаимодействия в системе Sb2Te3–InSe, а также поиск новых фаз и твердых растворов.

По результатам работы [28], соединение Sb2Te3 имеет кристаллическую структуру типа Bi2Te3 и кристаллизуется в ромбоэдрической сингонии с параметрами решетки: a = 4.264, c = 30.42 Å, пр. гр. R3m.

Кристаллическая структура Sb2Te3 исследована также в работе [29]. В ней указывается, что соединение Sb2Te3 кристаллизуется в ромбоэдрической сингонии с параметрами решетки: a = 4.262, c = 30.450 Å, пр. гр. R3m, $D_{{{\text{3}}d}}^{{\text{5}}}.$ Данные работ [28] и [29] хорошо согласуются между собой.

Соединение InSe плавится конгруэнтно при 660°С, относится к структурному типу GaSe и кристаллизуется в гексагональной сингонии с параметрами решетки: а = 4.04, с = 16.92 Å [30].

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Сплавы системы синтезировали непосредственным сплавлением компонентов Sb2Te3 и InSe ампульным методом в интервале температур 700–900°С с последующим медленным охлаждением в режиме выключенной печи. Для достижения равновесного состояния образцы отжигали при 500°С в течение 140 ч.

Дифференциальный термический анализ (ДТА) образцов проводили на терморегистраторе Термоскан-2 со скоростью нагревания 9 град/мин. Дифрактограммы снимали на установке D2 Phaser (CuKα-излучение). Микротвердость измеряли на микротвердомере ПМТ-3 при нагрузках, выбранных в результате изучения микротвердости каждой фазы. Микроструктуру сплавов изучали на микроскопе МИМ-8. Для травления шлифов сплавов использовали раствор состава 10 мл НNO3конц + H2O2 = 1 : 2, время травления 15–20 с. Плотность определяли пикнометрическим методом, в качестве рабочей жидкости использовали толуол. Электропроводность сплавов системы изучали известными компенсационными методами [31]. Анализ процентного содержания элементов соединений InSb2SeTe3 и In3Sb2Se3Te3 проводили на сканирующем электронном микроскопе Jeol JSM 6610–ICP-MS 7700. С помощью масс-спектрометра определено процентное содержание элементов в интервале n × 10–8n × 10%.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Сплавы системы Sb2Te3–InSe с большим содержанием Sb2Te3 серебристого цвета, хрупкие, слоистые, с увеличением содержания InSe образцы приобретают черный оттенок. Они устойчивы к воздуху и воде, но разлагаются под действием концентрированных минеральных кислот (HNO3, H2SO4), тогда как органические растворители на них не действуют. Равновесные сплавы исследовали методами физико-химического анализа.

ДТА сплавов системы Sb2Te3–InSe показывает, что на термограммах имеется по два и три эффекта. Результаты микроструктурного анализа (МСА) показали, что на основе исходных компонентов имеются ограниченные гомогенные области. В системе при комнатной температуре растворимость на основе Sb2Te3 составляет 3 мол. %, а на основе InSe – 2 мол. %, полученные сплавы состава 50 и 75 мол. % InSe также однофазные.

В системе Sb2Te3–InSe образуются новые соединения состава InSb2Te3Se и In3Sb2Se3Te3, плавящиеся инконгруэнтно при 525 и 600°С соответственно.

С целью подтверждения результатов ДТА и МСА проводили рентгенофазовый анализ. На рис. 1 приведены рентгенограммы сплавов 50 и 75 мол. % InSe и исходных компонентов. Установлено, что на дифрактограммах сплавов 50 и 75 мол. % InSe имеются дифракционные линии, которые по интенсивности и расположению межплоскостных расстояний не соответствуют дифракционным линиям исходных компонентов. Соединение InSb2SeTe3 кристаллизуется в тетрагональной сингонии с параметрами решетки: a = = 19.686, c = 13.490 Å; ρпикн = 6.18, ρрент = 6.25 г/см3. Соединение In3Sb2Se3Te3 изоструктурно InSb2SeTe3 и кристаллизуется в тетрагональной сингонии с параметрами решетки: a = 19.113, c = = 12.892 Å; ρпикн = 5.88, ρрент = 5.96 г/см3. Рентгенографические данные для соединений In3Sb2Te6 и InSb2Te4 приведены в табл. 1.

Рис. 1.

Дифрактограммы сплавов системы Sb2Te3–InSe: 1 – Sb2Te3, 2 – InSb2SeTe3, 3 – In3Sb2Se3Te3, 4 – InSe.

Таблица 1.  

Межплоcкостные расстояния (d, hkl) и интенсивность линий на дифрактограммах InSb2SeTe3 и In3Sb2Se3Te3

InSb2SeTe3 In3Sb2Se3Te3
I, % d, Å h k l I, % d, Å h k l
15 9.8430 2 0 0 19 9.5565 2 0 0
63 5.0134 3 2 1 100 4.8192 4 0 0
69 4.8575 4 0 0 8 3.4795 3 1 3
19 3.3724 0 0 4 13 3.2231 0 0 4
100 3.1178 6 2 0 56 3.1192 6 1 0
25 3.0301 5 3 2 68 3.0012 5 4 0
6 2.6252 6 1 3 6 2.5293 6 1 3
6 2.5293 6 5 0 21 2.3002 5 3 4
30 2.3202 8 3 0 18 2.2472 8 3 0
9 2.2020 8 4 0 21 2.1090 9 1 0
15 2.1103 9 2 1 13 2.0287 8 5 0
38 2.0245 6 5 4 19 1.9347 7 7 0
13 1.9613 10 2 0 9 1.8843 8 2 4
8 1.7503 11 2 1 6 1.7518 8 0 5
16 1.6901 0 0 8 8 1.6888 8 8 0
10 1.6285 3 1 8 19 1.6131 0 0 8
6 1.5689 10 2 5 4 1.5609 12 0 1

Спектры и микроструктуры соединений InSb2SeTe3  и In3Sb2Se3Te3 сняты сканирующем электронном микроскопе и показаны на рис. 2, 3.

Рис. 2.

Спектры (а) и микроструктура (б) соединения InSb2SeTe3.

Рис. 3.

Спектры (а) и структура (б) соединения In3Sb2Se3Te3.

На основании данных, полученных в результате проведенных исследований, построена Т–х-фазовая диаграмма системы Sb2Te3–InSe (рис. 4).

Рис. 4.

Т–х-фазовая диаграмма системы Sb2Te3–InSe.

Ликвидус системы состоит из четырех кривых первичного выделения α-твердого раствора на основе Sb2Te3, InSb2SeTe3, In3Sb2Se3Te3 и β-твердого раствора на основе InSe. В системе совместная кристаллизация α-фазы и InSb2Te3Se заканчивается в двойной эвтектике состава 20 мол. % InSe при температуре 510оС. В интервале концентраций 0–20 мол. % InSe из жидкости выделяются первичные кристаллы α-фазы, а в интервале 40–100 мол. % InSe – первичные кристаллы β-фазы. В пределах 3–50 мол. % InSe ниже линии солидуса кристаллизуются двухфазные сплавы α + + InSb2SeTe3, в интервале 50–75 мол. % InSe ниже линии солидуса – двухфазные сплавы InSb2SeTe3 + + In3Sb2Se3Te3, а в интервале 75–98 мол. % InSe – двухфазные сплавы In3Sb2Se3Te3 + β.

При определении микротвердости сплавов системы Sb2Te3–InSe получено четыре различных значения: 860–890 МПа соответствует микротвердости α-фазы твердых растворов на основе Sb2Te3, 900–930 МПа – новой фазе InSb2SeTe3, 1210 МПа – новой фазе In3Sb2Se3Te3, для β-твердых растворов на основе InSe микротвердость составляет 600–700 МПа.

Для твердых растворов (Sb2Te3)1 –х(InSe)х (х = = 0.01, 0.02, 0.03) измеряли температурную зависимость электропроводности (рис. 5) и термо-э.д.с. (рис. 6) в интервале температур 25–400°С. Выявлено, что в низкотемпературной области (25–225°С) проводимость носит металлический характер, а в высокотемпературной (225°С и выше) – полупроводниковый.

Рис. 5.

Температурная зависимость электропроводности твердых растворов (Sb2Te3)1 –x(InSe)x: 1 – 1, 2 – 2, 3 – 3 мол. % InSe.

Рис. 6.

Температурная зависимость термо-э.д.с. твердых растворов (Sb2Te3)1 –x(InSe)x: 1 – 1 ; 2 – 2; 3 – 3 мол. % InSe.

Электропроводность сплавов твердых растворов (Sb2Te3)1 –х(InSe)х с содержанием 1, 2 и 3 мол. % InSe в зависимости от состава растет от σ = 120 × 103, 137 × 103 до 150 × 103 Ом–1 см–1. Температурная зависимость электропроводности сплавов с содержанием 1, 2 и 3 мол. % InSe носит металлический характер, поэтому сначала электропроводность уменьшается до температуры 500 K, при дальнейшем увеличении температуры начинается собственная проводимость, и электропроводность сплавов, содержащих 1, 2 и 3 мол. % InSe, увеличивается.

На рис. 6 приведена температурная зависимось термо-э.д.с. твердых растворов (Sb2Te3)1 –х(InSe)х (х = 0.01, 0.02, 0.03). Как видно из рис. 6, температурная зависимость термо-э.д.с. сплавов обнаруживает экстремум: от комнатной температуры до ~180°С термо-э.д.с. увеличивается, а в области высоких температур (180–400°С) наблюдается ее монотонное понижение. Зависимость α ~ f(1/Т) также можно разделить на две части, как и зависимость σ ~ f(1/Т). Значение термо-э.д.с. увеличивается с добавлением содержания InSe. По знаку термо-э.д.с. установлено, что в исследуемом температурном интервале все изученные сплавы твердых растворов (Sb2Te3)1 –х(InSe)х (х = 0.01, 0.02, 0.03) являются полупроводниками p-типа.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

С целью выяснения химического взаимодействия между компонентами системы Sb2Te3–InSe она исследована в широком интервале концентраций. Установлено, что система Sb2Te3–InSe является квазибинарной эвтектического типа. В системе при соотношении компонентов 1 : 1 и 1 : 3 по перитектической реакции образуются два соединения: 1) ж + InSe ↔ InSb2SeTe3 (525°С) и 2) ж + + InSb2SeTe3 ↔ In3Sb2Se3Te3 (600°С).

Результаты МСА показали наличие ограниченных областей твердых растворов на основе исходных компонентов, которые составляют 3 мол. % InSe и 2 мол. % Sb2Te3. Установлено, что в интервале концентраций 0–20 мол. % InSe из жидкости кристаллизуются α-фазы, т.е. твердые растворы на основе Sb2Te3. α-Фаза и InSb2SeTe3 образуют между собой эвтектику с координатами 20 мол. % InSe и 510°С. Исследована температурная зависимость электропроводности и термо-э.д.с. сплавов из области твердых растворов (Sb2Te3)1–x(InSe)x (х = = 0.01, 0.02, 0.03). По знаку электропроводности и термо-э.д.с. установлено, что в исследуемом температурном интервале все изученные составы обладают p-типом проводимости.

Список литературы

  1. Петрусевич В.А., Сергеева В.М. Оптические и фотоэлектрические свойства In2Te3 // Физика твердого тела. 1960. № 2. С. 2858.

  2. Зорина Е.Л., Гулиев Т.Н. // Оптика и спектроскопия. 1967. Т. 22. № 6. С. 919.

  3. Коломиец Б.Т., Рывкин С.М. Фотоэлектрические свойства сульфида и селенида индия // Журн. техн. физики. 1974. № 19. С. 2041.

  4. Белоцкий Д.П., Бабюк П.Ф., Демянчук Н.В. // Низкотемпературные термоэлектрические материалы. Кишинев, 1970. С. 29.

  5. Заславский А.И., Сергеева В.М., Смирнов И.А. // Физика твердого тела. 1960. № 2. С. 2885.

  6. Кязым-заде А.Г., Агаева А.А., Салманов В.М., Мохтари А.Г. // Журн. техн. физики. 2007. Т. 7. № 4. С. 80.

  7. Магомедов А.З., Алиев А.О., Асланов М.А. и др. // Вестн. Бакинского ун-та. Сер. Физ.-мат. науки. 2004. № 4. С. 163.

  8. Магомедов А.З., Гасанова Л.Г., Алиев А.О. и др. // Физика. 2007. Т. 13. № 4. С. 164.

  9. Zybala R., Mars K., Mikula A. et al. // Arch. Metall. Mater. 2017. V. 62. № 2. P. 1067. https://doi.org/10.1515/amm-2017-0155

  10. Fernandez A.M., Merino M.G. // Thin Solid Films. 2000. V. 366. № 1–2. P. 202.

  11. Свечникова Т.Е., Шелимова Л.Е., Константинов П.П. и др. // Неорган. материалы. 2006. Т. 42. № 12. С. 1437.

  12. Vieira E.M.F., Figueirab J., Piresc A.L. et al. // J. Alloys Compd. 2019. V. 774. P. 1102. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2018.09.324

  13. Bin Xu, Jing Zhang, Gongqi Yu et al. // J. Appl. Phys. 2018. V. 124. P. 165 104. https://doi.org/10.1063/1.5051470

  14. Kulbachinskii V.A., Kytin V.G., Zinoviev D.A. et al. // Semiconductors. 2019. V. 53. P. 638. https://doi.org/10.1134/S1063782619050129

  15. Parekh P., Chiang P.T. // Alloys Can. J. Phys. 2011. V. 43. № 4. P. 653. https://doi.org/10.1139/p65-060

  16. Min Ho Lee, Ka-Ryeong Kim, Jong-Soo Rhyee et al. // J. Mater. Chem. C. 2015. V. 3. P. 10 494. https://doi.org/10.1039/C5TC01623A

  17. Morikawa S., Inamoto T., Takashiri M. // Nanotechnology. 2018. V. 9. № 7. P. 075701. https://doi.org/10.1088/1361-6528/aaa31f

  18. Xiao-Yu Wang, Hui-Juan Wang, Bo Xiang et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2018. V. 10. № 27. P. 23277. https://doi.org/10.1021/acsami.8b01719

  19. Bakhtiyarly I.B., Ismaiylova R.A., Gasymov V.A. et al. // Russ. J. Inorg. Chem. 2009. V. 54. № 11. P. 1820. [Бахтиярлы И.Б., Исмайылова Р.А., Гасымов В.А., Гейдарова Э.А. // Журн. неорган. химии. 2009. Т. 54. № 11. С. 1900.]

  20. Aliev I.I., Magammedragimova R.S., Aliev O.M., Babanly K.N. // Russ. J. Inorg. Chem. 2019. V. 64. № 4. P. 527. [Алиев И.И., Магаммедрагимова Р.С., Алиев О.М., Бабанлы К.Н. // Журн. неорган. химии. 2019. Т. 64. № 4. С. 421.]https://doi.org/10.1134/S003602361904003X

  21. Садыгов Ф.М., Ильяслы Т.М., Ганбарова Г.T. и др. // Неорган. материалы. 2017. Т. 53. № 7. С. 681. [Sadygov F.M., Il’yasly T.M., Ganbarova G.T. et al. // Inorg. Mater. 2017. V. 53. P. 665.https://doi.org/10.7868/S0002337X17070016

  22. Садыгов Ф.М., Мамедова С.Г., Бабанлы М.Б., Ильясов Т.М. // Журн. неорган. химии. 2001. Т. 46. № 8. С. 1382. [Sadygov F.M., Mamedova S.G., Babanly M.B., Il’yasov T.M. // Russ. J. Inorg. Chem. 2001. V. 46. № 8. P. 1247.]

  23. Кертмат А.В. // Журн. неорган. химии. 2019. Т. 64. № 1. С. 93. [Kertman A.V. // Russ. J. Inorg. Chem. 2019. V. 64. № 1. P. 130.]https://doi.org/10.1134/S0044457X19010136

  24. Максудова Т.Ф., Алиев И.И. // Журн. неорган. химии. 2003. Т. 48. № 3. С. 497. [Maksudova T.F., Aliev I.I. // Russ. J. Inorg. Chem. 2003. V. 48. № 3. P. 425.]

  25. Заргарова М.И., Мамедов А.Н., Аждарова Д.С. и др. Справочник. Неорганические вещества, синтезированные и исследованные в Азербайджане. Баку: ЭЛМ, 2004. 462 с.

  26. Haixu Qin, Jianbo Zhu, Bo Cui et al. // ACS Appl. Mater. Interfaces. 2020. V. 12. № 1. P. 945. https://doi.org/10.1021/acsami.9b19798

  27. Абрикосов Н.Х., Банкина В.Ф., Проецская Л.В. и др. Полупроводниковые халькогениды и сплавы на их основе. М.: Наука, 1975. 220 с.

  28. Donnay D.H., Ondik H.M. // U.S. Comm. Nat. Bur. Stand. and joint. Commit. Powd. Diff. Stand. 1973. V. 2. P. 1902.

  29. Кузнецов В.Г., Палкина К.К. // Журн. неорган. химии. 1963. Т. 8. № 5. С. 1204. [Kuznetsov V.G., Palkina K.K. // Russ. J. Inorg. Chem. 1963. V. 8. P. 1204.]

  30. Диаграммы состояния двойных металлических систем / Под ред. Лякишева Н.П. М.: Машиностроение, 2001. Т. 3. 872 с.

  31. Коломиец Н.Б. // Заводская лаборатория. 1962. Т. 28. № 2. С. 238.

Дополнительные материалы отсутствуют.