Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2020, № 12, стр. 28-32

Структурные свойства тонких пленок Fe3Si при различных режимах лазерного осаждения

Н. Г. Барковская a, А. И. Грунин a, Е. С. Клементьев ab*, А. Ю. Гойхман a

a НОЦ “Функциональные наноматериалы”, Балтийский федеральный университет им. Иммануила Канта
236016 Калининград, Россия

b Институт ядерных исследований РАН
117312 Москва, Россия

* E-mail: clement@inr.ru

Поступила в редакцию 22.01.2020
После доработки 28.02.2020
Принята к публикации 05.03.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Представлены результаты структурных исследований поликристаллических тонких пленок ферромагнитного силицида Fe3Si, выращенных методом импульсного лазерного осаждения на подложке окисленного кремния. Реализованы различные подходы к осаждению – последовательное соосаждение, осаждение из сплавной мишени и одновременное соосаждение. Методом рентгеновской дифракции была исследована зависимость структурных свойств пленок от параметров осаждения.

Ключевые слова: ферромагнитные силициды, тонкие пленки, импульсное лазерное осаждение, рентгеновская дифракция, резерфордовское обратное рассеяние.

ВВЕДЕНИЕ

Силициды железа – класс материалов, приковывающий пристальное внимание научных групп на протяжении последних десятилетий. Несмотря на, казалось бы, достаточную изученность данного класса материалов, в высокорейтинговых научных журналах каждый год публикуются десятки статей, посвященных им. Причиной такого интереса служат два фактора. Во-первых – это большое количество наблюдаемых в силицидах железа свойств и эффектов, потенциально применимых для различных приложений – спинтроники, фотовольтаики, термоэлектрики, магнитного охлаждения, полупроводниковой промышленности и т.д. Во-вторых, составляющие данный класс интерметаллидов материалы – кремний и железо, являются одними из наиболее распространенных элементов на Земле и самыми применяемыми материалами в промышленности. Для многих приложений силициды железа способны заменить более дорогие и более токсичные соединения. Ферромагнитные силициды FexSi являются многообещающими материалами для приложений спинтроники [1, 2], благодаря наблюдаемой в них высокой степени спиновой поляризации, превышающей 50% [3], а также достаточно высокой температурой Кюри (до 850 К). Как показывают последние исследования, совершенство кристаллической структуры имеет огромное влияние на свойства и эффекты даже в случае объемных образцов силицидов железа [4]. При переходе же к тонким пленкам эффекты влияния степени кристалличности, нарушения стехиометрии и параметров синтеза на функциональные свойства структуры будут сильно возрастать. Условия синтеза тонкопленочных наноструктур зачастую оказывают решающее влияние на свойства формируемых образцов, даже если речь идет о высоко-ориентированных и эпитаксиальных тонких пленках. Кроме того, даже в рамках одного метода могут быть выбраны разные подходы к формированию образцов таких материалов. Обзор литературы показывает, что для напыления тонкопленочных структур Fe3Si используются различные методы молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) [57], импульсного лазерного осаждения (ИЛО) [8, 9] а также магнетронного распыления [10, 11]. Из рассмотренных методов наибольшей гибкостью (по количеству и диапазону варьируемых параметров) обладает метод ИЛО, который и был выбран для экспериментов по росту структур Fe3Si.

В данной работе приведены результаты исследований влияния различных параметров осаждения тонких пленок силицида железа Fe3Si методом импульсного лазерного осаждения (ИЛО) на структурные свойства синтезируемых образцов.

МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

Благодаря высокой гибкости метода импульсного лазерного осаждения, в данной работе были реализованы три методики формирования тонких поликристаллических пленок силицида железа FexSi (2 < x < 4), а именно осаждение из сплавной мишени, последовательное соосаждение чистых металлов и одновременное соосаждение двумя лазерами.

Осаждение из сплавной мишени является наиболее простым способом формирования тонких пленок интерметаллических соединений. В качестве мишени был использован стехиометрический сплав Fe3Si, полученный методом дуговой плавки. Образец № 1 осаждался на монокристаллическую подложку кремния (100) с толщиной окисла на поверхности 300 нм. Для распыления мишени использован Nd:YAG лазер на второй гармонике (длина волны 532 нм) с длительностью импульса 7 нс и энергией 290 мДж. Осаждение проводилось в высоком вакууме (не хуже 10–7 Па) при комнатной температуре подложки с последующим вакуумным отжигом при 500°С.

Следующий подход заключался в последовательном цикличном осаждении чистых мишеней Fe и Si в течение 10–16 циклов. Соотношение элементов в образцах варьировалось соотношением импульсов по мишеням в цикле, толщина – энергией импульса и количеством циклов. Образцы осаждались Nd:YAG лазером на четвертой гармонике (длина волны 266 нм) с энергией импульса 47 мДж. Для образцов этой серии применены разные режимы термообработки: осаждение проводилось при комнатной температуре подложки с последующим отжигом при 500°С, а также напыление на подложку при температуре 150°C. Основные параметры формирования образцов приведены в табл. 1.

Таблица 1.  

Основные параметры формирования образцов последовательным осаждением

Номер образца Количество импульсов за цикл Количество циклов Температура подложки Тп, °C Толщина,
нм
Температура отжига Т0, °C
Fe Si
2 6000 1000 10 25 65 500
3 10 000 1000 16 150 34
4 7200 1200 10 25 30 500

Методика одновременного двухлазерного соосаждения заключается в одновременном осаждении мишеней Fe и Si двумя независимыми Nd:YAG лазерами. Мишень Fe распылялась на длине волны 532 нм с энергией импульса 75 мДж, количество импульсов по мишени Fe составляло 90000. Мишень Si распылялась на длине волны 266 нм с энергией импульса 47 мДж, количество импульсов по мишени Si составляло 9000 имп. Как и в предыдущих случаях, в качестве подложки использовался монокристаллический кремний с термическим окислом. Образец осаждался при комнатной температуре, для кристаллизации тонкопленочной структуры проводился отжиг при температуре 500°С в течениe часа.

Соотношение элементов былo проверено методами энергодисперсионного рентгеноспектрального микроанализа (ЭДС) и резерфордовского обратного рассеяния (РОР). Также методом РОР определялись толщины тонкопленочных образцов. Исследование структурных свойств проводилось методом рентгеновской дифракции на дифрактометре Bruker Discover D8.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

1. Осаждение из сплавной мишени

Как уже было сказано выше, данный способ роста тонкопленочных интерметаллидов является наиболее распространенным. Дифрактограмма образца № 1, синтезированного из сплавной мишени Fe3Si, представлена на рис. 1.

Рис. 1.

Дифрактограмма образца № 1, осажденного из сплавной мишени.

Наблюдаемая картина дифракции не характерна для фазы Fe3Si. Из этого можно сделать вывод об отсутствии переноса стехиометрического состава мишени в образец. Данные Резерфордовского обратного рассеяния подтверждают данный вывод – соотношение железа к кремнию в образце достигает 10 к 1.

Данная ситуация могла возникнуть по двум причинам:

1. Так называемый эффект селективного испарения. При абляции с поверхности мишени происходит неравномерное испарение элементов. То есть происходит постепенное изменение элементного состава как на поверхности мишени, так и в самом образце. Таким образом, качество получаемых образцов недостаточно для получения высококачественных эпитаксиальных структур.

2. Следующей ключевой особенностью метода импульсного лазерного осаждения является высокая энергия частиц в плазменном факеле. Это дает уникальные возможности для формирования не только эпитаксиальных пленок, но и других наноструктур, например, нановискеров. Однако, для роста интерметаллидов данная особенность может иметь негативные последствия. В случае, если в составе сплава имеется материал с высоким коэффициентом ионного распыления, то энергий частиц плазменного факела может быть достаточно для начала перераспылений, т.е. распыления материала с поверхности подложки частицами осаждаемого материала. Это приводит к существенной разнице в соотношении элементов в образце и мишени.

Данная проблема может быть решена двумя путями. Во-первых, изготовлением новой мишени с подбором иного соотношения элементов. Однако такой способ решения проблемы может оказаться достаточно трудоемким. Вторая возможность – введение в камеру роста высокого давления буферного инертного газа во время осаждения. Буферный газ предназначен для снижения скорости высокоэнергетической части плазменного факела. Недостатком такой методики является возможность окисления элементов и внесения примесей в образец из-за высокой реакционной способности железа и кремния и крайне низких скоростей осаждения.

2. Последовательное соосаждение из мишеней чистых металлов

Как отмечалось выше, данный подход состоит в последовательном цикличном осаждении из мишеней чистого железа и кремния небольшого количества вещества (несколько монослоев). Кристаллизация тонкопленочного интерметаллида происходит вследствие термообработки, т.е. образец либо осаждается на разогретую подложку, либо отжигается в течение некоторого времени после завершения осаждения. Формирование тонких пленок силицидов железа таким образом позволяет отказаться от использования сплавных мишеней и формировать образцы любого стехиометрического состава.

Однако данный подход имеет некоторые особенности.

Неправильный подбор параметров осаждения может приводить к неполному перемешиванию слоев материала и, как следствие, к стехиометрической и структурной неравномерности сплава как по толщине, так и по площади тонкой пленки.

Для калибровки скоростей осаждения и получения необходимой концентрации элементов на подложке высокоориентированного пиролитического графита были осаждены тонкие пленки Fe–Si. Калибровка скоростей роста пленок и концентраций элементов проводилась путем последовательного формирования тонких пленок Fe–Si и анализа их структурных свойств методами РОР и ЭДС.

Дифрактограммы образцов № 2 и 3, сформированных методом последовательного осаждения, продемонстрированы на рис. 2. Картина дифракции образца № 2 (рис. 2а) полностью соответствует фазе Fe3Si [9]. Несмотря на более низкую температуру термообработки (Ts = 150°С), образец № 3 демонстрирует достаточно хорошую для тонкой поликристаллической пленки кристаллизацию (рис. 2б). Демонстрируемые положения пиков в этом случае гораздо ближе к чистому железу из-за изменения соотношения импульсов между мишенями кремния и железа. Параметры формирования образца № 4 полностью повторяли параметры роста образца № 2.

Рис. 2.

Дифрактограмма образцов сформированных методикой последовательного осаждения: а – образец № 2 (температура подложки 25°C, температура отжига 500°C), б – образец №3 (температура подложки 150°C).

Полученная картина дифракции (не приведена) полностью совпадает с результатами, полученными для образца № 2, что позволяет говорить о хорошей повторяемости данного подхода к формированию тонкопленочных силицидов железа.

3. Одновременное двухлазерное соосаждение из мишеней чистых металлов

Следующим подходом, использованным для формирования тонкопленочных образцов интерметаллида Fe3Si, было одновременное осаждение из мишеней Fe и Si с использованием двух независимо работающих лазеров. Данная методика лишена недостатков предыдущих и уже применялась коллективом авторов для формирования высококачественных тонких пленок интерметаллидов [5, 8, 9].

На рис. 3 представлена дифрактограмма образца, полученного путем одновременного двухлазерного соосаждения из мишеней Fe и Si. На дифрактограмме наблюдаются картина, характерная для фазы Fe3Si. Как и в предыдущем случае, образец демонстрирует достаточно хорошую кристалличность.

Рис. 3.

Дифрактограмма образца № 5, осажденного методикой одновременного двухлазерного соосаждения.

ВЫВОДЫ

Проведена отработка трех различных подходов к формированию тонких пленок силицидов железа FexSi – осаждение из сплавной мишени, последовательное соосаждение из мишеней чистых металлов и одновременное двухлазерное соосаждение. Методами РОР и ЭДС изучались зависимости соотношения элементов в образцах в зависимости от параметров эксперимента. Показано, что при осаждении из сплавной мишени при выбранных условиях не происходит переноса стехиометрии мишени в образец – концентрация кремния в тонкопленочном образце оказалась более чем в три раза ниже, чем в использованной мишени. Оставшиеся два подхода к формированию тонкопленочных силицидов железа – последовательное и одновременной двухлазерное соосаждение – позволяют достаточно прецизионно регулировать соотношения элементов в образцах в широком диапазоне концентраций. Показано, что обе методики подходят для управления соотношением элементов и получения необходимой структурной фазы. При помощи обеих методик были получены тонкие пленки сплава Fe3Si. Синтезированные тонкие пленки демонстрируют высокую степень однородности и кристаллизации. При этом данные подходы позволяют избежать возможного разброса по соотношению элементов в толщине тонких пленок и могут быть использованы для синтеза эпитаксиальных структур.

Список литературы

  1. Sun Y., Zhuo Z., Wu X., Yang J. // Nano Letters. 2017. V. 17. № 5. P. 2771.

  2. Chen W., Li R., Liu Y. // Advances in Materials Science and Engineering. 2017. V. 2017. P.460.

  3. Odkhuu D., Yun W.S., Hong S.C. // Thin Solid Films. 2011. V. 519. № 23. P. 8218.

  4. Fang Y., Ran S., Xie W., Wang S., Meng Y.S. et al. // Proceedings of the National Academy of Sciences. 2018. V. 115. № 34. P. 8558.

  5. Yakovlev I.A., Varnakov S.N., Belyaev B.A.E., Zharkov S.M., Molokeev, M.S. et al. //JETP Letters. 2014. V. 99. № 9. P. 527.

  6. Варнаков С.Н., Яковлев И.А., Лященко С.А., Овчинников С.Г., Бондаренко Г.В. // Сибирский журнал науки и технологий. 2010. V. 30. №. 4. С. 45.

  7. Volochaev M.N., Tarasov I.A., Loginov Y.Y., Cherkov A.G., Kovalev I.V. // J. Phys.: Conf. Ser. IOP Publish. 2017. V. 857. № 1. P. 012053.

  8. Nakagauchi D., Yoshitake T., Nagayama K. // Vacuum. 2004. V. 74. № 3–4. P. 653.

  9. Lin F., Jiang D., Ma X., Shi W. // Thin Solid Films. 2007. V. 515. № 13. P. 5353.

  10. Liew S.L., Seng D.H.L., Tan H.R., Chi D. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2009. V. 42. №. 10. P. 105006.

  11. Liew S.L., Seng D.H.L., Tan H.R., Chi D. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2009. V. 42. № 10. P. 105006.

Дополнительные материалы отсутствуют.