Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2023, № 10, стр. 3-12

Тонкая кристаллическая структура, спектральные свойства и микроморфология поверхности пленок 1,3,5-триамино-2,4,6-тринитробензола, 1,1-диамино-2,2-динитроэтилена и бензотрифуроксана, полученных методом кристаллизации из газовой фазы

А. В. Станкевич a*, А. В. Соболевская a, А. Н. Грецова a, М. С. Стрельцова a, О. А. Фролова a

a Российский федеральный ядерный центр – Всероссийский НИИ технической физики имени академика Е.И. Забабахина
456770 Снежинск, Россия

* E-mail: A.V.Stankevich@vniitf.ru

Поступила в редакцию 12.01.2023
После доработки 20.03.2023
Принята к публикации 20.03.2023

Аннотация

Проведены исследования структуры тонких пленок различной толщины из бензотрифуроксана, 1,3,5-триамино-2,4,6-тринитробензола и 1,1-диамино-2,2-динитроэтилена, полученных методом кристаллизации из газовой фазы на различных подложках: алюминия, полиэтилентерефталата, подпергамента, кварцевого стекла, полимерной смолы, кремния и сапфира. Проведена предварительная подготовка газообразных продуктов, которые были получены методом термовакуумной сублимации. Установлено, что молекулярное строение получаемых тонких пленок соответствует исследуемым веществам. Определена текстура пленок. В основной массе их морфология определяется частицами, имеющими столбчатую форму, неравновесную огранку и развитую поверхность. Измерения проводили методами рентгеновской дифрактометрии, спектроскопии комбинационного рассеяния света, ИК-спектроскопии, спектрофотометрии в видимой, ультрафиолетовой и ближней инфракрасной областях, оптической и электронной микроскопии. Проведены исследования топологии поверхности и электронных свойств полученных текстурированных пленок.

Ключевые слова: структура поверхности, текстура, микроморфометрические характеристики, габитус, микродисторсия, сверхчистые вещества, бензотрифуроксан, 1,3,5-триамино-2,4,6-тринитробензол, 1,1-диамино-2,2-динитроэтилен, эпитаксия, газофазное осаждение, спектральные свойства.

Список литературы

  1. Лебедев Ю.А., Мирошниченко Е.А. Термохимия парообразования органических веществ. М.: Наука, 1981. 216 с.

  2. Минайчев В.Е. Нанесение пленок в вакууме. Технология полупроводниковых приборов и изделий микроэлектроники. Кн. 6. М.: Высшая школа, 1989. 110 с.

  3. Гребенкин К.Ф. Полупроводниковая модель инициирования детонации ТАТБ // Тр. V междунар. конф. “Забабахинские научные чтения”, Снежинск, 21–25 сентября, 1998. Ч. 1. С. 189.

  4. Мильченко Д.В., Губачев В.А., Андриевских Л.А., Вахмистров С.А., Михайлов А.Л., Бурнашов В.А., Халдеев Е.В., Пятойкина А.И., Журавлев С.С., Герман В.Н. // Физика горения и взрыва. 2015. Т. 51. № 1. С. 96.

  5. German V.N., Fisenko A.K., Khokhlov N.P. Laser Radiation Induced Detonation in HE Samples Produced by Thermovacuum Deposition // Proc. 1998 Life Cycles of Energetic Material Conf. USA, 1998. P. 67.

  6. Мильченко Д.В., Губачев В.А., Михайлов А.Л., Вахмистров С.А., Титова Н.Н. Перспективы применения аддитивных технологий в ИФВ РФЯЦ-ВНИИЭФ для изготовления изделий, содержащих взрывчатые материалы // Науч.-практ. конф. “Аддитивные технологии в российской промышленности”. Москва, 10 февраля 2015. С. 197.

  7. Тайбинов Н.П., Станкевич А.В., Костицын О.В., Лобойко Б.Г., Гармашев А.Ю. Перспективы развития комплекса аддитивные технологии для энергетических материалов на базе РФЯЦ-ВНИИТФ // Науч.-практ. конф. “Аддитивные технологии в российской промышленности”. Москва, 10 февраля 2015. С. 217.

  8. Deopura B.L., Gupta V.D. // J. Chem. Phys. 1971. V. 54. P. 4013. https://doi.org/10.1063/1.1675458

  9. Towns T.G. // Spectrochim. Acta. A. 1983. V. A. P. 801.

  10. Vergoten G., Fleury G., Blain M., Odiot S. // J. Raman Spectr. 1985. V. 16. P. 143.

  11. Latypov N.V., Bergman J., Langlet A., Wellmar U., Bemm U. // Tetrahedron. 1998. V. 54. P. 11525.

  12. Bishop M.M., Chellappa R.S., Pravica M., Coe J., Liu Zh., Dattlebaum D., Vohra Y., Velisavljevic N. // J. Chem. Phys. 2012. V. 137. P. 174304.

  13. Gao B., Wu P., Huang B. // New J. Chem. 2014. V. 38. Iss. 6. P. 2334.

  14. Zhao X., He D., Ma X., Liu X., Xu Z., Chen L., Wang J. // RSC Adv. 2021. V. 11. P. 33522.

  15. Chugunova E.A., Timasheva R.E., Gibadullina E.M., Burilov A.R., Goumont R. // Propellants Explos. Pyrotech. 2012. V. 37. P. 390. https://doi.org/10.1002/prep.201200080

  16. Cady H.H., Larson A.C. // Acta Crystallogr. 1965. V. 18. P. 485.

  17. Станкевич А.В., Смирнов Е.Б., Костицын О.В., Тэн К.А., Шмаков А.Н., Толочко Б.П. Анизотропное тепловое расширение молекулярного кристалла 1,3,5-триамино 2,4,6-тринитробензола при нормальном давлении // Тез. Школы по подготовке молодых специалистов “Использование синхротронного и терагерцового излучения для исследования высокоэнергетических материалов”. Новосибирск, 15–20 сентября 2015. С. 46.

  18. Станкевич А.В., Слепухин П.А., Лобойко Б.Г., Русинов Г.Л., Костицын О.В., Тайбинов Н.П. Совмещенный рентгеноструктурный анализ термического расширения кристаллов ТАТБ // Тез. междунар. конф. “XIII Забабахинские научные чтения”. Снежинск, 20–24 марта, 2017. С. 99.

  19. Cady H.H., Larson A.C., Cromer D.T. // Acta Crystallogr. 1966. V. 20. P. 336.

  20. Stankevich A.V., Loboilko B.G., Garmashev A.Yu., Kostitsyn O.V., Taibinov N.P. // J. Phys.: Conf. Ser. 2019. V. 1147. P. 012009.

  21. Bemm U., Ostmark H. // Acta Crystallogr. C. 1998. V. 54. P. 1997.

  22. Stankevich A.V., Kostitsyn O.V., Taibinov N.P., Garmashev A.Yu., Petrov D.V. // J. Phys.: Conf. Ser. 2021. V. 1787. P. 012006.

  23. Le Bail A. // J. Solid State Chem. 1989. V. 83. P. 267.

  24. Pawley G.S. // J. Appl. Crystallogr. 1981. V. 14. P. 357.

  25. Pecharsky V.K., Zavalij P.Y. Fundamentals of Powder Diffraction and Structural Characterization of Materials. Kluwer Academic Publishers, 2003. 703 p.

  26. Scardi P., Leoni M. // Acta Crystallogr. A. 2002. V. 58. P. 190.

  27. Eaton J.W., Bateman D., Hauberg S., Wehbring R. GNU Octave. A High-Level Interactive Language for Numerical Computations. Ed. 4 for Octave Version 4.2.1. CARLOS ALBERTO SANTOS UMAÑA, 2017. 1004 p.

  28. Патент 2 566 399 (РФ). МПК G01N 23/20. Способ определения структуры молекулярных кристаллов / ФГУП РФЯЦ–ВНИИТФ. Станкевич А.В., Костицын О.В., Тайбинов Н.П. // 17.04.2014. 13 с.

  29. Станкевич А.В., Тайбинов Н.П., Костицын О.В., Лобойко Б.Г. Модельно-усиленный анализ дифракционных спектров рентгеновского излучения для определения структуры веществ в порошкообразном виде // Матер. Всеросс. науч. конф. с междунар. участием “II Байкальский материаловедческий форум”. Улан-Удэ, 29 июня–5 июля 2015 г. Ч. 2. С. 195.

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования