Радиотехника и электроника, 2020, T. 65, № 1, стр. 96-99

Управление энергетическими потоками акустических волн в пьезоэлектрических кристаллах

В. И. Анисимкин a*, Н. В. Воронова b

a Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН
125009 Москва, ул. Моховая, 11, стр. 7, Российская Федерация

b НИИ Элпа
124460 Москва, Зеленоград, Панфиловский просп., 10, Российская Федерация

* E-mail: anis@cplire.ru

Поступила в редакцию 22.04.2019
После доработки 22.04.2019
Принята к публикации 28.05.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

Исследована возможность управления энергетическими потоками поверхностных (ПАВ) и нормальных (НАВ) акустических волн в пьезоэлектрических кристаллах без изменения ориентации кристаллов. Показано, что угол Ψ между направлением потока энергии и волновой нормалью ПАВ скачкообразно меняется при металлизации поверхности, а величина скачка зависит от значения коэффициента электромеханической связи волны и его анизотропии в плоскости распространения. Для НАВ угол Ψ дополнительно зависит от номера моды, толщины пластины и длины акустической волны. Благодаря этому излучение мод разных номеров периодическим встречно-штыревым преобразователем (ВШП) на разных частотах осуществляется веерообразно.

ВВЕДЕНИЕ

Направление потока энергии акустических волн имеет важное практическое значение, так как определяет положение приемного преобразователя, принимающего излученный пучок, и вносимые потери акустоэлектронного устройства [1]. Угол Ψ между направлением потока и волновой нормалью зависит от ориентации кристалла и направления распространения волны [2]:

(1)
$\Psi = ({1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 V}} \right. \kern-0em} V})({{dV} \mathord{\left/ {\vphantom {{dV} {d\Theta }}} \right. \kern-0em} {d\Theta }}),$

где V – скорость волны, а Θ – угол, задающий направление волновой нормали относительно кристаллографической оси в плоскости кристалла. Знак и величина угла Ψ определяются наклоном dV/dΘ кривой V(Θ) в выбранном направлении распространения (угле Θ). Большим Ψ соответствуют быстрые изменение V с Θ (большие наклоны dV/dΘ), а нулевым Ψ – экстремумы кривой V(Θ) (dV/dΘ = 0).

При создании практических устройств наряду с направлением потока энергии учитываются и другие характеристики волн – коэффициент электромеханической связи K 2, определяющий эффективность возбуждения, температурный коэффициент задержки, отвечающий за чувствительность волн к температуре, и т.д. Поскольку при этом оптимальные значения разных акустических характеристик достигаются в разных направлениях распространения и для разных ориентаций кристаллов, возникает вопрос о возможности управления этими характеристиками без изменения направления распространения и ориентации.

Цель данной работы – исследовать возможность управления потоками энергии поверхностных и нормальных акустических волн в пьезоэлектрических кристаллах.

1. УПРАВЛЕНИЕ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИМИ ПОТОКАМИ ПАВ

Металлизация поверхности зануляет электрические поля на поверхности пьезокристаллов и уменьшает фазовую скорость волны V. Различие скоростей для свободной V0 и металлизированной Vм поверхностей определяет коэффициент электромеханической связи K 2 = 2(V0Vм)/V0 и его анизотропию в плоскости распространения (угла Θ). Поэтому можно ожидать изменения направления переноса энергии ПАВ при металлизации поверхности.

Для вывода аналитического выражения, описывающего это изменение, запишем значения углов отклонения потока энергии Ψ для свободной (0) и металлизированной (м) поверхностей как Ψ0 = (1/V0)(dV0/dΘ) и Ψм = (1/Vм)(dVм/dΘ). Учтем, что V0, Vм и K 2 зависят от Θ и что K2 = 2(V0Vм)/V0. Выразим Vм через V0 и K 2, подставим в выражение для Ψм и после несложных алгебраических преобразований получим

(2)
${{\Psi }_{{\text{м}}}} = {{\Psi }_{0}}--{{\left\{ {{{d{{K}^{2}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{d{{K}^{2}}} {d\Theta }}} \right. \kern-0em} {d\Theta }}} \right\}} \mathord{\left/ {\vphantom {{\left\{ {{{d{{K}^{2}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{d{{K}^{2}}} {d\Theta }}} \right. \kern-0em} {d\Theta }}} \right\}} {\left\{ {2{\text{ }}--{{K}^{2}}} \right\}}}} \right. \kern-0em} {\left\{ {2{\text{ }}--{{K}^{2}}} \right\}}}.$

Выражение (2) показывает, что отличие углов отклонения потока энергии на металлизированной Ψм и свободной Ψ0 поверхностях пьезокристаллов зависит от коэффициента электромеханической связи волны K 2 и его анизотропии в плоскости распространения. Оно тем сильнее, чем больше величина К 2 и сильнее градиент кривой К 2(Θ) в выбранном направлении Θ. Так как К 2 для всех известных кристаллов и волн не превышает нескольких десятков процентов, то знаменатель выражения (2) всегда положителен, и поэтому Ψм < Ψ0 при dK 2/dΘ > 0, Ψм > Ψ0 при dK 2/dΘ < 0 и Ψм = Ψ0 (отсутствие эффекта металлизации) при dK 2/dΘ = 0 (экстремумы кривой К 2(Θ)).

Численные расчеты подтвердили наличие эффекта металлизации. При этом для слабых пьезоэлектриков (кварц) величина эффекта была мала и составила всего |Ψм – Ψ0 | ~ 0.1°, тогда как для сильных пьезоэлектриков (ниобат лития) – эффект становился более заметным и достигал нескольких градусов. Примечательно, что для срезов с Ψ0 ≈ 0° эффект металлизации мог приводить к изменению не только величины, но и знака угла Ψ, т.е. к “перебрасыванию” вектора потока энергии с одной стороны волновой нормали на другую (это имеет место, например, для YX + 68°-LiNbO3, YX + 35°-LiTaO3 и YX + 55.5°-LiTaO3).

Экспериментальную проверку эффекта металлизации проводили с использованием пьезокристалла XZ-LiNbO3, выбор которого был продиктован большой величиной пьезоэффекта, а также отсутствием отклонения потока энергии на свободной поверхности (Ψ0 = 0°) и его возникновением на металлизированной поверхности (Ψм ≠ 0°). Именно такая постановка эксперимента, по нашему мнению, представлялась наиболее корректной, так как противоположная ситуация не увеличения, а уменьшения угла Ψ при металлизации могла быть отнесена за счет воздействия замедляющего упруго-изотропного материала металлического покрытия, для которого Ψ = 0°.

Измерения проводили с помощью вольфрамового зонда с диаметром острия 100 мкм, на частоте 5 МГц. Протяженность металлической пленки поликристаллического Ti вдоль направления распространения ПАВ составляла 13.6 мм, ее толщина 1000 Å. Точность измерений угла Ψ была равна ± 0.1°. В соответствии с выражением (2) профили ПАВ в отсутствие и присутствии металлического покрытия (рис. 1), измеренные непосредственно после металлической пленки, демонстрируют смещение звукового пучка при металлизации. Величина смещения согласуется с расчетом и соответствует отклонению потока энергии на угол Ψм Å ≈ –2.2°.

Рис. 1.

Профили ПАВ, измеренные в пьезокристалле ZX-LiNbO3 со свободной (1) и металлизированной (2) поверхностями.

2. УПРАВЛЕНИЕ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИМИ ПОТОКАМИ НАВ

Подобно акустическим волнам других типов, потоки энергии нормальных волн в анизотропных кристаллах в общем случае также не совпадают с волновой нормалью [3]. Кроме того, как показали исследования данной работы, они зависят не только от направления распространения (угла Θ), но и от номера моды n (рис. 2, 3, таблица 1). Поэтому обычный встречно-штыревой преобразователь (ВШП), период которого равен длине акустической волны λ, излучает моды разных номеров “веерообразно”, под разными углами Ψn к волновому вектору k (см. рис. 2). Более того, частоты мод также отличаются друг от друга из-за различия скоростей мод (fn = Vn/λ), типы излученных мод не совпадают друг с другом из-за зависимости их поляризации от их номера n, а эффективность возбуждения различна из-за отличия коэффициентов электромеханической связи у мод разных номеров n даже в одном направлении распространения (см. рис. 3) [3]. Так, для пластины LiNbO4 толщиной H/λ = 1.67 энергетические потоки разных мод образуют “веер” с углами Ψn от –13.1° до +5.6°, частоты мод меняются от 12.4 до 34.1 МГц, а типы волн соответствуют как обобщенным волнам Лэмба, так и квазипродольным волнам QL-поляризации (см. рис. 3 и таблицу). При этом плавное изменение толщины пластины H и длины волны λ приводит к постепенному изменению направлений потоков каждой моды [3].

Рис. 2.

Схематичное представление “веерообразного” излучения энергетических потоков нормальных волн разных порядков n: n = 0, f = 12.4 МГц (1); n = 1, f = = 12.7 МГц (2); n = 3, f = 14.2 МГц (3); n = 5, f = = 16.2 МГц (4); n = 7, f = 18.5 МГц (5); k – волновой вектор, Ψn – угол отклонения потока энергии, отсчитываемый от k.

Рис. 3.

Зависимости угла отклонения потока энергии Ψn и коэффициента электромеханической связи $K_{n}^{2}$ нормальных акустических волн разных номеров от направления распространения (угла Θ) в пластине 128°Y,X + 30°-LiNbO3 (углы Эйлера 0°, 37.86°, Θ) толщиной H/λ = 1.67: n = 0 (1), 1 (2), 2 (3), 3 (4)

Таблица 1.  

Характеристики нормальных акустических волн разных номеров n в пластине 128°Y,X+30°-LiNbO4 толщиной H/λ = 1.67 (углы Эйлера 0°, 37.86°, 30°)

n Vn, м/с Ψn, град Тип НАВ
0 3720.69 –13.1 Лэмб
1 3804.95 –8.9 Лэмб
2 4013.36 –0.1 Лэмб
3 4272.11 2.7 Лэмб
4 4678.26 –6.8 Лэмб
5 4858.73 5.3 Лэмб
6 5418.39 –2.8 Лэмб
7 5558.37 5.6 Лэмб
8 6184.44 –1.0 Лэмб
9 6438.84 2.2 Лэмб
10 6620.86 1.6 Лэмб
11 7084.55 –4.1 QL
12 7166.33 1.2 QL
13 7405.95 1.6 Лэмб
14 8049.2 –5.4 Лэмб
15 8162.85 –1.0 Лэмб
16 8411.3 0.8 Лэмб
17 9146.75 –5.5 Лэмб
18 9282.84 –1.7 Лэмб
19 9457.99 0.7 Лэмб
20 10230.8 –5 Лэмб

Экспериментальная проверка зависимости угла отклонения потока энергии Ψn от номера моды n проводилась путем возбуждения волн разных порядков вдоль (Θ = 0°) и под углом (Θ = 30°) к оси Х в пластине 128°Y-LiNbO4 толщиной H/λ = = 1.67. В соответствии с расчетами в первом случае отклонение потоков энергии всех мод отсутствовало (Ψn = 0°), а во втором – максимальные акустические сигналы детектировались разными приемными ВШП, расположенными по дуге вокруг излучающего ВШП, подтверждая зависимость Ψn от n и неравенство нулю углов Ψn. Так, мода нулевого порядка n = 0 наиболее эффективно фиксировалась приемным ВШП, ось которого образовывала угол Θ = –45° с осью Х, что при направлении распространения Θ = 30° к этой оси давало угол отклонения потока энергии, равный Ψn = –15° в хорошем согласии с расчетом (см. таблицу 1).

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Направления потоков энергии поверхностных и нормальных акустических волн могут меняться как за счет металлизации поверхности пьезоэлектрических кристаллов, так и при изменении номера моды, толщины пластины и длины нормальной волны. При этом в первом случае это изменение носит скачкообразный характер и даже в сильных пьезоэлектриках не превышает нескольких градусов, тогда как во втором – оно может происходить плавно и достигать десятка градусов.

Список литературы

  1. Зайцев В.В., Кузнецова И.Е. Акустические волны в тонких пьезоэлектрических пластинах. М.: Радиотехника, 2018.

  2. Козловский К.Н., Ананских А.В., Лавут А.П. // Вопросы радиоэлектроники. Сер. Общетехническая. 1968. Т. 10. № 10. С. 70.

  3. Anisimkin V.I. // IEEE Trans. 2014. V. UFFC-61. № 1. P. 120.

Дополнительные материалы отсутствуют.