Кристаллография

Содержание

Том 66, Номер 6, 2021

 

ОБЗОРЫ
Методы рентгеновской когерентной дифракционной визуализации
П. А. Просеков, В. Л. Носик, А. Е. Благов
843-860
ДИФРАКЦИЯ И РАССЕЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩИХ ИЗЛУЧЕНИЙ
Исследование политипизма в слоистых кристаллах CdInGaS4 электронно-дифракционными методами
М. Г. Кязумов, С. М. Рзаева, А. С. Авилов
861-868
КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕCКАЯ СИММЕТРИЯ
Минимизация набора порождающих элементов федоровской группы
А. М. Банару, В. Р. Широкий, Д. А. Банару
869-876
РЕАЛЬНАЯ СТРУКТУРА КРИСТАЛЛОВ
Образование метастабильной фазы Si(III) в кремнии при воздействии фемтосекундного лазерного излучения
Э. М. Пашаев, В. Н. Корчуганов, И. А. Субботин, И. А. Лихачёв, М. М. Борисов, Е. И. Мареев, Ф. В. Потёмкин
877-879
Поликристалличность в кристаллах арсенида галлия, выращенных методом Чохральского
О. С. Павлова, Т. Г. Югова, С. Н. Князев
880-883
СТРУКТУРА НЕОРГАНИЧЕСКИХ СОЕДИНЕНИЙ
Кристаллическая структура первого представителя группы эвдиалита с примитивной ячейкой
Р. К. Расцветаева, Н. В. Чуканов
884-893
СТРУКТУРА МАКРОМОЛЕКУЛЯРНЫХ СОЕДИНЕНИЙ
Моделирование липидного бислоя, имитирующего внутреннюю мембрану митохондрий
А. А. Юрченко, П. Д. Короткова, А. Р. Гусельникова, А. Б. Шумм, В. И. Тимофеев, Ю. А. Владимиров
894-898
Моделирование комплекса N-метил–D-аспартат (NMDA) рецептора с липидами постсинаптической мембраны
А. С. Комолов, Д. Е. Петренко, В. И. Тимофеев
899-901
Модельная система для изучения транспорта противовирусного препарата
Я. А. Забродская, Ю. Е. Горшкова, А.-П. С. Шурыгина, А. В. Бродская, Д. Е. Бобков, А. Н. Горшков, А. Б. Бондаренко, Д. В. Лебедев, В. В. Егоров
902-912
ФИЗИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА КРИСТАЛЛОВ
Анизотропия микротвердости и разрушения кристалла лангасита и ее структурная основа
Н. Л. Сизова, Т. Г. Головина, А. Ф. Константинова, А. П. Дудка
913-918
ПОВЕРХНОСТЬ, ТОНКИЕ ПЛЕНКИ
Эффекты неупругого рассеяния электронов на сверхгладкой поверхности сапфира с нанослоями Au и Pt
А. В. Буташин, А. Э. Муслимов, А. М. Исмаилов, В. М. Каневский
919-924
Микроанализ пленок SmS, полученных магнетронным распылением мишени
Е. Б. Баскаков, В. И. Стрелов
925-929
Определение параметров пленок, формируемых на жидкой субфазе, по данным рефлектометрии
С. Б. Астафьев, Л. Г. Янусова
930-932
Самоорганизующиеся квантовые точки из материала с колоссальным магнитосопротивлением La0.7Ca0.3MnO3, выращиваемого на кристаллах MgO
Е. А. Степанцов
933-938
Структура и свойства наноструктурированных SZO-пленок, полученных электронно-лучевым испарением
В. В. Привезенцев, А. П. Сергеев, А. А. Фирсов, Е. Е. Якимов, Д. В. Иржак
939-943
НАНОМАТЕРИАЛЫ, КЕРАМИКА
Морфология, фазовый состав и свойства наноразмерных частиц на основе феррита галлия, синтезированных методом химического сгорания
Н. И. Снегирёв, С. С. Старчиков, И. С. Любутин, Ю. Л. Огаркова, М. В. Любутина, Ч.-Р. Линь
944-948
Влияние спектра рентгеновского излучения на результат томографической реконструкции пористых керамических мембран
М. В. Григорьев, Ю. С. Кривоносов, А. В. Бузмаков, М. В. Чукалина, В. Е. Асадчиков, В. И. Уваров
949-958
Структура нанопроволок Fe–Co, полученных методом матричного синтеза
О. М. Жигалина, Д. Н. Хмеленин, И. М. Иванов, И. М. Долуденко, Д. Л. Загорский
959-966
РОСТ КРИСТАЛЛОВ
Рост из растворов, структура и спектрально-люминесцентные свойства кристаллических пленок ди-н-гексил-пара-кватерфенила
В. А. Постников, Г. А. Юрасик, А. А. Кулишов, М. С. Лясникова, О. В. Борщев, Е. А. Свидченко, Н. М. Сурин
967-974
Выращивание соединений KR3F10 (R = Tb–Er) методом вертикальной направленной кристаллизации. II. Уточнение характера плавления, выращивание и некоторые физические свойства кристаллов KDy3F10
Д. Н. Каримов, И. И. Бучинская, П. А. Попов, А. В. Кошелев, Н. В. Самсонова
975-979
Исследование осевого распределения компонентов кристаллов твердого раствора Sr1 − xTbxF2 + x при его направленной кристаллизации из расплава
Н. И. Сорокин, Д. Н. Каримов, Н. А. Ивановская
980-984
КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ В ГУМАНИТАРНЫХ НАУКАХ
Электронно-микроскопические исследования письменных памятников Российской национальной библиотеки
Е. Ю. Терещенко, А. Л. Васильев, Е. А. Ляховицкий, А. П. Балаченкова, Д. О. Цыпкин, Е. Б. Яцишина
985-992
ПРОГРАММНОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ
Разработка программного обеспечения для определения параметров распределения пор и сегрегаций легирующих элементов в сталях аустенитного класса после ионного облучения
А. С. Фролов, Е. В. Алексеева, Е. А. Кулешова
993-999
Устранение градиента освещенности на ПЭМ-изображениях. Реализация алгоритма в программе TEM Imaging&Analysis
А. В. Заводов
1000-1008

Информация о выпуске

  • Всего статей
    24
  • Страницы
    843-1008

Кристаллография