Микроэлектроника

Содержание

Том 50, Номер 2, 2021

КВАНТОВЫЕ КОМПЬЮТЕРЫ

Фотонная молекула с механической настройкой частоты для оптического измерения полупроводникового зарядового кубита
А. В. Цуканов, И. Ю. Катеев

Информация о статьеПолный текст (PDF)

83-99

ПЛАЗМЕННЫЕ ТЕХНОЛОГИИ

Кинетика реактивно-ионного травления Si, SiO₂ и Si₃N₄ в плазме C₄F₈ + O₂ + Ar: эффект соотношения C₄F₈/O₂
А. М. Ефремов, K.-H. Kwon

Информация о статьеПолный текст (PDF)

100-109

ТЕХНОЛОГИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ

Устойчивость эмиссионных характеристик термо- и холодно-полевых катодов к вакуумным условиям эксплуатации
Р. К. Яфаров, А. В. Сторублев

Информация о статьеПолный текст (PDF)

110-115

ПРИБОРЫ

Детекторы одиночных фотонов на основе ОЛФД – схемотехнические решения и режимы работы
А. В. Лосев, В. В. Заводиленко, А. А. Козий, Ю. В. Курочкин, А. А. Горбацевич

Информация о статьеПолный текст (PDF)

116-126

Влияние диэлектриков затворов полевых графеновых транзисторов на вольт-амперные характеристики
И. И. Абрамов, Н. В. Коломейцева, В. А. Лабунов, И. А. Романова, И. Ю. Щербакова

Информация о статьеПолный текст (PDF)

127-134

Дробно-квадратичная аппроксимация и инвариантные свойства кривой намагничивания Nickel Steel Carpenter 49
А. А. Пенин, Ю. Б. Савва, А. С. Сидоренко

Информация о статьеПолный текст (PDF)

135-145

МОДЕЛИРОВАНИЕ

Моделирование кристаллизации, корреляции свойств от состава и размера частиц в двумерных GaS_xSe_{1 – x}(0 ≤ х ≤ 1)
С. М. Асадов, С. Н. Мустафаева, В. Ф. Лукичев

Информация о статьеПолный текст (PDF)

146-160

Информация о выпуске

Микроэлектроника