Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

Содержание

Номер 12, 2020
Классификация фрактальных и нефрактальных объектов в пространстве двух измерений
П. М. Пустовойт, Е. Г. Яшина, К. А. Пшеничный, С. В. Григорьев
3-11
Структурные и транспортные особенности sp-углеродных пленок, синтезированных импульсно-плазменным методом на различных металлических подложках
И. П. Иваненко, С. В. Краснощеков, А. В. Павликов, С. В. Дворяк, А. А. Дудин, В. В. Хвостов
12-20
Захват дейтерия в наноструктурированном поверхностном слое вольфрама, образованном при высокотемпературном облучении гелиевой плазмой
З. Р. Арутюнян, О. В. Огородникова, А. С. Аксенова, Ю. М. Гаспарян, В. С. Ефимов, М. М. Харьков, А. В. Казиев, Н. В. Волков
21-27
Структурные свойства тонких пленок Fe3Si при различных режимах лазерного осаждения
Н. Г. Барковская, А. И. Грунин, Е. С. Клементьев, А. Ю. Гойхман
28-32
Выход изотопов водорода из Pd при радиационном, джоулевом и термическом воздействии
Ю. И. Тюрин, В. С. Сыпченко, Н. Н. Никитенков, Чжан Хунжу, И. П. Чернов
33-38
Рентгеновское интерферометрическое исследование влияния постоянного магнитного поля на динамическое поведение дислокаций в кристаллах кремния
Г. Р. Дрмеян
39-43
Разрешающая способность двухэнергетического метода при детектировании материалов в радиографии
С. М. Осадчий, А. А. Петухов, В. Б. Дунин
44-49
Гибридный девятиполюсный вигглер как источник “жесткого” рентгеновского излучения на ускорительном комплексе ВЭПП-4
Г. Н. Баранов, К. Э. Купер, П. А. Пиминов, П. Д. Воблый, А. А. Легкодымов, Л. И. Шехтман, А. Н. Шмаков, Е. Б. Левичев
50-53
Микротомографический анализ пористых металлокерамических мембран с использованием усовершенствованных алгоритмов фильтрации и бинаризации
М. В. Григорьев, И. Г. Дьячкова, А. В. Бузмаков, М. А. Поволоцкий, В. В. Кохан, М. В. Чукалина, В. И. Уваров
54-63
Вклад автоионизационных процессов в электронные тормозные потери
А. Н. Зиновьев, П. Ю. Бабенко, А. П. Шергин
64-69
Двухпотоковая модель обратного рассеяния моноэнергетического пучка электронов: приложение к задачам диагностики тонкопленочных структур
Н. Н. Михеев
70-77
Молекулярно-динамическое моделирование процессов взаимодействия импульсных пучков ионов с металлами
И. В. Пузынин, Т. П. Пузынина, И. Г. Христов, Р. Д. Христова, З. К. Тухлиев, З. А. Шарипов
78-82
Влияние поверхностного нанорельефа на распыление аморфного углерода
В. И. Шульга
83-88
Расчет миниатюрной формирующей линзы высоковольтного электронного литографа
В. В. Казьмирук, И. Г. Курганов, Т. Н. Савицкая
89-94
Регрессионные модели для сигнала полевой электронной эмиссии
Н. В. Егоров, М. И. Вараюнь, В. М. Буре, А. Ю. Антонов
95-104
Способ изготовления микрофлюидных биочипов
А. Н. Генцелев, Ф. Н. Дульцев, А. В. Варанд, В. И. Кондратьев
105-112

Информация о выпуске

  • Всего статей
    16
  • Страницы
    3-112

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования