Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования

Содержание

Номер 5, 2021

 

Применение метода фазово-амплитудных функций в рентгеновской и нейтронной рефлектометрии
Ю. А. Саламатов, Е. А. Кравцов
3-12
Влияние режимов роста гетероструктур CaF2/(Si + CaF2)/CaF2/Si(111) на спектр фотолюминесценции
А. А. Величко, А. Ю. Крупин, Н. И. Филимонова, В. А. Илюшин
13-19
Агрегация полимерных микроглобул на поверхности поперечных срезов монолитных кварцевых капиллярных колонок
Н. А. Бубис, С. В. Мякин, А. Ю. Шмыков
20-26
Мультифрактальная структура поверхности сверхрешеток Cu/Co
И. Г. Григоров, Л. Н. Ромашев
27-32
Морфология и структурные свойства эпитаксиальных пленок AlGaInSbAs, выращенных на подложках InAs
Л. С. Лунин, М. Л. Лунина, Д. Л. Алфимова, А. С. Пащенко, О. С. Пащенко
33-41
Модификация импульсным электронным пучком поверхности образцов Al–Mg-сплава, полученного методами аддитивных технологий: структура и свойства
Я. Гэн, И. А. Панченко, С. Чэнь, С. В. Коновалов, Ю. Ф. Иванов
42-46
Формирование наночастиц в Si, имплантированном ионами цинка и кислорода с последующим отжигом в вакууме
В. В. Привезенцев, А. Н. Палагушкин, В. С. Куликаускас, В. И. Зиненко, О. С. Зилова, А. А. Бурмистров, Т. С. Ильина, Д. А. Киселев, А. Ю. Трифонов, А. Н. Терещенко
47-55
Модернизированный Bosch-процесс травления для формирования конических структур на поверхности кремния
А. С. Рудый, О. В. Морозов, С. В. Курбатов
56-62
Термо-ЭДС тонких пленок висмута на слюде
В. А. Герега, В. М. Грабов, Е. В. Демидов, В. А. Комаров, А. В. Суслов, М. В. Суслов
63-67
Микротопография и микроструктура поверхности быстрорежущей стали после газолазерной резки
Л. Е. Афанасьева, В. В. Измайлов, М. В. Новоселова
68-75
Микроструктурные исследования нефтенасыщенных пород в РЭМ при моделировании фильтрационных процессов
В. А. Кузьмин
76-83
Технологии искусственного интеллекта и машинного обучения для двумерных материалов
Д. Ю. Кирсанова, М. А. Солдатов, З. М. Гаджимагомедова, Д. М. Пашков, А. В. Чернов, М. А. Бутакова, А. В. Солдатов
84-94
Количественный анализ рентгеноспектральных данных для смеси соединений методами машинного обучения
А. С. Алгасов, С. А. Гуда, А. А. Гуда, Ю. В. Русалёв, А. В. Солдатов
95-101
Калибровка растрового электронного микроскопа. 1. Выбор параметров РЭМ
Ю. А. Новиков
102-112

Информация о выпуске

  • Всего статей
    14
  • Страницы
    3-112

Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования