Физика и химия стекла, 2019, T. 45, № 2, стр. 152-160

Эффективные заряды атомов ВТСП керамик La2 – xSrxCuO4, определенные в результате анализа параметров ядерного квадрупольного взаимодействия

А. В. Марченко 1, Ф. С. Насрединов 2, В. С. Киселев 1, П. П. Серегин 1*, К. Б. Шахович 1

1 Российский государственный педагогический университет им. А.И. Герцена
191186 Санкт-Петербург, наб. р. Мойки, 48, Россия

2 Санкт-Петербургский политехнический университет Петра Великого
195251 Санкт-Петербург, ул. Политехническая, 29, Россия

* E-mail: ppseregin@mail.ru

Поступила в редакцию 11.01.2018
После доработки 08.10.2018
Принята к публикации 13.04.2018

Полный текст (PDF)

Аннотация

Методом сравнения рассчитанных (модель точечных зарядов) и экспериментальных (мессбауэровская спектроскопия и ядерный магнитный резонанс) параметров ядерного квадрупольного взаимодействия показано, что эффективные заряды всех атомов решеток сверхпроводящих керамик La2 –xSrxCuO4 соответствуют стандартным степеням их окисления за исключением атомов плоскостного кислорода, пониженный заряд которых интерпретируется как результат локализации на них дырки, возникающей при замещении ионов La3+ на Sr2+.

Ключевые слова: высокотемпературные сверхпроводники, ядерное квадрупольное взаимодействие, мессбауэровская спектроскопия, эффективные заряды

ВВЕДЕНИЕ

Замещение ионов La3+ на Sr2+ в структуре керамических твердых растворов La2 − xSrxCuO4 сопровождается появлением сверхпроводимости и решающую роль в этом процессе играют дырки, возникающие при замещении [1] (под дыркой понимается незаполненная валентная связь, которая проявляет себя как положительный заряд, численно равный заряду электрона). Пространственную локализацию дырок в решетках La2 −xSrxCuO4 можно установить путем сравнения экспериментальных параметров ядерного квадрупольного взаимодействия (ЯКВ), определенных методами эмиссионной мессбауэровской спектроскопии (ЭМС) или ядерного магнитного резонанса (ЯМР), и параметров тензора градиента электрического поля (ГЭП), рассчитанных в рамках модели точечных зарядов [2].

Параметрами диагонализированного тензора ГЭП на ядрах-зондах в кристаллической решетке являются его главная компонента Uzz и параметр асимметрии η = = (UxxUyy)/Uzz, где компоненты тензора ГЭП Uхх, Uyy, Uzz связаны соотношениями Uxx + Uyy + Uzz = 0 и |Uxx | ≤ |Uyy | ≤ |Uzz |.

Параметрами ЯКВ являются постоянная квадрупольного взаимодействия C = eQUzz (здесь eQ – квадрупольный момент ядра-зонда) и η, причем в общем случае

(1)
$eQ{{U}_{{zz}}} = eQ(1--\gamma ){{V}_{{zz}}} + eQ(1--R){{W}_{{zz}}},\,\,\,\,\eta = \left( {{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 {{{U}_{{zz}}}}}} \right. \kern-0em} {{{U}_{{zz}}}}}} \right)[(1--\gamma ){{V}_{{zz}}}{{\eta }_{{{\text{lat}}}}} + \left( {1--R} \right){{W}_{{zz}}}{{\eta }_{{{\text{val}}}}}],$
где Vzz, Wzz, Uzz – главные компоненты тензоров решеточного, валентного и суммарного ГЭП, ηlat = (VxVyy)/Vzz, ηval = (WxxWyy)/Wzz – параметры асимметрии тензоров решеточного и валентного ГЭП, γ и R – коэффициенты Штернхеймера, которые учитывают антиэкранирование и экранирование внутренними электронными оболочками атома-зонда ГЭП, создаваемого внешними зарядами.

Для зондов с полностью (или наполовину) заполненной валентной оболочкой Wzz ≈ 0 (такой зонд называется кристаллическим), расчет тензора кристаллического ГЭП можно проводить в рамках модели точечных зарядов, а экспериментальные параметры ЯКВ Cexp и ηexp сопоставляются с расчетными параметрами тензора кристаллического ГЭП:

(2)
${{\eta }_{{{\text{lat}}}}}\,\,{\text{и }}\,\,C = \alpha {{V}_{{zz}}},\,\,{\text{г д е }}\,\,\alpha = eQ(1--\gamma ).$

Такое сопоставление при наличии данных для достаточного числа зондов позволяет определить эффективные заряды всех атомов решетки.

При исследовании твердых растворов La2 −xSrxCuO4 методом ЭМС условия кристалличности зондов выполняются для изотопов 67Cu(67Zn) и 67Ga(67Zn) [3]. После распада материнских ядер 67Cu и 67Ga в узлах меди или лантана оказывается зонд 67Zn2+ со сферически симметричной 3d10-оболочкой. Время жизни мессбауэровского уровня 67Zn составляет ~10–5 с, что недостаточно для образования дефектов, компенсирующих разницу зарядов мессбауэровского зонда и замещаемого иона. В результате локальное окружение примесных атомов цинка в решетках La2 −xSrxCuO4 оказывается таким же, как у замещаемых атомов меди и лантана. Все это позволяет определить параметры тензора кристаллического ГЭП, создаваемого в узлах лантана и меди ионами кристаллической решетки.

В настоящей работе пространственное распределение зарядов в решетках твердых растворов La2 −xSrxCuO4 определено путем сравнения рассчитанных (модель точечных зарядов) и экспериментальных параметров ЯКВ. Для определения эффективных зарядов всех атомов решетки данных ЭМС на изотопах 67Cu(67Zn) и 67Ga(67Zn) оказалось недостаточно, были привлечены данные ЯМР изотопе 17O [5]. В процедуре сравнения были использованы величины α = eQ(1 – γ) для зондов 17О2– и 67Zn2+, экспериментально определенные в работе [4]. Чтобы дополнительно проверить полученное пространственное распределение электронных дефектов были измерены эмиссиионные мессбауэровские спектры на изотопах 57Co(57mFe) и 155Eu(155Gd) в катионных узлах решеток La2 −xSrxCuO4 (x = 0.1–1.0) и проведен анализ зависимостей их параметров ядерного квадрупольного взаимодействия от состава твердых растворов.

Методика эксперимента. В решетках твердых растворов La2 −xSrxCuO4 атомы лантана (стронция) и меди занимают единственные позиции, атомы кислорода занимают две неэквивалентные позиции, обозначаемые как О(1) (апикальный кислород) и О(2) (планарный кислород) (рис. 1) [6]. Решетки La2 –xSrxCuO4, состоят из четырех подрешеток, что описывается структурной формулой (La,Sr)2CuO(l)2O(2)2. Расчет компонент тензора кристаллического ГЭП проведен на ЭВМ в рамках модели точечных зарядов:

(3)
${{V}_{{\alpha \alpha }}} = \sum\limits_k {{{e}_{k}}} \sum\limits_n {\frac{1}{{r_{{kn}}^{3}}}\left( {\frac{{3\alpha _{{kn}}^{2}}}{{r_{{kn}}^{2}}} - 1} \right)} {\text{ }} = \sum\limits_k {{{e}_{k}}{{G}_{{\alpha \alpha k}}}} ,\,\,\,\,{{V}_{{\alpha \beta }}} = \sum\limits_k {{{e}_{k}}} \sum\limits_n {\frac{{3{{\alpha }_{{kn}}}{{\beta }_{{kn}}}}}{{r_{{kn}}^{5}}}} = \sum\limits_k {{{e}_{k}}{{G}_{{\alpha \beta k}}}} ,$
где k – индекс суммирования по подрешеткам, n – индекс суммирования по узлам подрешетки, α и β – декартовы координаты, ek – эффективные заряды атомов k-подрешетки, rkn – расстояние от kn-иона до рассматриваемого узла. Суммирование проводили внутри сферы радиуса 30 Å (больший радиус суммирования не давал изменения в результатах). Зависимости параметров элементарной ячейки от х взяты из [7], положение атомов в элементарной ячейке задавали согласно [6], а индекс суммирования в (3) по подрешеткам k принимал следующие значения: для La k = 1, для Cu – 2, O(1) – 3, O(2) – 4.

Рис. 1.

Элементарная ячейка La2 –xSrxCuO4.

Эффективные заряды еk – это заряды, которые требуются для описания электрического поля ионов кристаллической решетки с помощью кулоновского потенциала. Заряды еk не следует рассматривать как точные значения электрических зарядов ионов в узлах кристаллической решетки. Есть два обстоятельства, которые необходимо учитывать при оценке полученных значений эффективных зарядов: величины еk получены в предположении отсутствия валентного ГЭП на ядрах-зондах (для реальных зондов это условие выполняется только с некоторой точностью). Модель точечных зарядов требует сферичности ионов – источников ГЭП (отклонение распределения заряда в ионах хотя бы одной из подрешеток от сферического будет описываться как отклонение эффективных зарядов от “истинных”для ионов во всех узлах). Эффективные заряды дают хорошее представление о валентных состояниях ионов в узлах решетки и о существенных отклонениях от стандартных валентных состояний.

Для исследований были использованы образцы La2 −xSrxCuO4:57Со, La2 −xSrxCuO4:67Cu, La2 −xSrxCuO4:67Ga и La2 −xSrxCuO4:155Eu (x = 0.1–1.0). Синтез образцов La2 −xSrxCuO4 проводили по керамической технологии [7]. Шихту составляли из смеси оксидов меди, лантана и карбонатов бария и стронция. Все реактивы марки “х. ч.” Полученные образцы c x ≤ 0.3 были однофазными, имели структуру типа K2NiF4 с температурами перехода в сверхпроводящее состояние Tс = 25, 37, 32 и <4.2 К соответственно для x = 0.1, 0.15, 0.2 и 0.3 (и это согласуется с литературными данными [7]). Образцы с x ≥ 0.4 содержали небольшое количество второй фазы (<5%) [7].

Мессбауэровские источники 57Co и 155Eu готовили путем добавления нитратов кобальта или европия, меченые радиоактивными изотопами 57Co и 155Eu в исходную шихту. Мессбауэровские источники 67Сu и 67Ga готовили методом диффузии соответствующих короткоживущих изотопов в готовую керамику. Для нелегированных образцов La2 −xSrxCuO4 отжиг в аналогичных условиях не привел к изменению величин Тc.

Мессбауэровские спектры снимали при 80 К (57Со, 155Eu) и 4.2 К (67Сu, 67Ga) с поглотителями K457Fe(CN)6 ⋅ 3H2O, 155GdPd3 и 67ZnS соответственно.

Экспериментальные результаты и их обсуждение. Типичные эмиссионные мессбауэровские спектры La2 −xSrxCuO4:57Со, La2 −xSrxCuO4:67Cu, La2 −xSrxCuO4:67Ga и La2 −xSrxCuO4:155Eu приведены на рис. 2–5, а результаты их обработки сведены в табл. 1 и на рис. 6 и 7.

Рис. 2.

Мессбауэровские спектры La2 –xSrxCuO4:57Co для x = 0.1, 0.5 и 1.0 при 80 K.

Рис. 3.

Мессбауэровские спектры La2 –xSrxCuO4:67Cu для x = 0.1, 0.5 и 1.0 при 4.2 K.

Рис. 4.

Мессбауэровские спектры La2 –xSrxCuO4:67Ga для x = 0.1, 0.5 и 1.0 при 4.2 K.

Рис. 5.

Мессбауэровские спектры La2 –xSrxCuO4:155Eu для x = 0.1, 0.5 и 1.0 при 80 K.

Таблица 1.  

Экспериментальные параметры ЯКВ в узлах решетки La1.85Sr0.15CuO4

Узел Зонд Метод Сexp, MHz ηexp Ссылка
La, Sr 67Zn2+ ЭМС 67Ga(67Zn) –2.7 (2) ≤0.2 [*]
Cu 67Zn2 ЭМС 67Cu(67Zn) 11.4 (5) ≤0.2 [*]
O(1) 17O2─ ЯМР 17O 1.33 (13) 0.0 [5]
O(2) 17O2─ ЯМР 17O 4.6 (2) 0.36 (2) [5]

[*] – Результаты настоящей работы.

Рис. 6.

Зависимости P(х) (кривые) и Pexp(x) для узлов меди La2 −xSrxCuO4. Дырка находится в подрешетке меди (1); дырка находится в подрешетке апикального кислорода (2); дырка распределена между подрешетками апикального и планарного кислорода (3); дырка находится в подрешетке планарного кислорода (4).

Рис. 7.

Зависимости P(х) (кривые) и Pexp(x) (светлые и залитые квадраты) для узлов лантана La2 −xSrxCuO4: дырка находится в подрешетке меди (1); дырка находится в подрешетке апикального кислорода (2); дырка распределена между подрешетками апикального и планарного кислорода (3); дырка находится в подрешетке планарного кислорода (4).

Для определения эффективных зарядов решетки La2 −xSrxCuO4 была составлена система четырех уравнений. Уравнение электронейтральности

(4)
$2{{e}_{1}} + {{e}_{2}} + 2{{e}_{3}} + 2{{e}_{4}} = 0.$

Уравнение для рассчитанной главной компоненты тензора ГЭП и экспериментальной постоянной квадрупольного взаимодействия зонда 67Zn в узлах лантана

(5)
${{\alpha }_{{{\text{Zn}}}}}\sum\limits_{k = 1}^{k = 4} {{{e}_{k}}{{G}_{{zzk1}}}} = {{C}_{1}}.$

Уравнение для рассчитанной главной компоненты тензора ГЭП и экспериментальной постоянной квадрупольного взаимодействия зонда 67Zn в узлах меди

(6)
${{\alpha }_{{{\text{Zn}}}}}\sum\limits_{k = 1}^{k = 4} {{{e}_{k}}{{G}_{{zzk2}}}} = {{С }_{2}}.$

Уравнение для рассчитанной главной компоненты тензора ГЭП и экспериментальной постоянной квадрупольного взаимодействия зонда 17O в узлах апикального кислорода O(1)

(7)
${{\alpha }_{{\text{О }}}}\sum\limits_{k = 1}^{k = 4} {{{e}_{k}}{{G}_{{zzk3}}}} = {{С }_{3}},$
где величины αO и αZn были определены в [4] путем сравнения экспериментального значения постоянной квадрупольного взаимодействия в узлах O(1), Y и Cu решетки YBa2Cu3O7 (данные ЯМР и ЭМС) а также расчетных значений Vzz для этих узлов.

Для формирования последнего уравнения мы использовали данные ЯМР на изотопе 17О для состава La1.85Sr0.15CuO4 [5] (см. табл. 1). Для решетки La1.85Sr0.15CuO4 тензоры кристаллического ГЭП аксиально симметричны для узлов как апикального О(1), так и планарного О(2) кислорода. Согласно данным ЯМР на изотопе 17О, параметр асимметрии тензора ГЭП для узлов планарного кислорода отличен от нуля (табл. 1), что свидетельствует о валентном вкладе в суммарный ГЭП для этих узлов. Иными словами, уравнение (7) должно быть записано для центров апикального кислорода О(1).

Эффективные заряды, полученные с использованием данных таблицы и величин αZn = 20.1 MHz Å3/e и αO= 14.9 MHz Å3/e [4], отвечают пониженному заряду атомов О(2), что может быть интерпретировано как существование дырки в энергетической зоне, образованной преимущественно электронными состояниями планарного кислорода. Отклонения зарядов всех атомов (кроме атомов планарного кислорода) от стандартных степеней окисления относительно малы, и, варьируя значения экспериментальных величин в пределах их погрешностей, можно получить заряды, отвечающие стандартным степеням окисления:

${{{\text{(L}}{{{\text{a}}}_{{{\text{1}}.{\text{85}}}}}{\text{S}}{{{\text{r}}}_{{0.{\text{15}}}}})}^{{{\text{2}}.{\text{925}} + }}}{\text{C}}{{{\text{u}}}^{{{\text{2}} + }}}{\text{O}}\left( {\text{1}} \right)_{{\text{2}}}^{{{\text{2}}--}}{\text{О }}\left( {\text{2}} \right)_{{\text{2}}}^{{{\text{1}}.{\text{925}}--}}.$

Подтверждение предложенной модели пространственного распределения электронных дефектов в решетках La2 −xSrxCuO4 (x = 0.1–1.0) было получено в результате сравнения расчетных зависимостей P(x) = [Vzz]x/[Vzz]x= 0.1 и экспериментальных зависимостей Pexp(x) = [eQUzz]x/[eQUzz]x= 0 в катионных узлах. Экспериментальные зависимости были получены с использованием ЭМС на изотопах 57Co(57mFe), 67Cu(67Zn), 67Ga(67Zn) и 155Eu(155Gd). К данным, соответствующим x ≥ 0.4, следует относиться с некоторой осторожностью, т.е. эти составы были двухфазными. В измеренных мессбауэровских спектрах дополнительных линий не было обнаружено. Зависимости P(х) и Pexp(x) для узлов меди и лантана приведены на рис. 6 и 7. Расчет P(х) проведен для четырех моделей.

Зависимости P(x) для всех узлов аппроксимированы квадратичными полиномами, в то время как в работе [3] в области составов 0 ≤ х ≤ 0.3 было достаточно линейной аппроксимации.

Как видно из рис. 6 и 7, уменьшение величины eQUzz в узлах меди и лантана с ростом х для центров 67Zn2+, 57mFe3+ и 155Gd3+ может быть количественно объяснено, если дырка локализуется преимущественно в позициях атомов планарного кислорода.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Параметры ядерного квадрупольного взаимодействия в катионных узлах решеток La2 −xSrxCuO4 определены с использованием эмиссионной мессбауэровской спектроскопии на изотопах 57Co(57mFe), 67Cu(67Zn), 67Ga(67Zn) и 155Eu(155Gd) (постоянная квадрупольного взаимодействия С и параметр асимметрии ηexp) и рассчитаны в рамках модели точечных зарядов (главная компонента тензора градиента электрического поля Vzz и параметр асимметрии ηlat). Методом сравнения рассчитанных и экспериментальной зависимостей C и Vzz от х показано, что эффективные заряды всех атомов решеток La2 –xSrxCuO4 соответствуют стандартным степеням их окисления за исключением атомов планарного кислорода, находящихся в одной плоскости с атомами меди. Пониженный заряд этих атомов объясняется локализации на них дырок, возникающих при замещении ионов La3+ на ионы Sr2+.

Список литературы

  1. Мицен К.В., Иваненко О.М. Фазовые диаграммы купратов и пниктидов как ключ к пониманию механизма высокотемпературной сверхпроводимости // Успехи физических наук. 2017. Т. 187. С. 431–441.

  2. Seregin N., Marchenko A., Seregin P. Emission Mössbauer spectroscopy. Electron defects and Bose-condensation in crystal lattices of high-temperature supercomductors. Verlag: LAP Lambert. Academic Publishing GmbH & Co. KG Saarbrücken. 2015. 325 p.

  3. Марченко А.В., Николаева А.В., Доронин В.А., Серегин Н.П. Пространственная локализация точечных дефектов в La2 –xSrxCuO4 // Физ. и хим. стекла. 2014. Т. 40. С. 827–836.

  4. Марченко А.В., Насрединов Ф.С., Киселев В.С., Серегин П.П. Анализ параметров мессбауэровских спектров и спектров ядерного квадрупольного резонанса сверхпроводящей керамики YBa2Cu3O7 // Физ. и хим. стекла. 2018. Т. 44. (В печати).

  5. Ishida K., Kitaoka Y., Zheng G. 17O and 63Cu NMR Investigations of high-Tc superconductor La1.85Sr0.15CuO4 with Tc = 38 K // Phys. Soc. Jap. 1991. V. 60. P. 1516–1524.

  6. Yvon K., Francois M. Crystal structure of high-Tc oxides // Z. Phys. B. 1989. V. 76. P. 415–456.

  7. Tarascon J.M., Greene L.H. Superconductivity at 40 K in the oxygen-defect La2 –xSrxCuO4 –y // Science. 1987. V. 236. P. 1373–1380.

Дополнительные материалы отсутствуют.