1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Кристаллография
  4. T. 68, № 4, 2023

Кристаллография, 2023, T. 68, № 4, стр. 531-535

Инструментальная линия двухкристального спектрометра в Брэгг–Брэгг-геометрии с учетом зависимости коэффициента поглощения от длины волны нейтронов

Й. Шмайснер 1, 2, *, А. Н. Тюлюсов 1, 2

1 Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Москва, Россия

2 Национальный исследовательский ядерный университет “МИФИ”
Москва, Россия

* E-mail: yokhan.schmeissner@itep.ru

Поступила в редакцию 16.12.2022
После доработки 16.03.2023
Принята к публикации 03.04.2023

Аннотация

Получено аналитическое выражение для инструментальной линии двухкристального спектрометра, не требующее ограничения на характер зависимости сечения поглощения от длины волны. Рассчитана модельная инструментальная линия (кривая качания) для спектрометрической схемы Брэгг–Брэгг на примере кристалла InSb в области слабой зависимости сечения поглощения от длины волны и в области длин волн, близких к резонансу поглощения.

Список литературы

  1. Compton A., Allison S. X-rays in theory and experiment. New York: D. Van Nostrand Company. Inc. 1935. https://doi.org/10.1148/25.5.640

  2. Пинскер З.Г. Рентгеновская кристаллооптика. М.: Наука,1982.

  3. Authier A. Dynamical theory of X-ray diffraction. IUCr. Oxford Science. Oxford. U.K. 2001. https://doi.org/10.1107/97809553602060000569

  4. Абов Ю.Г., Елютин Н.О., Тюлюсов А.Н. // Ядерная физика. 2002. Вып. 65. С. 1989. https://doi.org/10.1134/1.1522085

  5. Willis B.T.M. // Acta Cryst. B. 1960. V. 13. P. 763. https://doi.org/10.1107/S0365110X60001849

  6. Szabo C.I., Cline J.P., Henins A. et al. // J. Res. Natl. Inst. Stand. Technol. 2021. V. 126. P. 126049. https://doi.org/10.6028/jres.126.049

  7. Dolzhenkova E., Babenko G., Voronov A. et al. // Acta Phys. Pol. A. 2022. V. 141. https://doi.org/10.12693/aphyspola.141.41

  8. Bragg W.H., Bragg W.L. // P. R. Soc. Lond. A. 1913. V. 88. P. 428. https://doi.org/10.1098/rspa.1913.0040

  9. Borrmann G. // Physik Z. 1941. B. 42. S. 157.

  10. Knowles J.W. // Acta Cryst. 1956. V. 9. P. 61. https://doi.org/10.1107/S0365110X56000115

  11. Шильштейн С.Ш., Соменков В.А. // Кристаллография. 1975. Т. 20. Вып. 5. С. 1096.

  12. Zippel D., Kleinstuck K., Schulze G.E.R. // Phys. Lett. 1964. V. 8. P. 241.

  13. Каган Ю.М., Афанасьев А.М. // ЖЭТФ. 1966. Т. 49. Вып. 5. С. 1504.

  14. Вежлев Е.О., Воронин В.В., Кузнецов И.А. и др. // Письма в ЖЭТФ. 2012. Т. 96. Вып. 1. С. 3. https://doi.org/10.1134/S0021364012130127

  15. Абов Ю.Г., Елютин Н.О., Львов Д.В., Тюлюсов А.Н. // Ядерная физика. 2019. Т. 82. Вып. 4. https://doi.org/10.1134/S0044002719040032

  16. Абов Ю.Г. // Успехи физ. наук. 1996. Вып. 166. С. 949. https://doi.org/10.3367/UFNr.0166.199609d.0949

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Кристаллография

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал