Известия РАН. Серия физическая, 2020, T. 84, № 3, стр. 436-438

Температурные характеристики плазмы, индуцированной фемтосекундным лазерным излучением

С. М. Аракелян 1, С. В. Жирнова 1*, А. Ф. Галкин 1, Д. А. Кочуев 1, Е. Л. Шаманская 1, К. С. Хорьков 1

1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Владимирский государственный университет Александра Григорьевича и Николая Григорьевича Столетовых”
Владимир, Россия

* E-mail: svetlanna_vik@mail.ru

Поступила в редакцию 20.09.2019
После доработки 15.11.2019
Принята к публикации 27.11.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

Измерена температура плазмы в среде аргона и азота при различных значениях давления двумя методами: с применением микропирометра и по относительной интенсивности спектральных линий. Полученные данные могут быть использованы для расчетов параметров плазмы: концентрации электронов, частоты столкновений с атомами и молекулами.

ВВЕДЕНИЕ

В последнее время значительное внимание уделяется исследованию взаимодействия оптически прозрачных сред с ультракороткими (фемтосекундными) импульсами, в результате которого начинает развиваться филаментация. Явление филаментации состоит в пространственной и временной локализации энергии в мощном лазерном фемтосекундном импульсе. Благодаря высокой интенсивности таких импульсов в среде возникают нелинейные эффекты. Филаментация фемтосекундного лазерного импульса сопровождается множеством различных процессов, например, формируются плазменные каналы, происходит генерация излучения суперконтинуума (т. н. “белого света”) и конической эмиссии.

Одним из практических приложений явления филаментации является прецизионная обработка материалов. Актуальным является вопрос изучения методов управления пространственным распределением филаментов, что позволит получать упорядоченные структуры при обработке материалов в режиме филаментации. Для увеличения эффективности получения наночастиц при абляции с поверхности под воздействием лазерного излучения используется энергия транспортируемая по электрической дуге [14]. При этом эффективная коррекция параметров электрической дуги может быть осуществлена с помощью оптического разряда (ОР). Для оптимизации ОР необходимо, в частности знать характеристики плазмы разряда, такие, как концентрация электронов, температура плазмы, а также ее проводимость. Поэтому измерения электронной температуры лазерно-индуцированных плазменных каналов представляют практический интерес. В работе для измерения температуры использовали два подхода: измерение по относительной интенсивности спектральных линий и прямые измерения при помощи микропирометра.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ УСТАНОВКА

Спектральная диагностика занимает особое место среди других методов исследования плазмы, так как она обеспечивает бесконтактные и быстрые измерения. Для измерения электронной температуры лазерно-индуцированных плазменных каналов в средах аргона и азота при различных давлениях по относительным интенсивностям спектральных линий использовали установку, схема которой представлена на рис. 1. Лазерное излучение 2 фемтосекундной лазерной системы фокусировали во внутренний измерительной емкости 4 с помощью фокусирующей линзы с фокусным расстоянием 150 мм. В фокальной плоскости линзы формируется оптический пробой. Геометрические характеристики и яркость свечения регистрировали CCD-камерой. Емкость заполняли газом из баллона, давления контролировали при помощи редуктора, оснащенного запорной и измерительной аппаратурой. Спектр выходного излучения измеряли при помощи спектрометра 7. Экспериментальны данные со спектрометра и CCD-камеры в процессе проведения измерений сохранялись на персональном компьютере.

Рис. 1.

Схема экспериментальной установки: 1 – фемтосекундная лазерная система; 2 – лазерное излучение; 3, 12, 8 – фокусирующая линза; 4 – измерительная емкость; 5 – область оптического пробоя и образования плазменного канала; 6 – входные и выходные окна емкости; 7 – спектрометр; 9 – баллон с газом; 10 – редуктор; 11 – CCD-камера; 13 – измеритель мощности.

В результате измерений были получены спектры излучения плазмы при различных значениях давления. Время экспозиции составило 2 с. Длительное время экспозиции необходимо для накопления и усреднения регистрируемого сигнала. Параметры съемки спектров были аналогичными для всех проведенных экспериментов.

Расчет электронной температуры проводили по методике, описанной в [5]. Формула для расчета электронной температуры имеет вид:

(1)
${{Т}_{е}} = \frac{{ - \Delta E}}{{\left( {\ln \left( {\frac{{{{I}_{2}}}}{{{{I}_{1}}}}} \right) - {\text{ln}}\left( {\frac{{{{g}_{2}}{{f}_{2}}}}{{{{g}_{1}}{{f}_{1}}}}{{{\left( {\frac{{{{{\lambda }}_{1}}}}{{{{{\lambda }}_{2}}}}} \right)}}^{3}}} \right)} \right)k}},$
где λ1 и λ2 – длина волны спектральной линии (для расчетов удобно использовать наиболее разнесенные пары линий, например, для аргона использовали линии 415.85 и 852.14 нм, для азота – 746.83 и 493.50 нм), I – интенсивности спектральных линий, измеренные спектрометром, ΔЕ – разность энергий возбуждения исследуемых линий, f – сила осциллятора, g – статистический вес уровня.

Для измерения электронной температуры лазерно-индуцированных плазменных каналов в средах аргона и азота при различных давлениях методом фотопирометрии использовали схему, показанную на рис. 2. В качестве источника использовали импульсную лазерную систему 1, со следующими характеристиками: длительность импульса – 280 фс, частота следования импульсов – 10 кГц, энергия в импульсе – 150 мкДж, длина волны излучения – 1030 нм. Лазерное излучение фокусировали в измерительную емкость плоско-выпуклой линзой с фокусным расстоянием 150 мм. Излучение лазерно-индуцированной плазмы 5 с помощью линзы собирали в коллимированый пучок, который направляли через дихроичное зеркало в объектив микропирометра. Дихроичное зеркало использовали для отсечения излучения основной длины волны, которое могло повредить фотодетектор. Показания фотодетектора поступали на компьютер. Данные обрабатывали про помощи специализированного программного обеспечения.

Рис. 2.

Схема эксперимента: 1 – фемтосекундная лазерная система; 2 – лазерное излучение; 3, 10 – фокусирующая линза; 4 – измерительная емкость; 5 – область оптического пробоя и образования плазменного канала; 6 – входные и выходные окна емкости; 7 – пирометр высокотемпературный; 8 – редуктор; 9 – баллон с газом; 11 – CCD-камера/фотоприемник; 12 – пробный лазер.

С помощью данной схемы была также измерена степень поглощения лазерного излучения плазмой (степень черноты). Лазерное излучение пробного полупроводникового лазера 12 с длиной волны 650 нм фокусировали плоско-выпуклой линзой с фокусным расстоянием 150 мм на область лазерно-индуцированной плазмы 5. Далее излучения попадало на измерительную головку фотоприемника. Фиксировали значения мощности при условии когда через лазерную плазму проходит основное фемтосекундное и пробное излучение, и когда проходит только излучение пробного лазера.

При различном давлении положение плазменного канала меняется, что, вероятно, связано с флуктуациями плотности. При измерении коэффициента поглощения важным фактором является условие прохождения пробного излучения строго через плазменный канал. Для точного позиционирования и лазера был использован прецизионная трехкоординатная подвижка.

Для измерения температуры лазерно-индуцированной плазмы использовали высокотемпературный микропирометр МП-1001. Прибор позволяет измерять яркостную температуру в диапазоне от 1500 до 5000 К. Пересчет яркостной температуры Тя в истинное значение температуры Тист выполняли в соответствии с формулой [6, 7]:

(2)
${{Т}_{{{\text{ист}}}}} = \frac{{{{T}_{{\text{я}}}}{{C}_{2}}}}{{{{С}_{2}} + \lambda {{Т}_{{\text{я}}}}\ln \alpha }},$
где λ = 650 нм опорная (калиброванная) длина воны, С2 = 0.014388 м · К – вторая постоянная Планка, α – степень черноты (коэффициент поглощения), измеренная по вышеописанной методике.

РЕЗУЛЬТАТЫ ЭКСПЕРИМЕНТА

На рис. 3 представлены графики зависимости температуры плазменных каналов от величины давления, полученные с использованием двух различных методов (рис. 3а – в среде азота; рис. 3б – в среде аргона). Наблюдается увеличение значений температуры при повышении давления. Значения температуры, полученные двумя различными способами, хорошо соотносстся друг с другом. Разница в значениях не превышает 10% по абсолютной величине. Температура плазмы, измеренная обоими способами, составляет ~4000–5000 К в зависимости от давления. Для азота в указанном диапазоне температур наблюдается ее монотонное возрастание при увеличении давления до 15 бар, а для аргона имеется максимум при давлениях порядка 7–9 бар.

Рис. 3.

Графики зависимости температуры плазменных каналов от давления азота (а) и аргона (б); 1 – измерения методом относительной интенсивности спектральных линий; 2 – пирометрические измерения.

Как показывают оценки, характерное время теплообмена электронов с тяжелыми частицами составляет доли микросекунды (быстрая релаксация), а межимпульсный период – 100 мкс, таким образом, определенная за время измерения электронная температура соответствует газовой температуре. Другими словами, реализуется локальное термодинамическое равновесие.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Измерена электронная температура плазмы, индуцированной фемтосекундным лазерным излучением в среде аргона и азота, при разных значениях давления двумя методами: по относительной интенсивности спектральных линий, и с использованием микропирометра. Полученные результаты могут быть востребованы при расчете таких параметров плазмы, как концентрация электронов и частота столкновений между атомами и молекулами.

Список литературы

  1. Ivashenko A.V., Koshuev D.A., Chkalov R.V. et al. // J. Phys. Conf. Ser. 2019. V. 1164. Art. № 012021.

  2. Ivashenko A.V., Koshuev D.A., Chkalov R.V. // LIEES Mater. Today. Proc. 2019. № 11. P. 465.

  3. Галкин А.Ф., Кочуев Д.А. // Тез. Всеросс. науч.-практ. конф. XII Столетовские чтения. (Владимир, 2019). С. 18.

  4. Галкин А.Ф., Жирнова С.В. // Тез. Всеросс. науч.-практ. конф. XII Столетовские чтения. (Владимир, 2019). С. 14.

  5. Лукьянов С.Ю. Горячая плазма и управляемый ядерный синтез. М.: Наука, 1975. 408 с.

  6. Магунов А.Н. // Научн. приборостр. 2010. Т. 20. № 3. С. 22.

  7. Аракелян С.М., Галкин А.Ф., Жирнова С.В., Осипов А.В. // Динам. сложн. сист. 2015. Т. 9. № 1. С. 48.

Дополнительные материалы отсутствуют.