Известия РАН. Серия физическая, 2020, T. 84, № 5, стр. 730-732
Магнитострикционные наноструктуры с гигантским магниторезистивным эффектом для устройств магнитной стрейнтроники
Д. А. Жуков 1, *, А. И. Крикунов 1, В. В. Амеличев 1, Д. В. Костюк 1, С. И. Касаткин 2
1 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение “Научно-производственный комплекс “Технологический центр”
Москва, Россия
2 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем управления
имени В.А. Трапезникова Российской академии наук
Москва, Россия
* E-mail: D.Zhukov@tcen.ru
Поступила в редакцию 02.12.2019
После доработки 23.12.2019
Принята к публикации 27.01.2020
Аннотация
Представлены результаты экспериментальных исследований магнитострикционных и магниторезистивных свойств многослойной тонкопленочной наноструктуры Ta/FeNiCo/CoFe/Cu/CoFe/FeNiCo/FeMn/Ta, сформированной на окисленной кремниевой подложке. Исследовано влияние механической деформации на электрофизические параметры наноструктуры. Проведенные исследования позволяют сделать вывод о возможности применения магниторезистивных наноструктур с магнитострикционным эффектом в элементах магнитной стрейнтроники.
ВВЕДЕНИЕ
Создание преобразователей механических напряжений с использованием магниторезистивных (МР) наноструктур является в настоящее время актуальной задачей, поскольку расширяет возможности современных приборов за счет комбинации двух физических эффектов – МР и магнитострикционного (МС) эффекта в едином устройстве. Причем комбинации данных эффектов могут быть различные, как по виду МР эффекта, так и по МС эффекту.
Коллективом авторов проведена разработка наноструктуры, обладающей одновременно спин-вентильным МР (СВМР) и МС эффектами. В таких наноструктурах при их механической деформации в результате действия эффекта обратной магнитострикции (эффект Виллари) происходит изменение магнитного состояния свободного слоя, что в свою очередь ведет к изменению СВМР эффекта наноструктуры. При этом свободный слой СВМР наноструктуры должен обладать МС свойствами.
В настоящее время достаточно высокие значения СВМР эффекта (6–9%) могут быть реализованы при использовании в качестве ферромагнитных слоев сплавов Fe–Ni–Co и Co–Fe [1–3].
В ряде работ приведены результаты теоретических исследований фазовой диаграммы CoxFe1 – x, и представлены экспериментальные подтверждения возможности реализации высоких значений коэффициентов магнитострикции для составов 0.5 < x < 0.7 [4–6]. Показана возможность получения слоев таких сплавов с коэффициентом магнитострикции до 150 ppm при медленном охлаждении и умеренных температурах отжига.
В данной работе исследованы свойства СВМР многослойной наноструктуры Ta/FeNiCo/CoFe/ Cu/CoFe/FeNiCo/FeMn/Ta, где в качестве МС слоя использовался сплав Co50Fe50.
ТЕХНОЛОГИЯ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ
Исследуемые наноструктуры формировались методом магнетронного распыления, в качестве исходных подложек использовались пластины окисленного кремния. Для формирования оси легкого намагничивания (ОЛН) в напыляемых наноструктурах использовались постоянные магниты, обеспечивающие магнитное поле величиной ~100 Э в плоскости подложки.
При исследовании МС эффекта, на тестовые образцы (4 × 20 мм2) в измерительной установке подавалось контролируемое механическое напряжение, которое приводило к деформации (сжатия) наноструктуры на кремниевой подложке. Измерение МР эффекта проводилось двухзондовым методом [7]. Установка имеет в своей конструкции устройство для создания механических деформаций в образце [8]. Образцы представляют собой полоски 4 × 20 мм2, ОЛН направлена вдоль длинной стороны образца. В поверхностном слое образца со стороны зондов создается контролируемое механическое напряжение сжатия, совпадающее с ОЛН наноструктуры.
РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ
В СВМР наноструктурах, исследованных сразу после напыления, направления оси однонаправленной анизотропии (ООА) и ОЛН свободного слоя совпадают и задаются направлением магнитного поля при формировании наноструктуры.
В тестовых образцах ОЛН и ООА совпадают по направлению и располагаются вдоль длинной стороны образца. Типичная зависимость относительного изменения электрического сопротивления (ΔR/R) исходных образцов, от величины магнитного поля для ненагруженного образца и подвергнутого механической деформации 120 МПа приведена на рис. 1а.
В исходной наноструктуре без механической нагрузки величина МР эффекта составляет 6.27%, коэрцитивность свободного слоя составляет 21 Э. При приложении сжимающих напряжений величиной 120 МПа величина СВМР эффекта (в окрестности нулевого поля) уменьшается на 1.77%.
Исходные СВМР наноструктуры подвергались вакуумному отжигу в магнитном поле с целью оптимизации МС свойств слоев CoFe. На рис. 1б представлена зависимость ΔR/R(Н) для СВМР наноструктуры после отжига при 250°С в магнитном поле 300 Э.
Как видно из представленных зависимостей после отжига изменение СВМР эффекта, обусловленное механической нагрузкой (ΔR/R)σ увеличилось и составило 2.25%. Увеличение абсолютной величины (ΔR/R)σ обусловлено улучшением МС свойств CoFe. На рис. 2 приведен ряд кривых для обратного хода зависимостей ΔR/R(Н) при разной величине механической нагрузки. Соответствующая зависимость (ΔR/R)σ от величины механических напряжений σ при нулевом магнитном поле приведена на вставке рис. 2. Для существенного улучшения магнитострикционных свойств слоев CoFe необходимы отжиги при 300°С и выше, однако, для данной наноструктуры отжиг 300°С приводит к необратимой деградации свойств антиферромагнитного слоя FeMn и уменьшению ГМР эффекта.
Представленные выше кривые (рис. 1 и 2) характеризуют случай, когда ось механического напряжения параллельна ОЛН и образец находится в состоянии сжатия. Если наноструктура находится в состоянии одноосного растяжения, изменение магнитного состояния МС слоя будет незначительно. В связи с этим представляет интерес случай, когда ОЛН свободного слоя направлена под углом ~45° к оси ООА, а ось механических напряжений направлена вдоль ООА. Предполагается, что в таком случае СВМР наноструктура должна реагировать как на сжатие, так и на растяжение. Исследуемый тестовый образец был изготовлен со сформированной в наноструктуре ОЛН под 45°, и подвергнут отжигу в магнитном поле при температуре 250°С. При этом направление магнитного поля в процессе отжига было направлено под углом 45° к ООА. После чего проводились измерения величины МР эффекта в условиях механической деформации сжатия и растяжения (рис. 3).
Как видно из рис. 3 механическая деформация СВМР наноструктуры приводит к изменению коэрцетивности и петли перемагничивания следующим образом: при деформации сжатия происходит уменьшение величины СВМР эффекта, а при деформации растяжения – увеличение величины СВМР эффекта.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
В результате ряда экспериментальных работ изучены свойства СВМР наноструктур содержащих в своем составе в качестве свободного слоя МС слой Co50Fe50. В результате исследования тестовых образцов показано, что механическая деформация таких структур приводит к изменению величины МР эффекта до 2.25%. Дальнейшее повышение эффективности наноструктур может быть связано с улучшением МС свойств свободного слоя этих наноструктур.
Полученные в рамках работы результаты исследования СВМР наноструктуры с МС слоем позволяют сделать вывод о возможности применения подобных наноструктур для элементов магнитной стрейнтроники, приборов и устройств основанных на принципах преобразования механической деформации.
Исследование параметров наноструктур осуществлялось с использованием оборудования ЦКП “Функциональный контроль и диагностика микро- и наносистемной техники” на базе НПК “Технологический центр”.
Список литературы
Касаткин С.И., Муравьëв А.М., Плотникова Н.В. и др. // Автомат. телемех. 2009. № 6. С. 141.
Розенблат М.А. // Автомат. телемех. 1997. № 1. С. 3.
Amelichev V.V., Vasilyev D.V., Zhukov D.A. et al. // Int. J. Appl. Engin. Res. 2017. V. 12. № 23. Art. № 13142.
Ustinovshikov Y., Pushkarev B. // J. Alloys Compounds. 2006. V. 424. P. 145.
Nakamura T., Takeuchi T., Yuito I. et al. // Mater. Trans. 2014. V. 55. № 3. P. 556.
Hunter D., Osborn W., Wang K. et al. // Nat. Commun. 2011. № 2. Art. № 518.
Касаткин С.И., Жуков Д.А., Крикунов А.И. и др. // Дат. cист. 2018. № 3(234). С. 3.
Amelichev V.V., Zhukov D.A., Kostyuk D.V. et al. // IJMET. 2018. № 9(9). P. 1427.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Известия РАН. Серия физическая