Известия РАН. Серия физическая, 2020, T. 84, № 6, стр. 846-850

Моделирование влияния диэлектрической пленки на поверхности катода на вольт-амперную характеристику тлеющего газового разряда

В. И. Кристя 1*, Мьо Ти Ха 1, М. Р. Фишер 1

1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Московский государственный технический университет имени Н.Э. Баумана (национальный исследовательский университет)”, Калужский филиал
Калуга, Россия

* E-mail: kristya@bmstu-kaluga.ru

Поступила в редакцию 09.01.2020
После доработки 07.02.2020
Принята к публикации 26.02.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Сформулирована модель катодного слоя тлеющего газового разряда при наличии на поверхности катода тонкой диэлектрической пленки, в которой принимается во внимание полевая эмиссия электронов из металлической подложки катода в пленку. Показано, что вольт-амперная характеристика такого разряда является медленно растущей или падающей, и это может быть причиной экспериментально наблюдающейся его неустойчивости.

ВВЕДЕНИЕ

В настоящее время в различных областях человеческой деятельности используются газоразрядные приборы. Они разделяются на приборы тлеющего разряда (например, газовые лазеры) и приборы дугового разряда (осветительные лампы) [13]. В приборах тлеющего разряда после приложения напряжения между электродами происходит пробой рабочего газа и зажигается тлеющий разряд, который поддерживается в течение всего времени их работы. В приборах же дугового разряда сначала также зажигается тлеющий разряд, а через некоторое время температура катода в результате его нагрева потоком тепла, поступающего из разряда, достигает значений, при которых возможна термоэлектронная эмиссия, и разряд переходит в дуговой. Срок службы обоих типов газоразрядных приборов в значительной степени определяется процессом распыления их катода в тлеющем разряде ионами и быстрыми атомами, образующимися при резонансной перезарядке ионов на атомах рабочего газа (так как долговечность приборов дугового разряда в непрерывном режиме работы существенно больше, чем в режиме периодических включений-выключений [4, 5]).

Особенностью тлеющего разряда является существование тонкого положительно заряженного катодного слоя с большой напряженностью электрического поля (в то время как в остальной части разряда она достаточно мала) и с падением напряжения на нем порядка 102 вольт. Уменьшение катодного падения напряжения ${{U}_{c}}$ обусловливает снижение энергий ионов и атомов, бомбардирующих поверхность катода в разряде, а следовательно, уменьшение интенсивности его распыления. Величина ${{U}_{c}}$ существенно зависит от эффективного коэффициента ионно-электронной эмиссии катода ${{\gamma }_{{eff}}}$, равного среднему числу электронов, необходимых для поддержания разряда, которые эмиттируются с его поверхности в расчете на один падающий на нее ион [1, 2].

Один из способов увеличения ${{\gamma }_{{eff}}}$ и уменьшения катодного падения напряжения разряда ${{U}_{c}}$ состоит в формировании на поверхности катода тонкой диэлектрической оксидной пленки [6, 7]. В разряде, в результате бомбардировки катода ионами, на пленке накапливается положительный заряд, что приводит к возникновению в ней электрического поля. Когда его напряженность достигает величины порядка 108–109 В ⋅ м–1, начинается полевая эмиссия электронов из металлической подложки катода в пленку. Такие электроны двигаются в пленке, ускоряясь электрическим полем и тормозясь при столкновениях с фононами, и, достигая ее внешней границы, нейтрализуют поверхностный заряд, что приводит к установлению стационарного режима разряда. При этом некоторая доля электронов ${{\delta }_{f}}$, величина которой называется эмиссионной эффективностью пленки [8], может иметь энергии, достаточные для преодоления потенциального барьера на поверхности пленки, и выходить из нее, увеличивая ${{\gamma }_{{eff}}}$ [9].

Влияние диэлектрической пленки на эмиссионные свойства катода с учетом зависимости ее эмиссионной эффективности от характеристик разряда исследовалось ранее в работах [10, 11] лишь для случая слаботочного (Таунсендовского) разряда, в котором объемный заряд достаточно мал и не оказывает влияния на распределение электрического поля в разрядном промежутке. В данной работе сформулирована самосогласованная модель катодного слоя тлеющего разряда при наличии на катоде тонкой диэлектрической пленки, рассчитаны его характеристики и оценена роль полевой электронной эмиссии из металлической подложки катода в его поддержании.

МАТЕМАТИЧЕСКАЯ МОДЕЛЬ И РЕЗУЛЬТАТЫ РАСЧЕТОВ

Пусть на катоде газоразрядного прибора находится тонкая диэлектрическая пленка толщиной ${{H}_{f}}$. При его бомбардировке ионами в тлеющем разряде на поверхности пленки накапливается положительный заряд, в результате чего в ней возникает электрическое поле с напряженностью ${{E}_{f}}$. При достижении ею величины порядка 108 В ⋅ м–1 начинается полевая эмиссия электронов из металлической подложки катода в зону проводимости пленки, макроскопическая плотность тока которой определяется формулой Фаулера–Нордгейма [12, 13]:

(1)
${{j}_{f}} = \left( {{{a{{s}_{f}}{\kern 1pt} E_{f}^{2}} \mathord{\left/ {\vphantom {{a{{s}_{f}}{\kern 1pt} E_{f}^{2}} {{{t}^{2}}\left( {{{y}_{0}}} \right){{\varphi }_{b}}}}} \right. \kern-0em} {{{t}^{2}}\left( {{{y}_{0}}} \right){{\varphi }_{b}}}}} \right)\exp \left( { - {{b\upsilon \left( {{{y}_{0}}} \right)\varphi _{b}^{{{3 \mathord{\left/ {\vphantom {3 2}} \right. \kern-0em} 2}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{b\upsilon \left( {{{y}_{0}}} \right)\varphi _{b}^{{{3 \mathord{\left/ {\vphantom {3 2}} \right. \kern-0em} 2}}}} {{{E}_{f}}}}} \right. \kern-0em} {{{E}_{f}}}}} \right),$
где a = 1.54 · 10–6 A · эВ · В–2, b = 6.83 · 109 В · эВ–3/2 · м–1, c = 3.79 · 10–5эВ · м1/2 · В–1/2, y0 = c(Eff)1/2b, $\upsilon \left( {{{y}_{0}}} \right) = 1 - y_{0}^{2}$ + $\left( {{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 3}} \right. \kern-0em} 3}} \right)y_{0}^{2}\ln {{y}_{0}}$, t2(y0) = 1 + (1/9) × × $y_{0}^{2}\left( {1 - \ln {{y}_{0}}} \right)$, ${{\varphi }_{b}} = {{\varphi }_{m}} - {{\chi }_{d}}$ [14] – высота потенциального барьера на границе подложки и пленки, ${{\varphi }_{m}}$ – работа выхода подложки, ${{\chi }_{d}}$ и ${{\varepsilon }_{f}}$ – электронное сродство и высокочастотная диэлектрическая проницаемость материала пленки, ${{s}_{f}}$ – доля поверхности границы металл-диэлектрик вблизи вершин ее рельефа, с которой, вследствие усиления на них напряженности электрического поля, осуществляется полевая электронная эмиссия.

Напряженность электрического поля ${{E}_{f}}$ в пленке вблизи вершин рельефа на ее границе с подложкой в установившемся режиме разряда может быть найдена из условия равенства плотности разрядного тока $j$ и макроскопической плотности тока полевой электронной эмиссии в пленку [10, 15]:

(2)
$j = {{j}_{f}},$

а эмиссионная эффективность пленки определяется выражением [11, 16]:

(3)
${{\delta }_{f}} = 1 - \exp \left( { - \frac{{{{H}_{0}}}}{{{{\lambda }_{e}}}}} \right)\sum\limits_{n = 0}^\infty {\frac{{H_{0}^{n}}}{{n!\lambda _{e}^{n}}}} \left( {1 + \frac{{{{\varepsilon }_{{en}}}}}{{{{\varepsilon }_{d}}}}} \right)\exp \left( { - \frac{{{{\varepsilon }_{{en}}}}}{{{{\varepsilon }_{d}}}}} \right),$
где ${{\varepsilon }_{d}} = {{\hbar e{{E}_{f}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{\hbar e{{E}_{f}}} {2{{{\left( {2m{{\varphi }_{b}}} \right)}}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}t\left( {{{y}_{0}}} \right)}}} \right. \kern-0em} {2{{{\left( {2m{{\varphi }_{b}}} \right)}}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}t\left( {{{y}_{0}}} \right)}},$ ${{\varepsilon }_{{en}}} = e{{H}_{f}}{{E}_{f}}$ – ‒ ${{\varphi }_{m}} - n\Delta \varepsilon $, ${{H}_{0}} = {{H}_{f}} - {{H}_{t}},$ ${{H}_{t}}$ – ширина потенциального барьера на границе металл–диэлектрик для электронов с энергией вблизи уровня Ферми металла, $e$ и $m$ – заряд и масса электрона, $\hbar = {h \mathord{\left/ {\vphantom {h {2\pi }}} \right. \kern-0em} {2\pi }}$, $h$ – постоянная Планка, ${{\lambda }_{e}}$ и $\Delta \varepsilon $ – средняя длина пробега электрона в пленке между его столкновениями с фононами и теряемая при таком столкновении энергия.

При бомбардировке катода ионами, поступающими из разряда, плотность тока которых равна ${{j}_{i}}$, с него происходит эмиссия электронов с плотностью тока ${{f}_{{es}}}{{\gamma }_{i}}{{j}_{i}}$ [2, 17], где ${{\gamma }_{i}}$ – коэффициент ионно-электронной эмиссии материала катода, ${{f}_{{es}}} = {1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 {\left( {1 + {\upsilon \mathord{\left/ {\vphantom {\upsilon {4{{w}_{e}}}}} \right. \kern-0em} {4{{w}_{e}}}}} \right)}}} \right. \kern-0em} {\left( {1 + {\upsilon \mathord{\left/ {\vphantom {\upsilon {4{{w}_{e}}}}} \right. \kern-0em} {4{{w}_{e}}}}} \right)}}$ – доля эмитированных с катода электронов, не возвращающихся на его поверхность вследствие рассеяния на атомах рабочего газа, $\upsilon $ – средняя скорость эмитируемых катодом электронов, ${{w}_{e}}$ – дрейфовая скорость электронов в газе у катода.

Эффективный же коэффициент ионно-электронной эмиссии катода при этом равен [9, 11]:

(4)
${{{\gamma }}_{{eff}}} = {{\left( {{{{\gamma }}_{{ie}}} + {{{\delta }}_{{fe}}}} \right)} \mathord{\left/ {\vphantom {{\left( {{{{\gamma }}_{{ie}}} + {{{\delta }}_{{fe}}}} \right)} {\left( {1 - {{{\delta }}_{{fe}}}} \right)}}} \right. \kern-0em} {\left( {1 - {{{\delta }}_{{fe}}}} \right)}},$
где ${{\delta }_{{fe}}} = {{f}_{{es}}}{{\delta }_{f}},$ ${{\gamma }_{{ie}}} = {{f}_{{es}}}{{\gamma }_{i}}$.

Пусть катодный слой тлеющего разряда расположен между плоскостью $z = 0$ и катодом с диэлектрической пленкой, поверхность которого совпадает с плоскостью $z = {{d}_{c}}$, где ${{d}_{c}}$ – длина катодного слоя. Эмитируемые с катода электроны двигаются в направлении анода, а ионы, образующиеся при ионизации ими атомов рабочего газа, – в направлении катода. Связь между плотностью тока тлеющего разряда $j = \left( {1 + {{\gamma }_{{eff}}}} \right){{j}_{i}}$ и величиной катодного падения напряжения разряда ${{U}_{c}}$ задается при этом соотношением [1, 18]:

(5)
${j \mathord{\left/ {\vphantom {j {{{p}^{2}}}}} \right. \kern-0em} {{{p}^{2}}}} = \left( {1 + {{\gamma }_{{eff}}}} \right)K{{U_{c}^{{{3 \mathord{\left/ {\vphantom {3 2}} \right. \kern-0em} 2}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{U_{c}^{{{3 \mathord{\left/ {\vphantom {3 2}} \right. \kern-0em} 2}}}} {{{{\left( {p{{d}_{c}}} \right)}}^{{{5 \mathord{\left/ {\vphantom {5 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}}}} \right. \kern-0em} {{{{\left( {p{{d}_{c}}} \right)}}^{{{5 \mathord{\left/ {\vphantom {5 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}}},$
где $K = 4{{\varepsilon }_{0}}{{\left( {{{ep{{\lambda }_{c}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{ep{{\lambda }_{c}}} M}} \right. \kern-0em} M}} \right)}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}$, $p$ – давление рабочего газа, ${{\lambda }_{с}}$ – длина перезарядки иона в газе, $e$ и $M$ – заряд и масса иона, ${{\varepsilon }_{0}}$ – диэлектрическая постоянная.

В самостоятельном разряде выполняется условие поддержания разряда [1]:

(6)
$\int\limits_0^{{{d}_{c}}} {\alpha \left( x \right)dx} = \ln \left( {1 + {1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 {{{\gamma }_{{eff}}}}}} \right. \kern-0em} {{{\gamma }_{{eff}}}}}} \right),$
где $\alpha \left( z \right) = Ap\;\exp \left( { - {{Bp} \mathord{\left/ {\vphantom {{Bp} {E\left( z \right)}}} \right. \kern-0em} {E\left( z \right)}}} \right)$ – ионизационный коэффициент рабочего газа, $E\left( z \right) = {{2{{U}_{c}}z} \mathord{\left/ {\vphantom {{2{{U}_{c}}z} {d_{c}^{2}}}} \right. \kern-0em} {d_{c}^{2}}}$ – распределение напряженности электрического поля в катодном слое, $A$ и $B$ – постоянные для данного рода газа.

Уравнения (1)(6) образуют систему, позволяющую рассчитать характеристики катодного слоя тлеющего разряда при наличии на катоде тонкой диэлектрической пленки, в том числе его катодное падение напряжения ${{U}_{c}}$, как функции плотности разрядного тока.

Вычисления проводились для тлеющего разряда с алюминиевым катодом без диэлектрической пленки и при наличии на его поверхности пленки Al2O3. Использовались следующие значения параметров [11, 16, 19]: ${{\varphi }_{m}} = 4{\text{ эВ}}$, ${{\chi }_{d}} = 2{\text{ эВ}}$, ${{\varepsilon }_{f}} = 3$, ${{s}_{f}} = {{10}^{{ - 3}}}$, $\Delta \varepsilon = 0.125{\text{ эВ}}$, ${{\gamma }_{i}} = {{\gamma }_{{i0}}}{{\left( {{{{{{E\left( {{{d}_{c}}} \right)} \mathord{\left/ {\vphantom {{E\left( {{{d}_{c}}} \right)} n}} \right. \kern-0em} n}}}_{g}}} \right)}^{{0.6}}}$, где ${{n}_{g}}$ – концентрация рабочего газа, причем величина отношения ${{{{E\left( {{{d}_{c}}} \right)} \mathord{\left/ {\vphantom {{E\left( {{{d}_{c}}} \right)} n}} \right. \kern-0em} n}}_{g}}$ в последнем соотношении берется в килотаунсендах ($1\,\,{\text{кТд}} = {{10}^{{ - 18}}}\,\,{\text{В}} \cdot {{{\text{м}}}^{{\text{2}}}}$).

При расчете в работе [11] эмиссионной эффективности диэлектрической пленки оксида алюминия на катоде в слаботочном разряде с плотностью разрядного тока $j$ порядка ${{10}^{{ - 4}}}\;{\text{А}} \cdot {{{\text{м}}}^{{ - 2}}}$ использовалось значение ${{\lambda }_{e}} = 0.3{\text{ нм}}$ из [8]. В тлеющем же разряде плотность тока $j$, а в соответствии с соотношением (2) и плотность тока полевой электронной эмиссии в пленку ${{j}_{f}}$, превосходит его величину в слаботочном разряде на несколько порядков [1]. Поэтому, как следует из выражения (1), напряженность ${{E}_{f}}$ электрического поля в пленке, обеспечивающая нужную величину ${{j}_{f}}$, в тлеющем разряде должна быть большей, чем в слаботочном разряде. Это обусловливает более высокие энергии электронов, движущихся в пленке, и меньшую среднюю длину ${{\lambda }_{e}}$ их пробега в ней между столкновениями с фононами, так как для электронов с энергией до 10 эВ величина ${{\lambda }_{e}}$ уменьшатся с увеличением их энергии [20, 21]. Для учета этого фактора в данной работе использовалось приближенное выражение для зависимости ${{\lambda }_{e}}\left( {{{E}_{f}}} \right)$ вида:

(7)
${{\lambda }_{e}}\left( {{{E}_{f}}} \right) = {{\lambda }_{{e0}}}{{\left( {{{{{E}_{{f0}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{E}_{{f0}}}} {{{E}_{f}}}}} \right. \kern-0em} {{{E}_{f}}}}} \right)}^{q}},$
где ${{\lambda }_{{e0}}} = 0.3{\text{ нм}}$ и ${{E}_{{f0}}} = 5 \cdot {{10}^{8}}\;{\text{В}} \cdot {{{\text{м}}}^{{ - 1}}}$ – значения ${{\lambda }_{e}}$ и ${{E}_{f}}$, характерные для слаботочного разряда [11]. Значение коэффициента $q = 0.65$ в нем найдено из условия, что, как экспериментально установлено в работе [22], при формировании на катоде пленки оксида алюминия толщиной ${{H}_{f}} = 8{\text{ нм}}$ катодное падение напряжения тлеющего разряда в гелии уменьшается с 180 до 90 В.

Вычисленные с использованием соотношений (1)–(7) зависимости основных характеристик катодного слоя разряда при наличии на нем диэлектрической пленки толщиной ${{H}_{f}} = 7{\text{ нм}}$ и при ее отсутствии (т.е. при ${{H}_{f}} = 0$) как функции плотности разрядного тока $j$ в тлеющем разряде в аргоне ($p = 133{\text{ Па}}$, ${{\gamma }_{{i0}}} = 0.025$) приведены на рис. 1–4. Из рис. 2 и 3 видно, в частности, что наличие на катоде тонкой диэлектрической пленки обусловливает существенное улучшение его эмиссионных свойств, причем величины ${{\delta }_{f}}$ и ${{\gamma }_{{eff}}}$ растут с увеличением $j$ вследствие увеличения напряженности ${{E}_{f}}$ электрического поля в пленке (см. рис. 1), сопровождающегося ростом энергий электронов у ее внешней границы.

Рис. 1.

Зависимость напряженности электрического поля в диэлектрической пленке от плотности разрядного тока.

Рис. 2.

Зависимость эмиссионной эффективности пленки от плотности разрядного тока.

Рис. 3.

Зависимость эффективного коэффициента ионно-электронной эмиссии катода без диэлектрической пленки (штриховая линия) и с пленкой (сплошная линия) от плотности разрядного тока.

Рис. 4.

Вольт-амперная характеристика тлеющего разряда в аргоне с катодом без диэлектрической пленки (штриховая линия), а также с пленкой толщиной 7 нм (сплошная линия 1) и 8 нм (сплошная линия 2). Точки – экспериментальные значения ${{U}_{c}}$ [23].

Из рис. 4, где представлена рассчитанная зависимость катодного падения напряжения разряда ${{U}_{c}}$ от плотности разрядного тока $j$ (т.е. его вольт-амперная характеристика), следует, что для разряда с катодом без диэлектрической пленки имеет место согласие результатов расчета с экспериментальными данными из работы [23], подтверждающее удовлетворительную точность использованной модели катодного слоя тлеющего разряда. Наличие же тонкой диэлектрической пленки на катоде приводит к существенному снижению ${{U}_{c}}$ при той же плотности разрядного тока $j$ вследствие бóльшего значения ${{\gamma }_{{eff}}}$. В частности, при толщине пленки, равной 7 нм, вольт-амперная характеристика разряда является намного медленнее растущей, чем в случае катода без оксидной пленки. Это должно приводить к снижению энергий бомбардирующих катод ионов и атомов рабочего газа, а следовательно, к уменьшению интенсивности его распыления в разряде и увеличению долговечности.

При наличии на катоде более толстой пленки (см. рис. 4) или при большей длине пробега электронов в диэлектрике между их столкновениями с фононами снижение катодного падения напряжения разряда ${{U}_{c}}$, обусловленное полевой электронной эмиссией, может быть еще более значительным. В таком случае вольт-амперная характеристика тлеющего разряда может стать падающей, а его дифференциальное сопротивление – отрицательным, что, как показано в [24, 25], является условием его неустойчивости, т.е. возникновения в разряде колебательных процессов, наблюдавшихся в [26] при наличии на электродах диэлектрических пленок оксида алюминия толщиной порядка 10 нм.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В работе построена самосогласованная модель катодного слоя тлеющего разряда при наличии на катоде тонкой диэлектрической пленки. В ней принимается во внимание, что в разряде, вследствие накопления положительных зарядов на поверхности пленки, в диэлектрике возникает сильное электрическое поле, обусловливающее возникновение полевой эмиссии электронов из металлической подложки катода в пленку. Учитывается также зависимость эмиссионной эффективности пленки, равной доле эмиттируемых в пленку электронов, которые выходят из нее в разряд и улучшают эмиссионные свойства катода, от параметров пленки и разрядных условий.

Рассчитаны зависимости характеристик тлеющего разряда в аргоне с катодом, на поверхности которого находится пленка оксида алюминия, от плотности разрядного тока и показано, что полевая электронная эмиссия может приводить к существенному увеличению эффективного коэффициента ионно-электронной эмиссии катода. В результате, вольт-амперная характеристика такого разряда, в отличие от случая разряда с металлическим катодом, является слабо растущей, а при определенных условиях – падающей, что может быть причиной экспериментально наблюдавшейся неустойчивости разряда при наличии на катоде тонкой диэлектрической пленки.

Работа выполнена в рамках реализации государственного задания “Организация проведения научных исследований” Минобрнауки РФ в МГТУ им. Н.Э. Баумана (проект 3.8408.2017/6.7) при финансовой поддержке РФФИ и Правительства Калужской области (проект № 18-42-400001).

Список литературы

  1. Райзер Ю.П. Физика газового разряда. Долгопрудный: ИД “Интеллект”, 2009. 736 с.

  2. Кудрявцев А.А., Смирнов А.С., Цендин Л.Д. Физика тлеющего разряда. СПб.: Лань, 2010. 512 с.

  3. Schwieger J., Baumann B., Wolff M. et al. // J. Phys. Conf. Ser. 2015. V. 655. Art. № 012045.

  4. Byszewski W.W., Li Y.M., Budinger A.B., Gregor P.D. // Plasma Sources Sci. Technol. 1996. V. 5. № 4. P. 720.

  5. Hadrath S., Beck M., Garner R.C. et al. // J. Phys. D. 2007. V. 40. № 1. P. 163.

  6. Lee M.-B., Hahm S.-H., Lee J.-H., Song Y.-H. // Appl. Phys. Lett. 2005. V. 86. № 12. Art. № 123511.

  7. Ptitsin V. // J. Phys. Conf. Ser. 2011. V. 291. № 1. Art. № 012019.

  8. Suzuki M., Sagawa M., Kusunoki T. et al. // IEEE Trans. ED. 2012. V. 59. № 8. P. 2256.

  9. Bondarenko G.G., Fisher M.R., Kristya V.I. // Vacuum. 2016. V. 129. P. 188.

  10. Бондаренко Г.Г., Фишер М.Р., Мьо Ти Ха, Кристя В.И. // Изв. вузов. Физ. 2019. Т. 62. № 1. С. 72; Bondarenko G.G., Fisher M.R., Myo Thi Ha, Kristya V.I. // Russ. Phys. J. 2019. V. 62. № 1. P. 82.

  11. Кристя В.И., Мьо Ти Ха, Фишер М.Р. // Поверхность. Рентген., синхротрон. и нейтрон. исслед. 2019. № 4. С. 79; Kristya V.I., Myo Thi Ha, Fisher M.R. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2019. V. 13. № 2. P. 339.

  12. Modinos A. Field, thermionic, and secondary electron emission spectroscopy. N.Y.: Plenum Press, 1984. 376 p.

  13. Forbes R.G. // Appl. Phys. Lett. 2006. V. 89. № 11. Art. № 113122.

  14. Hickmott T.W. // J. Appl. Phys. 2010. V. 108. Art. № 093703.

  15. Hickmott T.W. // J. Appl. Phys. 2000. V. 87. Art. № 7903.

  16. Bondarenko G.G., Kristya V.I., Savichkin D.O. // Vacuum. 2018. V. 149. P. 114.

  17. Phelps A.V., Petrović Z.Lj. // Plasma Sources Sci. Technol. 1999. V. 8. № 3. P. R21.

  18. Кристя В.И., Йе Наинг Тун // Изв. РАН. Сер. физ. 2014. Т. 78. № 6. С. 752; Kristya V.I., Ye Naing Tun // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2014. V. 78. № 6. P. 549.

  19. Donko Z. // Phys. Rev. E. 2001. V. 64. № 2. Art. № 026401.

  20. Ashley J.C., Tung C.J., Ritchie R.H. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 1975. V. 22. № 6. P. 2533.

  21. Кортов В.С., Звонарев С.В. // Изв. вузов. Физ. 2008. Т. 51. № 3. С. 52; Kortov V.S., Zvonarev S.V. // Russ. Phys. J. 2008. V. 51. № 3. P. 277.

  22. Крютченко О.Н., Маннанов А.Ф., Носов А.А. и др. // Поверхность. Физ., хим., мех. 1994. № 6. С. 93.

  23. Rózsa K., Gallagher A. // Phys. Rev. E. 1995. V. 52. № 1. P. 913.

  24. Phelps A.V., Petrovič Z.Lj., Jelenkovič B.M. // Phys. Rev. E. 1993. V. 47. № 4. P. 2825.

  25. Mokrov M.S., Raizer Yu.P. // Plasma Sources Sci. Technol. 2008. V. 17. № 3. Art. № 035031.

  26. Гуторов К.М., Визгалов И.В., Маркина Е.А., Курнаев В.А. // Изв. РАН. Сер. физ. 2010. Т. 74. № 2. С. 208; Gutorov K.M., Vizgaliv I.V., Markina E.A., Kurnaev V.A. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2010. V. 74. № 2. P. 188.

Дополнительные материалы отсутствуют.