Известия РАН. Серия физическая, 2022, T. 86, № 9, стр. 1278-1282

Эффективная добротность миниатюрных диэлектрических резонаторов в экранированных линиях передачи

В. М. Геворкян 1, С. В. Вишняков 1, Ю. А. Казанцев 1, А. В. Шутов 1*

1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования “Национальный исследовательский университет “МЭИ”
Москва, Россия

* E-mail: ShutovAV@mpei.ru

Поступила в редакцию 18.04.2022
После доработки 13.05.2022
Принята к публикации 23.05.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

Электромагнитное поле диэлектрического резонатора рассматривается как сумма внутреннего поля, определяющего собственную добротность и внешнего поля, определяющего внешнюю добротность. Внешняя добротность, в свою очередь, зависит от потерь в стенках линии. Показано, что для значений собственной и внешней много больших единицы, эффективная собственная добротность может быть как больше, так и меньше собственной добротности, что подтверждено численным экспериментом.

ВВЕДЕНИЕ

Открытые диэлектрические резонаторы (ДР), изготовленные из современных керамических материалов, сочетающих высокую относительную диэлектрическую проницаемость (εr ≈ 30–40), малые потери (tg δ ≈ 10–4–5 · 10–5) и температурную стабильность параметров в широком диапазоне частот [1, 2] в последнее время представляют значительный интерес при создании различных активных и пассивных СВЧ устройств [37].

Основной характеристикой ДР является его добротность: отношение запасенной энергии к суммарным потерям (тепловым и радиационным). Обычно для снижения радиационных потерь ДР экранируют, что увеличивает вносимые тепловые потери. При этом возникает понятие эффективная добротность ДР Qэф, которая зависит не только от тепловых потерь внутри ДР, но и от потерь в металлических стенках экранов, что затрудняет возможность ее априорной оценки. Задача прогнозирования добротности ДР в устройствах СВЧ осложняется недостаточной точностью определения tg δ керамических материалов с высоким значением εr в диапазоне СВЧ. Например, в ГОСТ Р 8.623–2015 погрешность измерения tg δ составляет т.е. при указанных выше tg δ = 10–4–5 ⋅ 10–5, величина собственной добротности ДР (Q0 = (tg δ)–1) определяется с погрешностью 40–70%, что усложняет численный анализ характеристик СВЧ устройств с применением ДР.

В работе проведен анализ свойств ДР на базе частотных характеристик линий передачи с ДР и рассмотрен алгоритм определения добротностей ДР, расположенных в экранированной линии передачи (волноводе) с неидеальными стенками. Анализ линии передачи с ДР, проведен традиционным методом на основе матриц рассеяния, допускающим как приближенные аналитические, так и численные подходы [811]. Особенностью развиваемого алгоритма расчета является учет влияния на добротность ДР помимо тепловых потерь в материале и в стенках линии передачи с конечной проводимостью, также запасенной энергии во внешних полях ДР.

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ РЕЗОНАТОР В СОГЛАСОВАННОМ ВОЛНОВОДЕ

В соответствии с [9] рассмотрим регулярную линию передачи (полый металлический волновод) с ДР и одним основным видом волны (рис. 1).

Рис. 1.

Модель регулярной линии передачи с ДР. 1 – волновод; 2 – диэлектрический резонатор.

На рис. 1 поверхность S ограничивает объем V линии с ДР. Плоскости z = z1 и z = z2 выбираются на таком расстоянии от ДР (z = z0), где можно пренебречь высшими нераспространяющимися видами волн, излучаемыми вторичными токами поляризации ДР. Тогда в плоскостях z = z1 и z = z2 будет только падающая $\left( {{{{\vec {E}}}^{0}},{{{\vec {H}}}^{0}}} \right),$ отраженная $\left( {{{{\vec {E}}}^{ - }},{{{\vec {H}}}^{ - }}} \right)$ и прошедшая $\left( {{{{\vec {E}}}^{ + }},{{{\vec {H}}}^{ + }}} \right)$ волны.

В этой модели резонансным является весь рассматриваемый объем V линии с ДР. Запасенная энергия в объеме V определяется энергией внутри и вне ДР. Энергия вне ДР определяется в основном высшими нераспространяющимися видами волн. Мощность потерь в объеме V определяется потерями в диэлектрике (tg δ) и металлических стенках линии, т.е. проводимостью металла (σм).

В случае высокой добротности миниатюрных ДР (tg δ $ \ll $ 1, εr $ \gg $ 1), пренебрегая “нерезонансным” возмущением ДР линии передачи, коэффициент отражения вблизи резонансной частоты ДР (ω ≈ ωр) для основного вида волны в плоскости z = z0 согласно [9]:

(1)
${{\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{S} }_{{11}}}(j\omega ) = \frac{{{{{\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{E} }}^{ - }}}}{{{{{\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{E} }}^{0}}}} = \frac{\beta }{{1 + \beta }}\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{\kappa } (j\omega ){{e}^{{ - j\Psi }}},$
где Ψ – фазовый коэффициент, определяемый ориентацией и положением ДР; β = Pи/Pт – коэффициент связи линии передачи с ДР по основному виду волны; Pи – излучаемая мощность из объема V на резонансной частоте ωр; Pт – мощность тепловых потерь в ДР и в металлических стенках линии передачи на резонансной частоте ωр.

Частотный коэффициент $\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{\kappa } \left( {j{{\omega }}} \right)$ в (1) при ω ≈ ωр записывается в виде

(2)
$\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{\kappa } (j\omega ) = {{\left[ {1 + j\frac{{{{Q}_{{{\text{эф}}}}}}}{{1 + \beta }}\left( {\frac{{{{\omega }^{2}} - \omega _{{\text{р}}}^{2}}}{{\omega _{{\text{р}}}^{2}}}} \right)} \right]}^{{ - 1}}},$
где ${{Q}_{{{\text{эф}}}}} = {{{{\omega }_{{\text{р}}}}{{W}_{{\text{з}}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{\omega }_{{\text{р}}}}{{W}_{{\text{з}}}}} {{{P}_{{\text{т}}}}}}} \right. \kern-0em} {{{P}_{{\text{т}}}}}}$ – эффективная добротность ДР (добротность объема V c ДР), Wз – запасенная энергия электромагнитного поля в объеме V.

Эффективная добротность Qэф в соответствии с (1) и (2) может быть определена по частотной характеристике ${{S}_{{11}}}(\omega ) = \left| {{{{\underline S }}_{{11}}}(j\omega )} \right|$ как ${{Q}_{{{\text{эф}}}}} = {{{{\omega }_{{\text{р}}}}(1 + \beta )} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{\omega }_{{\text{р}}}}(1 + \beta )} {\Delta \omega }}} \right. \kern-0em} {\Delta \omega }},$ где Δω – ширина резонансной кривой S11(ω) по уровню половинной мощности; β определяется из (1) при ω = ωр.

Проанализируем выражение для Qэф с точки зрения разделения электромагнитного поля ДР на внешнее и внутреннее. Разобьем весь объем V на внутренний объем ДР Vвн и объем снаружи Vнар, тогда

(3)
$\begin{gathered} {{Q}_{{{\text{эф}}}}} = \frac{{{{\omega }_{{\text{р}}}}{{W}_{{\text{з}}}}}}{{{{P}_{{\text{т}}}}}} = \frac{{{{\omega }_{{\text{р}}}}\left( {{{W}_{{{\text{з,вн}}}}} + {{W}_{{{\text{з,нар}}}}}} \right)}}{{{{P}_{{{\text{т,вн}}}}} + {{P}_{{{\text{т,нар}}}}}}} = \\ = \frac{{{{\omega }_{{\text{р}}}}{{W}_{{{\text{з,вн}}}}}}}{{{{P}_{{{\text{т,вн}}}}}}}\left[ {\frac{{1 + \frac{{{{W}_{{{\text{з,нар}}}}}}}{{{{W}_{{{\text{з,вн}}}}}}}}}{{1 + \frac{{{{P}_{{{\text{т,нар}}}}}}}{{{{P}_{{{\text{т,вн}}}}}}}}}} \right] = {{Q}_{0}}\left( {\frac{{1 + {{K}_{W}}}}{{1 + \frac{{{{Q}_{0}}}}{{{{Q}_{e}}}}{{K}_{W}}}}} \right), \\ \end{gathered} $
где Wз, вн и Pт, вн – запасенная энергия и мощность тепловых потерь в ДР; Wз, нар и Pт, нар – запасенная энергия снаружи ДР и мощность потерь в стенках линии; Q0= ωрWз, вн/Pт, вн = 1/tg δ – собственная (внутренняя) добротность ДР; Qe = ωрWз, нар/Pт, нар – внешняя добротность ДР; KW = Wз, нар/Wз, вн.

При высокой добротности ДР (Q0 $ \gg $ 1) и малых потерях в стенках линии передачи (Qe $ \gg $ 1) структура полей в объеме V вблизи резонансной частоты (ω ≈ ωр) не зависит от Q0, отсюда KW и Qe также не зависят от Q0. Зависимость Qэф от Q0 согласно (3) имеет вид, показанный на рис. 2. Согласно рис. 2 в случае Q0 > Qe получим Qэф < Q0, при Q0 < Qe получим Qэф > Q0 и в особом случае Q0 = Qe = Qэф.

Рис. 2.

Зависимость Qэф(Q0) при условии Q0 $ \gg $ 1 и Q$ \gg $ 1.

Измерение добротности ДР в согласованном волноводе связано со сложностью учета “нерезонансного” возмущения" [8, 12]. Нерезонансное возмущение приводит к отличию реальных частотных характеристик измерительного тракта с ДР от классических резонансных кривых. Малое возмущение может быть приближенно учтено, но это требует дополнительной математической обработки результатов измерений.

Нерезонансное возмущение можно существенно уменьшить, располагая ДР в короткозамкнутом волноводе, например, в минимуме электрического поля стоячей волны.

ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ РЕЗОНАТОР В КОРОТКОЗАМКНУТОМ ВОЛНОВОДЕ

Поместим ДР в короткозамкнутый волновод. Расстояние от ДР до короткозамкнутой стенки выберем кратным половине длины волны в волноводе, тем самым ДР будет находится в узле электрического поля, что минимизирует нерезонансное возмущение ДР волновода.

Резонансный объем V в этом случае включает в себя весь отрезок волновода от короткозамкнутой стенки (z = z2) до некоторого сечения (z = z1), где можно пренебречь нераспространяющимися видами волн волновода, возбуждаемыми токами поляризации ДР.

Коэффициент отражения по основному виду волны [8]:

(4)
${{\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{S} }_{{11}}}(j\omega ) = \left[ {1 - \frac{{2\beta }}{{1 + \beta }}\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{\kappa } (j\omega )} \right]{{e}^{{ - j\Psi }}},$
где β определено по (1), $\underset{\raise0.3em\hbox{$\smash{\scriptscriptstyle-}$}}{\kappa } (j\omega )$ по (2). Выводы (3) для Qэф верны и в этом случае.

При ω = ωр

(5)
${{S}_{{11{\text{р}}}}} = \frac{{\left| {1 - \beta } \right|}}{{\left| {1 + \beta } \right|}},$
$\beta = \frac{{1 - {{S}_{{11{\text{р}}}}}}}{{1 + {{S}_{{11{\text{р}}}}}}}$ при $\beta < 1;$ $\beta = \frac{{1 + {{S}_{{11{\text{р}}}}}}}{{1 - {{S}_{{11{\text{р}}}}}}},$ при $\beta > 1;$ $\beta = 1,$ при ${{S}_{{11{\text{р}}}}} = 0.$

Коэффициент отражения по уровню половинной мощности из (4)

(6)
$S_{{11}}^{{(0.5)}} = \sqrt {\frac{{1 - S_{{11{\text{р}}}}^{2}}}{2}} = \frac{{\sqrt {1 + {{\beta }^{2}}} }}{{1 + \beta }}.$

Эффективная добротность Qэф определяется формулой

(7)
${{Q}_{{{\text{эф}}}}} = \frac{{{{\omega }_{{\text{р}}}}}}{{\Delta \omega }}(1 + \beta ).$

Численный эксперимент проводился в среде СВЧ моделирования CST Studio Suite (Student Edition). Дисковый ДР с H01δ видом колебания располагался в прямоугольном короткозамкнутом волноводе, как показано на рис. 3.

Рис. 3.

ДР в короткозамкнутом волноводе. Расчетная модель.

Сечение волновода a × b = 28.5 × 12.6 мм, материал стенок – медь (σм = 6 ⋅ 107 См ⋅ м–1). Параметры дискового ДР: диаметр D = 4.9 мм, высота H = 2.4 мм, относительная диэлектрическая проницаемость материала εr = 40, резонансная частота f0 = 10 ГГц. Угол поворота ДР φ = 7°.

Результаты численного эксперимента при изменении Q0 для двух различных расстояний λв/2 и λв от ДР (z = z0) до короткозамкнутой стенки (z = = z2) приведены в табл. 1 и 2.

Таблица 1.

Результаты численного моделирования при (z2z0) = λв/2

Q0 5000 7500 10 000 12 500 15 000 17 500 20 000 Qe KW
Qэфф модель 5614 8106 10 415 12 563 14 564 16 434 18 185 12 857 0.219
Qэфф по (3) 5616 8109 10 419 12 563 14 564 16 434 18 185    
Таблица 2.

Результаты численного моделирования при (z2z0) = λв

Q0 5000 7500 10 000 12 500 15 000 17 500 20 000 Qe KW
Qэфф модель 5703 8173 10 430 12 500 14 404 16 164 17 795 12 500 0.260
Qэфф по (3) 5706 8175 10 431 12 500 14 406 16 166 17 797    

Численное моделирование задачи подтверждает возможность разбиения поля ДР на внешнее и внутреннее, а также достоверность формулы (3) для Qэф.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Открытые ДР формируют колебательные системы современных СВЧ устройств. Основной характеристикой ДР является добротность. Она зависит не только от тангенса угла диэлектрических потерь, но и от вносимых потерь в окружающих конструкциях и энергии, запасенной во внешних полях объемов с ДР. Причем, на практике разработчиков СВЧ устройств чаще всего интересуют свойства ДР в экранированных объемах и линиях, ограничивающих потери на излучение. Поэтому представленный в работе анализ влияния на добротность ДР экранов, проведенный на примере волноводных линий, представляет практический интерес.

Результаты численного эксперимента указывают на высокую достоверность рассмотренного алгоритма расчета добротности ДР.

Список литературы

  1. Рыбкин В.Н., Фомина Г.В., Коломин В.М. // Электрон. и микроэлектрон. СВЧ. 2017. Т. 1. С. 17.

  2. Ненашева Е.А. // Электрон. пром. 2014. № 2. С. 84.

  3. Геворкян В.М., Кочемасов В.Н. // Электроника: наука, технол., бизнес. Ч. 1. 2016. № 4. С. 62.

  4. Геворкян В.М., Кочемасов В.Н. // Электроника: наука, технол., бизнес. Ч. 2. 2016. № 5. С. 76.

  5. Геворкян В., Кочемасов В., Шадский В. // Электроника: наука, технол., бизнес. Ч. 1. 2020. № 2. С. 114.

  6. Геворкян В., Кочемасов В., Шадский В. // Электроника: наука, технол., бизнес. Ч. 2. 2020. № 4. С. 102.

  7. Геворкян В., Кочемасов В., Шадский В. // Электроника: наука, технол., бизнес. Ч. 3. 2020. № 5. С. 112.

  8. Алексейчик Л.В., Геворкян В.М., Казанцев Ю.А. и др. // Радиотехн. и электрон. 1977. Т. 22. № 3. С. 512.

  9. Алексейчик Л.В., Геворкян В.М., Казанцев Ю.А. и др. // Электрон. техн. СВЧ техн. 1979. № 8. С. 15.

  10. Ильченко М.Е., Взятышев В.Ф., Гассанов Л.Г. и др. Диэлектрические резонаторы. М.: Радио и связь, 1989. 327 с.

  11. Вишняков С., Геворкян В., Казанцев Ю. // Электроника: наука, технол., бизнес. 2009. № 2. С. 52.

  12. Егоров В.Н. // Изв. вузов. Радиофизика. 2010. Т. 53. № 8. С. 493.

Дополнительные материалы отсутствуют.