Неорганические материалы, 2019, T. 55, № 2, стр. 143-147

Создание профилированных поверхностей на фосфиде индия для торцевых светоизлучающих приборов

М. Г. Васильев 1*, А. Д. Изотов 1, С. Ф. Маренкин 1, А. А. Шелякин 1

1 Институт общей и неорганической химии им. Н.С. Курнакова Российской академии наук
119991 Москва, Ленинский пр., 31, Россия

* E-mail: mgvas@igic.ras.ru

Поступила в редакцию 10.09.2018

Полный текст (PDF)

Аннотация

Изучено взаимодействие травителей и их смесей с подложками InP семейства плоскостей {100}. Установлено, что выступающие или углубленные меза-полоски в виде каналов, ограненных семейством плоскостей различной полярности: {111}A, {111}B, {110}, {112}A или {221}A, могут быть получены при соответствующем подборе травителя и ориентации маскирующего покрытия. Отмечено, что огранка меза-полосков осуществлялась наиболее плотноупакованными плоскостями, причем в случае полярности свойств огранка осуществляется плоскостями с малой скоростью растворения ({111}A для решетки сфалерита). Показано, что расположение наиболее плотноупакованных плоскостей {111}A и {111}B различно относительно базовых плоскостей(110) и (1̅10).

Ключевые слова: фосфид индия, травление, профилированные поверхности, меза-полоски

ВВЕДЕНИЕ

Улучшение характеристик кварцевого волокна с минимальными потерями на λ = 1.3 и 1.5 мкм привело к интенсивным исследованиям системы In–Ga–As–P для получения полупроводниковых лазеров и фотоприемных устройств на этих длинах волн [1, 2]. Для их создания необходимо выращивание изопериодных гетероструктур на подложках InP. В связи с этим возник интерес к физико-химическим свойствам InP, а также методoм химической обработки и создания профилированных поверхностей на этом материале.

В лазерных диодах особенно важен контроль модового состава спектра излучения и, в частности, контроль поперечных мод [3], который часто достигается за счет проведения процесса заращивания на профилированных подложках в форме выступающих меза-полосков, в виде каналов или террас [48].

Некоторые особенности травления InP, GaAs и других соединений AIIIBV описаны в [911]. Тем не менее, нет четкого представления о создании полосковых структур методом химического травления InP и их последующего заращивания эпитаксиальными методами.

В данной работе проведены исследования по оптимизации состава травителя, типа маскирующего покрытия и ориентации направления полосков для получения различных полосковых форм.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Для исследования использовались стандартные подложки InP {100}, n-типа проводимости с концентрацией носителей заряда 1 × 1018–5 × 1019 см–3. Образцы механически полировались до толщины 320 ± 10 мкм. После механической полировки образцы тщательно отмывались в органических растворителях и травились в полирующем травителе Br:CH3COOH для снятия поверхностного нарушенного слоя материала (~10 мкм). В качестве маскирующего покрытия для последующих травлений была использована пленка SiO2, нанесенная с использованием пиролитической реакции SiH4 и O2 при температуре подложки InP 450°С. Толщина оксидной пленки составляла 0.15 мкм. Полоски формировались в направлениях [110] или [$\overline {11} $0]. Направление определялось с помощью травления фрагмента подложки InP ~1 мм шириной с последующим травлением в концентрированной HCl более 2 мин.

На поверхности фрагмента подложки InP образовывались характерные фигуры травления, позволяющие ориентировать полоски вдоль направления [110]. Перпендикулярное направление определялось как [$\overline {11} $0]. Меза-полоски формировались с использованием стандартной техники фотолитографии. Ширина полоска составляла 10 мкм, интервал между полосками – 400 мкм. Для снятия SiO2 использовали буферный травитель HF. Последующее травление для создания меза-полосковой структуры осуществлялось при комнатной температуре с нормальными условиями освещенности и легким перемешиванием раствора. Скалывание для определения геометрических размеров осуществлялось параллельно плоскостям {110}. Скорость травления вычислялась по глубине травления, определяемой по сколу с помощью оптического микроскопа МБИ-11. Все представленные микро-фотографии также получены с помощью оптического микроскопа МБИ-11.

В качестве травителя был использован Br:CH3COOH, который является предпочтительным для InP [11]. Его скорость травления трудно проконтролировать, но качество получаемой поверхности обычно очень хорошее. Были использованы различные объемные соотношения Br : : CH3COOH – 1 : 160, 1 : 80, 1 : 25, 1 : 9. Форма меза-полосковой конструкции при различных соотношениях травителя не менялась. Наиболее удобным, на наш взгляд, оказалось соотношение Br : : CH3COOH = 1 : 9. Скорость травления данного травителя была около 2 мкм/мин на образцах без маскирующего покрытия.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Формирование меза-полосковой структуры проводилось путем химического травления в смеси Br : CH3COOH = 1 : 9. В зависимости от ориентации маскирующих полосок получали два типа меза-структур (рис. 1). Никаких отклонений не обнаружено на тестовом многослойном образце, состоящем из InP, легированного оловом до концентрации n = 1 × 1018 см–3, In0.72Ga0.28As0.63P0.37, легированного оловом до n = (1–4) × 1016 см–3, толщиной 0.1–0.5 мкм и InP, легированного цинком до концентрации p = (5–10) × 1017 см–3, толщиной 2.5–3.0 мкм. Однако наблюдалась селективность в травлении монокристалла и его огранке наиболее плотноупакованными плоскостями.

Рис. 1.

Форма мезы: а – тип “ласточкин хвост” вдоль направления [110]; б – тип “холм” вдоль направления [$\overline {11} $0].

В случае полярности свойств кристаллов огранка осуществляется плоскостями с малой скоростью растворения ({111}A для решетки сфалерита). Анализ плоскостей (110) и ($\overline {11} $0) показал [12], что расположение наиболее плотноупакованных плоскостей {111}A и {111}B относительно них различно (рис. 2). Поэтому при травлении слоя фосфида индия с ориентацией полоска вдоль направления [110] меза-полосок имеет форму “ласточкин хвост” и огранен плоскостями (1$\overline {11} $) и ($\overline {11} $$\bar {1}$), расположенными под углом 125°16′ к (001), и плоскостями (1$\overline {12} $) и ($\overline {11} $2) (угол 35°16′). Если травление проводилось вдоль направления [$\overline {11} $0], то меза-полосок имел форму типа “холм” и был огранен плоскостями (111) и (1̅1̅1), расположенными под углом 54°44' к (001).

Рис. 2.

Кристаллографическая ориентация меза-полосков на плоскости (001): а – вдоль направления [110], б – вдоль направления [$\overline {11} $0].

Были изучены скорости травления подложек фосфида индия с различной кристаллографической ориентацией: (111)А, (111)В, (100), (001). Изменение скорости травления подложек с разной ориентацией приведено на рис. 3. Видно, что v(111)B > v(100) > v(111)A. Следует отметить, что медленно травящаяся плоскость (111)А всегда остается матовой, в то время как плоскости (111)В, (100) и (001) – зеркальные. Столь значительные различия в скоростях травления по различным кристаллографическим направлениям, по-видимому, связаны с полярными свойствами решетки сфалерита [12] в направлении [111].

Рис. 3.

Скорости травления подложек с разной ориентацией фосфида индия.

Динамика травления комбинации граней меза-полосков в травителе Br:CH3COOH зависит от индексов этих граней по отношению к направлению [110] (рис. 4). Исследования показали, что наличие комбинации плоскостей играет важную роль в определении скорости травления меза-полоска и может завуалировать различие скоростей травления некоторых низко-индексовых плоскостей. Это происходит благодаря поверхностной диффузии адсорбированных на маске молекул травителя. В настоящей работе установлено, что эффект значительно уменьшается при перемешивании.

Рис. 4.

Динамика травления комбинации граней меза-полосков в травителе Br:CH3COOH.

Рассмотрим профили меза-полосков канального типа и скорости травления граней при вскрытии полосков вдоль направлений [110] и [$\overline {11} $0] на плоскости фосфида индия (001). В качестве маскирующего покрытия использовали пленки SiO2, полученные методом пиролиза моносилана. Температура подложки при этом составляла 450°С. Ширина вскрытого полоска составляла 10 мкм, интервал между полосками – 400 мкм. В зависимости от ориентации получали два типа меза-полосков канального типа (рис. 5). Огранка меза-полосков канального типа ничем не отличалась от огранки выступающих меза-полосков как по набору плоскостей, так и по углам их расположения.

Рис. 5.

Меза-полоски канального типа: а – вдоль направления [110], б – вдоль направления [$\overline {11} $0].

С практической точки зрения при создании лазерных диодов особый интерес представляют меза-полоски с минимальными размерами области излучения, т.е. полоски типа “ласточкин хвост”, что позволяет получать низкие рабочие токи, одномодовый режим работы лазерного диода с высокой эффективностью прибора [13].

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Проведено исследование различных форм травления меза-полосковых структур, сформированных на фосфиде индия. Выявлены закономерности механизма травления, связанные с ориентацией полосков на подложках фосфида индия. Установлены оптимальные режимы создания полосковых структур двух типов: “ласточкин хвост” и “холм”, что позволяет создавать лазерные диоды зарощенного типа с малыми рабочими токами и высокой квантовой эффективностью. Установлены оптимальные режимы создания меза-полосковых структур двух типов канального профиля. Выявлены условия для создания меза-полосковых структур типа “ласточкин хвост”, которые являются оптимальными для лазерных диодов с зарощенной активной областью.

БЛАГОДАРНОСТЬ

Работа выполнена в рамках госзадания ИОНХ РАН (тема № 0088-2014-0003) при частичной поддержке программы Президиума РАН I.35 “Научные основы создания новых функциональных материалов”.

Список литературы

  1. Gen-ei K., Tanioka A., Suhara H., Chinen K. High Coupled Power 1.3 µm Edge Emitting Light-Emitting Diode with a Rear Window and an Integrated Absorber // Appl. Phys. Lett. 1988. V. 53. № 13. P. 1138–1140.

  2. Bowers E., Burrus C.A. Ultrawide-Band Long-Wavelength p-i-n Photodetectors // J. Lightwave Technology. 1987. LT-5. № 10. P. 1339–1350.

  3. Голикова Е.Г., Горбылев В.А., Ильин Ю.В., Курешов В.А., Лешко А.Ю., Лютецкий А.В., Пихтин Н.А., Рябоштан Ю.А., Симаков В.А., Тарасов И.С., Третьякова Е.А., Фетисова Н.В. Мезаполосковые одномодовые InGaAsP лазеры раздельного ограничения с двойной гетероструктурой, полученные методом газофазной эпитаксии из металлоорганических соединений // Письма в ЖТФ. 2000. Т. 26. № 7. С. 57–63.

  4. Mito I., Kitamura M., Kaede K. et al. InGaAsP Planar Buried Heterostructure Laser Diode (PBH-LD) with Very Low Threshold Current // Electron. Lett. 1982. V. 18. P. 2–3.

  5. Mito I., Kitamura M., Kobayashi K. Double-Channel Planar Buried-Heterostructure Laser Diode with Effective Current Confinement // Electron. Lett. 1982. V. 18. P. 953–954.

  6. Ishikawa H., Imai H., Tanahashi T. et al. V-Grooved Substrate Buried Heterostructure InGaAsP/InP Laser Emitting at 1.3 μm Wavelength // IEEE J. Quantum Electron. 1982. V. QE-18. P. 1704–1711.

  7. Васильев М.Г., Васильев А.М., Изотов А.Д., Шелякин А.А. Создание и исследование высокотемпературного лазерного диода с длиной волны излучения 1310 нм на основе зарощенных гетероструктур InP/GaInAsP // Неорган. материалы. 2014. Т. 50. № 9. С. 963–967. doi https://doi.org/10.7868/S0002337X14090176

  8. Васильев М.Г., Васильев А.М., Шелякин А.А. Разработка мощного полупроводникового лазера на основе зарощенных гетероструктур InP/GaInAsP с полосой модуляции до 10 ГГц // Неорган. материалы. 2010. Т. 46. № 9. С. 1128–1133.

  9. Бахадирханов М.К., Ибрагимов Ш.Б., Камолов И.Р. Влияние химической обработки на поверхностные состояния и электрофизические характеристики Au–n–InР структур // Электронная обработка материалов. 2004. № 2. С. 92–95.

  10. Сычикова Я.А., Кидалов В.В., Сукач Г.А. Влияние кристаллографической ориентации на формирование пористой поверхности фосфида индия // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології/ Nanosystems, Nanomaterials, Nanotechnologies. 2010. Т. 8. № 1. С. 91–99.

  11. Безрядин Н.Н., Котов Г.И., Арсентьев И.Н., Власов Ю.Н., Стародубцев А.А. Влияние финишной подготовки поверхности арсенида галлия на спектр электронных состояний n-GaAs(100) // Физика и техника полупроводников. 2012. Т. 46. № 6. С. 756–760.

  12. Васильев М.Г., Родченкова Л.А., Селин А.А., Шелякин А.А. Особенности локальной эпитаксии фосфида индия из жидкой фазы // Изд. АН СССР Неорган. материалы. 1984. Т. 20. № 5. С. 841–843.

  13. Лешко А.Ю., Лютецкий А.В., Пихтин Н.А., Слипченко С.О., Соколова З.Н., Фетисова Н.В., Голикова Е.Г., Рябоштан Ю.А., Тарасов И.С. Мощные одномодовые лазерные диоды на основе квантово-размерных гетероструктур (λ = 1.3–1.6 мкм) // Физика и техника полупроводников. 2002. Т. 36. № 11. С. 1393–1399.

Дополнительные материалы отсутствуют.