Неорганические материалы, 2020, T. 56, № 4, стр. 402-407

Низкотемпературный лазерный синтез тонких электрохромных пленок WO3

О. А. Новодворский 1*, Л. С. Паршина 1, О. Д. Храмова 1, А. А. Яруков 1, Д. С. Гусев 1, Ф. Н. Путилин 2

1 Институт проблем лазерных и информационных технологий Российской академии наук – филиал Федерального научно-исследовательского центра “Кристаллография и фотоника” Российской академии наук”
140700 Московская обл., Шатура, ул. Святоозерская, 1, Россия

2 Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
119991 Москва, Ленинские горы, 1, Россия

* E-mail: onov@mail.ru

Поступила в редакцию 27.06.2019
После доработки 11.09.2019
Принята к публикации 01.10.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

Методом импульсного лазерного осаждения из металлических мишеней при комнатной температуре на кварцевых и с-сапфировых подложках получены аморфные диэлектрические пленки WO3 с шероховатостью поверхности 4–5 нм. Исследованы спектры пропускания пленок WO3 в диапазоне от 400 до 2000 нм в зависимости от типа подложки и давления кислорода в процессе роста. Установлена зависимость параметров полученных пленок от давления кислорода в процессе роста. Пропускание пленок WO3 увеличивается от 40 до 75% в видимой и УФ-областях и от 10 до 70% в ИК-области при изменении давления кислорода в процессе роста пленок от 20 до 60 мторр. Ширина запрещенной зоны пленок WO3 меняется от 3.01 до 3.34 эВ в случае сапфировых подложек и от 2.95 до 3.42 эВ на кварцевых подложках с увеличением давления кислорода в процессе роста и слабо зависит от типа подложки. Впервые создана тонкопленочная электрохромная ячейка с жидким электролитом на основе полученной при комнатной температуре пленки WO3. Пропускание ячейки в диапазоне спектра от 300 до 900 нм уменьшается на 30% при напряжении 2.5 В за время окрашивания порядка 2 мин.

Ключевые слова: тонкие пленки WO3, импульсное лазерное осаждение при комнатной температуре, электрохромная ячейка

ВВЕДЕНИЕ

Активные экспериментальные и теоретические исследования тонких пленок WO3 вызваны электрохромизмом оксида вольфрама в широком диапазоне длин волн: от УФ- до длинноволновой ИК-области спектра [1]. Электрохромные тонкопленочные покрытия на основе пленок WO3, представляющие собой электрохромную ячейку, обладают способностью изменять светопроницаемость при приложении электрического поля. Такие электрохромные ячейки обладают меньшим временем срабатывания при изменении напряжения и большей эффективностью окрашивания по сравнению с устройствами, основанными на других неорганических электрохромных материалах [2]. Тонкие пленки WO3 синтезируют различными методами, в том числе молекулярно-лучевой эпитаксией [3] и импульсным лазерным осаждением (ИЛО) [4]. Однако не все методы могут обеспечить аморфную структуру пленок. Известно, что для создания электрохромных устройств аморфная пленка WO3 гораздо более эффективна, чем кристаллическая [5]. Это связано с тем, что скорость диффузии легких ионов (Н+, Li+, Na+, К+) в аморфных пленках WO3 выше.

С бурным развитием “пластмассовой” электроники возникла необходимость в твердотельных электрохромных покрытиях на гибких полимерных подложках для создания гибких дисплеев и “умных окон” с низкими рабочими напряжениями и низким энергопотреблением [6]. Метод ИЛО благодаря высокой энергии частиц в лазерной плазме позволяет снизить температуру кристаллизации пленок вплоть до комнатной и обеспечить получение слоев твердотельной электрохромной ячейки на полимерных подложках, для которых не применимы высокотемпературные технологические процессы [7]. Высокая плотность заряженных частиц в плазменном факеле позволяет равномерно напылять пленки толщиной в несколько нанометров [7]. Снижение толщины слоев электрохромной ячейки позволит увеличить скорость переключения при окрашивании и обесцвечивании, что может открыть новые направления их применения. Давление кислорода в процессе роста пленок WO3 методом ИЛО играет очень важную роль, так как степень окисления пленок существенно влияет на их электрохромные свойства.

Целью настоящей работы было получение тонких аморфных пленок WO3 при комнатной температуре методом ИЛО из металлических мишеней и исследование их структурных, оптических, электрических и электрохромных свойств в зависимости от типа подложки и давления кислорода в процессе роста пленки.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Методом ИЛО в бескапельном режиме получены тонкие пленки WO3 толщиной от 42 до 275 нм при комнатной температуре и давлении кислорода в диапазоне от 20 до 60 мторр на подложках с-сапфира и плавленого кварца. Абляция металлических мишеней вольфрама осуществлялась излучением эксимерного KrF-лазера (λ = 248 нм, длительность импульса 20 нс) с частотой следования импульсов 10 Гц, которое фокусировалось линзой с фокусным расстоянием 25 см под углом 45° на вращающуюся с частотой 1 Гц мишень. Расстояние между мишенью и подложкой составляло 50 мм. В режиме бескапельного осаждения между мишенью и подложкой располагался механический сепаратор, исключающий попадание капель на растущую пленку, что позволяло получать гладкие однородные пленки высокого качества [7]. Вакуумная камера откачивалась с помощью турбомолекулярного и криогенного насосов до давления 10–7 торр. Термический отжиг полученных пленок проводился в атмосфере кислорода при температуре 500°С в течение 60 мин.

Морфология поверхности пленок WO3 исследовалась с помощью атомно-силового микроскопа NT-MDT Solver Next. Толщины пленок определяли модифицированным микроинтерферометром МИИ-4 (ЛОМО). Оптические и электрохромные свойства пленок WO3 исследовались с помощью спектрофотометров Cary 50 и Cary 5000, структурные свойства – методом рентгеновской дифракции на рентгеновском дифрактометре D8 Discover фирмы Bruker-AXS. Электрические свойства пленок исследовались по четырехточечной схеме Ван-дер-Пау методом Холла в поле постоянного магнита 1 Тл на автоматизированной установке HSM 3000.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Давление кислорода в процессе роста пленок WO3 методом ИЛО играет очень важную роль, особенно для пленок, синтезируемых из металлических мишеней, так как степень окисления пленок существенно влияет на их оптические и электрофизические свойства. С помощью зонда Ленгмюра из времяпролетных зондовых кривых по методике, изложенной в работе [8], была определена средняя энергия ионов вольфрама в плазменном факеле при абляции металлических мишеней лазерным излучением в вакууме и при давлении кислорода в камере 60 мторр, которая составила 50 и 20 эВ соответственно. Такой энергии достаточно для диссоциации молекул кислорода, которая составляет 5.1 эВ, при столкновении ионов вольфрама с молекулами кислорода буферного газа. Рассчитанная длина свободного пробега ионов и атомов вольфрама при давлении кислорода 1 мторр составляет 1.1 см, а при давлении 60 мторр – 3 мм. Следовательно, за время пролета от мишени до подложки ионы и атомы вольфрама могут испытывать несколько столкновений с молекулами буферного газа. Поэтому часть частиц факела будет осаждаться на подложку в виде соединений вольфрама с кислородом: WO, WO2, WO3, W2O3, W2O5. Таким образом, доля соединений вольфрама с кислородом, которые достигнут поверхности подложки, тем больше, чем больше давление кислорода в вакуумной камере. Нейтральные атомы вольфрама летят в центральной и хвостовой частях плазменного факела. Их энергия меньше, а плотность больше по сравнению с ионами [9]. Поэтому значительная часть нейтральных атомов вольфрама осаждается на поверхность подложки в свободном состоянии. Следовательно, для получения пленки WO3 при комнатной температуре подложки для их окисления необходимо увеличивать давление кислорода до 60 мторр. Этим определяются роль давления кислорода и необходимость его повышения при снижении температуры подложки.

Структурные исследования пленок WO3, полученных при комнатной температуре на кварцевых и с-сапфировых подложках, были проведены методом рентгеновской дифракции с использованием CuKα-излучения с длиной волны 1.5406 Å. Все исследованные пленки были аморфными. В качестве примера на рис. 1 приведена дифрактограмма пленки WO3, полученной при давлении кислорода в камере 60 мторр на кварцевой подложке. Пленки, полученные на подложках с-сапфира, подвергались термическому отжигу в атмосфере кислорода при температуре 500°С в течение 1 ч. Дифрактограммы пленки WO3, полученной при комнатной температуре, в диапазоне углов от 26° до 29° до и после отжига приведены на рис. 2. Видно, что пленка до отжига имеет практически рентгеноаморфную структуру, хотя имеется слабый рефлекс 120 моноклинной структуры. После отжига появляются рефлексы 102 и 200, соответствующие гексагональной структуре WO3, при этом интенсивность пика 120, соответствующего моноклинной структуре WO3, также возрастает. Наблюдаемые пики идентифицированы по базе данных JCPDS: № 04-007-2322 для гексагональной структуры и № 04-005-4487 для моноклинной структуры WO3 [10]. Наличие пиков 200 и 120 демонстрирует параллельный рост обеих фаз. Более высокая интенсивность пика 200 обусловлена незначительным преобладанием гексагональной фазы. Известно, что скорость диффузии легких ионов (Н+, Li+, Na+, K+) в аморфных пленках WO3 выше, чем в кристаллических [5]. Поэтому для создания электрохромных устройств полученная нами аморфная пленка WO3 гораздо более эффективна, чем кристаллическая.

Рис. 1.

Дифрактограмма пленки WO3, полученной на кварцевой подложке при комнатной температуре при давлении кислорода в камере 60 мторр.

Рис. 2.

Дифрактограммы пленки WO3 в диапазоне углов от 26° до 29°, полученной при комнатной температуре на сапфировой подложке, до (1) и после отжига (2).

Методом атомно-силовой микроскопии были проведены исследования морфологии поверхности пленок WO3, полученных при комнатной температуре на кварцевых подложках и давлении кислорода от 20 до 60 мторр в процессе роста. Пленки WO3, выращенные на кварцевых подложках методом ИЛО в бескапельном режиме при 20, 40, 60 мторр, имеют шероховатость поверхности 4, 4.5 и 5 нм соответственно.

Оптические свойства полученных пленок WO3 были исследованы в зависимости от типа подложки и давления кислорода в процессе роста. Получены спектры пропускания пленок WO3 в диапазоне от 400 до 2000 нм. Установлено, что при увеличении давления кислорода в процессе роста пленок на обоих типах подложки их пропускание возрастает. Это связано с увеличением содержания WO3 в пленке благодаря значительному окислению низковалентных оксидов WO, WO2, W2O3, W2O5 до WO3. Спектры пропускания пленок WO3 в зависимости от давления кислорода в вакуумной камере в процессе роста на подложке с-сапфира представлены на рис. 3. Видно, что величина пропускания на длине волны 800 нм возрастает в 10 раз. Пропускание пленок WO3 увеличивается от 40 до 75% в видимой и УФ-областях, а в ИК-области от 10 до 70% при изменении давления кислорода в процессе роста пленок от 20 до 60 мторр.

Рис. 3.

Пропускание пленок WO3 в диапазоне спектра от 400 до 2000 нм, осажденных на подложки с-сапфира при комнатной температуре и давлении кислорода в процессе роста пленки 20 (1), 40 (2), 60 мторр (3).

Из полученных спектров пропускания была определена ширина запрещенной зоны Eg пленок WO3. Согласно электромагнитной теории, пропускание слоя вещества выражается формулой [11]:

$T = {{(1--R)}^{2}}\exp (--\alpha d),$
где R – коэффициент отражения, α – коэффициент поглощения, d – толщина слоя. Отсюда следует логарифмическая связь между коэффициентом поглощения α и пропусканием пленки T: α ∼ –lnT. Коэффициент поглощения α зависит от энергии фотона падающего излучения hν и оптической ширины запрещенной зоны Eg [12]:
$\alpha h\nu = A{{(h\nu --{{E}_{g}})}^{n}},$
где ν – частота падающего излучения, А – константа пропорциональности, n равно 1/2 для прямозонных и 2 для непрямозонных полупроводников. В нашем случае n = 2, потому что WO3 не прямозонный полупроводник [12]. Так как α ∼ –lnT, из графика зависимости (–lnThν)1/2 от энергии кванта падающего излучения hν экстраполяцией до пересечения линейной части кривой с осью энергии определяется значение Eg (рис. 4). Ширина запрещенной зоны пленок WO3, полученных при комнатной температуре, возрастает от 3.01 до 3.34 эВ для пленок на сапфировых подложках и от 2.95 до 3.42 эВ для пленок на кварцевых подложках с увеличением давления кислорода в процессе роста пленки от 20 до 60 мторр и слабо зависит от типа подложки.

Рис. 4.

Спектры поглощения пленок WO3 в координатах (αhν)1/2 от hν, полученных при давлении кислорода в процессе роста: 1 – 20 мторр, 2 – 40 мторр, 3 – 60 мторр.

Электрические свойства полученных пленок WO3 исследовались по четырехточечной схеме Ван-дер-Пау методом Холла в поле постоянного магнита 1 Тл на автоматизированной установке HSM 3000. Параметры эксперимента и характеристики полученных пленок приведены в табл. 1. Пленки были получены одновременно на с-сапфировых и кварцевых подложках при комнатной температуре при одинаковом давлении кислорода. Видно, что тип подложки не влияет на удельное сопротивление пленок. С увеличением давления кислорода удельное сопротивление пленок возрастает, а при давлении кислорода 60 мторр пленки становятся диэлектриками. Это связано с тем, что присутствующие в пленке вольфрам и его оксиды WO, WO2, W2O3, W2O5 окисляются до WO3, который является диэлектриком, при увеличении давления кислорода до 60 мторр в напылительной камере.

Таблица 1.  

Параметры эксперимента и характеристики полученных пленок

Пленка Подложка Давление кислорода, мторр Толщина пленки, нм Удельное сопротивление, Ом см
W1 с-Сапфир 20 256 1.9 × 10–2
W2 Плавленый кварц 263 1.8 × 10–2
W3 с-Сапфир 40 248 89
W4 Плавленый кварц 275 72
W5 с-Сапфир 60 42 6000
W6 Плавленый кварц 60 6150

Способность пленок WO3 изменять свою оптическую плотность при инжекции или экстракции ионов малого размера (H+, Li+, Na+, K+) вызвана явлением электрохромизма. В основе эффекта электрохромизма лежит управляемая обратимая окислительно-восстановительная реакция, в результате которой электрохромный материал изменяет свой коэффициент поглощения излучения, что приводит к изменению его окраски в широкой области спектра. Электрохромный эффект пленок WO3 состоит в том, что при инжекции в пленку легких ионов (Н+, Li+, Na+, K+) и электронов онa окрашиваeтся в голубой цвет. С целью исследования электрохромных свойств полученных при комнатной температуре пленок WO3 впервые была создана тонкопленочная электрохромная ячейка с жидким электролитом. Схематическое изображение полученной электрохромной ячейки представлено на рис. 5. Для этого на подложку с-сапфира с двусторонней полировкой размером 10 × 10 мм осаждалась пленка прозрачного проводящего покрытия SnO2:Sb толщиной 200 нм. Технология лазерного синтеза прозрачных проводящих покрытий SnO2:Sb при комнатной температуре подложки описана в работе [7]. Эта пленка служила нижним электродом электрохромной тонкопленочной структуры. На пленку SnO2:Sb при оптимальных условиях лазерного синтеза при комнатной температуре осаждалась пленка WO3. При этом участок нижнего электрода в виде полоски шириной 2 мм оставляли открытым для подпайки к нему провода от источника питания. Полученная структура WO3/SnO2:Sb/c-Al2O3 помещалась в кварцевую оптическую кювету с жидким электролитом и платиновым противоэлектродом так, чтобы уровень электролита не касался открытой части пленки SnO2:Sb. Жидким электролитом служил водный 0.5 М раствор уксусной кислоты. Созданная электрохромная ячейка помещалась в кюветное отделение спектрофотометра Cary-50. При подаче напряжения 2.5 В участок электрохромной ячейки, погруженный в электролит, окрашивался в синий цвет. Процессы окрашивания и обесцвечивания полученной электрохромной ячейки связаны с обратимой химической реакцией образования соединения с переменным составом:

$\begin{gathered} {\text{W}}{{{\text{O}}}_{3}}\left( {{\text{бесцветный}}} \right) + x{{{\text{H}}}^{ + }} + \\ + \,\,x{{{\text{e}}}^{ - }} \leftrightarrow {{{\text{H}}}_{x}}{\text{W}}{{{\text{O}}}_{{\text{3}}}}\left( {{\text{синий}}} \right), \\ \end{gathered} $
где x изменяется в диапазоне 0–1 [13]. Спектры пропускания полученной электрохромной ячейки для осветленного и окрашенного состояний приведены на рис. 6. Видно, что пропускание изменяется в среднем от 70% в осветленном до 40% в окрашенном состоянии. При этом степень окрашивания в ближней ИК-области больше, чем в видимой и ближней УФ-областях. На вставках (рис. 6) приведены фотографии электрохромной ячейки в осветленном и окрашенном состояниях. Время окрашивания при подаче напряжения 2.5 В составляло порядка 2 мин.

Рис. 5.

Схема созданной электрохромной ячейки с жидким электролитом.

Рис. 6.

Спектры пропускания электрохромной ячейки с жидким электролитом: 1 – осветленное состояние, 2 – окрашенное состояние при приложении напряжения 2.5 В к платиновому электроду; на вставках приведены фотографии электрохромной ячейки в осветленном и окрашенном состояниях.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

При осаждении из металлической мишени вольфрама в атмосфере кислорода методом ИЛО в бескапельном режиме при комнатной температуре подложки синтезированы аморфные пленки WO3. Оптимальное давление кислорода для получения аморфных пленок оксида вольфрама с диэлектрическими свойствами при комнатной температуре подложки составляет 60 мторр.

Изменение давления от 20 до 60 мторр в процессе роста пленки WO3 при комнатной температуре на кварцевой подложке практически не влияет на шероховатость ее поверхности. При увеличении давления кислорода в процессе роста пленок как на кварцевых, так и на с-сапфировых подложках их пропускание и ширина запрещенной зоны возрастают. С увеличением давления кислорода проводимость пленок, полученных на обоих типах подложки при одном и том же давлении кислорода, уменьшается, а при давлении кислорода 60 мторр пленки становятся диэлектриками.

На базе полученных при комнатной температуре методом ИЛО пленок WO3 впервые создана электрохромная ячейка с жидким электролитом, меняющая пропускание с 70% в обесцвеченном состоянии на 40% в окрашенном состоянии при напряжении 2.5 В в течение 2 мин. Таким образом, показано, что аморфные пленки WO3, полученные методом ИЛО при комнатной температуре подложки, обладают электрохромными свойствами в широком диапазоне спектра – от 300 до 900 нм.

Список литературы

  1. Yano M., Kuwagata W., Mito H., Koike K., Kobayashi S., Inaba K. Electrochromic Properties of Epitaxial WO3 Thin Films Grown on Sapphire Substrates // Jpn. J. Appl. Phys. 2018. V. 57. № 10. P. 100309 (4pp).

  2. Dinh N.N., Ninh D.H., Thao T.T., Truong V.-V. Mixed Nanostructured Ti-W Oxides Films for Efficient Electrochromic Windows // J. Nanomaterials. 2012. P. 781236 (7pp).

  3. Yano M., Koike K., Matsuo M., Murayama T., Harada Y., Inaba K. Growth and Crystallographic Characterization of Molecular Beam Epitaxial WO3 and MoO3/WO3 Thin Films on Sapphire Substrates // Appl. Surf. Sci. 2016. V. 381. P. 32–35.

  4. Dhonge B.P., Singh A., Panda A.K., Thirumurugesan R., Parameswaran P. Synthesis of α-WO3 Thin Film Using Pulsed Laser Deposition: Influence of Thickness on Optical and Alectrical Properties // Trans. Indian Inst. Met. 2019. V. 72. № 3. P. 733–740.

  5. Evecan D., Zayim E. Highly Uniform Electrochromic Tungsten Oxide Thin Films Deposited by E-beam Evaporation for Energy Saving Systems // Curr. Appl. Phys. 2019. V. 19. P. 198–203.

  6. Майоров В.А. Оконные стекла — состояние и перспективы // Оптика и спектроскопия. 2018. Т. 124. № 4. С. 559–573.

  7. Parshina L.S., Novodvorsky O.A., Khramova O.D., Petukhov I.A., Mikhalevsky V.A., Lotin A.A., Cherebilo E.A., Panchenko V.Ya. Properties of SnO2:Sb Films Produced on Flexible Organic Substrates by Droplet-free Pulsed Laser Deposition Method // Opt. Quant. Electron. 2016. V. 48. № 6. P. 316 (9 pp).

  8. Novodvorsky O.A., Mikhalevskii V.A., Gusev D.S., Lotin A.A., Parshina L.S., Khramova O.D., Cherebylo E.A. Time-of-Flight Characteristics of a Laser Torch during Ablation of a MnSi Target in Argon Atmosphere // Techn. Phys. Lett. 2018. V. 44. № 3. P. 271–274.

  9. Novodvorsky O.A., Khramova O.D., Filippova E.O., Sagdeev R.Ya., Shevelev A.K., Bartha J.W., Wenzel C. An Investigation of Erosion Plume Emission Spectra at Laser Ablation of Metallic Targets in Vacuum // Proc. SPIE. 2001. V. 4644. P. 58–63.

  10. Afify H.H., Hassan S.A., Obaida M., Moussa I., Abouelsayed A. Preparation, Characterization, and Optical Spectroscopic Studies of Nanocrystalline Tungsten Oxide WO3 // Opt. Laser Technology. 2019. V. 111. P. 604–611.

  11. Wang C.X., Yang G.W., Zhang T.C., Liu H.W., Han Y.H., Luo J.F., Gao C.X., Zou G.T. Fabrication of Transparent p-n-Hetero-Junction Diodes by p-Diamond Film and n-ZnO Film // Diamond Related Mater. 2003. V. 12. № 9. P. 1548–1552. https://doi.org/10.1016/S0925-9635(03)00237-1

  12. Zhang G., Lu K., Zhang X., Yuan W., Shi M., Ning H., Tao R., Liu X., Yao R., Peng J. Effects of Annealing Temperature on Optical Band Gap of Sol-Gel Tungsten Trioxide Films // Micromachines. 2018. V. 9. № 8. P. 377 (9 pp). https://doi.org/10.3390/mi9080377

  13. Белоусов А.Л., Патрушева Т.Н. Электрохромные оксидные материалы // Журн. Сибирского федерального ун-та. Техника и технологии. 2014. Т. 7. № 2. С. 154–166.

Дополнительные материалы отсутствуют.