Неорганические материалы, 2022, T. 58, № 10, стр. 1087-1093
Фазовые превращения и свойства тонких пленок феррониобата бария-неодима в интервале температур –190…200°С
А. В. Павленко 1, *, Д. В. Стрюков 1, К. М. Жидель 1, 2, Я. Ю. Матяш 1
1 Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской
академии наук
344006 Ростов-на-Дону, пр. Чехова, 41, Россия
2 Научно-исследовательский институт физики Южного федерального
университета
344090 Ростов-на-Дону, пр. Стачки, 194, Россия
* E-mail: antvpr@mail.ru
Поступила в редакцию 13.04.2022
После доработки 31.05.2022
Принята к публикации 18.06.2022
- EDN: JOGFIP
- DOI: 10.31857/S0002337X22100104
Аннотация
С использованием метода высокочастотного катодного распыления в атмосфере кислорода на подложке Pt(001)/MgO(001) синтезированы однофазные и беспримесные пленки феррониобата бария-неодима (Ba2NdFeNb4O15) толщиной ~660 нм. На основе данных рентгендифракционного анализа показано, что пленки являются с-ориентированными. В интервале температур –190…200°С в пленках Ba2NdFeNb4O15 выявлены два фазовых превращения: параэлектрик → сегнетоэлектрик и сегнетоэлектрик → сегнетоэлектрик. Показано, что в окрестности комнатных температур пленки Ba2NdFeNb4O15 характеризуются высокой энергоэффективностью. Обсуждаются причины выявленных закономерностей и перспективы использования данного материала в виде наноразмерных тонких пленок.
ВВЕДЕНИЕ
Мультиферроики, сочетающие сегнетоэлектрические (СЭ) и магнитные свойства, могут быть использованы в элементах энергонезависимой памяти, новых транзисторах, датчиках, сенсорах и метаматериальных структурах [1, 2]. Такими материалами являются содержащие редкоземельный элемент (Ln) феррониобаты Ba2LnFeNb4O15 (BLnFNO) со структурой тетрагональной вольфрамовой бронзы (ТВБ). Впервые о сосуществовании в такого рода материалах СЭ и ферримагнитных (FM) свойств отмечено в работе 1960 г. [3]. Однако интенсивные исследования монокристаллов BLnFNO начались только с 2012 г. [4, 5], керамик – с 2009 г. [6], тонких пленок – с 2014 г. [7]. Было показано, что на их основе могут быть созданы новые функциональные материалы с сосуществующими СЭ- и ФМ-свойствами при комнатной температуре. Наличие ФМ-свойств в соединениях BLnFNO связывают либо с наличием ФМ-примесей BaFe12O19 и/или γ-Fe2O3, возникающих по механизму компенсации дефицита Ln [3–5], либо со свойствами самих соединений [4, 5]. Кристаллическую решетку BLnFNO образуют кислородные октаэдры, центры которых статистически заняты катионами Fe3+ и Nb5+ с близкими радиусами, а сами они стыкуются таким образом, что образуются трех-, четырех- и пятиугольные каналы. Катионы Ba2+ занимают пятиугольные каналы, Ln3+ – четырехугольные, а треугольные остаются пустыми [4]. Исследованию диэлектрических свойств BLnFNO посвящен ряд работ [3–9], анализ которых показал, что именно тип редкоземельного элемента влияет на температуру упорядочения в кристаллах и керамике BLnFNO, а наличие вакансий в четырехугольных каналах (в монокристаллах их концентрация достигает 40% [4]) в ряде случаев приводит к проявлению релаксорных свойств. Все это свидетельствует о чувствительности материалов к технологии получения и твердотельному состоянию, что затрудняет исследования их физических свойств (в монокристаллах из-за высокой электропроводности не проведены детальные исследования СЭ-поляризации, пиро- и магнитоэлектрического эффектов) и размерных эффектов (наличие примесей осложняет изучение влияния толщины пленок на их свойства).
С нашей точки зрения данный тип материалов в виде тонких пленок может представлять интерес и как самостоятельное соединение, и в виде компонента многослойных гетероструктур (например, в сочетании с близкими по структуре ниобатами бария-стронция), а имеющиеся сложности в их получении могут быть устранены при использовании развиваемого преимущественно в России метода ВЧ-катодного распыления в атмосфере кислорода [10].
Целью данной работы явилось установление закономерности формирования диэлектрических и сегнетоэлектрических свойств тонких пленок Ba2NdFeNb4O15 (BNFNO) в интервале температур –190…200°С, полученных на подложке Pt(001)/MgO(001) указанным выше методом.
ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ
Синтез пленок Ba2NdFeNb4O15 толщиной ~660 нм осуществлялся в одну стадию на установке “Плазма-50-СЭ”. Начальная температура подложки составляла 400°С, в процессе роста пленки ~550°С. В процессе напыления и при последующем охлаждении до температуры 20°С в качестве рабочего газа использовался кислород (ГОСТ 5583-78) при давлении 67 Па. В качестве мишени использовался керамический диск стехиометрического состава Ba2NdFeNb4O15 диаметром 50 и толщиной 3 мм, изготовленный в отделе ИМиНТ НИИФ ЮФУ.
Рентгендифракционные исследования гетероструктур, включающие анализ фазового состава, структурного совершенства, параметров элементарной ячейки и ориентационных соотношений между пленкой и подложкой, проводились на многофункциональном рентгеновском комплексе “РИКОР” (гониометр с шагом до 0.001° (Crystal Logic Inc.); рентгеновская трубка БСВ21-Cu (АО “Светлана-Рентген”), сцинтилляционный детектор (ООО ИТЦ “Радикон”)).
Исследования зависимости относительной диэлектрической проницаемости (ε/ε0) и тангенса угла диэлектрических потерь (tg δ) в диапазоне частот измерительного электрического поля f = = 105–2 × 106 Гц амплитудой 40 мВ получали с помощью измерительного стенда на базе LCR-метра Agilent 4980A. Диэлектрическая дисперсия рассчитывалась по формуле Δε(T) = (ε/ε0(T, f = = 500 кГц) – ε/ε0(T, f = 2 МГц))/ε/ε0(T, f = 2 MГц). Для проведения измерений в направлении, перпендикулярном плоскости пленки, на свободную поверхность пленки через маску с отверстиями диаметром ~100 мкм осаждались электроды. Величина ε/ε0 определялась из соотношения С = εε0S/h, где С – емкость структуры, h – толщина слоя сегнетоэлектрика, S – площадь электрода, ε0 = 8.854 × × 10–12 Ф/м – электрическая постоянная. Площадь электрода измерялась на 3D-микроскопе KeyenceVK-9700 (ЦКП “Объединенный центр научно-технологического оборудования ЮНЦ РАН (исследование, разработка, апробация)”).
Характеристики P(U) при t = –150…100°С измеряли с использованием анализатора TFAnalyzer2000. По программе Hysteresis Software для положительной и отрицательной ветвей P(U) рассчитывались остаточная поляризация ($P_{r}^{ + },$ $P_{r}^{ - }$), максимальная поляризация ($P_{{\max }}^{ + },$ $P_{{\max }}^{ - }$) и коэрцитивное поле ($U_{c}^{ + },$ $U_{c}^{ - }$), а также величины Pr = = 0.5(|$P_{r}^{ + }$| + |$P_{r}^{ - }$|), Pmax= 0.5(|$P_{{\max }}^{ + }$| + |$P_{{\max }}^{ - }$|), Uc = = 0.5(|$U_{c}^{ + }$| + |$U_{c}^{ - }$|). Температуру при измерениях контролировали с помощью системы Linkam THMS600 stage.
РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ
Результаты рентгендифракционного анализа гетероструктуры BNFNO/Pt/MgO(001) при комнатной температуре приведены на рис. 1. Из присутствующего на рентгенограмме θ–2θ (рис. 1а) набора линий следует, что при напылении слоев платины и мультиферроика BNFNO в гетероструктуре не возникает примесных фаз. При φ-сканировании (рис. 1в) установлено, что пленка Pt выращена на подложке MgO(001) эпитаксиально в соотношении “куб на кубе”, а для слоя BNFNO наблюдались лишь слабые следы рефлексов семейства 311 с положениями, соответствующими ориентационным доменам ±18.4°. Низкая интенсивность и существенное размытие рефлексов 311 свидетельствует о достаточно сильной разориентировке кристаллографических осей в плоскости сопряжения, в то время как для оси [001] значение составляет менее 3.5° (рис. 1б). Достоверно экспериментально измерить параметр a элементарной ячейки BNFNO не удалось из-за значительной разориентировки осей в плоскости сопряжения и снижения интенсивности отражений при асимметричной геометрии съемки.
Таким образом, можно утверждать, что в нашем случае на подложке Pt/MgO(001) формируется беспримесная с-ориентированная пленка BNFNO. Параметр элементарной ячейки слоя Pt равен с = = 0.3938(1) нм, а слоя BNFNO – с = 0.3976(1) нм, что свидетельствует о наличии значительной деформации элементарной ячейки в пленке BNFNO даже толщиной ~660 нм. Известно, что одной из основных причин развития внутренних напряжений в пленках, которые могут сохраняться и в достаточно толстых слоях, являются эволюция и уплотнение их структуры в процессе роста. Пленки BNFNO выращены по механизму Фольмера–Вебера [11] (зарождение и рост на подложке трехмерных островков → коалесценция → рост сплошной пленки), при котором имеют место сжимающие напряжения в плоскости сопряжения пленки с подложкой и растягивающие в перпендикулярном направлении, что мы и наблюдаем.
Для исследований электрофизических свойств пленок были сформированы конденсаторные структуры Pt/BNFNO/Pt. Зависимости ε/ε0(t) и tg δ(t) пленки BNFNO, полученные в режиме охлаждения со скоростью 5°С/мин, приведены на рис. 2. При t = –190…200°С значения ε/ε0 пленки сопоставимы с ε||/ε0 монокристаллов BNFNO (300–550) [3] и выше, чем у керамики BNFNO (80–220) [4]. Учитывая, что измерения проводились вдоль полярной оси (в мультиферроиках BLnFNO это направление [001] [6, 7]), разница в величинах ε/ε0 обусловлена анизотропией диэлектрических свойств в СЭ со структурой ТВБ. В SBN, например, при комнатной температуре ε||/ε⊥ = 2.6 [12], в BNN ε||/ε⊥ = 4.74 [13]. Как и в случае керамики и монокристаллов, в пленках BNFNO присутствует дисперсия ε/ε0 и tgδ, которая в материалах данного типа обусловлена как спецификой СЭ-фазы [14], так и поляризацией Максвелла–Вагнера [15] вследствие накопления зарядов на границах раздела. Максимальные значения Δε/ε0 ~ 200 и tg δ ~ 0.35 наблюдаются при 200°С. По мере снижения температуры на графиках ε/ε0(t) вне зависимости от f наблюдаются размытые максимумы при 56°С и слабо выраженные изломы при –125°С. На зависимости (ε/ε0)–1(t) (рис. 2в) выделяются 4 температурных диапазона, только в одном из которых (t1 < t < td) наблюдается отклонение от линейности. Учитывая, что эти аномалии не связаны с изменениями условий охлаждения образца (рис. 2в), можно отнести их к фазовым превращениям в феррониобате бария-неодима в окрестности максимума на зависимости ε/ε0(t) и при температуре –125°С, где наблюдается излом на кривой (ε/ε0)–1(t).
Результаты исследования зависимостей P(U) пленки BNFNO в интервале t = –190…100°С (рис. 3) свидетельствуют о том, что отмеченные аномалии связаны с фазовыми переходами параэлектрик (ПЭ) → СЭ и СЭ → СЭ. При t > 40°С зависимость P(U) близка к линейной в малых полях, а при увеличении U измерения были затруднительны из-за роста электропроводности пленки. При температуре 40°С зависимость P(U) имела форму вытянутой петли с параметрами Pmax = 31 мкКл/cм2, Pr = = 3.768 мкКл/cм2, Uc = 0.68 В. С понижением температуры происходило расширение петли P(U), нарастали значения Uc (с 0.68 до 20.20 В) и Pr (с 3.768 до 32.58 мкКл/cм2), а Pmax увеличивалась до температуры –100°С, а далее снижалась (рис. 3).
Таким образом, представленные выше результаты свидетельствуют о том, что при снижении температуры в пленке BNFNO при t = –67…160°С, где наблюдается отклонение от закона Кюри–Вейса, начинается размытый фазовый переход ПЭ → СЭ. Это коррелирует с результатами наших предшествующих исследований пленок BNFNO толщиной ~300 нм [16]. Так как tm от f не зависит, можно сделать вывод о принадлежности BNFNO в виде наноразмерных пленок к обычным СЭ, однако размытие фазового перехода в пленках из-за наличия деформации элементарной ячейки и проявления размерных эффектов было выше, чем в керамике [10]. В соединениях BLnFNO возникновение полярной фазы связано со смещением катионов Fe3+ и Nb5+ вдоль оси 4-го порядка (в ПЭ-фазе материалам свойственна пр. гр. P4/mbm). Температура упорядочения, СЭ-свойства и характер их проявления зависят от типа и концентрации редкоземельного катиона в четырехугольных каналах. Например, в Ba2PrxNd1 –xFeNb4O15 по мере увеличения концентрации Pr происходит переход СЭ → СЭ-релаксор (СЭР) [6], по данным диэлектрической спектроскопии все монокристаллы BLnFNO (Ln = Eu3+, Sm3+, Nd3+, Pr3+, La3+) являются СЭР [5], а среди керамик релаксорами являются только Ba2PrFeNb4O15 и Ba2LaFeNb4O15 [5]. Керамика BNFNO без вакансий в четырехугольных каналах имеет температуру Кюри ~60°С [5, 6], а монокристаллы BNFNO с долей вакансий ~24% являются СЭР с tm = –83°С при f = 106 Гц [5]. Эти результаты косвенно свидетельствуют в пользу того, что в полученных нами пленках BNFNO вакансии в четырехугольных каналах отсутствуют. При дальнейшем понижении температуры в окрестности –125°С происходит фазовый переход между различными СЭ-фазами. На данный момент сложно ответить, реализуется ли этот фазовый переход только в тонких пленках из-за проявления размерных эффектов или имеет место также в монокристаллах и керамиках BNFNO. Учитывая поведение поляризационных характеристик (тенденция к снижению Pmax и росту Pr при измерении вдоль направления [00l]) при этих температурах, в объекте, вероятнее всего, происходит фазовый переход в СЭ-фазу с компонентой поляризации в плоскости сопряжения пленка–подложка. Для ответа на этот вопрос целесообразно проведение как рентгендифракционных исследований при этих температурах, так и диэлектрических измерений при планарной топологии электродов.
Размытие области фазового перехода СЭ → ПЭ в пленках BNFNO привело к наличию достаточно узких петель диэлектрического гистерезиса при комнатных температурах. При приложении внешнего поля к мультиферроику энергия системы накапливается и в дальнейшем выделяется в виде полезной энергии во время разрядки, при этом часть энергии рассеивается и выделяется в виде тепла в процессе переключения. В этом случае используется характеристика
(1)
${{W}_{{st}}} = \int\limits_{{{P}_{r}}}^{{{P}_{{\max }}}} {EdP} ,\,\,\,\,{{W}_{{re}}} = - \int\limits_{{{P}_{{\max }}}}^{{{P}_{r}}} {EdP} ,$для t = 40°С: Wloss = 540 мДж/см3, Wst = = 2843 мДж/см, n = 81%,
для t = 0°С: Wloss = 3401 мДж/см3, Wst = = 14122 мДж/см3, n = 76%.
Видно, что достаточно высокие значения поляризации в пленках BNFNO и низкие коэрцитивные поля приводят к высоким значениям энергоэффективности, сопоставимым с таковыми в антисегнетоэлектриках и СЭР со структурой типа перовскита [17].
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
По данным рентгендифракционного анализа установлено, что получены однофазные с-ориентированные пленки феррониобата бария-неодима толщиной ~660 нм, в которых имела место существенная для материалов со структурой ТВБ деформация элементарной ячейки (более 1.3%) вдоль полярной оси. Показано, что в рамках используемого метода получения тонких пленок не образуется примесных фаз BaFe12O19 и/или γ-Fe2O3, часто возникающих в монокристаллах, керамиках и пленках BLnFNO на стадии синтеза.
При анализе диэлектрических и сегнетоэлектрических свойств пленок BNFNO в интервале t = –190…200°С показано, что по мере снижения температуры в материале происходят два фазовых превращения: размытый фазовый переход ПЭ → СЭ (–67…160°С) и СЭ → СЭ (–125°С).
Снижение Pmax в окрестности –125°С свидетельствует о фазовом переходе в СЭ-фазу с компонентой поляризации в плоскости сопряжения пленка–подложка.
Анализ зависимостей P(U) пленки BNFNO показал, что при t = 0…40°С данные материалы характеризуются высокой энергоэффективностью (более 76%), что свидетельствует о перспективах их использования в устройствах накопления энергии [17].
Полученные результаты целесообразно учитывать при синтезе, исследовании и разработке функциональных элементов на основе наноразмерных пленок мультиферроика BNFNO.
Список литературы
Рабе К.М., Ана Ч.Г., Трискона Ж.-М. Физика сегнетоэлектриков: современный взгляд. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. 440 с.
Вендик И.Б., Вендик О.Г. Метаматериалы и их применение в технике сверхвысоких частот // ЖТФ. 2013. Т. 83. № 1. С. 3–28.
Fang P.H., Roth R.S. Ferroelectric and Ferrimagnetic Properties of (Ba6 – 2xR2x)(Nb9 –xFe1 +x)O30 // J. Appl. Phys. 1960. V. 5. P. S278. https://doi.org/10.1063/1.1984698
Albino M., Veber P., Pechev S., Labrugere C., Velazquez M., Maglione M., Josse M. Growth and Characterization of Ba2LnFeNb4O15 (Ln = Pr, Nd, Sm, Eu) Relaxor Single Crystals // Cryst. Growth Des. 2014. V. 14. № 2. P. 500–512. https://doi.org/10.1021/cg401181j
Castel E., Veber P., Albino M., Vela ́zquez M., Pechev S., Denux D., Chaminade J.P., Maglione M., Josse M. Crystal Growth and Characterization of Tetragonal Tungsten Bronze FerroNiobates Ba2LnFeNb4O15 // J. Cryst. Growth. 2012. V. 340. № 1. P. 156–165. https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2011.11.082
Castel E., Josse M., Michau D., Maglione M. Flexible Relaxor Materials: Ba(2)Pr(x)Nd(1 –x)FeNb(4)O(15) Tetragonal Tungsten Bronze Solid Solution // J. Phys.: Condens. Matter. 2009. V. 21. № 45. P. 452201. https://doi.org/10.1088/0953-8984/21/45/452201
Hajlaoui T., Harnagea C., Pignolet A., Michau D., Josse M. Highly Oriented Multiferroic Ba2NdFeNb4O15-Based Composite Thin Films with Tetragonal Tungsten Bronze Structure on Silicon Substrates // J. Alloys Compd. 2017. V. 711. P. 480–487. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2017.04.051
Bodeux R., Michau D., Josse M., Maglione M. Dielectric Properties of Tetragonal Tungsten Bronze Films Deposited by RF Magnetron Sputtering // Solid State Sci. 2014. V. 38. P. 112–118. https://doi.org/10.1016/j.solidstatesciences.2014.10.007
Bodeux R., Michau D., Maglione M., Josse M. Thin Films Sputtered from Ba2NdFeNb4O15 Multiferroic Targets on BaFe12O19 Coated Substrates // Mater. Res. Bull. 2016. V. 81. P. 49–54. https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2016.04.027
Мухортов В.М., Юзюк Ю.И. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Ростов н/Д.: ЮНЦ РАН, 2008. 224 с.
Шугуров А.Р., Панин А.В. Механизмы возникновения напряжений в тонких пленках и покрытиях // Журн. техн. физики. 2020. Т. 90. В. 12. С. 1971–1994. https://doi.org/10.21883/JTF.2020.12.50417.38-20
Павленко А.В., Ивлева Л.И., Стрюков Д.В., Ковтун А.П., Анохин А.С., Лыков П.А. Получение, структура и диэлектрические характеристики монокристаллов и тонких пленок Sr0.61Ba0.39Nb2O6 // ФТТ. 2019. Т. 61. № 2. С. 376–380.
Кузьминов Ю.С. Сегнетоэлектрические кристаллы для управления лазерным излучением. M.: Наука, 1982. 400 с.
Лотонов А.М., Новик В.К., Гаврилова Н.Д. Диэлектрическая дисперсия как признак появления полярной фазы в сегнетоэлектриках // ФТТ. 2006. Т. 48. № 6. С. 969–972.
Богатин А.С., Турик А.В. Процессы релаксационной поляризации в диэлектриках с большой сквозной проводимостью. Ростов н/Д.: Феникс, 2013. 256 с.
Павленко А.В., Ильина Т.С., Киселев Д.А., Стрюков Д.В., Очкуров М.В. Структура, диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства тонких пленок мультиферроика Ba2NdFeNb4O15 // ФТТ. 2022. Т. 64. Вып. 6. С. 658–664.
Xihong H. A Review on the Dielectric Materials for High Energy-Storage Application // J. Adv. Dielectr. 2013. V. 3. № 1. P. 1330001. https://doi.org/10.1142/S2010135X13300016
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Неорганические материалы