Неорганические материалы, 2022, T. 58, № 10, стр. 1087-1093

Фазовые превращения и свойства тонких пленок феррониобата бария-неодима в интервале температур –190…200°С

А. В. Павленко 1*, Д. В. Стрюков 1, К. М. Жидель 12, Я. Ю. Матяш 1

1 Федеральный исследовательский центр Южный научный центр Российской академии наук
344006 Ростов-на-Дону, пр. Чехова, 41, Россия

2 Научно-исследовательский институт физики Южного федерального университета
344090 Ростов-на-Дону, пр. Стачки, 194, Россия

* E-mail: antvpr@mail.ru

Поступила в редакцию 13.04.2022
После доработки 31.05.2022
Принята к публикации 18.06.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

С использованием метода высокочастотного катодного распыления в атмосфере кислорода на подложке Pt(001)/MgO(001) синтезированы однофазные и беспримесные пленки феррониобата бария-неодима (Ba2NdFeNb4O15) толщиной ~660 нм. На основе данных рентгендифракционного анализа показано, что пленки являются с-ориентированными. В интервале температур –190…200°С в пленках Ba2NdFeNb4O15 выявлены два фазовых превращения: параэлектрик → сегнетоэлектрик и сегнетоэлектрик → сегнетоэлектрик. Показано, что в окрестности комнатных температур пленки Ba2NdFeNb4O15 характеризуются высокой энергоэффективностью. Обсуждаются причины выявленных закономерностей и перспективы использования данного материала в виде наноразмерных тонких пленок.

Ключевые слова: мультиферроик, диэлектрические характеристики, сегнетоэлектрик, тетрагональная вольфрамовая бронза

ВВЕДЕНИЕ

Мультиферроики, сочетающие сегнетоэлектрические (СЭ) и магнитные свойства, могут быть использованы в элементах энергонезависимой памяти, новых транзисторах, датчиках, сенсорах и метаматериальных структурах [1, 2]. Такими материалами являются содержащие редкоземельный элемент (Ln) феррониобаты Ba2LnFeNb4O15 (BLnFNO) со структурой тетрагональной вольфрамовой бронзы (ТВБ). Впервые о сосуществовании в такого рода материалах СЭ и ферримагнитных (FM) свойств отмечено в работе 1960 г. [3]. Однако интенсивные исследования монокристаллов BLnFNO начались только с 2012 г. [4, 5], керамик – с 2009 г. [6], тонких пленок – с 2014 г. [7]. Было показано, что на их основе могут быть созданы новые функциональные материалы с сосуществующими СЭ- и ФМ-свойствами при комнатной температуре. Наличие ФМ-свойств в соединениях BLnFNO связывают либо с наличием ФМ-примесей BaFe12O19 и/или γ-Fe2O3, возникающих по механизму компенсации дефицита Ln [35], либо со свойствами самих соединений [4, 5]. Кристаллическую решетку BLnFNO образуют кислородные октаэдры, центры которых статистически заняты катионами Fe3+ и Nb5+ с близкими радиусами, а сами они стыкуются таким образом, что образуются трех-, четырех- и пятиугольные каналы. Катионы Ba2+ занимают пятиугольные каналы, Ln3+ – четырехугольные, а треугольные остаются пустыми [4]. Исследованию диэлектрических свойств BLnFNO посвящен ряд работ [39], анализ которых показал, что именно тип редкоземельного элемента влияет на температуру упорядочения в кристаллах и керамике BLnFNO, а наличие вакансий в четырехугольных каналах (в монокристаллах их концентрация достигает 40% [4]) в ряде случаев приводит к проявлению релаксорных свойств. Все это свидетельствует о чувствительности материалов к технологии получения и твердотельному состоянию, что затрудняет исследования их физических свойств (в монокристаллах из-за высокой электропроводности не проведены детальные исследования СЭ-поляризации, пиро- и магнитоэлектрического эффектов) и размерных эффектов (наличие примесей осложняет изучение влияния толщины пленок на их свойства).

С нашей точки зрения данный тип материалов в виде тонких пленок может представлять интерес и как самостоятельное соединение, и в виде компонента многослойных гетероструктур (например, в сочетании с близкими по структуре ниобатами бария-стронция), а имеющиеся сложности в их получении могут быть устранены при использовании развиваемого преимущественно в России метода ВЧ-катодного распыления в атмосфере кислорода [10].

Целью данной работы явилось установление закономерности формирования диэлектрических и сегнетоэлектрических свойств тонких пленок Ba2NdFeNb4O15 (BNFNO) в интервале температур –190…200°С, полученных на подложке Pt(001)/MgO(001) указанным выше методом.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Синтез пленок Ba2NdFeNb4O15 толщиной ~660 нм осуществлялся в одну стадию на установке “Плазма-50-СЭ”. Начальная температура подложки составляла 400°С, в процессе роста пленки ~550°С. В процессе напыления и при последующем охлаждении до температуры 20°С в качестве рабочего газа использовался кислород (ГОСТ 5583-78) при давлении 67 Па. В качестве мишени использовался керамический диск стехиометрического состава Ba2NdFeNb4O15 диаметром 50 и толщиной 3 мм, изготовленный в отделе ИМиНТ НИИФ ЮФУ.

Рентгендифракционные исследования гетероструктур, включающие анализ фазового состава, структурного совершенства, параметров элементарной ячейки и ориентационных соотношений между пленкой и подложкой, проводились на многофункциональном рентгеновском комплексе “РИКОР” (гониометр с шагом до 0.001° (Crystal Logic Inc.); рентгеновская трубка БСВ21-Cu (АО “Светлана-Рентген”), сцинтилляционный детектор (ООО ИТЦ “Радикон”)).

Исследования зависимости относительной диэлектрической проницаемости (ε/ε0) и тангенса угла диэлектрических потерь (tg δ) в диапазоне частот измерительного электрического поля f = = 105–2 × 106 Гц амплитудой 40 мВ получали с помощью измерительного стенда на базе LCR-метра Agilent 4980A. Диэлектрическая дисперсия рассчитывалась по формуле Δε(T) = (ε/ε0(T, f = = 500 кГц) – ε/ε0(T, f = 2 МГц))/ε/ε0(T, f = 2 MГц). Для проведения измерений в направлении, перпендикулярном плоскости пленки, на свободную поверхность пленки через маску с отверстиями диаметром ~100 мкм осаждались электроды. Величина ε/ε0 определялась из соотношения С = εε0S/h, где С – емкость структуры, h – толщина слоя сегнетоэлектрика, S – площадь электрода, ε0 = 8.854 × × 10–12 Ф/м – электрическая постоянная. Площадь электрода измерялась на 3D-микроскопе KeyenceVK-9700 (ЦКП “Объединенный центр научно-технологического оборудования ЮНЦ РАН (исследование, разработка, апробация)”).

Характеристики P(U) при t = –150…100°С измеряли с использованием анализатора TFAnalyzer2000. По программе Hysteresis Software для положительной и отрицательной ветвей P(U) рассчитывались остаточная поляризация ($P_{r}^{ + },$ $P_{r}^{ - }$), максимальная поляризация ($P_{{\max }}^{ + },$ $P_{{\max }}^{ - }$) и коэрцитивное поле ($U_{c}^{ + },$ $U_{c}^{ - }$), а также величины Pr = = 0.5(|$P_{r}^{ + }$+ |$P_{r}^{ - }$|), Pmax= 0.5(|$P_{{\max }}^{ + }$| + |$P_{{\max }}^{ - }$|), Uc = = 0.5(|$U_{c}^{ + }$| + |$U_{c}^{ - }$|). Температуру при измерениях контролировали с помощью системы Linkam THMS600 stage.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ОБСУЖДЕНИЕ

Результаты рентгендифракционного анализа гетероструктуры BNFNO/Pt/MgO(001) при комнатной температуре приведены на рис. 1. Из присутствующего на рентгенограмме θ–2θ (рис. 1а) набора линий следует, что при напылении слоев платины и мультиферроика BNFNO в гетероструктуре не возникает примесных фаз. При φ-сканировании (рис. 1в) установлено, что пленка Pt выращена на подложке MgO(001) эпитаксиально в соотношении “куб на кубе”, а для слоя BNFNO наблюдались лишь слабые следы рефлексов семейства 311 с положениями, соответствующими ориентационным доменам ±18.4°. Низкая интенсивность и существенное размытие рефлексов 311 свидетельствует о достаточно сильной разориентировке кристаллографических осей в плоскости сопряжения, в то время как для оси [001] значение составляет менее 3.5° (рис. 1б). Достоверно экспериментально измерить параметр a элементарной ячейки BNFNO не удалось из-за значительной разориентировки осей в плоскости сопряжения и снижения интенсивности отражений при асимметричной геометрии съемки.

Рис. 1.

θ–2θ-рентгенограмма пленки BNFNO/Pt/MgO(001) (а); кривая качания рефлекса 002 (б); φ-сканы рефлексов 113 Pt-электрода и подложки MgO (в).

Таким образом, можно утверждать, что в нашем случае на подложке Pt/MgO(001) формируется беспримесная с-ориентированная пленка BNFNO. Параметр элементарной ячейки слоя Pt равен с = = 0.3938(1) нм, а слоя BNFNO – с = 0.3976(1) нм, что свидетельствует о наличии значительной деформации элементарной ячейки в пленке BNFNO даже толщиной ~660 нм. Известно, что одной из основных причин развития внутренних напряжений в пленках, которые могут сохраняться и в достаточно толстых слоях, являются эволюция и уплотнение их структуры в процессе роста. Пленки BNFNO выращены по механизму Фольмера–Вебера [11] (зарождение и рост на подложке трехмерных островков → коалесценция → рост сплошной пленки), при котором имеют место сжимающие напряжения в плоскости сопряжения пленки с подложкой и растягивающие в перпендикулярном направлении, что мы и наблюдаем.

Для исследований электрофизических свойств пленок были сформированы конденсаторные структуры Pt/BNFNO/Pt. Зависимости ε/ε0(t) и tg δ(t) пленки BNFNO, полученные в режиме охлаждения со скоростью 5°С/мин, приведены на рис. 2. При t = –190…200°С значения ε/ε0 пленки сопоставимы с ε||0 монокристаллов BNFNO (300–550) [3] и выше, чем у керамики BNFNO (80–220) [4]. Учитывая, что измерения проводились вдоль полярной оси (в мультиферроиках BLnFNO это направление [001] [6, 7]), разница в величинах ε/ε0 обусловлена анизотропией диэлектрических свойств в СЭ со структурой ТВБ. В SBN, например, при комнатной температуре ε|| = 2.6 [12], в BNN ε|| = 4.74 [13]. Как и в случае керамики и монокристаллов, в пленках BNFNO присутствует дисперсия ε/ε0 и tgδ, которая в материалах данного типа обусловлена как спецификой СЭ-фазы [14], так и поляризацией Максвелла–Вагнера [15] вследствие накопления зарядов на границах раздела. Максимальные значения Δε/ε0 ~ 200 и tg δ ~ 0.35 наблюдаются при 200°С. По мере снижения температуры на графиках ε/ε0(t) вне зависимости от f наблюдаются размытые максимумы при 56°С и слабо выраженные изломы при –125°С. На зависимости (ε/ε0)–1(t) (рис. 2в) выделяются 4 температурных диапазона, только в одном из которых (t1 < t < td) наблюдается отклонение от линейности. Учитывая, что эти аномалии не связаны с изменениями условий охлаждения образца (рис. 2в), можно отнести их к фазовым превращениям в феррониобате бария-неодима в окрестности максимума на зависимости ε/ε0(t) и при температуре –125°С, где наблюдается излом на кривой (ε/ε0)–1(t).

Рис. 2.

Зависимости ε/ε0(t) и tgδ(t) (а), t(τ) (б), (ε/ε0)–1(t, f = 2 МГц) и Δε(t) (в) для гетероструктуры BNFNO/Pt/MgO при t = –190…200°С.

Результаты исследования зависимостей P(U) пленки BNFNO в интервале t = –190…100°С (рис. 3) свидетельствуют о том, что отмеченные аномалии связаны с фазовыми переходами параэлектрик (ПЭ) → СЭ и СЭ → СЭ. При t > 40°С зависимость P(U) близка к линейной в малых полях, а при увеличении U измерения были затруднительны из-за роста электропроводности пленки. При температуре 40°С зависимость P(U) имела форму вытянутой петли с параметрами Pmax = 31 мкКл/cм2, Pr = = 3.768 мкКл/cм2, Uc = 0.68 В. С понижением температуры происходило расширение петли P(U), нарастали значения Uc (с 0.68 до 20.20 В) и Pr (с 3.768 до 32.58 мкКл/cм2), а Pmax увеличивалась до температуры –100°С, а далее снижалась (рис. 3).

Рис. 3.

Зависимости P(U) гетероструктуры Pt/BNFNO/Pt(001)/MgO(001) на частоте 1 кГц при температурах –150 (a), –100 (б), –50 (в), 0 (г) и 40°С (д); е температурные зависимости $U_{c}^{ + },$ $U_{c}^{ - },$ $P_{r}^{ + },$ $P_{r}^{ - },$ $P_{{\max }}^{ + }$ и $P_{{{\text{max}}}}^{ - }.$

Таким образом, представленные выше результаты свидетельствуют о том, что при снижении температуры в пленке BNFNO при t = –67…160°С, где наблюдается отклонение от закона Кюри–Вейса, начинается размытый фазовый переход ПЭ → СЭ. Это коррелирует с результатами наших предшествующих исследований пленок BNFNO толщиной ~300 нм [16]. Так как tm от f не зависит, можно сделать вывод о принадлежности BNFNO в виде наноразмерных пленок к обычным СЭ, однако размытие фазового перехода в пленках из-за наличия деформации элементарной ячейки и проявления размерных эффектов было выше, чем в керамике [10]. В соединениях BLnFNO возникновение полярной фазы связано со смещением катионов Fe3+ и Nb5+ вдоль оси 4-го порядка (в ПЭ-фазе материалам свойственна пр. гр. P4/mbm). Температура упорядочения, СЭ-свойства и характер их проявления зависят от типа и концентрации редкоземельного катиона в четырехугольных каналах. Например, в Ba2PrxNd1 –xFeNb4O15 по мере увеличения концентрации Pr происходит переход СЭ → СЭ-релаксор (СЭР) [6], по данным диэлектрической спектроскопии все монокристаллы BLnFNO (Ln = Eu3+, Sm3+, Nd3+, Pr3+, La3+) являются СЭР [5], а среди керамик релаксорами являются только Ba2PrFeNb4O15 и Ba2LaFeNb4O15 [5]. Керамика BNFNO без вакансий в четырехугольных каналах имеет температуру Кюри ~60°С [5, 6], а монокристаллы BNFNO с долей вакансий ~24% являются СЭР с tm = –83°С при f = 106 Гц [5]. Эти результаты косвенно свидетельствуют в пользу того, что в полученных нами пленках BNFNO вакансии в четырехугольных каналах отсутствуют. При дальнейшем понижении температуры в окрестности –125°С происходит фазовый переход между различными СЭ-фазами. На данный момент сложно ответить, реализуется ли этот фазовый переход только в тонких пленках из-за проявления размерных эффектов или имеет место также в монокристаллах и керамиках BNFNO. Учитывая поведение поляризационных характеристик (тенденция к снижению Pmax и росту Pr при измерении вдоль направления [00l]) при этих температурах, в объекте, вероятнее всего, происходит фазовый переход в СЭ-фазу с компонентой поляризации в плоскости сопряжения пленка–подложка. Для ответа на этот вопрос целесообразно проведение как рентгендифракционных исследований при этих температурах, так и диэлектрических измерений при планарной топологии электродов.

Размытие области фазового перехода СЭ → ПЭ в пленках BNFNO привело к наличию достаточно узких петель диэлектрического гистерезиса при комнатных температурах. При приложении внешнего поля к мультиферроику энергия системы накапливается и в дальнейшем выделяется в виде полезной энергии во время разрядки, при этом часть энергии рассеивается и выделяется в виде тепла в процессе переключения. В этом случае используется характеристика

(1)
${{W}_{{st}}} = \int\limits_{{{P}_{r}}}^{{{P}_{{\max }}}} {EdP} ,\,\,\,\,{{W}_{{re}}} = - \int\limits_{{{P}_{{\max }}}}^{{{P}_{r}}} {EdP} ,$
где Wst – энергия, накопленная во время зарядки, Wre – восстановленная полезная энергия, Pr – остаточная поляризация, Pmax – максимальная поляризация при пиковом значении электрического поля, E – приложенное электрическое поле. Гистерезисные потери энергии рассчитываются как Wloss = WstWre, а энергоэффективность – как n = Wre/Wst × 100%. Результаты выполненных расчетов показали, что для исследуемой пленки BNFNO характерны следующие параметры:

для t = 40°С: Wloss = 540 мДж/см3, Wst = = 2843 мДж/см, n = 81%,

для t = 0°С: Wloss = 3401 мДж/см3, Wst = = 14122 мДж/см3, n = 76%.

Видно, что достаточно высокие значения поляризации в пленках BNFNO и низкие коэрцитивные поля приводят к высоким значениям энергоэффективности, сопоставимым с таковыми в антисегнетоэлектриках и СЭР со структурой типа перовскита [17].

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

По данным рентгендифракционного анализа установлено, что получены однофазные с-ориентированные пленки феррониобата бария-неодима толщиной ~660 нм, в которых имела место существенная для материалов со структурой ТВБ деформация элементарной ячейки (более 1.3%) вдоль полярной оси. Показано, что в рамках используемого метода получения тонких пленок не образуется примесных фаз BaFe12O19 и/или γ-Fe2O3, часто возникающих в монокристаллах, керамиках и пленках BLnFNO на стадии синтеза.

При анализе диэлектрических и сегнетоэлектрических свойств пленок BNFNO в интервале t = –190…200°С показано, что по мере снижения температуры в материале происходят два фазовых превращения: размытый фазовый переход ПЭ → СЭ (–67…160°С) и СЭ → СЭ (–125°С).

Снижение Pmax в окрестности –125°С свидетельствует о фазовом переходе в СЭ-фазу с компонентой поляризации в плоскости сопряжения пленка–подложка.

Анализ зависимостей P(U) пленки BNFNO показал, что при t = 0…40°С данные материалы характеризуются высокой энергоэффективностью (более 76%), что свидетельствует о перспективах их использования в устройствах накопления энергии [17].

Полученные результаты целесообразно учитывать при синтезе, исследовании и разработке функциональных элементов на основе наноразмерных пленок мультиферроика BNFNO.

Список литературы

  1. Рабе К.М., Ана Ч.Г., Трискона Ж.-М. Физика сегнетоэлектриков: современный взгляд. М.: БИНОМ. Лаборатория знаний, 2011. 440 с.

  2. Вендик И.Б., Вендик О.Г. Метаматериалы и их применение в технике сверхвысоких частот // ЖТФ. 2013. Т. 83. № 1. С. 3–28.

  3. Fang P.H., Roth R.S. Ferroelectric and Ferrimagnetic Properties of (Ba6 – 2xR2x)(Nb9 –xFe1 +x)O30 // J. Appl. Phys. 1960. V. 5. P. S278. https://doi.org/10.1063/1.1984698

  4. Albino M., Veber P., Pechev S., Labrugere C., Velazquez M., Maglione M., Josse M. Growth and Characterization of Ba2LnFeNb4O15 (Ln = Pr, Nd, Sm, Eu) Relaxor Single Crystals // Cryst. Growth Des. 2014. V. 14. № 2. P. 500–512. https://doi.org/10.1021/cg401181j

  5. Castel E., Veber P., Albino M., Vela ́zquez M., Pechev S., Denux D., Chaminade J.P., Maglione M., Josse M. Crystal Growth and Characterization of Tetragonal Tungsten Bronze FerroNiobates Ba2LnFeNb4O15 // J. Cryst. Growth. 2012. V. 340. № 1. P. 156–165. https://doi.org/10.1016/j.jcrysgro.2011.11.082

  6. Castel E., Josse M., Michau D., Maglione M. Flexible Relaxor Materials: Ba(2)Pr(x)Nd(1 –x)FeNb(4)O(15) Tetragonal Tungsten Bronze Solid Solution // J. Phys.: Condens. Matter. 2009. V. 21. № 45. P. 452201. https://doi.org/10.1088/0953-8984/21/45/452201

  7. Hajlaoui T., Harnagea C., Pignolet A., Michau D., Josse M. Highly Oriented Multiferroic Ba2NdFeNb4O15-Based Composite Thin Films with Tetragonal Tungsten Bronze Structure on Silicon Substrates // J. Alloys Compd. 2017. V. 711. P. 480–487. https://doi.org/10.1016/j.jallcom.2017.04.051

  8. Bodeux R., Michau D., Josse M., Maglione M. Dielectric Properties of Tetragonal Tungsten Bronze Films Deposited by RF Magnetron Sputtering // Solid State Sci. 2014. V. 38. P. 112–118. https://doi.org/10.1016/j.solidstatesciences.2014.10.007

  9. Bodeux R., Michau D., Maglione M., Josse M. Thin Films Sputtered from Ba2NdFeNb4O15 Multiferroic Targets on BaFe12O19 Coated Substrates // Mater. Res. Bull. 2016. V. 81. P. 49–54. https://doi.org/10.1016/j.materresbull.2016.04.027

  10. Мухортов В.М., Юзюк Ю.И. Гетероструктуры на основе наноразмерных сегнетоэлектрических пленок: получение, свойства и применение. Ростов н/Д.: ЮНЦ РАН, 2008. 224 с.

  11. Шугуров А.Р., Панин А.В. Механизмы возникновения напряжений в тонких пленках и покрытиях // Журн. техн. физики. 2020. Т. 90. В. 12. С. 1971–1994. https://doi.org/10.21883/JTF.2020.12.50417.38-20

  12. Павленко А.В., Ивлева Л.И., Стрюков Д.В., Ковтун А.П., Анохин А.С., Лыков П.А. Получение, структура и диэлектрические характеристики монокристаллов и тонких пленок Sr0.61Ba0.39Nb2O6 // ФТТ. 2019. Т. 61. № 2. С. 376–380.

  13. Кузьминов Ю.С. Сегнетоэлектрические кристаллы для управления лазерным излучением. M.: Наука, 1982. 400 с.

  14. Лотонов А.М., Новик В.К., Гаврилова Н.Д. Диэлектрическая дисперсия как признак появления полярной фазы в сегнетоэлектриках // ФТТ. 2006. Т. 48. № 6. С. 969–972.

  15. Богатин А.С., Турик А.В. Процессы релаксационной поляризации в диэлектриках с большой сквозной проводимостью. Ростов н/Д.: Феникс, 2013. 256 с.

  16. Павленко А.В., Ильина Т.С., Киселев Д.А., Стрюков Д.В., Очкуров М.В. Структура, диэлектрические и сегнетоэлектрические свойства тонких пленок мультиферроика Ba2NdFeNb4O15 // ФТТ. 2022. Т. 64. Вып. 6. С. 658–664.

  17. Xihong H. A Review on the Dielectric Materials for High Energy-Storage Application // J. Adv. Dielectr. 2013. V. 3. № 1. P. 1330001. https://doi.org/10.1142/S2010135X13300016

Дополнительные материалы отсутствуют.