Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики, 2022, T. 115, № 9-10, стр. 611-612

Enhancement of the basal-plane stacking fault emission in GaN planar nanowire microcavity

Girshova E.I., Pozina G., Belonovskii A.V., Mitrofanov M.I., Levitskii I.V., Voznyuk G.V., Evtikhiev V.P., Rodin S.N., Kaliteevski M.A.

Полный текст (PDF) / Полный текст (HTML)

Инструменты

Письма в Журнал экспериментальной и теоретической физики