Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2019, № 8, стр. 25-29

Применение кремниевых детекторов с дифференциальным дискриминатором в рентгеновских дифрактометрах

С. М. Осадчий 1*, А. А. Петухов 1, В. Б. Дунин 2

1 Всероссийский научно-исследовательский институт физико-технических и радиотехнических измерений
141570 Менделеево, Московская область, Россия

2 Объединенный институт ядерных исследований
141980 Московская область, Дубна, Россия

* E-mail: osm@vniiftri.ru

Поступила в редакцию 17.12.2018
После доработки 26.01.2019
Принята к публикации 29.01.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

Разработаны и применены полупроводниковые кремниевые детекторы с высоким энергетическим разрешением в рентгеновских дифрактометрах “РАДИАН”. Разработка таких детекторов позволилa снизить требования к монохроматорам и β-фильтрам, упростить оптическую схему дифрактометра, повысить отношение пик/фон, уменьшить мощность источника излучения и габариты дифрактометра. Для отбора полезных событий в детекторе используется перестраиваемый дифференциальный дискриминатор с регулировкой энергетического окна. Предусмотрена возможность подстройки детектора для работы с различными материалами анода рентгеновской трубки.

Ключевые слова: дифрактометр, полупроводниковый детектор, бета-фильтр, дифференциальный дискриминатор.

ВВЕДЕНИЕ

Основным уравнением рентгеноструктурного анализа является уравнение Вульфа–Брэгга [1]:

(1)
$\lambda = 2{{d}_{{hkl}}}{\text{sin}}\theta ,$
связывающее межплоскостное расстояние dhkl, угол дифракции θ и длину волны λ, hkl – индексы дифракции.

В рентгеновских дифрактометрах чаще всего используют трубки с медным анодом, а для рентгеноструктурного анализа – характеристическую линию CuKα с энергией квантов 8 кэВ и длиной волны λ = 1.54 Å. Для монохроматизации и для ослабления интенсивности излучения характеристической линии CuKβ применяют кристаллы-монохроматоры и β-фильтры [13]. Применение кристаллов-монохроматоров и β-фильтров приводит к дополнительному поглощению излучения рентгеновской трубки и снижает эффективность работы дифрактометра, для компенсации которой приходится повышать мощность источника питания трубки до нескольких киловатт. Применение кремниевых полупроводниковых детекторов с высоким энергетическим разрешением позволило отказаться от жестких требований, предъявляемых к монохроматорам и фильтрам, упростить оптическую схему дифрактометра, повысить отношение пик/фон, уменьшить мощность источника рентгеновского излучения.

ХАРАКТЕРИСТИКИ ДЕТЕКТОРОВ СЕРИИ ППД-К

В [4] продемонстрирована эффективная работа настольных дифрактометров серии “РАДИАН” для решения задач рентгеноструктурного анализа. Доступность качественных кремниевых пластин и технологий их обработки дала возможность создать для этих дифрактометров серию специализированных полупроводниковых Si-pin-детекторов ППД-К-8А,Б (12А,Б). Выбор материала обусловлен тем, что для этих детекторов обеспечивается самая высокая скорость счета по сравнению с другими детекторами, что является важным фактором для дифрактометрии. Полупроводниковый детектор состоит из двух блоков: блока регистрации, который устанавливается на подвижное кольцо гониометра, и блока дискриминанатора, расположенного на корпусе гониометра. Для отбора полезных событий используется либо однопороговый дискриминатор (модификация А), либо перестраиваемый дифференциальный (двухпороговый) дискриминатор (модификация Б). Дифференциальный дискриминатор срабатывает и выдает на выходе стандартный сигнал – только на импульсы, амплитуды которых лежат в пределах, задаваемых нижним и верхним порогами дискриминатора. Диапазон регулировки энергетического окна, определяемого разницей между порогами, приведен в табл. 1. Наличие двух порогов в дискриминаторе можно также считать реализацией перестраиваемого одноканального анализатора. Предусмотрена возможность подстройки детектора для работы рентгеновских трубок с железным и кобальтовым анодом на линиях FeKα, CoKα соответственно. Эффективность регистрации рентгеновских квантов в диапазоне значений энергии 6–10 кэВ составляет 98%.

Детектор работает в режиме счета гамма-квантов. Гамма-квант регистрируется Si-pin-детектором, работающим в режиме полного обеднения. Электронный сигнал усиливается зарядочувствительным усилителем и проходит через LC-фильтр десятого порядка, который улучшает отношение сигнал/шум. Суммарный коэффициент преобразования зарядочувствительного усилителя 1 мВ на 100 электронов. Для уменьшения паразитной емкости и токов утечки плату зарядочувствительного усилителя изготавливают из фторопласта. Выбор необходимого энергетического окна регистрации рентгеновских квантов задается уровнями дискриминаторов, изготовленных на микросхемах AD790, и логическим устройством на основе микроконтроллера Microchip, осуществляющим анализ приходящих импульсов в течение 1.35 мкс от момента срабатывания первого дискриминатора, задержка которых происходит в LC-фильтре. Выходной сигнал детектора – сигнал ТТЛ (транзисторно-транзисторная логика). Конструкция детектора адаптирована для установки на подвижном кольце гониометра. Металлический корпус защищает от наводок расположенного поблизости высоковольтного блока питания и от рассеянного излучения. Ориентация детектора n-контактом к падающему пучку приводит к дополнительной фильтрации излучения и уменьшению фона, обусловленного тормозным излучением трубки. Имеется возможность установки на входном окне фиксированных щелей размером от 0.1 до 1 мм и β-фильтров. Отсутствие системы охлаждения детектора позволяет уменьшить массу блока регистрации и существенно снизить требования, предъявляемые к конструкции гониометра, исключить потери на входном бериллиевом окне и упростить юстировку дифрактометра. Основные характеристики разработанных детекторов приведены в табл. 1 .

Таблица 1.  

Технические характеристики кремниевых полупроводниковых детекторов

  ППД-К-8А ППД-К-12А ППД-К-8Б ППД-К-12Б
Размеры детектора, мм 8 × 1.5 12 × 1.5 8 × 1.5 12 × 1.5
Толщина чувствительной зоны, мм 0.38 0.38 0.38 0.38
Диапазон энергии регистрируемых гамма-квантов, кэВ 4–30 4–30 4–30 4–30
Диапазон регулировки нижнего уровня однопорогового дискриминатора, кэВ 4–17 4–17 4–17 4–17
Диапазон регулировки энергетического окна дифференциального дискриминатора, кэВ 0.1–2.0 0.1–2.0

Для калибровки и настройки детекторов использовали гамма-источник 57Co и спектроанализатор В4K-САЦП-USB, характеристики которого приведены в [5]. Спектроанализатор был подключен к выходу зарядочувствительного усилителя. На рис. 1 приведен спектр источника 57Co, измеренный детектором и спектроанализатором при температуре 22°С. Для типовых детекторов ППД-К-8А,Б и ППД-К-12А,Б в режиме без дискриминаторов разрешение на линии 6.4 кэВ составляет ~1.65 кэВ, или 25%, а на линии 14.4 кэВ – порядка 11%. Это существенно лучше, чем, например, 55% на линии MnKα сцинтилляционного детектора БДС-25 NaI(Tl) в многофункциональном рентгеновском дифрактометре ДРОН-7(8), выпускаемом НПП “Буревестник” [6]. Измеренная разрешающая способность детекторов соответствует результатам [7], полученным для Si-pin-детекторов без принудительного охлаждения.

Рис. 1.

Спектр источника 57Со – количество отсчетов детектора n в канале, соответствующем энергии Е за время набора спектра.

Одним из традиционных, но весьма сложных путей совершенствования детекторов является применение принудительного охлаждения и добавления спектрометрического тракта обработки сигнала. Это позволяет улучшить энергетическое разрешение детектора. Так, например, у детектора LYNXEYE XE-T фирмы Bruker энергетическое разрешение 0.38 кэВ [8]. Для решения задач рентгеноструктурного анализа с применением дифрактометров в заводских [9] и экспертных лабораториях [10] нет необходимости в таких усложнениях. Существенно улучшить характеристики можно, добавляя еще один порог в дискриминатор детектора. Наличие дифференциального дискриминатора позволяет настраивать энергетическое окно так, чтобы его ширина была равна или меньше, чем разность значений энергии линий KβKα материала анода трубки. При такой настройке можно уменьшить толщину β-фильтра или исключить его, но при уменьшении энергетического окна снижается эффективность регистрации рентгеновских квантов детектором.

ПРИМЕНЕНИЕ КРЕМНИЕВЫХ ДЕТЕКТОРОВ ППД-К В ДИФРАКТОМЕТРАХ “РАДИАН”

Для поиска оптимальных настроек на дифрактометре “РАДИАН” ДР-02 [11] в геометрии Брэгга–Брентано [12] были измерены дифрактограммы стандартного образца порошка Al2O3 [13] с применением кремниевых детекторов при различных настройках, а также детекторов других типов.

В дифрактометре “РАДИАН” ДР-02 (рис. 2) использовалась трубка БСВ-25 с медным анодом и вертикальный гониометр θ–2θ диаметром 314 мм. Напряжение на трубке U = 30 кВ, ток I = 5 мА. Дифрактограммы, демонстрирующие особенности работы детекторов, представлены на рис. 3–8. Сканирование с шагом 2θш = 0.05° осуществлялось следующим образом. При смещении детектора на угол 2θш образец поворачивался на угол θш с помощью механизма деления угла. Для сопоставления рефлексов на рисунках приведены их индексы.

Рис. 2.

Рентгеновский дифрактометр ДР-02 “РАДИАН”: 1 – рентгеновская трубка; 2 – вертикальный гониометр; 3 – детектор; 4 – видеокамера с объективом.

Рис. 3.

Дифрактограмма Al2O3, полученная с использованием сцинтилляционного детектора CsI(Tl) и никелевого β-фильтра толщиной 30 мкм. Здесь и далее n – количество отсчетов детектора за 1 с.

Рис. 4.

Дифрактограммы Al2O3, полученные с использованием детекторов без β-фильтра: ППД-К-8А с однопороговым дискриминатором (1); ППД-К-8Б с дифференциальным дискриминатором (2). Здесь и далее символ β возле индексов рефлексов означает, что рефлекс соответствует β-линии материала анода трубки.

Рис. 5.

Дифрактограммы Al2O3, полученные с использованием детектора ППД-К-8Б: с никелевым β‑фильтром толщиной 8 мкм (1); без β-фильтра (2).

Рис. 6.

Дифрактограммы Al2O3, полученные с использованием детекторов: ППД-К-8А с никелевым β-фильтром толщиной 15 мкм (1); ППД-К-8Б с β‑фильтром толщиной 8 мкм (2).

Рис. 7.

Дифрактограммы Al2O3, полученные с использованием детекторов: ППД-К-8Б (1), ППД-К-12Б (2) с никелевым β-фильтром толщиной 8 мкм.

Рис. 8.

Дифрактограммы Al2O3, полученные на дифрактометрах: ДР-02 “РАДИАН” (1) с детектором ППД-К-12Б; X’PERT PRO PANALYTICAL (2) с детектором X’CELERATOR. Рефлексы от 012 до 030 (а). Рефлекс 030 в увеличенном масштабе (б).

На рис. 3 показана дифрактограмма, полученная с помощью сцинтилляционного детектора CsI(Tl), а на рис. 4 представлены две дифрактограммы, измеренные с помощью детектора ППД-К-8А с однопороговым дискриминатором и детектора с ППД-К-8Б с дифференциальным дискриминатором. Дифференциальный дискриминатор настраивали таким образом, чтобы ширина энергетического окна была ~0.9 кэВ, а характеристическая линия материала анода меди CuKα была в центре энергетического окна. Для сопоставления рефлексов на рисунках приведены их индексы. Сравнение дифрактограмм на рис. 3 и 4 демонстрирует преимущество кремниевых детекторов. Сравнение дифрактограмм на рис. 4 показывает, что отношение пик/фон для детектора с дифференциальным дискриминатором выше, а подавление рефлексов, соответствующих характеристической линии CuKβ–линии, сильнее, чем в случае однопорогового. Энергетическое разрешение детектора ППД-К-8Б оказалось несколько хуже, чем требуется для полного подавления рефлексов, соответствующих CuKβ. Высота дифракционных максимумов, соответствующих характеристической линии CuKβ, в случае ППД-К-8Б заметно меньше, чем в случае ППД-К-8А, но все же они достаточно велики и будут мешать при обработке дифрактограммы. Это объясняется тем, что разность значений энергии KβKα = 0.86 кэВ для меди [14, 15] сравнима с шириной энергетического окна дифференциального дискриминатора в этом детекторе.

Не меняя настроек детектора ППД-К-8Б, для большего подавления рефлексов, соответствующих характеристической линии CuKβ, дополнительно использовали тонкий (8 мкм) никелевый β-фильтр. Для сравнения на рис. 5 представлены дифрактограммы, полученные с β-фильтром и без него. Из рис. 5 видно, что детектор ППД-К-8Б с тонким никелевым β-фильтром работает удовлетворительно, ослабляя рефлексы, соответствующие характеристической линии CuKβ, более чем 100 раз.

Для сравнения эффективности детектора ППД-К-8А с никелевым β-фильтром толщиной 15 мкм и детектора ППД-К-8Б с β-фильтром толщиной 8 мкм были получены соответствующие дифрактограммы (рис. 6). Из рис. 6 следует, что использование детектора с дифференциальным дискриминатором эффективнее, чем детектора с однопороговым дискриминатором: интенсивность пиков больше, а уровень фона меньше.

Для анализа возможностей увеличения чувствительности детектора путем увеличения его площади получены дифрактограммы, измеренные детекторами одного типа с кремниевыми пластинами различной длины. На рис. 7 приведены дифрактограммы Al2O3, полученные с использованием детекторов модификации Б с пластинами различной длины: ППД-К-8Б (8 × 1.5 мм) и ППД-К-12Б(12 ×1.5 мм). Увеличение длины приводит к росту интенсивности рефлексов и уменьшению отношения пик/фон.

Таким образом, из всех испытанных детекторов оказался лучшим ППД-К-12Б с дифференциальным дискриминатором с окном шириной 0.9 кэВ и дополнительным β-фильтром толщиной 8 мкм. Сравним этот детектор с полупроводниковым детектором другого производителя. На рис. 8а приведены для сравнения дифрактограммы Al2O3, полученные на дифрактометре ДР-02 “РАДИАН” с детектором ППД-К-12Б и дифрактометре X’Pert PRO фирмы PANalytical [16] с полупроводниковым многоэлементным детектором X’Celerator. Детектор X’Celerator с лучшим, чем ППД-К-12Б, разрешением позволяет более четко разделить пики CuKα1 и CuKα2 для некоторых рефлексов, например, для рефлекса 030 (рис. 8б). Тем не менее, в целом дифрактограммы достаточно хорошо совпадают, что подтверждает эффективность работы детектора ППД-К-12Б с дифференциальным дискриминатором в дифрактометре ДР-02 “РАДИАН”. Оценка углового разрешения составляет 0.1°. Относительная погрешность измерения межплоскостного расстояния, рассчитанная по формуле Δd/d = = ctg θΔθ из [1], для θ = 34° составила 0.25%.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Приведенные результаты демонстрируют, что разработанные полупроводниковые кремниевые детекторы более эффективны, чем сцинтилляционные детекторы NaI(Tl). Эффективность применения в рентгеновских дифрактометрах детекторов с дифференциальным дискриминатором выше на 15%, чем детекторов с однопороговым дискриминатором. Показано, что оптимальный результат дает применение кремниевых детекторов с дифференциальным дискриминатором и тонким никелевым β-фильтром толщиной 8 мкм. В этом случае без существенной потери мощности излучения удается полностью устранить рефлексы, соответствующие CuKβ-линии, уменьшить фон от тормозного излучения рентгеновской трубки и обеспечить высокую скорость счета детектора.

БЛАГОДАРНОСТИ

Авторы выражают благодарность В.Е. Асадчикову за содействие в измерении дифрактограмм на дифрактометре X’Pert PRO в Институте кристаллографии им. А.В. Шубникова ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН.

Список литературы

  1. Горелик С.С., Скаков Ю.А., Расторгуев Л.Н. Рентгенографический и электронно-оптический анализ. М.: МИСиС, 2002. 360 с.

  2. Jenkins R. // X-ray Techniques: Overview in Encyclopedia of Analytical Chemistry. Ed. Meyers R.A. Chichester: John Wiley & Sons Ltd, 2000. P. 13269.

  3. Фульц Б., Хау Дж.М. Просвечивающая электронная микроскопия и дифрактометрия материалов. М.: Техносфера, 2011. 904 с.

  4. Осадчий С.М., Коваленко П.П., Толпекин И.Г. // Тез. VI нац. конф. по применению рентгеновского, синхротронного излучения, нейтронов и электронов для исследования материалов. РСНЭ 2007. Москва, 2007. С. 618.

  5. www.parsek.ru

  6. http://www.bourevestnik.ru

  7. Vasiliev G.P., Voloshyn V.K., Deiev O.S. et al. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchr. Neutron Tech. 2014. V. 8. № 2. P. 391.

  8. https://www.bruker.com/ru/products/x-ray-diffraction-and-elemental-analysis/x-ray-diffraction/d2-phaser/xe-t-edition.html (Bruker Corporation)

  9. Сидохин Ф.А., Сидохин А.Ф., Сидохин Е.Ф. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2009. Т. 75. № 3. С. 39.

  10. Применение рентгеноструктурного анализа в криминалистических исследованиях. Учеб. пособие / Ред. Колмаков А.И. М.: ЭКЦ МВД РФ, 1998. 112 с.

  11. www.fundmetrolodgy.ru

  12. Cline J.P., Mendenhall M.H., Black D. et al. // J. Res. Nati. Inst. Stand. Technol. 2015. V. 120. P. 173.

  13. Государственный стандартный образец – дифракционные свойства кристаллической решетки (ГСО 8631-2004, оксид алюминия. ПРИ-7а). www.fundmetrolodgy.ru/09_st_obr/2list.aspx

  14. Рентгенотехника. Справ. Кн. 1. / Ред. Клюев В.В. М.: Машиностроение, 1980. 430 с.

  15. Рентгенотехника. Справ. Кн. 2. / Ред. Клюев В.В. М.: Машиностроение, 1980. 384 с.

  16. http://www.panalytical.com/Xray-diffractometers.htm (PANalytical)

Дополнительные материалы отсутствуют.