Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2021, № 9, стр. 63-70
Особенности оптической деградации при раздельном и одновременном облучении квантами солнечного спектра и электронами модифицированного наночастицами порошка BaSO4
М. М. Михайлов a, *, А. Н. Лапин a, С. А. Юрьев a
a Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники
634050 Томск, Россия
* E-mail: membrana2010@mail.ru
Поступила в редакцию 20.12.2020
После доработки 24.02.2021
Принята к публикации 28.02.2021
Аннотация
Выполнен сравнительный анализ изменений измеренных in situ спектров диффузного отражения и интегрального коэффициента поглощения после раздельного и одновременного облучения в вакууме электронами с энергией 30 кэВ и квантами солнечного спектра порошка сульфата бария, модифицированного наночастицами диоксида кремния. Установлены два кинетических участка на кривых деградации оптических свойств. На первом участке одновременное облучение аддитивно по отношению к раздельному. На втором участке изменения в результате одновременного облучения меньше по сравнению с суммой изменений при раздельном облучении.
ВВЕДЕНИЕ
Порошки сульфата бария широко используются в различных областях промышленности при производстве лакокрасочных материалов, пластмасс, бумаги, стекла, цемента, керамики, оптических приборов, а также при рентгеновских исследованиях, в аналитической химии, металлургии и при бурении нефтяных скважин [1–3]. Благодаря высокой отражательной способности в области солнечного спектра (от 200 до 2500 нм) порошки BaSO4 могут быть использованы в качестве пигмента для терморегулирующих покрытий космических аппаратов [4].
Требования к срокам активного существования космических аппаратов с каждым годом усиливаются, и проблема повышения фото- и радиационной стойкости материалов для космической техники актуальна. В предыдущих исследованиях [5, 6] установлено, что модифицирование сульфата бария наночастицами SiO2 позволяет значительно увеличить радиационную стойкость практически без ухудшения отражательной способности.
В условиях реальных орбит на материалы внешних поверхностей космических аппаратов в глубоком вакууме действуют одновременно излучения нескольких видов: электроны, протоны, кванты солнечного спектра. При наземных испытаниях материалов, как правило, облучение проводят раздельно одним из видов излучений, реже – одновременно. Выполненные ранее исследования показали [7, 8], что в изменении свойств и рабочих характеристик не наблюдается аддитивность: сумма изменений при раздельном облучении не равна изменениям при одновременном облучении материалов.
Целью настоящей работы было изучение изменений спектров диффузного отражения (ρλ) в ультрафиолетовой (УФ), видимой, ближней инфракрасной (ИК) областях, измеренных in situ в вакууме, и интегрального коэффициента поглощения солнечного излучения (аs) модифицированного наночастицами SiO2 порошка BaSO4 (nBaSO4) при раздельном и одновременном облучении ускоренными электронами и квантами солнечного спектра.
МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА
В исследованиях использовали порошок BaSO4 (Extra Pure Reagent, Nacalai Tesque inc., Япония). В качестве модифицирующей добавки был взят нанопорошок диоксида кремния (чистота 99.8%, средний размер 10–12 нм, удельная поверхность 180–220 м2/г, производитель ООО “Плазмотерм”, Россия). Концентрация наночастиц выбрана на основании ранее выполненных исследований [9] и составляла 3 маcс. %.
Нанопорошок SiO2 растворяли в дистиллированной воде при наложении ультразвуковых волн, в полученный раствор добавляли порошок BaSO4 и перемешивали в течение 3 ч в магнитной мешалке. Смесь сушили при температуре 150°С, перетирали в агатовой ступке и прогревали в атмосфере 2 ч при температуре 800°С. После охлаждения порошки прессовали в подложки диаметром 24 мм, высотой 2 мм под давлением 1 MПа и выдерживали в течение 2 мин.
Структуру порошков исследовали с помощью рентгеновского дифрактометра XRD-6100 (Shimadzu, Япония). Спектры диффузного отражения в ИК-диапазоне (400–4000 см–1) регистрировали с использованием ИК-фурье-спектрометра Shimadzu IRTracer-100 с приставкой диффузного отражения DRS-8000A.
Облучение образцов в вакууме и регистрацию спектров ρλin situ осуществляли в установке “Спектр”, имитирующей условия космического пространства: высокий вакуум, температуру, электромагнитное излучение Солнца, потоки электронов с энергией 5–150 кэВ и протонов с энергией 0.5–140 кэВ [10]. Облучение осуществляли при Р = = 5 × 10–6 Торр, Т = 303 К ускоренными электронами с энергией 30 кэВ и светом ксеноновой дуговой лампы, имитирующим спектр излучения Солнца, с интенсивностью 3 э. с. о. (э. с. о. – эквивалент солнечного облучения, 1 э. с. о. = = 0.139 Дж/см2 · c). Спектры ρλ регистрировали в диапазоне 200–2200 нм до облучения и после каждого периода облучения. Интегральный коэффициент поглощения солнечного излучения рассчитывали согласно международным стандартам [11, 12].
РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ
Исследовали структуру порошков nBaSO4 до облучения и после раздельного и одновременного облучения электронами и квантами солнечного спектра. На рис. 1 в качестве примера представлены дифрактограммы такого порошка до и после совместного облучения электронами (е–) и квантами солнечного спектра в течение 15 ч. Все пики соответствуют ромбической кристаллической фазе сульфата бария. Пики модифицирующей добавки SiO2 отсутствуют, поскольку она обладает аморфной структурой. После раздельного облучения электронами и квантами солнечного спектра получены аналогичные дифрактограммы. Анализ всех дифрактограмм показал, что как после раздельного, так и после одновременного облучения этого порошка дополнительные фазы не образуются, существенные структурные изменения не происходит.
Исследования ИК-спектров показали, что в порошках nBaSO4 регистрируется ряд полос поглощения в диапазоне от 476 до 3146 см–1 (рис. 2). Полосы в диапазоне 610–1400 с–1 определяются различными типами колебаний радикалов SO4– [13–22]: внеплоскостной изгибной вибрацией (610 и 642 см–1); симметричными растягивающими колебаниями (985 см–1); симметричными и асимметричными растяжениями и изгибами (1086, 1132, 1196 см–1). В ИК-спектрах также присутствуют пики, характерные для соединений диоксида кремния: колебания мостикового кислорода Si–O–Si при 476, 810 и 1110 см–1, валентные симметричные колебания Si–Si при 615 см–1, скручивающие колебания SiO2 при 805 см–1. Полоса при 2060 см–1 соответствует серосодержащему кислороду, полоса при 3146 см–1 – ОН-группам. Двойная полоса малой интенсивности при 2325–2360 см–1 относится к колебаниям диоксида углерода (как примеси из атмосферы). В зависимости от вида облучения интенсивность этих полос уменьшается или увеличивается (табл. 1).
Таблица 1.
Режим облучения | Волновое число, см–1 | |||||||||||
---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
476 | 610 | 642 | 810 | 985 | 1086 | 1132 | 1196 | 1400 | 2060 | 2356 | 3146 | |
До облучения | 0.036 | 0.862 | 0.544 | 0.003 | 0.107 | 1.025 | 1.090 | 0.998 | 0.024 | 0.002 | 0.007 | 0.031 |
е– | 0.049 | 0.823 | 0.504 | 0.016 | 0.138 | 1.041 | 1.090 | 0.996 | 0.006 | 0.014 | 0.005 | 0.001 |
КСС | 0.037 | 0.720 | 0.518 | 0.021 | 0.144 | 1.016 | 1.090 | 1.001 | 0.005 | 0.018 | 0.033 | 0.005 |
е– + КСС | 0.034 | 0.680 | 0.487 | 0.021 | 0.146 | 1.012 | 1.090 | 1.014 | 0.006 | 0.025 | 0.018 | 0.009 |
Эти результаты показывают, что в исходном состоянии осуществляются вибрация, растяжения и изгибы ${\text{SO}}_{4}^{ - }$-радикалов. После облучения уменьшается вибрация, увеличиваются растяжения и не изменяется интенсивность изгибных колебаний ${\text{SO}}_{4}^{ - }$-радикалов. Наибольшие изменения происходят после одновременного облучения, наименьшие – после облучения электронами. Интенсивность полосы серосодержащего кислорода увеличивается в 7, 9 и 12.5 раз после облучения электронами, квантами солнечного спектра и одновременного облучения.
На поверхности порошка nBaSO4 сорбированы ОН-группы, концентрация которых при облучении уменьшается. Значительное уменьшение происходит после действия электронов. При одновременном действии квантов солнечного спектра и электронов изменение концентрации ОН-групп такое же, как и после действия электронов, а наименьшие изменения происходят после одновременного облучения.
Спектры ρλ и разностные спектры Δρλ (определяемые разностью спектров ρλ до и после облучения и представляющие спектры поглощения, наведенного действием излучений) порошка nBaSO4 до и после облучения электронами показаны на рис. 3. Коэффициент отражения необлученного порошка в области от 400 до 1400 нм составляет порядка 95%, а интегральный коэффициент поглощения аs порошка nBaSO4 – 0.048. В спектрах ρλ порошка nBaSO4 (рис. 3а) с увеличением флуенса электронов коэффициент отражения существенно уменьшается (до 61%) в области от 200 до 1000 нм. В области спектра от 1000 до 2200 нм при облучении e– изменения незначительные, в пределах 2–3%. Из разностных спектров Δρλ (рис. 3б) видно, что с ростом флуенcа электронов коэффициент отражения максимально изменяется в широкой полосе поглощения 200–400 нм. На длинноволновом фронте этой полосы просматривается полоса поглощения с максимумом при 600 нм, которая при увеличении флуенса становится менее выраженной. Форма и сложный характер полос поглощения в области спектра от 200 до 900 нм позволяют предполагать, что в порошках nBaSO4 образуются собственные дефекты нескольких типов, поглощающие в УФ- и видимой областях.
Рассчитанные по спектрам Δρλ изменения интегрального коэффициента поглощения (Δas) порошка nBaSO4 в зависимости от флуенса электронов небольшие (табл. 2) по сравнению с модифицированным этими же наночастицами другими, наиболее используемыми в терморегулирующих покрытиях класса “солнечный отражатель” пигментами [23]. При облучени порошка nBaSO4 квантами солнечного спектра коэффициент отражения уменьшается в области спектра от 200 до 1700 нм (рис. 4а). Из спектров ∆ρλ (рис. 4б) следует, что максимальные значения Δρ около 58%, т.е. близко к значению при облучении электронами (рис. 3б). Но полоса поглощения при облучени квантами солнечного спектра значительно расширяется в ближнюю ИК-область вплоть до 1800 нм. Изменения коэффициента поглощения Δas порошка nBaSO4 в зависимости от времени облучения квантами солнечного спектра, рассчитанные по спектрам ∆ρλ (рис. 4б), значительно больше, чем при облучении электронами (табл. 3). Для максимального времени облучения 15 ч значение Δas составляет 0.236.
При одновременном облучении электронами и квантами солнечного спектра наибольшее изменение коэффициента отражения регистрируется в УФ-области спектра (рис. 5а). Полоса поглощения в УФ-области спектров ∆ρλ (рис. 5б) расширяется в длинноволновую область до 1300 нм. Максимальное значение 67% ∆ρ достигает при длине волны 200 нм. Дополнительно проявляется полоса при 280 нм. В области спектра свыше 1300 нм изменения коэффициентов отражения незначительные – не превышают 7%.
Изменения спектров ρλ после раздельного и одновременного облучения электронами и квантами солнечного спектра порошка nBaSO4 (рис. 3–5) показали, что образуются дефекты, полосы поглощения которых расположены в области от λ ~ λg до 1000–1200 нм. Поскольку дополнительные соединения при модифицировании и облучении модифицированного порошка не образуются, такими дефектами могут быть собственные точечные дефекты BaSO4, возникшие под действием излучений.
Действие электронов с энергией 30 кэВ или квантов с длиной волны λ ~ λg приводит только к ионизационным процессам с образованием электронно-дырочных пар. Для сульфата бария этот процесс можно записать в виде реакции:
(1)
${\text{BaS}}{{{\text{O}}}_{{\text{4}}}} + h\nu (е*) \to {{е}^{--}} + {{р}^{ + }}\left( {{\text{В}}{{{\text{а}}}^{{2 + }}} + {\text{SO}}_{4}^{{2 - }}} \right),$Образовавшиеся дефекты катионной (Ва2+) и анионной $\left( {{\text{SO}}_{{\text{4}}}^{{{\text{2}}--}}} \right)$ подрешеток также подвержены действию излучений, в результате которого возникают новые дефекты. При разложении ${\text{SO}}_{{\text{4}}}^{{{\text{2}}--}}$ будут образовываться ионы ${\text{SO}}_{{\text{3}}}^{--},$ ${\text{SO}}_{{\text{2}}}^{--}$ и O–-центры, полосы поглощения которых расположены при 280 $\left( {{\text{SO}}_{{\text{4}}}^{--}} \right),$ 455–470 $\left( {{\text{SO}}_{{\text{2}}}^{--}} \right),$ 600 $\left( {{\text{SO}}_{{\text{3}}}^{--}} \right)$ и 625–720 нм (О–) [24–26]. Полосы поглощения дефектов катионной подрешетки к настоящему времени не идентифицированы, но по аналогии с их полосами в таких соединениях, как, например, ZnO и TiO2 [27, 28], можно предполагать, что они будут расположены в области более коротких длин волн по сравнению с полосами дефектов анионной подрешетки, т.е. в области λ ~ 280 нм.
Для сравнения полученные значения Δas порошка nBaSO4 в зависимости от времени облучения квантами солнечного спектра и одновременного облучения (электронами и квантами солнечного спектра) и флуенса электронов при одновременном и раздельном облучении сведены в табл. 4. Там же приведены значения коэффициента аддитивности (Kадд), рассчитанные по отношению суммы значений Δas при раздельном облучении (∑Δas) к значению Δas при одновременном облучении (Δasодн):
Таблица 4.
КСС, ч | 3 | 6 | 8 | 10 | 12 | |
${{\Phi }_{{{{e}^{ - }}}}},$ 1016 см–2 | 3 | 6 | 8 | 10 | 12 | |
∆as | е– | 0.038 | 0.053 | 0.064 | 0.076 | 0.087 |
КСС | 0.085 | 0.135 | 0.167 | 0.193 | 0.212 | |
е– + КСС | 0.124 | 0.189 | 0.219 | 0.250 | 0.276 | |
∑Δas | 0.123 | 0.188 | 0.231 | 0.269 | 0.299 | |
Kадд | 0.992 | 0.994 | 1.055 | 1.076 | 1.083 |
Данные табл. 4 показывают, что вклад в деградацию оптических свойств порошка nBaSO4 при облучении квантами солнечного спектра существенно больше по сравнению с действием электронов. Из трех видов облучения наибольшие изменения коэффициента поглощения порошка nBaSO4 происходят при одновременном облучении электронами и квантами солнечного спектра, а наименьшие – при облучении электронами. При одинаковом времени одновременное облучение приводит к меньшим изменениям коэффициента поглощения аs по сравнению с суммой изменений при раздельном облучении электронами и квантами солнечного спектра.
Из табл. 4 следует, что при малом времени облучения значения ∆as при одновременном облучении электронами и квантами солнечного спектра равны сумме значений при их раздельном действии. Коэффициент аддитивности практически равен единице. С ростом времени облучения эти величины отличаются, и чем больше время облучения, тем больше отличие. Коэффициент аддитивности при времени облучения 12 ч возрастает до 1.083. Для определения значений Kадд при большем времени облучения проводили расчеты с использованием модели деградации оптических свойств в виде степенной функции:
где α, β – коэффициенты, t – время облучения.На рис. 6 представлены результаты расчетов ∆as для времени облучения до 50 ч, выполненных с использованием экспериментальных данных. Там же приведены экспериментальные значения ∆as, полученные при раздельном действии электронов и квантов солнечного спектра, а также их сумма. Полученные данные показывают, что с увеличением времени раздельного и одновременного облучения электронами и квантами солнечного спектра отличие значений при одновременном облучении от суммы значений ∆as при раздельном облучении увеличивается. При максимально расчетном времени облучения 50 ч эти значения составляют 0.327 и 0.407 соответственно, что дает величину Kадд, равную 1.245.
Выполненные расчеты позволяют заключить, что кинетика изменения коэффициента аддитивности при одновременном и раздельном облучении электронами с энергией 30 кэВ и квантами солнечного спектра порошка nBaSO4 зависит от времени облучения. Кривая ∆as(t) состоит из двух участков. На первом участке при малом времени облучения наблюдается аддитивность в изменении оптических свойств, на втором – изменения при одновременном облучении меньше суммы изменений при раздельном облучении. При времени облучения 50 ч коэффициент аддитивности составляет 1.245. Эти данные показывают, что если определять фото- и радиационную стойкость такого модифицированного наночастицами порошка по результатам раздельного облучения электронами и квантами солнечного спектра, то получим данные, в 1.245 раз большие по сравнению с изменениями, происходящими при одновременном облучении.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Исследованы в вакууме in situ изменения состава, структуры, спектров диффузного отражения и интегрального коэффициента поглощения аs модифицированного наночастицами SiO2 порошка BaSO4 после раздельного и одновременного облучения электронами (Е = 30 кэВ, φ = 1 × × 1012 см–2 · с–1) и квантами солнечного спектра с интенсивностью, в три раза превышающей интенсивность излучения Солнца. Установлено, что модифицирование порошка и его последующее облучение не приводит к образованию дополнительных соединений. В ИК-спектрах регистрируются полосы различных колебаний ${\text{SO}}_{{\text{4}}}^{{{\text{2}}--}},$ ${\text{SO}}_{{\text{3}}}^{--},$ ${\text{SO}}_{{\text{2}}}^{--},$ О–, интенсивность которых изменяется по-разному в зависимости от типа колебаний. Интенсивность полос серосодержащего кислорода увеличивается, полосы ОН-групп – уменьшается.
Экспериментально и с помощью расчетов установлены два участка на кривых изменения спектров диффузного отражения и интегрального коэффициента поглощения аs. На первом участке со временем облучения до 6 ч значения Δаs при одновременном облучении равны сумме значений, полученных при раздельном облучении. На втором участке сумма значений больше значений при одновременном облучении, с увеличением времени облучения их разность увеличивается. Для времени облучения 50 ч коэффициент аддитивности, определяемый отношением этих величин, составляет 1.245: оценка деградации оптических свойств этого порошка по результатам раздельного облучения приводит к ее завышению в 1.245 раз. Такое отличие в случае использования порошка, например, в терморегулирующих покрытиях космических аппаратов, может привести к ошибкам в определении размеров, веса и стоимости радиаторов терморегулирования космических аппаратов, на которые они будет нанесены.
Список литературы
Cao R., Qin Z., Yu X. et al. // Int. J. Light Electron Optics. 2016. V. 127. № 3. P. 1126.
Annalakshmi O, Jose M.T., Madhusoodanan U. // Rad. Prot. Dosimetry. 2012. V. 150. № 2. P. 127.
Bahl S., Lochab S.P., Pandey A., Kumar V., Aleynikov V.E., Molokanov A.G., Kumar P. // J. Luminescence. 2014. V. 149. P. 176.
Патент RU № 2524384. Терморегулирующее покрытие / ОАО “Композит”. Страполова В.Н., Киселева Л.В., Токарь С.В., Юртов Е.В., Мурадова А.Г. // Б.И. 2014. № 21.
Mikhailov M.M., Yuryev S.A., Sokolovskiy A.N., Lovitskiy A.A. // Dyes and Pigments. 2019. V. 163. P. 340.
Mikhailov M.M., Yuryev S.A., Lovitskiy A.A. // Opt. Mater. 2018. V. 85. P. 226.
Хасаншин Р.Х., Новиков Л.С. // Физика и xимия обработки материалов. 2015. № 5. С. 14.
Mikhailov M.M., Yuryev S.A., Lapin A.N., Karanskiy V.V. // Symmetry. 2020. V. 12. P. 1021.
Mikhailov M.M., Yuryev S.A., Lapin A.N. // Key Engin. Mater. 2019. V. 806. P. 106.
Kositsyn L.G., Mikhailov M.M., Kuznetsov N.Ya., Dvoretskii M.I. // Instrum. Experim. Tech. 1985. V. 28. № 4. P. 929.
ASTM E490-00a. Standard Solar Constant and Zero Air Mass Solar Spectral Irradiance Tables. West Conshohocken: ASTM International, 2019.
ASTM E903-96. Standard Test Method for Solar Absorptance, Reflectance, and Transmittance of Materials Using Integrating Spheres. West Conshohocken: ASTM International, 2012.
Vicum L., Mazzotti M., Bałdyga J. // Chem. Engin. Technol. 2003. V. 26. № 3. P. 325.
Sifontes Á.B., Cañizales E., Toro-Mendoza J. et al. // J. Nanomater. 2015. Spec. Iss. P. 510376.
Zhang M., Zhang B., Li X., Yinb Z., Guo X. // Appl. Surf. Sci. 2011. V. 258. P. 24.
Prameena B., Anbalagan G., Sangeetha V., Gunasekaran S., Ramkumaar G.R. // Int. J. ChemTech Res. 2013. V. 5. № 1. P 220.
Manam J., Das S. // Ind. J. Pure Appl. Phys. 2009. V. 47. № 6. P. 435.
Борило Л.П. Синтез и физико-химические закономерности формирования золь-гель методом тонкопленочных и дисперсных наноматериалов оксидных систем элементов III–V групп: Дис. ... д-ра хим. наук: 02.00.04. Томск: ТГУ, 2003. 286 с.
Lange P. // J. Appl. Phys. 1989. V. 66. № 1. P. 201.
Ильвес В.Г., Зуев М.Г., Соковнин С.Ю., Мурзакаев А.М. // Физика твердого тела. 2015. Т. 57. № 12. С. 2439.
Аверин И.А., Карманов А.А., Мошников В.А., Пронин И.А., Игошина C.Е., Сигаев А.П., Теруков Е.И. // Физика твердого тела. 2015. Т. 57. № 12. С. 16.
Накамото К. ИК-спектры и спектры КР неорганических и координационных соединений. М.: Мир, 1991. 536 с.
Нещименко В.В. Исследование структуры, свойств и радиационной стойкости оксидных порошков, модифицированных наночастицами: Дис. ... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.07. Томск: ТУСУР, 2017. 273 с.
Бахытхан А.Б., Ким Л.М., Кукетаев Т.А. Изв. вузов. Физика. 2004. № 3. С. 87.
Окабе Х. Фотохимия малых молекул. М.: Мир, 1981. 504 с.
Ким Л.М., Оразбаев А.Х., Ташимова А.К. // Вестн. КарГУ. 1992. № 3. С. 56.
Lv J., Li C., Chai Z. // J. Luminescence. 2019. V. 208. P. 225.
Mikhailov M.M., Yuryev S.A., Remnev G.E., Sazonov R.V., Vlasov V.A., Kholodnaya G.E. // J. Thermal Anal. Calorim. 2017. V. 130. Iss. 2. P. 671.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования