Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2022, № 9, стр. 82-86

Энергетические спектры дейтерия низких энергий при отражении от двухслойной мишени

В. И. Шульга *

Институт ядерной физики им. Д.В. Скобельцына Московского государственного университета им. М.В. Ломоносова
119991 Москва, Россия

* E-mail: vish008@yandex.ru

Поступила в редакцию 12.01.2022
После доработки 18.02.2022
Принята к публикации 18.02.2022

Полный текст (PDF)

Аннотация

Методом компьютерного моделирования исследовано влияниe электронного торможения на энергетические спектры отраженных ионов при облучении двухслойной мишени Ag/Si ионами дейтерия с энергией 1.5 и 5 кэВ. В расчетах использовались различные зависимости Se(E), где Se – сечение электронного торможения в серебре (кремнии) и E – энергия частиц. Для пары D–Ag наилучшее согласие с экспериментом дали результаты, полученные методом отражения с помощью компьютерной программы TRBS. Показано, что зависимость Se(E), генерируемая программой SRIM-2013, существенно завышает торможение изотопов водорода в серебре в области низких энергий. В этой области энергий форма энергетического спектра зависит от использованного в расчете межатомного потенциала. Хорошее согласие с экспериментом получено, в частности, для потенциала Томаса–Ферми–Мольера с длиной экранирования Линдхарда.

Ключевые слова: ионная бомбардировка, рассеяние, сечение электронного торможения, изотопы водорода, дейтерий, серебро, компьютерное моделирование.

ВВЕДЕНИЕ

Изучение закономерностей рассеяния легких ионов поверхностями твердых тел представляет большой интерес как с точки зрения анализа состава и структуры поверхностей, так и в исследованиях по управляемому термоядерному синтезу [14]. Для анализа поверхности методами ионного рассеяния необходимы данные о торможении частиц в веществе в области низких энергий. Такие данные чаще всего получают из энергетических спектров частиц, прошедших через тонкие пленки или отраженных от поверхности массивной мишени. Замечено, что сечения электронного торможения Se, найденные в геометрии прямого и обратного рассеяния, не всегда согласуются друг с другом. Например, в случае торможения изотопов водорода в серебре значения Se, найденные при отражении частиц от поверхности [5], оказались в 2–2.5 раза ниже тех, что были получены ранее из спектров частиц, прошедших через тонкие пленки [6].

При анализе причин расхождения отмечалось, прежде всего, качество мишени, используемой в экспериментах: ее однородность и кристалличность, шероховатость поверхности, наличие примесей, имплантированных атомов, важная роль угла захвата детектора и др. [6, 7]. В геометрии обратного рассеяния для получения значений Se из экспериментальных спектров часто применяется компьютерное моделирование, причем особенности компьютерной программы также могут влиять на результаты. Отмечалось, в частности, что результаты моделирования могут зависеть от способа расчета траекторий частиц в мишени и от используемых межатомных потенциалов. Они зависят также от того, учитывается в расчетах или не учитывается зависимость T(p), где T – неупругие потери энергии в элементарном столкновении и p – прицельный параметр столкновения [8, 9].

В работе методом компьютерного моделирования проведен расчет отражения ионов дейтерия с энергией 1.5 и 5 кэВ от двухслойной мишени Ag(21 нм)/Si, что отвечает условиям эксперимента [5].

В цели работы входило: получить спектры отраженных частиц на основе зависимостей Se(E), предложенных другими авторами; сопоставить результаты расчетов с экспериментальными данными. Для сравнения часть расчетов проведена с учетом зависимости T(p), а также с использованием различных межатомных потенциалов.

МЕТОДЫ ИССЛЕДОВАНИЯ

Расчеты выполнены с помощью программы OKSANA, первый вариант которой был разработан в середине 1980-х гг. [10]. Программа предназначена для расчета распыления кристаллических и неупорядоченных (аморфных) мишеней при ионной бомбардировке. Моделирование траекторий частиц в мишени ведется в приближении парных столкновений с учетом слабых взаимодействий в одновременных соударениях. Классическое рассеяние в столкновениях частиц описывается экранированным кулоновским потенциалом. Расчеты углов рассеяния и отдачи и других характеристик парного столкновения ведутся методом молекулярной динамики, не прибегая к расчету углового и временного интегралов столкновения, что упрощает решение задачи. Аморфная мишень моделируется вращением кристаллического атомного блока, процедура вращения повторяется для каждого нового столкновения. Подробное сравнение программы OKSANA c программами TRIM.SP и SRIM проведено в работах [11, 12].

В настоящей работе рассчитывалось отражение ионов D с начальной энергией E0 = 1.5 и 5 кэВ от двухслойной мишени Ag(21 нм)/Si при нормальном падении, что соответствует условиям эксперимента [5]. Мишень считалась аморфной, а ее поверхность гладкой. Регистрировались частицы, рассеянные на угол 129°, угол захвата детектора составлял ±2°. В расчетах использовался вариант программы, который описан в работе [9]. Как и в [9], в качестве межатомного потенциала взят потенциал Томаса–Ферми–Мольера (ТФМ) с длиной экранирования а, рассчитанной по формуле Линдхарда [13]. Часть расчетов выполнена с длиной экранирования Фирсова [14], а также с эмпирическими значениями а, предложенными О’Коннором и Бирсаком [15] и Робинсоном [16].

Электронное торможение задавалось двумя способами [9]: 1) как непрерывное торможение вдоль траектории, характеризуемое функцией Se(E); 2) с учетом неупругих потерь энергии в каждом столкновении, определяемых функцией T(p). В качестве T(p) взята зависимость, предложенная Оеном и Робинсоном для легких ионов [17]:

(1)
$T\left( p \right) = \left( {{{0.045k{{E}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{0.045k{{E}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}} {\pi N{{a}^{2}}}}} \right. \kern-0em} {\pi N{{a}^{2}}}}} \right){\text{exp}}\left[ {{{ - 0.3R\left( {p,E} \right)} \mathord{\left/ {\vphantom {{ - 0.3R\left( {p,E} \right)} a}} \right. \kern-0em} a}} \right],$
где k – параметр электронного торможения [18], N – атомная плотность мишени, R – расстояние наибольшего сближения частиц при столкновении. Зависимость Se(E), которая следует из (1) интегрированием по прицельному параметру, также использовалась в расчетах. Напомним, что величина Se связана с электронными потерями энергии на единицу длины пути (dE/dx)e простым соотношением: Se = –(dE/dx)e/N.

Зависимости Se(E), использованные в данной работе для описания торможения изотопов водорода в Ag, показаны на рис. 1. Рисунок охватывает область энергий E = 0.1–10 кэВ/а.е.м., что соответствует скоростям частиц V/V0 = 0.063–0.63, где V0 – орбитальная скорость электрона в атоме водорода. Кривые 1 и 2 аппроксимируют результаты измерений, выполненных методами отражения от двухслойной мишени Ag(21 нм)/Si [5] и прохождения через слой Ag толщиной 25 нм [6]. Излом на кривых при E = 0.7 кэВ связан с включением в торможение слабо связанных электронов 4d-оболочки [5, 6]. На рис. 1 показаны также экспериментальные данные более ранних работ по прохождению протонов через тонкие пленки серебра [19, 20]. Кривая 3 построена по данным программы SRIM-2013 [21]. Кривые 4 и 5 относятся к модели Оена и Робинсона [17]. Отметим, что при одинаковой скорости атомов H и D значения R в формуле (1) отличаются друг от друга, поэтому соответствующие значения Se (рис. 1) также не совпадают.

Рис. 1.

Энергетические зависимости сечения электронного торможения изотопов водорода в серебре (m – масса изотопа). Экспериментальные данные: + [5], × [6], ⚪ [19], ⬜ [20]. Кривые 1 и 2 аппроксимируют результаты работ [5] и [6], кривая 3 – SRIM [21]. Кривые 4 и 5 рассчитаны с использованием уравнения (1) для изотопов H и D соответственно.

Рис. 2 аналогичен рис. 1, но описывает электронное торможение изотопов водорода в кремнии. Экспериментальные данные почерпнуты из работ [2228]. В расчетах данной работы была использована зависимость SRIM [21], которая хорошо согласуется с большинством экспериментальных данных (рис. 2). Исключение составляют расчеты для модели [17], когда формула (1) применялась для описания торможения частиц не только в слое серебра, но и в кремниевой подложке.

Рис. 2.

Энергетические зависимости сечения электронного торможения изотопов водорода в кремнии. Экспериментальные данные: + [22], × [23], ⚪ [24], ◻ [25], ◇ [26], △ [27], ▽ [7]. Кривая 1 – SRIM [21]. Кривые 2 и 3 рассчитаны с использованием формулы (1) для изотопов H и D соответственно.

Заметим, что расчеты данной работы проведены для дейтерия, наиболее полно изученного экспериментально.

РЕЗУЛЬТАТЫ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ

Результаты расчета энергетических спектров дейтерия, отраженных от двухслойной мишени Ag/Si, показаны на рис. 3 для начальной энергии ионов Е0 = 5 и 1.5 кэВ (рис. 3а, 3б соответственно). Спектры рассчитаны с использованием зависимостей Se(E), показанных на рис. 1, и зависимости T(p), которую дает формула (1). Число падающих ионов составляло 5 × 106 (рис. 3а) и 107 (рис. 3б). Сплошной линией на рисунках изображены спектры, полученные экспериментально [5]. Следует отметить, что при обработке этих и других спектров такого рода были получены значения Se, аппроксимированные на рис. 1 кривой 1.

Рис. 3.

Энергетические спектры атомов дейтерия с начальной энергией 5 (а) и 1.5 кэВ (б), отраженных от двухслойной мишени Ag/Si в интервал углов рассеяния θ = 127°–131° (нормальное падение). ⚪, ⬜, △, ◇ – расчет с использованием зависимостей Se(E), показанных на рис. 1 кривыми 1, 2, 3 и 5 соответственно; ◆ – расчет с учетом зависимости Т(р) (формула (1)). Ломаная линия – эксперимент [5].

Как видно из рис. 3, энергетические спектры отраженных частиц, как правило, несимметричны и они проходят через максимум. Такая форма энергетических спектров отраженных частиц многократно наблюдалась в более ранних экспериментах при различных условиях облучения легкими ионами разных мишеней, включая Ag [2], и для случая рассеяния на малые углы анализировалась в ряде теоретических работ, например, [29, 30].

На рис. 3а максимумы спектров соответствуют ситуации, когда глубина проникновения частиц в мишень совпадает с толщиной слоя Ag (21 нм). Левее максимума с уменьшением энергии отраженных частиц все больший вклад дает отражение от кремниевой подложки, особенно при слабом электронном торможении. При энергии Е/Е0 = = 0.3 (нижняя граница спектра) этот вклад лежит в пределах 20–70%, где первое значение дает сечение торможения SRIM, а второе – сечение торможения Гоэбла с сотр. [5] (рис. 1, кривые 3 и 1 соответственно).

На рис. 3б максимумы спектров соответствуют глубине проникновения 8–11 нм, т.е. связаны с частицами, траектории которых лежат в пределах слоя Ag и не захватывают кремниевую подложку. Частицы, отраженные от подложки, имеют энергию Е/Е0 < 0.5, но даже при энергии Е/Е0 = 0.3 их вклад не превышает 6%. Как и на рис. 3а, лучшее согласие с экспериментом наблюдается для спектра, который рассчитан с функцией Se(Е), представленной на рис. 1 кривой 1. Это подтверждает корректность использованного в [5] метода определения сечения неупругого торможения, которое проводилось с помощью программы TRBS [31]. Хуже всего согласуется с экспериментом зависимость Se(E), генерируемая программой SRIM [21].

Данные (рис. 3), относящиеся к модели Оена и Робинсона [17], показывают, что учет зависимости неупругих потерь энергии от прицельного параметра соударения дает слабый эффект. Исключение составляет область энергий, близких к E0, когда траектории частиц в мишени являются короткими и включают в себя сравнительно небольшое число столкновений [9].

Результаты, приведенные на рис. 3, получены для потенциала ТФМ с длиной экранирования а, рассчитанной по формуле Линдхарда [13]. Как отмечалось выше, в расчетах данной работы использовалась также длина экранирования Фирсова [14] и длины экранирования О’Коннора и Бирсака [15] и Робинсона [16], найденные из экспериментальных данных. Указанные длины экранирования имеют следующие значения: 0.125, 0.119, 0.106 и 0.075 Å (H–Ag) и 0.180, 0.166, 0.125 и 0.075 Å (H–Si).

Для начальных энергий атомов дейтерия 5 и 1.5 кэВ результаты моделирования, выполненного с перечисленными выше значениями а, показаны на рис. 4. Для удобства сравнения спектры нормированы по максимальному значению. Из рис. 4а следует, что при Е0 = 5 кэВ спектры слабо зависят от длины экранирования, тогда как при Е0 = 1.5 кэВ эффект потенциала оказался весьма заметным (рис. 4б). Последнее связано с тем, что при Е0 = = 1.5 кэВ положение максимума определяется не толщиной слоя Ag (см. выше), а глубиной, на которой происходит разворот траекторий ионов к поверхности. Эта глубина тем больше, чем слабее потенциал, т. е., чем меньше длина экранирования а. Как следует из рис. 4б, уменьшение a приводит к смещению спектра в область более низких энергий, что ухудшает согласие с экспериментом. Ясно, что в этом случае для достижения согласия с экспериментом необходимо ослабить электронное торможение. Это означает, что в области низких энергий точность восстановления сечения электронного торможения из энергетических спектров отраженных частиц с помощью компьютерного моделирования зависит от используемого в расчетах межатомного потенциала.

Рис. 4.

Энергетические спектры атомов дейтерия с начальной энергией 5 кэВ (а) и 1.5 кэВ (б), рассчитанные при разных значениях длины экранирования в потенциале ТФМ: ⚪ – Линдхард [13], ⬜ – Фирсов [14], ◇ – О’Коннор и Бирсак [15], △ – Робинсон [16]; ломаная линия – эксперимент [5]. Расчет проведен с использованием сечения торможения [5] (рис. 1, кривая 1).

Отметим также тот факт, что длины экранирования Линдхарда [13], Фирсова [14] и О’Коннора [15] дали достаточно близкие к эксперименту результаты даже при Е0 = 1.5 кэВ (рис. 4б). Потенциал ТФМ с длиной экранирования [15] был использован в работе [5] для восстановления с помощью компьютерной программы TRBS значений Se из экспериментальных спектров отражения, в том числе тех, что показаны на рис. 3 и 4. В данной работе, по сути, решена обратная задача, а именно, рассчитаны спектры отражения по заданной зависимости Se, но с использованием иной компьютерной программы. Хорошее согласие результатов настоящей работы и работы [5] указывает на надежность той и другой программ.

Что касается завышенных значений Se, полученных в работе [6] (рис. 1), это может быть связано с использованием в эксперименте недостаточно тонкой фольги (25 нм) и, соответственно, удлинением траекторий частиц в мишени за счет их многократного рассеяния. Для проверки этого предположения был проведен расчет длины траекторий протонов с энергией E0 = 1 кэВ, рассеянных пленкой Ag толщиной 25 нм в интервал углов θ = 0°–4° (нормальное падение). Для потенциала ТФМ с длиной экранирования Линдхарда расчет дал среднюю длину траекторий, равную 51 нм, что примерно в два раза больше толщины мишени. С ростом E0 эта разница уменьшается, поскольку траектории частиц все больше приближаются к прямолинейным.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

В работе проведен расчет энергетических спектров отраженных ионов при облучении двухслойной мишени Ag/Si ионами дейтерия с энергией 1.5 и 5 кэВ с использованием различных зависимостей Se(E). Расчет продемонстрировал высокую чувствительность спектров отраженных частиц к процессам электронного торможения. Наилучшее согласие с экспериментом получено для зависимости Se(E), найденной Гоэблом и др. [5] с использованием компьютерной программы TRBS. Расчет показал, что в области низких энергий форма энергетического спектра зависит от использованного в расчете межатомного потенциала. Хорошее согласие с экспериментом получено, в частности, для потенциала Томаса–Ферми–Мольера с длиной экранирования Линдхарда.

Список литературы

  1. Готт Ю.В. Взаимодействие частиц с веществом в плазменных исследованиях. М.: Атомиздат, 1978. 272 с.

  2. Курнаев В.А., Машкова Е.С., Молчанов В.А. Отражение легких ионов от поверхности твердого тела. М.: Энергоатомиздат, 1985. 172 с.

  3. Sigmund P. Particle penetration and radiation effects. Berlin: Springer, 2006. 437 p.

  4. Paul H., Semrad D., Seilinger A. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1991. V. 61. P. 261.

  5. Goebl D., Roth D., Bauer P. // Phys. Rev. A. 2013. V. 87. P. 062903.

  6. Cantero E.D., Lantschner G.H., Eckardt J.C., Arista N.R. // Phys. Rev. A. 2009. V. 80. P. 032904.

  7. Valdés J.E., Martínez Tamayo G., Lantschner G.H., Eckardt J.C., Arista N.R. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. 1993. V. 73. P. 313.

  8. Primetzhofer D., Markin S.N., Efrosinin D.V., Steinbauer E., Andrzejewski R., Bauer P. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2011. V. 269. P. 1292.

  9. Shulga V.I., Schinner A., Sigmund P. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2020. V. 467. P. 91.

  10. Shulga V.I. // Radiat. Eff. 1984. V. 82. P. 169.

  11. Shulga V.I., Eckstein W. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1998. V. 145. P. 492.

  12. Shulga V.I. // Appl. Surf. Sci. 2018. V. 439. P. 457.

  13. Lindhard J., Nielsen V., Scharff M. // Kgl. Dan. Vid. Selsk. Mat. Fys. Medd. 1968. V. 36. P. 1.

  14. Фирсов О.Б. // ЖЭТФ. 1957. Т. 33. С. 696.

  15. O’Connor D.J., Biersack J.P. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1986. V. 15. P. 14.

  16. Робинсон М.Т. // Распыление твердых тел ионной бомбардировкой. Вып. 1. Физическое распыление одноэлементных твердых тел / Ред. Бериш Р. М.: Мир, 1984. С. 99.

  17. Oen O.S., Robinson M.T. // Nucl. Instrum. Methods. 1976. V. 132. P. 647.

  18. Lindhard J., Scharff M. // Phys. Rev. 1961. V. 124. P. 128.

  19. Готт Ю.В., Тельковский В.Г. // ФТТ. 1967. Т. 9. С. 2221.

  20. Nomura A., Kiyono S. // J. Phys. D. 1975. V. 8. P. 1551.

  21. Ziegler J.F. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1998. V. 136–138. P. 141. http://www.srim.org

  22. Arkhipov E.P., Gott Y.V. // ЖЭTФ. 1969. T. 29. C. 615.

  23. Grahmann H., Kalbitzer S. // Nucl. Instrum. Methods. 1976. V. 132. P. 119.

  24. Konac G., Kalbitzer S., Klatt Ch., Niemann D., Stoll R. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1998. V. 136–138. P. 159.

  25. Fama M., Lantschner G.H., Eckardt J.C., Arista N.R., Gayone J.E., Sanchez E., Lovey F. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2002. V. 193. P. 91.

  26. Hobler G., Bourdelle K.K., Akatsu T. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 2006. V. 242. P. 617.

  27. Tran T.T., Jablonka L., Bruckner B., Rund S., Roth D., Sortica M.A., Bauer P., Zhang Z., Primetzhofer D. // Phys. Rev. A. 2019. V. 100. P. 032705.

  28. Mery M., Uribe J.D., Flores M., Arista N.R., Esaulov V.A., Valdés J.A. // Radiat. Eff. Def. Solids. 2021. V. 176. P. 73.

  29. Firsov O.B., Mashkova E.S., Molchanov V.A., Snisar V.A. // Nucl. Instrum. Methods. 1976. V. 132. P. 695.

  30. Тилинин И.С. // Поверхность. Физика, химия, механика. 1983. № 4. С. 35.

  31. Biersack J.P., Steinbauer E., Bauer P. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. B. 1991. V. 61. P. 77.

Дополнительные материалы отсутствуют.