Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2022, № 9, стр. 32-36
Система измерений пространственных характеристик пучков ионизирующих излучений на основе рентгенофлуоресцентного проволочного сканера
Р. М. Нажмудинов a, b, *, А. А. Кубанкина a, И. А. Кищин a, b, А. С. Кубанкин a, b, Е. В. Болотов a
a Белгородский государственный национальный исследовательский университет
308015 Белгород, Россия
b Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
119991 Москва, Россия
* E-mail: Nazhmudinov@bsu.edu.ru
Поступила в редакцию 18.11.2021
После доработки 22.01.2022
Принята к публикации 22.01.2022
- EDN: MMEFQO
- DOI: 10.31857/S1028096022090126
Аннотация
Представлена конструкция проволочного сканера, предназначенного для измерения пространственных характеристик пучков релятивистских и нерелятивистских заряженных частиц, а также пучков рентгеновского и гамма-излучения. Предлагаемый сканер содержит множество проволочек, выполненных из разных материалов, расположенных вдоль оси пучка и способных перемещаться в поперечном оси пучка направлении. В процессе сканирования в проволочках под действием пучка образуется характеристическое рентгеновское излучение, спектры которого регистрируются энергодисперсионным рентгеновским детектором. Определение поперечных профилей исследуемого пучка заключается в измерении зависимости интенсивности излучения от прицельного параметра проволочек. Измеренные профили сопоставляют с конкретными проволочками по значению энергии характеристического рентгеновского излучения. На основе данных, полученных в процессе сканирования, определяют поперечные размеры, форму, траекторию, расходимость и эмиттанс пучка.
ВВЕДЕНИЕ
Одной из основных частей ускорительных комплексов является система диагностики, предназначенная для определения пространственных и временных характеристик пучков частиц. В настоящее время известно множество способов диагностики пучков, основанных на использовании разных физических явлений [1–4]. Например, для определения положения, размеров, формы и поперечных профилей пучков ионизирующих излучений могут применяться люминофорные экраны [5, 6], а также экраны на основе переходного [7, 8] и параметрического рентгеновского [9, 10] излучений, несущих информацию также о расходимости пучков заряженных частиц. Для предотвращения разрушающего воздействия на диагностируемые пучки твердотельные экраны могут быть заменены на газовые завесы (струи) [11–13]. В некоторых ускорительных комплексах высоких энергий неразрушающий мониторинг пространственных параметров пучка осуществляют с помощью синхротронного [14–16] или ондуляторного [17, 18] видов излучения.
В качестве универсального средства диагностики поперечных размеров и формы пучков низких и высоких энергий, отличающегося простой конструкцией и низкой стоимостью, широкое распространение получили проволочные сканеры, которые могут быть выполнены в виде статичных проволочных сеток [19] или включать в конструкцию подвижные проволочки [20–22]. При работе таких сканеров регистрируют интенсивность тормозного излучения или ток вторичной эмиссии, образующихся при взаимодействии частиц пучка с проволочками. Для минимизации деструктивного воздействия на пучки высоких энергий вместо классического проволочного сканера возможно использовать его лазерный аналог [23, 24].
В настоящей работе приводится конструкция проволочного сканера, предназначенного для определения пространственных характеристик (положения, поперечных размеров и профилей, расходимости, эмиттанса) пучков релятивистских и нерелятивистских заряженных частиц, а также пучков фотонов. Для получения поперечных профилей предлагается измерять зависимость интенсивности характеристического рентгеновского излучения (ХРИ) от расстояния между осью пучка и сканирующим элементом, представляющим собой тонкую проволочку. Для регистрации спектров ХРИ используется энергодисперсионный детектор, позволяющий разделить сигналы от разных сканирующих элементов по энергии излучения.
КОНСТРУКЦИЯ
Устройство и внешний вид предлагаемого проволочного сканера, представленного на рис. 1, является результатом продолжения работ [25–27], посвященных системам диагностики пучков частиц. Сканер содержит четыре сканирующих элемента, выполненных в виде проволочек диаметром около 0.1 мм, изогнутых в форме буквы “Г”. Проволочки изготовлены из разных материалов (титана, меди, молибдена и вольфрама) и закреплены в вилкообразные алюминиевые держатели, плоскости которых посредством двух направляющих всегда ориентированы перпендикулярно предполагаемой оси пучка. Для регистрации ХРИ, образующегося в проволочках под воздействием быстрых частиц, используется полупроводниковый энергодисперсионный кремниевый детектор Amptek XR100SDD, позволяющий измерять рентгеновские спектры с эффективностью, близкой к 100% в диапазоне энергии 2–10 кэВ. Поскольку ХРИ распространяется изотропно, детектор может быть установлен под любым углом к оси пучка, обеспечивающим наблюдение всех сканирующих элементов в процессе работы. Одновременное перемещение всех сканирующих элементов в перпендикулярном оси пучка направлении осуществляется при помощи моторизованного транслятора Standa 8MT175 с минимальным шагом около 2.5 мкм. Расстояние между сканирующими элементами, отсчитываемое вдоль оси пучка, зависит от угла между осью пучка и направляющими, который может изменяться посредством предусмотренного в конструкции вспомогательного моторизованного привода.
В процессе сканирования держатели двигаются перпендикулярно пучку, каждая проволочка пересекает пучок дважды (рис. 2). Благодаря форме проволочек, традиционно используемой в подобных устройствах [28, 29], пересечение пучка происходит в двух взаимно перпендикулярных направлениях, что позволяет измерить сразу два поперечных профиля.
ПРИНЦИП РАБОТЫ
Взаимодействие частиц пучка с проволочками сопровождается образованием ХРИ, интенсивность которого пропорциональна плотности потока частиц пучка, а спектр содержит узкие пики, или линии, энергия которых определяется строением атомов проволочки. На рис. 3 представлены спектры ХРИ материалов, используемых для изготовления проволочек. Из рисунка видно, что, измерив энергию пика в спектре, можно однозначно определить, какой проволочке этот пик соответствует.
Для получения информации о поперечных профилях пучка частиц в месте расположения конкретной проволочки необходимо измерить зависимость интенсивности соответствующей линии ХРИ от величины смещения сканера в целом. В общем случае такая зависимость (рис. 4) будет иметь два пика, формы которых соответствуют вертикальному и горизонтальному профилям пучка и содержат информацию о его размерах σx и σy, а положения пиков lx и ly позволяют вычислить координаты пучка: x = lx/21/2 + x0, y = = ly/21/2 + y0 (где x0 и y0 – константы, определяемые при калибровке сканера).
На основе поперечных профилей, измеренных в местах расположения проволочек, можно определить, как зависят поперечные размеры пучка от координаты вдоль оси z: (σi)2 = Ai(z – z0)2 + (σi, min)2, где σi, min – минимальные размеры пучка, Ai и z0 – параметры фитирования, i = x, y (рис. 5). Исходя из результатов фитирования можно оценить соответствующие значения эмиттанса εi = σi, min(Ai)1/2 и расходимости θi = 2 arctg(εi/σi, min).
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Проволочный сканер описанной конструкции использовался на экспериментальной установке НИУ “БелГУ” для определения пространственных характеристик пучков электронов с энергией от 10 до 50 кэВ, током около 1 мкА и размером около 1 мм. Нужно отметить, что с ростом энергии заряженных частиц сечение ионизации атомных оболочек [30] существенно не меняется, что делает возможным применение разработанного сканера в том числе для диагностики пучков ультрарелятивистских частиц как при атмосферном давлении, так и в условиях глубокого вакуума.
Список литературы
Cheymol B. Development of Beam Transverse Profile and Emittance Monitors for the CERN LINAC4. Université Blaise Pascal – Clermont-Ferrand II, 2011, 194 p. NNT: 2011CLF22201. HAL ID: tel-00877031
Jaster-Merz S., Assmann R.W., Burkart F., Dorda U., Dreyling-Eschweiler J., Huth L., Kramer U., Stanitzki M. // J. Phys.: Conf. Ser. 2020. V. 1596. 012047 https://doi.org/10.1088/1742-6596/1596/1/012047
Razuvaev G.P., Bae S., Choi H., Choi S., Ko H.S., Kim B., Kitamura R., Mibe T., Otani M. // J. Instrum. 2017. V. 12. P. C09001. https://doi.org/10.1088/1748-0221/12/09/C09001
Bravin E. arXiv:2005.07400 [physics.acc-ph]. 2020. 37 p.
Walasek-Hohne B., Andre C., Forck P., Gutlich E., Kube G., Lecoq P., Reiter A. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2012. V. 59. № 5. P. 2307. https://doi.org/10.1109/TNS.2012.2200696
Harasimowicz J., Cosentino L., Finocchiaro P., Pappalardo A., Welsch C.P. // R. Sci. Instrum. 2010. V. 81. P. 103302. https://doi.org/10.1063/1.3488123
Ogawa Y., Choi J.-Y., Suwada T., Kamitani T., Urano T., Furukawa K., Ohsawa S., Enomoto A., Sato I. Beam Monitor Utilizing Transition Radiation // Proc. Int. Conf. on Particle Accelerators. Washington, 1993. V. 3. P. 2516. https://doi.org/10.1109/PAC.1993.309374
Bhadra S., Cadabeschi M., de Perio P., Galymov V., Hartz M., Kirby B., Konaka A., Marino A.D., Martin J.F., Morris D., Stawnyczy L. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2012. V. 703. P. 45. https://doi.org/10.1016/j.nima.2012.11.044
Kube G., Behrens C., Gogolev A.S., Popov Yu.P., Potylitsyn A.P., Lauth W., Weisse S. Investigation of the Applicability of Parametric X-ray Radiation for Transverse Beam Profile Diagnostics // Proc. 4th Int. Particle Accelerator Conf. Shanghai, 2013. P. 491.
Takabayashi Y. // Phys. Lett. A. 2012. V. 376. P. 2408. https://doi.org/10.1016/j.physleta.2012.06.001
Tsang T., Bellavia S., Connolly R., Gassner D., Makdisi Y., Russo T., Thieberger P., Trbojevic D., Zelensk A. // Rev. Sci. Instrum. 2008. V. 79. P. 105103. https://doi.org/10.1063/1.2999905
Tzoganis V., Welsch C.P. // Appl. Phys. Lett. 2014. V. 104. P. 204104. https://doi.org/10.1063/1.4879285
Kumar N., Salehilashkajani A., Zhang H.D., Ady M., Forck P., Glutting J., Jones O.R., Kersevan R., Marriott-Doddington T., Mazzoni S., Rossi A., Schneider G., Udrea S., Veness R., Welsch C.P. // Phys. Medica. 2008. V. 73. P. 173. https://doi.org/10.1016/j.ejmp.2020.04.023
Hofmann A. // IEEE Transac. Nucl. Sci. 1981. V. 28. № 3. P. 2131. https://doi.org/10.1109/TNS.1981.4331614
Bossart R., Bosser J., Burnod L., d’Amico E., Ferioli G., Mann J., Meot F., Coïsson R. Proton Beam Profile Monitor Using Synchrotron Light // 11th Int. Conf. on High-Energy Accelerators. Experientia Supplementum. Geneva, 1980. V. 40. P. 470. https://doi.org/10.1007/978-3-0348-5540-2_60
Thurman-Keup R., Cheung H.W.K., Hahn A., Hurh P., Lorman E., Lundberg C., Meyer T., Miller D., Pordes S., Valishev A. // J. Instrum. 2011. V. 6. P. T09003. https://doi.org/10.1088/1748-0221/6/09/T09003
Castellano M. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 1997. V. 391. № 2. P. 375. https://doi.org/10.1016/S0168-9002(97)00323-9
Jeff A., Welsch C.P. Off-Axis Undulator Radiation for CLIC Drive Beam Diagnostics // Proc. 2nd Int. Beam Instrumentation Conf. Oxford, 2013. P. 228.
Vignet J.L., Delannoy A., Guéroult E., Gangant P., Foy J.C., Cuzon S., Houarner C., Blaizot M. The Beam Profile Monitors for SPIRAL 2 // Proc. 9th Eur. Workshop on Beam Diagnostics and Instrumentation for Particle Accelerators. Basel, 2009. P. 176.
Seely D.G., Bruhns H., Savin D.W., Kvale T.J., Galutschek E., Aliabadi H., Havener C.C. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2008. V. 585. P. 69. https://doi.org/10.1016/j.nima.2007.10.041
Gelbart W., Johnson R.R., Abeysekera B. // AIP Conf. Proc. 2012. V. 1509. P. 38. https://doi.org/10.1063/1.4773936
Moore T., Agladze N.I., Bazarov I.V., Bartnik A., Dobbins J., Dunham B., Full S., Li Y., Liu X., Savino J., Smolenski K. // Phys. Rev. Special Topics – Accelerators and Beams. 2014. V. 17. P. 022801. https://doi.org/10.1103/PhysRevSTAB.17.022801
Bosco A., Price M.T., Blair G.A., Boogert S.T., Boorman G., Malton S., Driouichi C., Kamps T., Poirier F., Balewski K., Elsen E., Gharibyan V., Lewin H.-C., Schreiber S., Walker N., Wittenburg K. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2008. V. 592. P. 162. https://doi.org/10.1016/j.nima.2008.04.012
Honda Y., Sasao N., Araki S., Higashi Y., Okugi T., Taniguchi T., Urakawa J., Yamazaki Y., Hirano K., Nomura M., Takano M., Sakai H. // Nucl. Instrum. Methods Phys. Res. A. 2005. V. 538. P. 100. https://doi.org/10.1016/j.nima.2004.08.122
Nazhmudinov R.M., Kubankin A.S., Karataev P.V., Kishin I.A., Vukolov A.V., Potylitsyn A.P., Zhukova P.N., Nasonova V.A. // J. Instrum. 2018. V. 13. P. P12012. https://doi.org/10.1088/1748-0221/13/12/P12012
Патент 182 076 (РФ). Рентгенофлуоресцентный проволочный сканер профилей пучков ионизирующих излучений. / НИУ “БелГУ”. Нажмудинов Р.М., Каратаев П.В., Кубакнин А.С., Каплий А.А. // 2018. Бюл. № 22.
Патент 204 393 (РФ). Устройство для измерения пространственных характеристик пучков ионизирующих излучений. / НИУ “БелГУ”. Нажмудинов Р.М., Каплий А.А., Кубанкин А.С., Кищин И.А., Болотов Е.В. // 2021. Бюл. № 15.
Ross M.C., Seeman J.T., Bong E., Hendrickson L., McCormick D., Sanchez-Chopitea L. Wire Scanners for Beam Size and Emittance Measurements at the SLC // Conf. Record of the 1991 IEEE Particle Accelerator Conf. San Francisco, 1991. V. 2. P. 1201. https://doi.org/10.1109/PAC.1991.164580
Cutle R.I., Mohr D.L., Whittaker J.K., Yoder N.R. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 1983. V. 30. № 4. P. 2213. https://doi.org/10.1109/TNS.1983.4332765
Llovet X., Powell C.J., Salvat F., Jablonski A. // J. Phys. Chem. Ref. Data. 2014. V. 43. P. 013102. https://doi.org/10.1063/1.4832851
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования