Приборы и техника эксперимента, 2023, № 6, стр. 176-180
МАТЕМАТИЧЕСКАЯ ОБРАБОТКА ИМПУЛЬСОВ ДЛЯ УЛУЧШЕНИЯ ВРЕМЕННЫХ ХАРАКТЕРИСТИК СЧЕТЧИКА КОРРЕЛЯЦИЙ
a Тихоокеанский океанологический институт им. В.И. Ильичева ДВО РАН
690041 Владивосток, ул.Балтийская, 43, Россия
* E-mail: mihail@poi.dvo.ru
Поступила в редакцию 22.12.2022
После доработки 02.02.2023
Принята к публикации 03.02.2023
- EDN: SUKBHP
- DOI: 10.31857/S003281622304002X
Аннотация
Систематическая ошибка измерения длительности вспышек счетчиком корреляций, построенным нами ранее на основе цифрового осциллографа и компьютера, уменьшена на 1–2 нс путем математической обработки входных импульсов и коррекции времен их регистрации. Разброс измерения длительности и задержки вспышек не меняется при включении коррекции. Методика протестирована на модельных вспышках, уточнено время вспышек сонолюминесценции. Счетчик может применяться для измерения других быстропротекающих событий, например в ядерной физике.
Длительность быстропротекающих процессов, сопровождающихся излучением квантов, измеряется с помощью аналоговых и цифровых устройств, использующих статистические свойства сигнала, – счетчиков корреляций. Нашей целью было уточнить длительность вспышек сонолюминесценции, измеряемую счетчиком корреляций, созданным нами на основе цифрового осциллографа и компьютера [1, 2]. Явление сонолюминесценции описано, например, в работах [3, 4]. Разрешения 2 нс достаточно для измерения длительности вспышек светодиодов и в некоторых режимах многопузырьковой сонолюминесценции [1], но не хватает для измерения таких режимов сонолюминесценции, где длительность вспышек 60–250 пс [5].
В данной работе вспышки анализировали с помощью фотоумножителей (ФЭУ-100, ФЭУ-79, ФЭУ-130, ФЭУ-84), работающих в режиме счета фотонов. Два ФЭУ подключены к двум входам осциллографа RIGOL DS1104, в цепи одного канала стоит линия задержки. Анодной нагрузкой ФЭУ служит низкоомный подстраиваемый резистор (100 Ом). В большинстве тестов использована пара ФЭУ-100–ФЭУ-79, питающее напряжение 1700 В. Осциллограф оцифровывает амплитуду в масштабе ~0.07 мВ на точку при размахе шкалы 256 точек (1 байт). Шумовые импульсы имеют амплитуду до 10 точек, полезные отграничиваются порогом 15–20 точек, задаваемым в программе. Осциллограф оцифровывает время с шагом 2 нс на точку. В считываемых сигналах выделяли импульсы и получали корреляционные функции [1, 4]. Если импульсы следовали пакетами, то корреляционная функция имела вид пика. Ширину вспышки (пакета) W получали как ширину на полувысоте гауссова заполнения корреляционного пика. Ширина вспышки связана с длительностью соотношением W = $T\sqrt 2 $ [4]. В измеряемую ширину W вносит вклад “собственная ширина” – систематическая ошибка W0 и случайная ошибка W1: ${{W}^{2}}\, = \,W_{{{\text{ист}}}}^{2}\, + \,W_{0}^{2}\, + \,W_{1}^{2},$ где Wист – истинная ширина. Полагаем, что $W_{0}^{2}\, = \,W_{{{\text{0ц}}}}^{2}\, + \,W_{{0i}}^{2}\, + \,W_{{0j}}^{2},$ где W0ц – ширина, вносимая оцифровкой; W0i, W0j – ширины, вносимые каждым из двух ФЭУ. Для улучшения временных характеристик прибора надо найти и уменьшить и W0, и W1. Заметим, что если точно знать W0, то решающую роль будет играть W1.
В работе [1] дискретное время n прихода импульса определялось по пересечению передним фронтом заданного порога g: условия f(n – 1) ≥ g и f(n) < g. Здесь f – сигнал, отрицательные импульсы от ФЭУ, вызванные фотонами на фотокатоде. Математические способы коррекции времени регистрации импульса в счетчиках корреляций хорошо описаны в работе [6]. Это учет максимума импульса, центра масс импульса, сравнение импульса с образцом, несколько вариантов интерполяции переднего фронта и др. [6]. Отмечено, что можно получить разрешение по времени вдвое меньшее, чем шаг оцифровки.
В работе были применены четыре способа коррекции: Ф – сравнение импульса с образцом усредненной формы, А – коррекция момента пересечения порога по амплитуде импульса, Г – сравнение переднего фронта с образцом, Д – поправка по двум точкам фронта сигнала и образца. Во всех случаях для уточнения ti импульса i к целому числу временных интервалов ni прибавлялось дробное число вычисленной коррекции ki:
после чего t умножалось на m и округлялось до целого. Как показали опыты, значения k имеют разный знак и часто |k| > 0.5, поэтому улучшения разрешения по времени следует ожидать даже при m = 1. Практически мы использовали величины растяжки m до 10.Поясним алгоритмы на примере рис. 1. Усредненный образец f0 пересекает порог g при n = 7. Импульс f1 также регистрируется в момент n = 7. Видно, что он сдвинут вправо относительно образца f0, и его амплитуда a1 примерно вдвое больше амплитуды образца a0. Для коррекции Ф мы нормируем импульсы, вычисляем среднеквадратичное отклонение по оси f импульса от образца (в нашем случае по 20 точкам, это примерно полная ширина импульса), сдвигаем его в разные стороны на переменную k с уменьшающимся шагом, используя метод золотого сечения. Через несколько итераций сдвиг становится достаточно мал, и мы получаем величину коррекции k, дающую минимум среднеквадратичного отклонения. Для коррекции А мы используем формулу k = = 0.36w(1 – a0/a1), где w – ширина пика на полувысоте. Эта формула хорошо аппроксимирует зависимость сдвига положения пика от отношения амплитуд модельных импульсов гауссовой формы. Для коррекции Г мы применяем итерационную процедуру, подобную Ф, но только по переднему фронту до максимума импульса. Для коррекции Д по двум точкам 6 и 7 мы применяем формулу k = ( f(6) – g)/( f(6) – f(7)) – ( f0(6) – ‒ g)/( f0(6) – f0(7)), используя соотношение подобия треугольников.
Рис. 1.
Образцовый усредненный импульс f0 и очередной импульс f1 в дискретной шкале времени n и амплитуды f, порог g.

Алгоритмы протестированы в трех сериях измерений: вспышек светодиода, “синхронных импульсов”, сонолюминесценции. Эффективность коррекций оценивали по уменьшению измеряемых ширин вспышек по сравнению с некорректированными и увеличению ширин при намеренном изменении знака коррекции k с плюса на минус в формуле (1).
Вспышки светодиода (зеленый, InGaN типа BL-L333PGC) измерялись от генератора DG4062 в режиме импульсов, длительность 18 нс (фронты 11 нс), амплитуда 11 В. На светодиод подан разнополярный электрический импульс, и порог возникновения свечения достигается на части его ширины, поэтому W ~ 10 нс. На рис. 2 показаны ширины вспышек, измеренные без коррекции (точка на вертикальной оси) и с коррекциями Ф, А, Г, Д, с положительными и отрицательными значениями k. Видно, что коррекции с правильным знаком уменьшают измеряемую ширину вспышки, а с неправильным – увеличивают ее примерно вдвое. Лучше всех работает коррекция Ф, она уменьшает W приблизительно на 1 нс. На рис. 3 показаны ширины вспышек, измеренные с коррекцией Ф с разными значениями m, также с положительными и отрицательными значениями k. Результаты при m = 10 не сильно отличались от результатов при m = 5. Видно, что достаточно использовать m = 2. Очевидно, W0 ≪ 9.3 нс.
Рис. 2.
Ширина вспышки светодиода без коррекции (точка на вертикальной оси) и с разными видами коррекций: Ф, А, Г, Д; m = 3; темные точки – положительный знак коррекции, светлые точки – отрицательный.

Рис. 3.
Ширина вспышки светодиода без коррекции (m = 0) и с коррекцией Ф с разными m; темные точки – положительный знак коррекции, светлые точки – отрицательный.

Положение пика корреляций определяется длиной линии задержки. При включении коррекции оно изменялось в пределах 2 нс. В нашем случае эта величина не существенна, но она имеет большое значение при измерении относительных задержек вспышек.
Случайная ошибка W1 оценена как среднее отклонение W в сериях по 20-ти измерениям вспышек светодиода. При увеличении длительности каждого измерения в 4 раза W1 уменьшалась приблизительно в 2 раза, что соответствует статистической закономерности. При числе корреляций в пике порядка 1300 на измерение (амплитуда корреляционного пика порядка 220) среднее отклонение ширины пика составило W1 ~ 0.2 нс, положения пика – W1 ~ 0.1 нс. При дальнейшем накоплении измерений величина W1 уменьшалась, по нашей оценке, до значений W1 < 0.1 нс. Величина W1 не зависела от включения коррекции.
“Синхронные импульсы” измерялись при подключении ФЭУ к одному каналу осциллографа и, через линию задержки, к другому. Собственная нестабильность ФЭУ в данном эксперименте не учитывалась, оценивалась только нестабильность цепей оцифровки W0ц. На рис. 4 показаны ширины корреляционных пиков, измеренные с разными коррекциями и разным параметром m. При использовании коррекций Ф, Г, Д величины m = 4 достаточно. Без коррекции (точка на вертикальной оси) W0ц = 1.7 нс, с коррекцией Ф W0ц = 0.6 нс.
Рис. 4.
Ширина пика корреляционной функции “синхронных импульсовˮ без коррекции (m = 0), с разными коррекциями и m.

Сонолюминесценция (длины волн 300–500 нм) получена от воды, насыщенной аргоном, при частоте ультразвука 20 кГц и мощности 16 Вт. На рис. 5 показаны измеренные ширины W вспышек сонолюминесценции без коррекции (точка на вертикальной оси) и с коррекциями. Измеренная W, а значит, и собственная ширина, вносимая счетчиком W0, уменьшается при включении коррекции Г или Ф приблизительно на 2 нс до значений W0 < 2.5 нс.
Рис. 5.
Ширина вспышки при сонолюминесценции воды без коррекции (точка на вертикальной оси) и с разными видами коррекций: Ф, А, Г, Д; m = 2; темные точки – положительный знак коррекции, светлые точки – отрицательный.

Собственную ширину W0, вносимую счетчиком, можно непосредственно измерить на вспышках заведомо меньшей, чем W0, ширины, например, от однопузырьковой сонолюминесценции или пикосекундного лазера. Однако проблема поиска таких источников света вынуждает применять иные способы калибровки нашего счетчика корреляций. Имея несколько пар ФЭУ, можно измерить ширину Wij одного и того же процесса, где i, j – номера ФЭУ. Задача сводится к решению системы неоднородных линейных уравнений $W_{{ij}}^{2} = W_{{{\text{ист}}}}^{2} + W_{{0{\text{ц}}}}^{2} + W_{{0i}}^{2} + W_{{0j}}^{2},$ если пренебречь W1. При числе ФЭУ больше трех число уравнений оказывается больше числа неизвестных. Такая система не решается однозначно. Полагая $W_{{{\text{ист}}}}^{2} + W_{{0{\text{ц}}}}^{2} = {\text{ }}0$ и решив систему уравнений, оценим верхнюю границу W0i для каждого ФЭУ (табл. 1). Лучшими оказались ФЭУ-79, менее пригодны ФЭУ-100, ФЭУ-130 и ФЭУ-84. Задаваясь величиной Wист = 0.25 нс, полученной для схожих условий сонолюминесценции [7], и W0ц, найденной выше, можно уточнить W0i. По нашей оценке, ширина вспышки сонолюминесценции воды менее 1 нс.
Таблица 1.
Верхняя оценка собственной ширины, вносимой ФЭУ, по измерениям сонолюминесценции воды (использовано по два экземпляра ФЭУ-100 и ФЭУ-79)
| i | Тип ФЭУ | W0i, нс |
|---|---|---|
| 1 | ФЭУ-100 | <2.5 |
| 2 | ФЭУ-100 | <2.7 |
| 3 | ФЭУ-79 | <1.1 |
| 4 | ФЭУ-79 | <1.6 |
| 5 | ФЭУ-130 | <3.6 |
| 6 | ФЭУ-84 | <4.1 |
Как отмечено в работе [4], медленный канал связи осциллографа с компьютером приводит к временнóй эффективности счетчика 0.1%. Проблема частично решена в осциллографах, имеющих встроенный жесткий диск. Для того чтобы не пересылать неинформативные массивы сигналов, целесообразно дать рекомендации разработчикам цифровых осциллографов. Как из имеющихся функций осциллографа получить корреляционный анализ? Какие функции добавить в осциллограф? Обратить внимание на условия триггерирования. В осциллографе RIGOL DS1104 есть опциональный триггер по величине задержки импульса в разных каналах, это может позволить получать корреляции по частоте триггерных событий от величины задержки. Наиболее важна возможность вычислять времена между импульсами и накапливать их в памяти осциллографа.
Предложена методика математической обработки импульсов и коррекции времен их регистрации. При этом систематическая погрешность, вносимая счетчиком корреляций, уменьшается на 1–2 нс. Применен оригинальный способ сравнения позитивного и негативного действия коррекции. Коррекция, включающая обработку нескольких точек сигнала (по форме импульса, по фронту импульса), более эффективна, чем коррекция, берущая в расчет только 1–2 точки (амплитуду импульса или анализ момента пересечения порога).
Список литературы
Казачек М.В., Гордейчук Т.В. // ПТЭ. 2019. № 1. С. 28. https://doi.org/10.1134/S0032816219010117
Казачек М.В. Свидетельство о государственной регистрации программы для ЭВМ № 2018619059 // Опубл. 27.07. 2018.
Walton A.J., Reynolds G.T. // Advances in Physics. 1984. V. 33. № 6. P. 595. https://doi.org/10.1080/00018738400101711
Гордейчук Т.В., Казачек М.В. // Оптика и спектроскопия. 2020. Т. 128. № 10. С. 1492. https://doi.org/10.21883/OS.2020.10.50020.169-20
Gompf B., Gunter R., Nick G., Pecha R., Eisenmenger W. // Physical Review Letters. 1997. V. 79. № 7. P. 1405.
Aavikko R. Thesis …Doctor from the Helsinki University of Technology. Speciality: Science in Technology. Helsinki, Finland. 2006. P. 17.
Ko I., Kwak H.-Y. // Journal of Physical Society of Japan. 2010. V. 79. № 12. P. 124401. https://doi.org/10.1143/JPSJ.79.124401
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Приборы и техника эксперимента


