Радиотехника и электроника, 2022, T. 67, № 4, стр. 411-416
Влияние поляризации в образце на токи, возникающие во внешней цепи при изменении параметров образца
С. Г. Дмитриев *
Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН
141190 Фрязино, Московской обл., пл. Введенского, 1, Российская Федерация
* E-mail: sgd@ms.ire.rssi.ru
Поступила в редакцию 09.10.2021
После доработки 09.10.2021
Принята к публикации 27.10.2021
- EDN: POHRNH
- DOI: 10.31857/S0033849422040039
Аннотация
В развитие идей теоремы Шокли–Рамо проанализирована природа токов во внешней цепи, связанных с поляризацией в образце. В частности, выведена формула, описывающая влияние поляризации на токи аномальной природы, которые не сводятся к токам, индуцированным конвективными токами в образце, или токам емкостной природы.
ВВЕДЕНИЕ
Теорема Шокли–Рамо (ТШР) [1, 2] описывает токи, возникающие во внешней цепи при движении между металлическими электродами в вакууме одиночного точечного заряда q (токи, втекающие из внешней цепи в металлические электроды). Теорема предназначалась для изучения дробового эффекта в электровакуумных сверхвысокочастотных (СВЧ) приборах. При ее выводе были использованы теоремы математического анализа для потенциальных полей (теорема Грина, в частности), когда электрическое поле равно $\vec {E} = - \vec {\nabla }\varphi $ (φ – потенциал), а изменения полей со временем t предполагались квазистационарными (достаточно медленными). Влияние подводящих ток проводов не рассматривалось.
В реальных условиях, однако, в СВЧ-приборах присутствуют и другие заряды – как неподвижные, так и двигающиеся. Требуемые на этот случай обобщения не заставили себя долго ждать (см., например, [3–6]).
Далее, в работах [7–13] ТШР была распространена на диэлектрики, включая и случай неоднородного анизотропного диэлектрика [10–12] с поляризацией [10–13], когда
где ${{\varepsilon }_{{ij}}}(t,\vec {r})$ – тензор диэлектрической проницаемости (по одинаковым тензорным индексам (обычно латинским) здесь и далее предполагается суммирование), ${{P}_{i}}(t,\vec {r})$ – плотность дипольного моменте, ${{D}_{i}}(t,\vec {r})$ – электрическая индукция.В этих случаях ТШР полезна при изучении датчиков жесткого излучения [7–9, 14], интегральных схем и приборов со структурами металл–диэлектрик–полупроводник (МДП) [10‒13] и других современных приборов.
1. ТЕОРЕМА ШОКЛИ–РАМО
При выводе ТШР удобно использовать функционал
где интегрирование проводится по всему пространству без N металлических электродов, ${{\vec {j}}_{{\text{п}}}}(t,\vec {r})$ – плотность полного тока в исследуемом образце, равная(3)
${{\vec {j}}_{{\text{п}}}} = \vec {j} + {{\partial{ \vec {D}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{\partial{ \vec {D}}} {\partial t}}} \right. \kern-0em} {\partial t}},$(5)
$\sum\limits_{k = 1}^N {\Phi _{k}^{{(1)}}{{I}_{k}}} = \iiint {({{{\vec {E}}}^{{(1)}}}{{{\vec {j}}}_{{\text{п}}}})dV},$Отметим, что вспомогательный потенциал, нужный здесь для получения выражения с токами в левой части (5), не обязательно должен быть тесно связан с основной задачей. Все, что требуется пока от этой функции, – быть постоянной на поверхностях электродов, хотя выбор той же среды (но без зарядов и поляризации), конечно, удобен. Кроме того, используемый подход и формула (5) справедливы и для непотенциальных полей в основной задаче (см., например, вывод в [11, 12]). Роль подводящих ток проводов обсуждалась в [12, 15].
Формулу для тока Iα на отдельный (α-й) электрод можно получить, как в [1, 2], выбрав в (5) следующие значение вспомогательных потенциалов на электродах:
(6)
$\Phi _{k}^{{(1)}} = 0\,\,\,\,{\text{при}}\,\,\,\,k \ne \alpha ,\,\,\,\Phi _{\alpha }^{{(1)}} = {{\Phi }_{0}} = 1\,\,{\text{В}}{\text{.}}$В результате получаем
(7)
${{\Phi }_{0}}{{I}_{\alpha }} = \iiint {({{{\vec {E}}}^{{(1\alpha )}}}{{{\vec {j}}}_{{\text{п}}}})\,dV},$(9)
${{\vec {E}}^{{(\alpha )}}} = {{{{{\vec {E}}}^{{(1\alpha )}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{\vec {E}}}^{{(1\alpha )}}}} {{{\Phi }_{0}}}}} \right. \kern-0em} {{{\Phi }_{0}}}}.$В работах [1, 2] рассматривался только вклад ${{I}_{0}}$ в ток из (8), связанный с движением одиночного заряда q, двигающегося со скоростью ${{\vec {v}}_{0}}$ в точке ${{\vec {r}}_{0}}$ и создающего конвективный ток с плотностью
При этом формула (для втекающего в α-й электрод тока) имеет вид(10б)
${{I}_{\alpha }} = \iiint {({{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}{{{\vec {j}}}_{0}})}\,dV = q({{\vec {E}}^{{(\alpha )}}}{{\vec {v}}_{0}}).$В случае двух плоскопараллельных электродов результат особенно прост. Нормированное поле для выбранного электрода (будем обозначать его индексом 0) имеет вид
(10в)
${{\vec {E}}^{{(0)}}} = {{{{{\vec {n}}}_{0}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{\vec {n}}}_{0}}} d}} \right. \kern-0em} d},$(10г)
${{I}_{0}} = {{q({{{\vec {v}}}_{0}}{{{\vec {n}}}_{0}})} \mathord{\left/ {\vphantom {{q({{{\vec {v}}}_{0}}{{{\vec {n}}}_{0}})} d}} \right. \kern-0em} d}.$Как видно из (10г), при приближении заряда к электроду $({{\vec {v}}_{0}}{{\vec {n}}_{0}}) < 0$ и $q{{I}_{0}} < 0$, т.е. ток привносит в электрод заряд другого знака, экранирующий поле заряда q. При удалении же от электрода знаки заряда и тока совпадают.
В реальной ситуации вклад в ток во внешней цепи дают одновременно все двигающиеся в рассматриваемом пространстве (в образце или в вакууме) заряды. Поэтому естественным расширением ТШР будет формула
(11)
${{I}_{\alpha }} = {{I}_{{\alpha 1}}} + \iiint {\left( {{{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}\frac{{\partial {{{\vec {D}}}_{0}}}}{{\partial t}}} \right)}{\kern 1pt} dV,$(12)
${{I}_{{\alpha 1}}} = \iiint {{{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}\left( {\vec {j} + \frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right)}{\kern 1pt} dV,$Однако в полный ток, который описывается формулой (11), дает вклад еще одно слагаемое. Возникает вопрос, какие токи оно описывает, какова их природа и как на практике отделить их от индуцированных токов из (12). Обычно предполагается, что (в квазистационарных режимах) кроме индуцированных токов есть еще только токи емкостной природы (эффекты же индукции приводят к электродвижущим силам (ЭДС) и влияют на токи лишь опосредованно). Такой подход практикуется, например, при изучении полупроводников и полупроводниковых приборов (см., например, [16–18]).
2. ТОКИ ЕМКОСТНОЙ ПРИРОДЫ
Для сравнения формул для токов емкостной природы со вторым слагаемым в (11) и выделения емкостных токов в явном виде удобно использовать другой функционал (см., работы [11, 12, 19]):
(14)
${{J}_{2}} = - \iiint {{\text{div[}}{{\varphi }^{{(1)}}}{{{\vec {j}}}_{{\text{п}}}} - \frac{\partial }{{\partial t}}({{{\vec {D}}}^{{(1)}}}\varphi )]}{\kern 1pt} dV,$(16)
$\vec {D} = \vec {P} + {{\vec {D}}_{0}},\,\,\,\,D_{i}^{{(1)}} = {{\varepsilon }_{{ij}}}E_{j}^{{(1)}}.$(17a)
$\begin{gathered} \sum\limits_{\beta = 1}^N {\Phi _{\beta }^{{(1)}}{{I}_{\beta }}} = \sum\limits_{\beta = 1}^N {\frac{\partial }{{\partial t}}} (Q_{\beta }^{{(1)}}{{\Phi }_{\beta }}) + \iiint {\left\{ {{{{\vec {E}}}^{{(1)}}}\left( {\vec {j} + \frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right)} \right. - } \\ - \,\,\left. {\left( {\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{(1)}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}} \right) + \frac{\partial }{{\partial t}}({{{\vec {E}}}^{{(1)}}}{{{\vec {D}}}_{0}} - {{{\vec {D}}}^{{(1)}}}\vec {E})} \right\}dV \\ \end{gathered} $(17б)
$\begin{gathered} \sum\limits_{\beta = 1}^N {\Phi _{\beta }^{{(1)}}{{I}_{\beta }}} = \sum\limits_{\beta = 1}^N {\frac{\partial }{{\partial t}}} {\kern 1pt} (Q_{\beta }^{{(1)}}{{\Phi }_{\beta }}) + \iiint {\left\{ {{{{\vec {E}}}^{{(1)}}}\left( {\vec {j} + \frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right)} \right. - } \\ - \,\,\left. {\left( {\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{(1)}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}} \right) + \frac{\partial }{{\partial t}}[E_{i}^{{(1)}}({{\varepsilon }_{{ij}}} - {{\varepsilon }_{{ji}}}){{E}_{j}}]} \right\}dV, \\ \end{gathered} $(18)
$\begin{gathered} {{\Phi }_{0}}{{I}_{\alpha }} = \sum\limits_{\beta = 1}^N {\frac{\partial }{{\partial t}}} {\kern 1pt} (Q_{\beta }^{{(1\alpha )}}{{\Phi }_{\beta }}) + \iiint {\left\{ {{{{\vec {E}}}^{{(1\alpha )}}}\left( {\vec {j} + \frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right)} \right. - } \\ \left. { - \,\,\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{(1\alpha )}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}} + \frac{\partial }{{\partial t}}[E_{i}^{{(1\alpha )}}({{\varepsilon }_{{ij}}} - {{\varepsilon }_{{ji}}}){{E}_{j}}]} \right\}dV, \\ \end{gathered} $(19)
$\begin{gathered} {{I}_{\alpha }} = \sum\limits_{\beta = 1}^N {\frac{\partial }{{\partial t}}} (C_{\beta }^{\alpha }{{\Phi }_{\beta }}) + \iiint {\left\{ {{{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}\left( {\vec {j} + \frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right)} \right. - } \\ \left. { - \,\,\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}} + \frac{\partial }{{\partial t}}[E_{i}^{{(\alpha )}}({{\varepsilon }_{{ij}}} - {{\varepsilon }_{{ji}}}){{E}_{j}}]} \right\}dV. \\ \end{gathered} $(20)
$C_{\beta }^{\alpha } = {{Q_{\beta }^{{(1\alpha )}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{Q_{\beta }^{{(1\alpha )}}} {{{\Phi }_{0}}}}} \right. \kern-0em} {{{\Phi }_{0}}}},$Итак, полный ток содержит следующие компоненты различной природы:
(21)
${{I}_{\alpha }} = {{I}_{{\alpha 1}}} + {{I}_{{\alpha 2}}} + {{I}_{{\alpha 3}}} + {{I}_{{\alpha 4}}},$(22)
${{I}_{{\alpha 2}}} = \sum\limits_{\beta = 1}^N {\frac{\partial }{{\partial t}}} (C_{\beta }^{\alpha }{{\Phi }_{\beta }})$Отметим, что определение на эксперименте индуцированных токов в пленках диэлектриков МДП-структур путем “вычитания” емкостных токов из полных измеряемых токов при синхронных измерениях емкостных и полных токов (см. историю вопроса в монографии [18] и в работе [10]) было необходимо для развития высокочувствительной диагностики подвижного заряда (в особенности подвижных при комнатной температуре ионов) в пленках подзатворных окислов SiO2 (см. [10, 18] и ссылки там) и стало важным, чуть ли не определяющим, этапом в создании современных интегральных схем [18] и компьютеров на их основе. Кроме того, в рамках аналогичных методик возможно определение токов через границы раздела диэлектрик–полупроводник в МДП-структурах и других полезных параметров [10, 13, 21].
3. АНОМАЛЬНЫЕ ТОКИ
Третье слагаемое в (21)
(23)
${{I}_{{\alpha 3}}} = - \iiint {\left( {\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}} \right)dV}$Рассмотрим с этой целью функционал
(24)
${{J}_{3}} = \iiint {{\text{div}}\left( {\frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}} \right)dV}$(25)
${{J}_{3}} = - \sum\limits_{\beta = 1}^N {\frac{{\partial \Phi _{\beta }^{{{\text{(1)}}}}}}{{\partial t}}} \mathop{{\int\!\!\!\!\!\int}\mkern-21mu \bigcirc}\limits_{{{S}_{\beta }}} {({{{\vec {D}}}_{0}}\vec {n})} {\kern 1pt} dS,$(26)
${\text{div}}\left( {\frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}} \right) = - \frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{{\vec {D}}_{0}} + \frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{\text{div}}{{\vec {D}}_{0}},$(27)
${\text{div}}{{\vec {D}}_{0}} = {\text{div}}\vec {D} - {\text{div}}\vec {P},\,\,\,\,{\text{div}}\vec {D} = \rho ,$(29)
${\text{div}}\left( {\frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}} \right) = - \frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{{\vec {D}}_{0}} + \frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(1)}}}}}}}{{\partial t}}{{\rho }_{{\text{п}}}}.$(30)
$\iiint {\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{{\text{(1}}\alpha {\text{)}}}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}dV} = \iiint {\frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(1}}\alpha {\text{)}}}}}}}{{\partial t}}}{{\rho }_{{\text{п}}}}dV$(31)
$ - \iiint {\frac{{\partial {{{\vec {E}}}^{{{\text{(}}\alpha {\text{)}}}}}}}{{\partial t}}{{{\vec {D}}}_{0}}dV} = - \iiint {\frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(}}\alpha {\text{)}}}}}}}{{\partial t}}}{{\rho }_{{\text{п}}}}dV,$(32)
${{\varphi }^{{{\text{(}}\alpha {\text{)}}}}} = {{{{\varphi }^{{{\text{(1}}\alpha {\text{)}}}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{\varphi }^{{{\text{(1}}\alpha {\text{)}}}}}} {{{\Phi }_{0}}}}} \right. \kern-0em} {{{\Phi }_{0}}}}$(33)
${{I}_{{\alpha 3}}} = - \iiint {\frac{{\partial {{\varphi }^{{{\text{(}}\alpha {\text{)}}}}}}}{{\partial t}}}{{\rho }_{{\text{п}}}}dV.$Эта формула служит обобщением соответствующего выражения из [19].
Отметим, что закон сохранения связанного заряда имеет вид
(34)
$\frac{{\partial ( - {\text{div}}\vec {P})}}{{\partial t}} + {\text{div}}\left( {\frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right) = 0,$(35)
$\frac{{\partial (\rho - {\text{div}}\vec {P})}}{{\partial t}} + {\text{div}}\left( {\vec {j} + \frac{{\partial{ \vec {P}}}}{{\partial t}}} \right) = 0,$(37)
$\frac{{\partial {{\rho }_{{\text{п}}}}}}{{\partial t}} + {\text{div}}{{\vec {J}}_{{\text{п}}}} = 0.$Теперь формулу (12) для традиционного вклада из ТШР можно записать в следующем виде:
(38)
${{I}_{{\alpha 1}}} = \iiint {({{{\vec {E}}}^{{(\alpha )}}}{{{\vec {J}}}_{{\text{п}}}})}{\kern 1pt} dV.$При этом аномальные токи из (33), хотя и связаны с наличием в образце локальных полных зарядов, но отличны от нуля только тогда, когда одновременно происходят изменения вспомогательного нормированного потенциала, а для этого, в свою очередь, требуется, чтобы диэлектрическая проницаемость образца менялась соответствующим образом. Приведенный в работе [15] пример показывает, что такая ситуация вполне возможна; причем ненулевые аномальные токи могут присутствовать даже тогда, когда остальные вклады в ток во внешней цепи равны нулю. Это показывает, что аномальный вклад в ток во внешней цепи независим от остальных вкладов.
Обсуждаемые вопросы интересны, например, в связи с диагностикой дипольных дефектов в тонких пленках диэлектриков МДП-структур и интегральных схем [13]. Но особого внимания заслуживают, конечно, вещества со спонтанной поляризацией, величина которой может принимать довольно высокие значения, >4 × 10–6 Кл/см2 [22], такими что поля связанного заряда, неизбежно возникающего на границах сегнетоэлектриков из-за обрыва поляризации, могли бы быть достаточно велики, ~5 × 107 В/см и больше. Однако на практике эти поля экранируются зарядами адсорбированных ионов, а в полупроводниках – зарядами электронов и дырок. В последнем случае возникает интересная ситуация, когда вблизи границ образуются узкие переходные заряженные слои с размерами, зависящими от соотношения между величинами поляризации и пьезоэлектрических напряжений. Поляризация в этих слоях непрерывно изменяется до своих граничных значений, которые могут значительно уступать объемным. При этом экранирование полей поляризации электронами (дырками) приводит в итоге к уменьшению общих полей в поверхностном слое (см., например, модельное рассмотрение сегнетоэлектрика–полупроводника в [23]). Тем не менее общий связанный заряд в слое и экранирующий его свободный заряд электронов или дырок остаются по-прежнему большими. Конечно, свободный заряд локализован, хотя бы частично, на дефектных уровнях и поверхностных состояниях, т.е. не обязательно подвижен. Но и подвижная его часть может быть достаточно велика, чтобы использовать ее в приборных применениях, включая транзисторы (см., например, обзор [24] по приборам на основе GaN и теоретические данные по спонтанной и пьезоэлектрической поляризациям и зарядам в нитридах на их границах [25]). Отметим наконец, что при внешних воздействиях на структуры с поляризацией (поля, подсветка, температура и т.п.) будет изменяться величина и пространственное распределение не только свободных, но и связанных зарядов.
Далее, четвертый вклад в ток (четвертые слагаемые в формулах (19) и (21))
(39)
${{I}_{{\alpha 4}}} = \iiint {\frac{\partial }{{\partial t}}}[E_{i}^{{(\alpha )}}({{\varepsilon }_{{ij}}} - {{\varepsilon }_{{ji}}}){{E}_{j}}]\,dV$ЗАКЛЮЧЕНИЕ
Итак, ток из внешней цепи на отдельный металлический электрод, возникающий при изменении связанных с образцом факторов, можно, в развитие ТШР, представить в виде четырех компонент различной природы (см. формулы (21) и (22), (33), (38) и (39)). При этом свободные заряды и поляризация влияют на токи во внешней цепи одинаковым образом: в составе полного (свободного плюс связанного) заряда (см. (28)) в формуле (33) для аномальных токов и в составе связанного с полным зарядом тока (см. (36)) в формуле (38) для индуцированных токов.
Аномальные токи индуцируются, как мы видели (см. (33)), локальными полными зарядами, но отличны они от нуля только тогда, когда внутри образца одновременно с зарядами и в том же месте изменяется вспомогательный нормированный потенциал. Может возникнуть сомнение: а возможно ли это, ведь во вспомогательной задаче токи и заряды отсутствуют, а потенциалы электродов постоянны. И все же внутри образца при изменениях его диэлектрической проницаемости (и постоянных потенциалах электродов) изменения внутренних потенциалов могут происходить. В работе [15] приведен пример с конденсатором, в котором происходят неоднородные изменения диэлектрической проницаемости, такие что все компоненты тока, кроме аномальной, равны нулю. Этот пример показывает, что аномальные токи теоретически возможны и независимы от других компонент полного тока. Вообще в природе изменения диэлектрической проницаемости наблюдаются не так уж и редко: например, в различных процессах, связанных фазовыми переходами или химическими реакциями, при релаксации структуры стекол и в других случаях. Однако встреча с подобными ситуациями в приборных применениях маловероятна (разве что при наличии в приборе макроскопических дефектов соответствующей природы), да и вряд ли желательна.
Работа выполнена в рамках государственного задания.
Список литературы
Shockley W. // J. Appl. Phys. 1938. V. 9. № 10. P. 635.
Ramo S. // Proc. IRE. 1939. V. 27. № 9. P. 584.
Jen C.K. // Proc. IRE. 1941. V. 29. № 6. P. 345.
Gabor D. // J. Inst. Electr. Engrs. 1944. V. 91. Pt 3. № 15. P. 128.
Гвоздовер С., Лопухин В. // Изв. АН СССР. Сер. физ. 1946. Т. 10. № 1. С. 29.
Beck A.H.W. Thermionic Valves: Their Theory and Design. Cambridge: Cambridge Univ. Press, 1953.
Cavalleri G., Fabri G., Gatti E., Svelto V. // Nucl. Instr. Meth. 1963. V. 21. P. 177.
Cavalleri G., Gatti E. // Nucl. Instr. Meth. 1971. V. 92. P. 137.
He Z. // Nucl. Instr. Meth. 2001. V. A463. № 1–2. P. 250.
Дмитpиeв C.Г. // PЭ. 2012. T. 57. № 11. C. 1229.
Дмитpиeв C.Г. // PЭ. 2018. T. 63. № 10. C. 1115.
Дмитpиeв C.Г. // PЭ. 2019. T. 64. № 9. C. 926.
Дмитриев С.Г. // ФТП. 2009. Т. 43. № 6. С. 854.
Tavernier S. Experimental Techniques in Nuclear and Particle Physics. L.: Springer, 2010.
Дмитpиeв C.Г. // PЭ. 2020. T. 65. № 7. C. 725.
Бонч-Бруевич В.Л., Калашников С.Г. Физика полупроводников. М.: Наука, 1990.
Зи С. Физика полупроводниковых приборов. М.: Мир, 1984.
Nicollian E.R., Brews J.R. MOS (Metal-Oxide-Semiconductor) Physics and Technology. N.Y.: J. Wiley & Sons, 1982.
Дмитpиeв C.Г. // PЭ. 2022. T. 67. № 2. C. 181.
Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Электродинамика сплошных сред. М.: Физматлит, 2005.
Дмитриев С.Г. // ФТП. 2011. Т. 45. № 2. С. 192.
Таблицы физических величин. Справочник / Под ред. И.K. Кикоина. М.: Атомиздат, 1976.
Дмитриев С.Г. // ЖЭТФ. 1980. Т. 78. № 1. С. 412.
Wang J., Mulligan P., Brillson L., Cao L.R. // Appl. Phys. Rev. 2015. V. 2. № 3. P. 031102.
Супрядкина И.А., Абгарян К.К., Бажанов Д.И., Мутигуллин И.В. // ФТП. 2013. Т. 47. № 12. С. 1647.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Радиотехника и электроника