Радиотехника и электроника, 2022, T. 67, № 9, стр. 855-858
Численная оценка погрешности метода возмущения при решении задачи об отражении электромагнитной волны от нелинейного графенового слоя
А. М. Лерер *
Южный федеральный университет
344090 Ростов-на-Дону, ул. Зорге, 5, Российская Федерация
* E-mail: lerer@sfedu.ru
Поступила в редакцию 04.03.2022
После доработки 04.03.2022
Принята к публикации 25.04.2022
- EDN: MNDMIX
- DOI: 10.31857/S0033849422090091
Аннотация
Решение поставленной задачи сведено к решению системы нелинейных алгебраических уравнений третей степени. Система решена численно и методом возмущение. Дана оценка области применимости метода возмущения.
Графен обладает исключительно сильной нелинейностью третьего порядка в сравнении с широко используемыми диэлектриками и металлами, а также сильным плазмонным откликом и гораздо меньшими потерями в ИК- и ТГц-диапазонах. Как линейная, так и нелинейная проводимости графена хорошо управляются с помощью электрического поля или химического легирования [1–5], что обеспечивает управление параметрами ПС без изменения размеров и структуры.
При электродинамическом моделировании структур, содержащих графеновые слои, можно использовать приближенные граничные условия. Первое граничное условие – непрерывность тангенциальных компонент напряженности электрического поля ${{\vec {E}}_{\tau }}$
второе –(2)
$\vec {j} = \left[ {\vec {n},{{{\vec {H}}}^{ + }} - {{{\vec {H}}}^{ - }}} \right] = \sigma \vec {E},$Линейная часть $\sigma $ – σ(1) определяется формулой Кубо–Хансена [6]. Поскольку графен имеет центрально-симметричную структуру, то в нелинейной части проводимости максимальный уровень будет иметь составляющая третьего порядка:
Существует несколько формул для определения нелинейной проводимости (см. обзор [7]). При энергии кванта ћω $ \ll $ 2µс можно использовать формулу [8, 9]
Существуют и другие выражения коэффициента $K$: 3/8π [10], 1/8π [8, 11]. Во всех формулах зависимости от частоты и химического потенциала одинаковые, то выбор коэффициента $K$ не принципиален, поскольку влияет лишь на амплитуду падающей волны, необходимой для достижения данного уровня нелинейности. В связи с этим на рис. 1 приведены значения коэффициента нелинейности $\delta = {{{{\sigma }^{{\left( 3 \right)}}}{{{\left| E \right|}}^{2}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{\sigma }^{{\left( 3 \right)}}}{{{\left| E \right|}}^{2}}} {{{\sigma }^{{\left( 1 \right)}}}}}} \right. \kern-0em} {{{\sigma }^{{\left( 1 \right)}}}}}$, где $E$ напряженность поля на графеновом слое.
Самым простым способом решения нелинейной задачи является метод возмущения, т.е. использование в нелинейной проводимости напряженности электрического поля ${{\left| {\vec {E}} \right|}^{2}}$, полученной при решении линейной задачи, например, в [12–14]. Оценить теоретически погрешность метода возмущения непростая задача.
Цель данной работы – решение строгим методом и методом возмущения простой задачи об отражении плоской электромагнитной волны от нелинейного графенового слоя и получение оценки метода возмущений из сравнения решений.
Полагаем, что на 1d-структуру – полупространство с показателем преломления ${{n}_{1}}$, графеновый слой, полупространство с показателем преломления ${{n}_{2}}$, – падает из верхнего полупространства E-поляризованная волна под углом θ (ее амплитуда ${{E}_{0}}$, частота ${{f}_{1}}$). Графеновый слой лежит в плоскости $y = 0$. В спектре отраженных и прошедших волн будем учитывать только волны на основной частоте ${{f}_{1}}$ и на утроенной ${{f}_{3}} = 3{{f}_{1}}$.
Напряженность электрического поля можно представить в виде
где(3)
$\begin{gathered} {{k}_{x}} = {{k}_{1}}\sin \theta ,\,\,\,\,\,{{k}_{m}} = \frac{{{{\omega }_{m}}}}{c}{{n}_{1}} = \frac{{2\pi {{f}_{m}}}}{c}{{n}_{1}}, \\ {{E}^{ + }}\left( y \right) = {{E}_{0}} \times \\ \times \,\,\left[ {\cos \left( {{{\omega }_{1}}t + {{\alpha }_{1}}y} \right) + \sum\limits_{m = 1,3} {{{A}_{m}}\cos \left( {{{\omega }_{m}}t - {{\alpha }_{m}}y} \right)} } \right], \\ \end{gathered} $(4)
$\begin{gathered} {{E}^{ - }}\left( y \right) = {{E}_{0}}\sum\limits_{m = 1,3} {{{B}_{m}}\cos \left( {{{\omega }_{m}}t + {{\beta }_{m}}y} \right)} , \\ {{\alpha }_{m}} = \sqrt {{{{\left( {{{k}_{m}}{{n}_{1}}} \right)}}^{2}} - k_{x}^{2}} ,\,\,\,\,{{\beta }_{m}} = \sqrt {{{{\left( {{{k}_{m}}{{n}_{2}}} \right)}}^{2}} - k_{x}^{2}} . \\ \end{gathered} $(6)
$\left[ {\frac{{{{\alpha }_{1}}}}{{{{\omega }_{1}}}}\left( {2 - {{B}_{1}}} \right) - \left( {\frac{{{{\beta }_{1}}}}{{{{\omega }_{1}}}} + {{\zeta }_{1}}} \right){{B}_{1}}} \right] = {{\zeta }_{3}}E_{0}^{2}{{F}_{1}},$(7)
$\left[ { - \frac{{{{\alpha }_{3}}}}{{{{\omega }_{3}}}}{{B}_{3}} - \left( {\frac{{{{\beta }_{3}}}}{{{{\omega }_{3}}}} + {{\sigma }_{1}}{{\mu }_{0}}} \right){{B}_{3}}} \right] = {{\sigma }_{3}}E_{0}^{2}{{F}_{3}},$$\zeta = \sigma _{m}^{{\left( 3 \right)}}{{\mu }_{0}}$ (${{\mu }_{0}}$ – магнитная постоянная),
При выводе (6), (7) учтены формулы (5).
Система (6), (7) – система из двух алгебраических уравнений третьего порядка. Рассмотрим два подхода к решению этой системы.
Метод возмущения (МВ). Решаем (6) в линейном приближении
(8)
${{B}_{1}} \approx {{B}_{{1,l}}} = {{2n{{{\kern 1pt} }_{1}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{2n{{{\kern 1pt} }_{1}}} N}} \right. \kern-0em} N},$Подставляем (8) в (6), (7) и находим для нелинейного случая
(9)
${{B}_{1}} = \frac{{2n{{{\kern 1pt} }_{1}}}}{{N + \frac{3}{4}\zeta {{{\left( {{{E}_{0}}{{B}_{{1,l}}}} \right)}}^{2}}}},\,\,\,\,{{B}_{3}} = - \frac{1}{{4N}}\zeta {{\left( {{{E}_{0}}{{B}_{{1,l}}}} \right)}^{2}}{{B}_{{1,l}}},$Решение алгебраических уравнений третьего порядка методом Ньютона (МН). Полагаем в (6) ${{B}_{3}} = 0$ и решаем уравнение (6) относительно переменной ${{B}_{1}}$
Обозначаем полученное решение $B_{1}^{{\left( 1 \right)}}$.
Находим коэффициент прохождения третьей гармоники. Для этого решаем нелинейное уравнение (7) относительно переменной ${{B}_{3}}$
(10)
$ - N{{B}_{3}} = \zeta E_{0}^{2}\left[ {{{{\left( {B_{1}^{{\left( 1 \right)}}} \right)}}^{3}}\frac{1}{4} + 3{{{\left( {B_{1}^{{\left( 1 \right)}}} \right)}}^{2}}{{B}_{3}}\frac{1}{2} + {{B}_{3}}^{3}\frac{3}{4}} \right]$Обозначаем полученное решение $B_{3}^{{\left( 1 \right)}}$.
Подставляем $B_{3}^{{\left( 1 \right)}}$ в (6) и решаем еще раз уравнение относительно ${{B}_{1}}$. Обозначаем полученное решение $B_{1}^{{\left( 2 \right)}}$.
Еще раз решаем уравнение (10), в котором надо заменить $B_{1}^{{\left( 1 \right)}}$ на $B_{1}^{{\left( 2 \right)}}$. Полученное решение обозначаем $B_{3}^{{\left( 2 \right)}}$.
Этот итерационный процесс при необходимости можно повторить.
Рассмотрим результаты расчетов коэффициентов отражения $R = {{\left| {{{B}_{1}} - 1} \right|}^{2}}$ (рис. 2), потерь $P$ основной гармоники (рис. 3) и коэффициента прохождения третьей гармоники$\,{{T}_{3}} = 20\lg \left| {{{B}_{3}}} \right|$ (рис. 4 ). Из (5) следует, что для третьей гармоники коэффициенты прохождения и отражения равны. Результаты расчетов приведены для $\mu $ = 0.45 эВ, $\tau $ = 1 пс при нормальном падении.
Малая амплитуда падающего поля равна $\delta \approx 0.1$. Как видно из рис. 2, 3, для основной гармоники прямое численное решение и решение методом возмущения практически совпадают. Средняя амплитуда падающего поля равна $\delta \approx 0.25$, большая $\delta \approx 0.5$. Небольшие различия при низких частотах можно объяснить резким возрастанием ${{\sigma }^{{(3)}}}$ (5) при уменьшении частоты.
Метод возмущения дает также завышенные значения коэффициента прохождения третьей гармоники $\,{{T}_{3}}$ (см. рис. 4 ) при всех частотах за исключением низких. Расхождение не принципиальное, но его следует учитывать при расчете нелинейных графеновых структур в области плазмонного резонанса.
Список литературы
Cox J.D., García De Abajo F.J. // Accounts of Chemical Research. 2019. V. 52. № 9. P. 2536.
Zhou R., Ullah K., Yang S. et al. // Nanophotonics. 2020. V. 9. № 7. P. 1695.
Panoiu N.C., Sha W.E.I., Lei D.Y., Li G.C. // J. Opt. 2018. V. 20. № 8. P. 083001.
Hafez H.A., Turchinovich D., Bonn M. et al. // Adv. Opt. Materials. 2019. V. 7. № 19. P. 1900771.
Ying Li, Hui Li, Shiwei Wu, Wei-Tao Liu // J. Chem. Phys. 2020. V. 153. P. 080903.
Hanson G.W. // J. Appl. Phys. 2008. V. 103. № 6. P. 064302.
Черепанов В.В. // Физ. основы приборостроения. 2020. Т. 9. № 4. С. 2.
Cheng J.L., Vermeulen N., Sipe J.E. // Phys. Rev. B. 2015. V. 91. № 23. P. 235320.
Mikhailov S.A. // Phys. Rev. B. 2016. V. 93. № 8. P. 085403.
Smirnova D.A., Shadrivov I.V., Kivshar Y.S., Smirnov A.I. // Laser&Photonics Rev. 2014. V. 8. № 2. P. 291.
Cheng J.L., Vermeulen N., Sipe J.E. // Phys. Rev. B. 2015. V. 91. № 23. P. 235320.
Pitilakis A., Chatzidimitriou D., Kriezis E.E. // Opt. Quant. Electron. 2016. V. 48. № 4. P. 243.
Panoiu N.C., Sha W.E.I., Lei D.Y., Li G.-C. // J. Optics. 2018. V. 20. № 8. P. 083001.
Лерер А.М., Макеева Г.С., Черепанов В.В. // РЭ. 2021. Т. 68. № 6. С. 543.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Радиотехника и электроника