1. На главную
  2. Электронные версии
  3. Физикохимия поверхности и защита материалов
  4. T. 59, № 6, 2023

Физикохимия поверхности и защита материалов, 2023, T. 59, № 6, стр. 612-620

Изучение состава кластерных ионов методом матрично- и поверхностно-активированной лазерной десорбции/ионизации в образцах, полученных из растворов станната натрия и хлорида олова(II)

Д. О. Сухоруков a, *, И. С. Пыцкий a, А. К. Буряк a, А. И. Ревельский b, И. А. Ревельский b

a Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт физической химии и электрохимии им. А.Н. Фрумкина Российской академии наук
119071 Москва, Ленинский проспект, 31, корп. 4, Россия

b Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова, Химический факультет
119992 Москва, Ленинские горы, 1, стр. 3, Россия

* E-mail: suhorukov1010@mail.ru

Поступила в редакцию 17.04.2023
После доработки 24.04.2023
Принята к публикации 10.05.2023

Аннотация

Целью работы являлось исследование состава кластерных ионов в образцах, содержащих станнат натрия и хлорид олова(II). Показано, что на состав масс-спектров влияют такие параметры как энергия лазерного излучения и содержание вещества в изучаемой пробе. Проведена оптимизация условий приготовления образцов и регистрации масс-спектров по этим параметрам. Проведена предположительная идентификация пиков в зарегистрированных масс-спектрах. Показано, что многие из наблюдаемых в масс-спектрах пиков ионов могут соответствовать кластерам, содержащим в своем составе олово. В масс-спектрах станната натрия обнаружены ионы общего состава SnxOyNazHm, в которых число атомов олова достигает 8, а максимальное отношение массы иона к заряду (m/z) – 1100. В масс-спектрах хлорида олова(II) присутствуют ионы общего состава SnxOyHmClp и SnxCly, где число атомов олова достигает 4, а наибольшее значение m/z – 1000.

Ключевые слова: масс-спектрометрия, матрично-активированная лазерная десорбция/ионизация, олово, станнат натрия, хлорид олова(II), раствор, кластер, кластерный ион, матрица, лазер

Список литературы

  1. Уайтсайдс Дж., Эйглер Д., Андерс Р. Нанотехнология в ближайшем десятилетии. Прогноз направления исследований. М.: Мир, 2002. 292 с.

  2. Макаров Г.Н. // Усп. физ. наук. 2008. Т. 178. № 4. С. 337–376.

  3. Макаров Г.Н. // Усп. физ. наук. 2006. Т. 176. № 2. С. 121–174.

  4. Пул-мл. Ч., Оуэнс Ф. Нанотехнологии. М.: Техносфера, 2006.

  5. Смирнов Б.М. // Усп. физ. наук. 2000. Т. 170. № 5. С. 495–534.

  6. Castleman A.W., Jr., Bowen K.H., Jr. // J. Phys. Chem. 1996. V. 100. № 31. P. 12911–12944.

  7. Luo Z., Khanna S.N. Metal Clusters and Their Reactivity. Berlin: Springer, 2020. 281 p.

  8. Bosnick K.A., Haslett T.L., Fedrigo S. et al. // J. Chem. Phys. 1999. V. 111. № 19. P. 8867–8870.

  9. Sakurai M., Watanabe K., Sumiyama K., Suzuki K. // J. Chem. Phys. 1999. V. 111. № 1. P. 235–238.

  10. Пыцкий И.С., Кузнецова Е.С., Буряк А.К. // Коллоидный журн. 2018. Т. 80. № 4. С. 445–457.

  11. Xia P., Hall M., Furlani T.R., Garvey J.F. // J. Phys. Chem. 1996. V. 100. № 30. P. 12235–12240.

  12. Brėchignac C., Cahuzas Ph., Concina B. et al. // Chem. Phys. Lett. 2001. V. 335. № 1–2. P. 34–42.

  13. O’Shea J.N., Schnadt J., Andersson S. et al. // J. Chem. Phys. 2000. V. 113. № 20. P. 9233–9238.

  14. Briffa S.M., Lynch I., Hapiuk D., Valsami-Jones E. // Environmental pollution. 2019. V. 252. P. 974–981.

  15. Macfarlane R.D., Torgerson D.F. // Science. 1976. V. 191. Issue 4230. P. 920–925.

  16. Karas M., Bachmann D., Bahr U., Hillenkamp F. // Int. J. Mass Spectrom. Ion. Proc. 1987. V. 78. P. 53–68.

  17. Lin H.Y., Dyakov Y.A., Lee Y.T., Ni C.K. // J. American Society for Mass Spectrometry. 2020. V. 32. №. 1. P. 95–105.

  18. Suddaby K.G., Hunt K.H., Haddleton D.M. // Macromolecules. 1996. V. 29. № 27. P. 8642–8649.

  19. Kriwacki R.W., Wu J., Siuzdak G., Wright P.E. // J. Am. Chem. Soc. 1996. V. 118. № 22. P. 5320–5321.

  20. Trhlíková O., Janata M., Walterová Z. et al. // Talanta. 2019. V. 195. P. 215–220.

  21. Cancilla M.T., Penn S.G., Carroll J.A., Lebrilla C.B. // J. Am. Chem. Soc. 1996. V. 118. № 28. P. 6736–6745.

  22. Sunner J., Dratz E., Chen Y.-C. // Analyt. Chem. 1995. V. 67. № 23. P. 4335–4342.

  23. Donaldson J.D., Grimes S.M., Johnston S.R., Abrahams I. // J. Chem. Soc. Dalton Trans. 1995. Issue 13. P. 2273–2276.

  24. Peters B., Lichtenberger N., Dornsiepen E., Dehnen S. // Chemical Science. 2020. V. 11. № 1. P. 16–26.

Дополнительные материалы отсутствуют.

Инструменты

следующая статья выпуска предыдущая статья выпуска содержание выпуска

Физикохимия поверхности и защита материалов

Архивы выпусков Информация о журнале Отправить рукопись в журнал