Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
Содержание
Номер 10, 2019
- Расширение измерительных возможностей профилометра модели 130
А. Д. Ахсахалян, Н. Н. Салащенко - 3-8
- Исследование характеристик нейтронного пучка первого канала реактора ИБР-2
В. Л. Кузнецов, Е. В. Кузнецова, П. В. Седышев, А. П. Сиротин - 9-12
- Дизайн монокристального дифрактометра для реактора ПИК
А. А. Быков, О. П. Смирнов - 13-22
- Модель фрактальной частицы гидратированного диоксида циркония на основе данных малоуглового рассеяния нейтронов
Л. А. Азарова, Г. П. Копица, Е. Г. Яшина, В. М. Гарамус, С. В. Григорьев - 23-29
- Определение параметров ангармонического межатомного потенциала для наночастиц Pt–Fe в полимерной матрице на основе кумулянтного анализа EXAFS
С. С. Подсухина, А. В. Козинкин, В. Г. Власенко - 30-35
- Исследование химических превращений WF6 на подложке W методом инфракрасной спектроскопии
В. В. Душик, Н. В. Рожанский, Р. Х. Залавутдинов - 36-41
- Поляризационные и интерференционные эффекты в резонансной дифракции синхротронного излучения
М. М. Борисов, В. Е. Дмитриенко, К. А. Козловская, Э. Х. Мухамеджанов, Е. Н. Овчинникова, А. П. Орешко - 42-51
- Экспериментальное наблюдение островковых пленок полярных молекул C60F18 на поверхности высокоориентированного пиролитического графита
А. В. Горячевский, Л. П. Суханов, А. М. Лебедев, К. А. Меньшиков, Н. Ю. Свечников, Р. Г. Чумаков, В. Г. Станкевич - 52-59
- Диагностика элементного состава пленок ЦТС на платине методом рентгеноспектрального микроанализа
В. Г. Бешенков, А. Г. Знаменский, В. А. Марченко, А. Н. Некрасов - 60-64
- Особенности строения сверхгладкой поверхности (0001) монокристаллов LaMgAl11O19 со структурой магнетоплюмбита
А. В. Буташин, А. Э. Муслимов, В. А. Федоров, А. Ш. Асваров, А. М. Исмаилов, В. М. Каневский - 65-68
- Электрофизические свойства поликристаллических пленок CuIn0.95Ga0.05Se2
Т. М. Гаджиев, М. А. Алиев, А. Ш. Асваров, Г. А. Алиев, А. Э. Муслимов, В. М. Каневский - 69-73
- Пористые пленки анодного оксида алюминия на поверхности монокристаллов Al(111)
И. В. Росляков, Д. С. Кошкодаев, В. А. Лебедев, К. С. Напольский - 74-81
- Электронно-микроскопические исследования влияния отжига на тонкие пленки Ge–Sb–Te, полученные методом вакуумно-термического испарения
Ю. С. Зыбина, Н. И. Боргардт, П. И. Лазаренко, В. С. Парсегова, А. С. Приходько, А. А. Шерченков - 82-87
- Атомно-силовая микроскопия графеноподобных пленок, полученных на предварительно облученном электронами SiO2/Si
Д. М. Седловец, М. А. Князев, О. В. Трофимов - 88-93
- Особенности формирования изображений в РЭМ в режиме вторичных медленных электронов. 2. Структуры с трапециевидным профилем и малыми углами наклона боковых стенок
Ю. А. Новиков - 94-101
- Наноразмерные поверхностные слои титанового сплава, сформированные ионно-лучевым перемешиванием углерода с подложкой
В. Л. Воробьев, Ф. З. Гильмутдинов, П. В. Быков, В. Я. Баянкин, И. Г. Поспелова, И. Т. Русских - 102-107
- Поляризация дифракционного излучения на проводящей сфере и полусферическом выступе в проводящей плоскости
В. В. Сыщенко, Э. А. Ларикова - 108-112
Информация о выпуске
- Всего статей17
- Страницы3-112
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования
Пн.-пт.: 10.00-19.00