Журнал физической химии, 2020, T. 94, № 10, стр. 1516-1519

Электронное возбуждение и генерация тока в гетероструктуре под действием атомов водорода

В. П. Гранкин a*, Д. В. Гранкин a

a Приазовский государственный технический университет
Мариуполь, Украина

* E-mail: victor.grankin@gmail.com

Поступила в редакцию 20.12.2019
После доработки 21.02.2020
Принята к публикации 10.03.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Представлены теоретические исследования генерации электронно-дырочных пар в полупроводниках под действием реакции рекомбинации атомов водорода на поверхности. Найден теоретически возможный КПД преобразования химической энергии в электрическую с помощью полупроводниковых гетероструктур.

Ключевые слова: поверхностные явления, аккомодация, водород, водородная энергетика

Исследование процессов рассеяния и аккомодации энергии экзотермической каталитической реакции – важная задача физики и химии поверхности. Одним из каналов аккомодации энергии реакции, наряду с фононным, является электронный. В металлах он проявляется в виде генерации высокоэнергетических электронов и дырок (Е = = 1–3 эВ), которые регистрируются с помощью нанодиода Шоттки [1]. Экзотермическая реакция на поверхности полупроводников приводит к возбуждению гетерогенной хемилюминесценции (ГХЛ) [2] и неравновесных хемо-эффектов [3], аналогичных эффектам при фотовозбуждении. Таким образом, электронная подсистема в катализаторе является полноправным участником релаксационных процессов в системе газ–поверхность. Это указывает на возможность создания генераторов тока с прямым преобразованием химической энергии в электрическую. Однако, выход электронных возбуждений для известных систем газ–поверхность мал. Этим обусловлено то, что диоды Шоттки и полупроводниковые гетероструктуры пока не рассматриваются как возможные хемогенераторы тока.

В работе [4] найдена зависимость константы скорости аккомодации энергии гетерогенной реакции по электронному каналу от энергии электронного перехода в полупроводнике. Это дает возможность расчета вероятности электронного хемовозбуждения и КПД преобразования химической энергии в электрическую с помощью полупроводниковых гетероструктур, что и служило целью работы.

ОБСУЖДЕНИЕ РЕЗУЛЬТАТОВ

Описание электронных процессов и электронной хемогенерации для большинства гетерогенных систем является сложным. Поэтому Г. Нинхаус предложил в качестве модельной использовать реакцию атомарного водорода с поверхностью [1]. Энергия, которая выделяется в реакции водорода на поверхности, может рассеиваться неадиабатически, приводя к прямому возбуждению электронно-дырочных (ep+) пар. На рис. 1 представлена энергетическая диаграмма создания пары ep+ и электрического тока в структуре катализатор реакции полупроводник p-типа – полупроводник n-типа. Неравновесные электроны в р-полупроводнике увлекаются электрическим полем pn-перехода и попадают в n-область. Это приводит к тому, что через внешний проводник и рn-переход течет ток (хемоток).

Рис. 1.

Механизм генерации хемотока в полупроводниковой гетероструктуре; Eg – ширина запрещенной зоны, Ef – уровень Ферми, Ec – дно зоны проводимости, ${{E}_{{v}}}$ – потолок валентной зоны, D – энергия диссоциации молекулы.

Кинетическая модель, которая описывает возбуждение ep+ атомами Н в полупроводнике имеет вид:

${\text{H}} + {\text{L}}\;\xrightarrow{{{{\nu }_{1}}}}\;{\text{HL}},$
здесь HL – адсорбированный атом Н, L – свободный от адсорбированных частиц центр поверхности, е(Еi) – электрон в зоне проводимости (С) р-полупроводника с энергией Еi относительно потолка валентной (V) зоны, p+ – дырка в V-зоне, ph – фонон, Рi – вероятность генерации электрона с энергией Еi в расчете на элементарный акт (на одно колебание ядер в ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$). Над стрелками обозначены: ν1 и ν2 — вероятности адсорбции и рекомбинации атомов Н соответственно, Г1 – вероятность релаксации ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$ по фононному каналу в расчете на элементарный акт, m – среднее число потенциально возможных актов релаксации ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$ в результате колебательно-электронного обмена за время жизни ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$ на поверхности. Для полупроводников m-фактор может быть больше 10 [5].

Введем обозначения: [HL] → N1, [L] → N, [${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$] → $N_{2}^{v}$, е(Еi) → ni. Из кинетической модели:

${{n}_{1}} = m{{P}_{1}}{{\nu }_{2}}{{N}_{1}},$
$ \ldots \ldots \ldots \ldots \ldots \ldots \ldots \ldots ,$
(1)
${{n}_{i}} = m{{P}_{i}}{{\nu }_{2}}{{N}_{1}},$
$---------------------------------$
$n = \sum {{{n}_{i}}} = mP{{\nu }_{2}}{{N}_{1}}.$
Здесь ni – число электронов c энергией Ei, генерируемых в зону C за счет реакции на 1 см2 поверхности за 1 с, n – общее число е, генерируемых на 1 см2 поверхности за 1 с. В (1) учтено, что $\sum\nolimits_{i = 1}^n {{{P}_{i}} = P} $. Вследствие того, что энергетические уровни в зоне C расположены квазинепрерывно, рассчитанная на элементарный акт релаксации ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$ вероятность dP генерации электронов е, которые имеют энергию в интервале dE в окрестности энергии E, вычисляется по формуле dP = = f(E)dE, где f(E) – функция распределения по энергиям электронов е в полупроводнике, которые генерируются в зону C за счет реакции. В работе [4] экспериментально найден вид зависимости для вероятности генерации высокоэнергетических электронов е в твердом теле энергией химической реакции рекомбинации атомов Н:
(2)
$f(E) = A\exp (--E{\text{/}}{{\Theta }_{{{\text{char}}}}})$
и найдена величина характеристической энергии этой реакции Θchar = 0.173 эВ. Здесь E – энергия перехода е в полупроводнике. Найдем A из условия, что вероятность электронной релаксации ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$ на элементарный акт на узкозонном полупроводнике с Eg → 0 близка к 1, как на металлах [6]. Из условия нормировки $A = 1{\text{/}}{{\Theta }_{{{\text{char}}}}}$. Подставив A в (2), получим

(3)
$f{\text{(}}E{\text{)}} = \frac{1}{{{{{\Theta }}_{{{\text{char}}}}}}}\exp ( - E{\text{/}}{{{\Theta }}_{{{\text{char}}}}}).$

Вероятность элементарного акта электронной релаксации ${\text{H}}_{2}^{v}{\text{L}}$ равна:

(4)
$P{\text{(}}E \geqslant {{E}_{g}}{\text{)}} = \int\limits_{{{E}_{g}}}^\infty {f{\text{(}}E{\text{)}}dE} = \exp ( - {{E}_{g}}{\text{/}}{{\Theta }_{{{\text{char}}}}}).$

Из кинетической модели и с учетом выражения (4) выход хемотока α (выход электронов е с EEg и образующих ток в цепи) равен:

(5)
$\alpha = mP{\text{/}}(mP + m{{\Gamma }_{1}}) = m\exp ( - {{E}_{g}}{\text{/}}{{\Theta }_{{{\text{char}}}}}).$
Здесь учтено, что mP + mΓ1 = 1. Величина α экспоненциально падает с Eg.

Для расчета КПД преобразования химической энергии в электрическую воспользуемся следующими соотношениями. Ток в цепи, возникающий за счет реакции на поверхности гетероструктуры площадью 1 см2, равен: I = nq(EEg), где q – заряд электрона. Генерируемая в этом случае электрическая мощность равна:

(6)
$P = IU = wm{{E}_{g}}\exp ( - {{E}_{g}}{\text{/}}{{\Theta }_{{{\text{хар}}}}}),$
где w – число реакционных превращений на 1 см2 полупроводника за 1 секунду. В (6) учтено, что хемо-ЭДС U = Eg/q. Химическая энергия, выделяющаяся на 1 см2 за 1 с, составляет Wреак = wQ, где Q – энерговыделение в элементарном акте реакции. Тогда КПД равен:

(7)
$\eta = \frac{P}{{{{W}_{{{\text{реак}}}}}}} = m\frac{{{{E}_{g}}}}{Q}\exp ( - {{E}_{g}}{\text{/}}{{\Theta }_{{{\text{хар}}}}}).$

Положение максимума η найдем из условия ∂η/∂Eg = 0. Величина η будет максимальна при Eg = Θхар, а КПД в максимуме равен:

(8)
${{\eta }^{{{\text{max}}}}} = m{{\Theta }_{{{\text{хар}}}}}{\text{/}}eQ.$
Учитывая, что ΘхарQ, теоретически максимально возможный КПД хемогенератора на основе гетероструктур ηmax = 100% при Θхар = Q и m = e.

На рис. 2a представлены рассчитанные согласно (7) зависимости η/m от Eg при различных Θхар и Q = 1 эВ. Видно, что η сначала растет, проходит через максимум, а затем убывает с увеличением Eg. При этом величина η/m тем больше, чем больше Θхар, и максимальна при Eg = Θхар. КПД преобразования энергии реакции быстро падает с увеличением Q (рис. 2б). Например, при Q = Eg = = Θхар = 0.3 эВ величина η/m = 36.8%, а при тех же значениях Eg = Θхар = 0.3 эВ, но Q = 2 эВ величина η/m = 5.5%.

Рис. 2.

Зависимости приведенной величины КПД η/m хемогенератора тока от ширины запрещенной зоны полупроводника (а, Q = 1 эВ) и энерговыделения в акте реакции (б, Eg = 0.3 эВ) при различных значениях характеристической энергии реакции Θchar: 1 – 0.1, 2 – 0.14, 3 – 0.173, 4 – 0.23, 5 – 0.3 эВ. Q = 1 эВ. Расчет.

Величину m можно оценить, исходя из следующего. Согласно разработанному в [2] механизму для описания ГХЛ, электронное возбуждение полупроводника за счет реакции происходит вследствие передачи колебательной энергии от колебательно-возбужденного продукта реакции на поверхности электронам валентной зоны в результате многоквантового колебательно-электронного перехода. Генерацией неравновесных носителей с определенной вероятностью α потенциально могут сопровождаться m переходов:

(9)
$m = \frac{{pD}}{{\hbar {{\omega }_{0}}}}\frac{{{{\Gamma }_{{V - e}}}}}{{{{\Gamma }_{{V - e}}} + {{\Gamma }_{{ph}}}}},$
где $\hbar {{\omega }_{0}}$ = 0.545 эВ – энергия колебательного кванта Н2 на первом колебательном уровне, p = = 2.9 – ангармонический фактор, D = 4.48 эВ – энергия диссоциации H2, ${{\Gamma }_{{V - e}}}$ и ${{\Gamma }_{{ph}}}$ – скорости колебательно-электронной и фононной релаксации соответственно. Для узкозонных полупроводников ${{\Gamma }_{{V - e}}} \leqslant 0.5{{\Gamma }_{{ph}}}$ [3]. Подставив указанные значения в (9), имеем m ≤ 8. Так как для полупроводников m всегда больше 1 [5], то можно предположить, что существуют такие системы газ–поверхность, для которых могут быть получены большие значения КПД преобразования химической энергии в электрическую, соизмеримые с КПД топливных элементов.

Таким образом, найденная зависимость электронного возбуждения полупроводника энергией реакции и полученный возможный КПД преобразования химической энергии в электрическую с помощью гетероструктур показывают, что электронная подсистема полупроводника является полноправным участником релаксационных процесов на поверхности, а сами полупроводниковые гетероструктуры потенциально могут использоваться как генераторы тока в водородной энергетике.

Список литературы

  1. Nienhaus H. // Surf. Sci. Rep. 2002. V. 45. P. 3.

  2. Tyurin Yu.I., Nikitenkov N.N., Sigfusson I.T. et al. // Intern. J. of Hydrogen Energy. 2017. V. 42. Art. no 12448.

  3. Тюрин Ю.И., Кабанский А.Е., Стыров В.В. // Теор. и эксперимент. химия. 1984. Т. 20. № 6. С. 682.

  4. Гранкин В.П., Гранкин Д.В. // Журн. физ. химии. 2016. Т. 90. № 6. С. 950.

  5. Grankin D.V., Grankin V.P., Styrov V.V. et al. // Chem. Phys. Lett. 2016. V. 647. P. 145.

  6. Novko D., Blanco-Rey M., Juaristi J.I., Alducin M. // Phys. Rev. B. 2015. V. 92. Art. no 201411.

Дополнительные материалы отсутствуют.