Известия РАН. Серия физическая, 2019, T. 83, № 9, стр. 1213-1216

Диэлектрические свойства сегнетокерамики Sr2 + xBi4 – xTi5 – xTaxO18

Н. А. Толстых 1*, А. И. Бочаров 1, М. В. Хахленков 1, А. А. Камынин 2

1 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования Воронежский государственный технический университет
Воронеж, Россия

2 “Нововоронежская атомная станция” филиал Акционерного общества “Российский концерн по производству электрической и тепловой энергии на атомных станциях”
Нововоронеж, Россия

* E-mail: mad_nik@bk.ru

Поступила в редакцию 12.11.2018
После доработки 29.03.2019
Принята к публикации 27.05.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

По керамической технологии получены образцы нового слоистого перовскита Sr2 + xBi4 – xTi5 – xTaxO18 (х = 0–0.8). Исследованы их диэлектрические свойства на частотах 25 Гц–1 МГц в широком температурном диапазоне. Установлено, что в области сегнетоэлектрического фазового перехода возникает поляризационный шум типа 1/f α. Анализ температурной зависимости параметра α выявил особенность при температуре вблизи температуры Кюри, величина которой зависит от концентрации Ta.

Многие сегнетоэлектрики отличаются большой диэлектрической проницаемостью, высоким пьезоэлектрическим модулем, выраженными электрооптическими, фоторефракционными и пироэлектрическими свойствами и поэтому широко используются во многих областях современной техники. В настоящее время особое внимание уделяется слоистым перовскитоподобным соединениям и твердым растворам на их основе. Образуя непрерывный ряд твердых растворов, представители слоистых сегнетоэлектриков (СЭ) являются эффективными функциональными материалами с широко варьируемыми характеристиками. Наибольший интерес представляют собой слоистые СЭ со структурой фаз Ауривиллиуса (ФА) [13] из-за перспектив их практического использования в качестве элементов устройств энергонезависимой сегнетоэлектрической памяти, ионных проводников, электролюминесцентных тонких пленок [4]. Такая широкая область потенциального применения ФА связана с набором физических характеристик этих соединений, зачастую уникальных. Поэтому целью данной работы является получение и исследование диэлектрических свойств нового слоистого перовскитоподобного соединения Sr2 + xBi4 – xTi5 – xTaxO18 (х = 0–0.8) со структурой ФА в широких интервалах температур и частот.

Исследуемые соединения с общей формулой Sr2 + xBi4 – xTi5 – xTaxO18 (х = 0 – 0.8) были получены по двухстадийной керамической технологии [5]. В качестве исходных компонентов были использованы SrCO3 (0.98); Bi2O3 (0.9999); TiO2 (0.984); Ta2O5 (0.99). Рентгеноструктурный анализ образцов был проведен на дифрактометре Bruker Phaser D2 (CuKα-излучение) при комнатной температуре. Из результатов анализа следует, что все образцы принадлежат орторомбической пространственной группе симметрии F2mm и являются однофазными. Объем элементарной ячейки V0 ~ 1.47 нм3 для всех полученных образцов.

Для исследования диэлектрических свойств полученных керамик на образцы в форме дисков наносили электроды методом вжигания серебряной пасты. Измерения комплексной диэлектрической проницаемости ε* = ε – iε'' проводились с помощью измерителя иммитанса E7-20 на частотах f = 25 Гц–1 МГц.

Для всех составов на температурных зависимостях диэлектрической проницаемости (ε) при температуре Tm наблюдаются пики, которые уширяются и смещаются в низкотемпературном направлении с увеличением концентрации х (рис. 1). Форма пиков и их величина говорят в пользу того, что они обусловлены СЭ фазовым переходом. Температура Tm линейно понижается с ростом концентрации тантала (вставка на рис. 1) со скоростью γ = dTm/dx ≈ 437.5 град/моль.

Рис. 1.

Температурные зависимости ε–1 для образцов Sr2 +xBi4 –xTi5 –xTaxO18 с x = 0, 0.2, 0.4. На вставке – концентрационная зависимость Тm.

Зависимости ε(Т) вблизи Tm следуют закону Кюри–Вейсса [6]:

$\varepsilon = {{\varepsilon }_{\infty }} + {{{{С}_{W}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{С}_{W}}} {(T--{{T}_{{CW}}})}}} \right. \kern-0em} {(T--{{T}_{{CW}}})}},$
где СW и TCW – константа и температура Кюри–Вейсса соответственно, ε – не зависящая от температуры составляющая диэлектрической проницаемости.

Применимость закона (1) для описания температурных зависимостей ε проиллюстрирована на рис. 2, из которого видно, что зависимости ε–1(Т) являются линейными. Вместе с тем в некотором интервале температур вблизи Tm закон Кюри–Вейсса не выполняется. Легко увидеть, что этот интервал расширяется с повышением концентрации x, что уместно связать с увеличением размытия СЭ фазового перехода.

Рис. 2.

Температурные зависимости 1/ε для образцов с x = 0, 0.2, 0.4. На вставке – зависимость ε–1 от (TTm)2.

Для объяснения причины размытия фазового перехода и оценки параметров, характеризующих его, рассмотрим модель, предложенную В.А. Исуповым и Г.А. Смоленским [6]. В рамках этой модели для зависимости ε(Т) в области размытого СЭ фазового перехода получено выражение, которое можно назвать квадратичным законом Кюри–Вейсса [6]:

(2)
$\varepsilon = {{\varepsilon }_{m}}{{[1 + {{{{{(T--{{T}_{m}})}}^{2}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{(T--{{T}_{m}})}}^{2}}} {2\sigma }}} \right. \kern-0em} {2\sigma }}]}^{{--1}}},$
где εm – значение диэлектрической проницаемости при температуре Tm, σ – параметр размытия, имеющий смысл среднеквадратичного отклонения локальной температуры Кюри в полярной микрообласти (области Кенцига).

Для проверки выполнимости квадратичного закона Кюри–Вейсса построим зависимости ε–1 от (TTm)2. Они имеют вид линий (вставка на рис. 2), что подтверждает справедливость соотношения (2). По углу наклона прямой ε–1(T–Tm)2 нетрудно определить параметр σ для каждого состава. Построив зависимость σ(x) (рис. 3), видим, что σ увеличивается с ростом концентрации Ta.

Рис. 3.

Концентрационные зависимости параметра размытия и объема локальной области полярной фазы.

Воспользовавшись формулой

(3)
$\sigma = {{[{{\gamma }^{2}}x{{(1--x)} \mathord{\left/ {\vphantom {{(1--x)} n}} \right. \kern-0em} n}]}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}},$

предложенной в [6], можно определить количество частиц в области Кенцига (n) и ее объем V = V0n.

Концентрационная зависимость обьема области Кенцига (рис. 3) монотонно убывает с увеличением концентрации Та. По-видимому, это связано с тем, что при росте x повышается неоднородность структуры за счет увеличения концентрации дефектов, взаимодействие с которыми стабилизирует зародыши полярной фазы, благодаря чему они и имеют меньшие размеры.

Исследуемые материалы являются гетерогенными в области размытого СЭ фазового перехода, поэтому можно ожидать, что наблюдаемая в них диэлектрическая релаксация будет характеризоваться широким спектром времен релаксации. Для описания дисперсии ε* в таких случаях пользуются эмпирическими соотношениями Коула–Коула, Фуосса–Кирквуда, Гаврилиака–Негами и другими [7].

Экспериментально установлено, что диэлектрический отклик в диэлектриках с размытым спектром времен релаксации можно анализировать по поведению шума 1/f [8], являющегося универсальным для неупорядоченных диэлектриков [9]. Поэтому вполне естественной представляется идея – связать низкочастотный шум 1/f с релаксационными явлениями в исследуемых образцах.

Получив экспериментально частотные зависимости мнимой компоненты диэлектрической проницаемости ε'' для разных температур (вставка на рис. 4), можно связать их со спектральной плотностью шума S(ω) в соответствии с флуктуационно-диссипативной теоремой [8]

(4)
$~S(\omega ) = {{\varepsilon ''} \mathord{\left/ {\vphantom {{\varepsilon ''} \omega }} \right. \kern-0em} \omega }\sim {{f}^{\alpha }},$
где α – коэффициент, характеризующий спонтанно-флуктуирующий дипольный момент, ω =f.

Рис. 4.

Зависимость спектральной плотности шума S(ω) от частоты в двойных логарифмических координатах для Sr2Bi4Ti5O18. На вставке – частотные зависимости мнимой компоненты ε при различных температурах.

Зависимости спектральной плотности S(ω) при разных температурах представлены на рис. 4. С понижением частоты плотность S(ω) возрастает, свидетельствуя об 1/f  α‑поведении системы [8].

Полученные зависимости α(Т) для составов x = 0, 0.2 и 0.4 приведены на рис. 5. Видно, что спектр низкочастотного шума зависит от температуры, при этом показатель степени α возрастает с температурой от 1.05 до 1.5. Согласно [10, 11], такое увеличение α означает, что исследуемая система становится динамически менее гетерогенной в параэлектрической фазе.

Рис. 5.

Температурная зависимость коэффициента α.

Для всех составов вблизи соответствующих Tm на зависимостях α(T) наблюдается излом. Это говорит о том, что при температуре фазового перехода происходит смена механизма, дающего доминирующий вклад в S.

Подводя итог, отметим, что в результате проведенных работ была получен новый ряд бессвинцовых керамик Sr2 + xBi4 – xTi5 – xTaxO18. Установлено, что в полученных материалах реализуется структурный фазовый переход, который претерпевает размытие и смещение в область низких температур с увеличением содержания тантала. Показано, что с увеличением концентрации x обьем зародышей полярной фазы монотонно убывает.

Анализ дисперсии комплексной диэлектрической проницаемости в керамиках Sr2 + xBi4 – xTi5 – xTaxO18 на основе флуктуационно-диссипативной теоремы, выявил наличие 1/f  α-шума. Определена зависимость α(Т) в области температур сегнетоэлектрической и параэлектрической фаз для составов с разной концентрацией Ta.

Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (проект № 18-52-00039-Бел_а).

Список литературы

  1. Aurrivillius B. // Ark. Kemi. 1949. V. 1. P. 463.

  2. Lomanova N.A., Pleshakov I.V., Volkov M.P., Gusarov V.V. // J. Therm. Analysis Calorimetry. 2017. V. 131. P.473.

  3. Vansutre S., Mukherjee S., Kaushik S.D. et al. // J. Appl. Phys. 2018. V. 124. Art. № 084101.

  4. Фесенко Е.Г. Доменная структура многоосных сегнетоэлектрических кристаллов. Ростов-на-Дону: изд-во РГУ, 1990.

  5. Okazaki K. Ceramic engineering for dielectrics. Tokyo: Gakkensha, 1969.

  6. Смоленский Г.А., Боков В.А., Исупов В.А. и др. Физика сегнетоэлектрических явлений. Л.: Наука, 1985.

  7. Усманов С.М. Релаксационная поляризация диэлектриков. Расчет спектров времен диэлектрической релаксации. М.: Наука, 1996.

  8. Коган Ш.М. Электронный шум и флуктуации в твердых телах. М.: Физматлит, 2009.

  9. Jonscher A.K. Universal Relaxation Law. London: Chelsea Dielectrics, 1996.

  10. Гриднев С.А., Ефимов Е.С., Цоцорин А.Н. // Изв. РАН. Cер. физ. 2001. Т. 65. № 8. С. 1122.

  11. Careri G., Consolini G., Kutnjak Z. et al. // Phys. Rev. E. 2001. V. 64. Art. № 052901.

Дополнительные материалы отсутствуют.