Известия РАН. Серия физическая, 2020, T. 84, № 1, стр. 142-146

Паттерный анализ характеристик аппроксимантов фракталоподобных многослойных систем с метаслоями

Ю. В. Рыжикова 1*, Ю. В. Мухартова 1, С. Б. Рыжиков 1

1 Федеральное государственное бюджетное учреждение высшего образования, Московский государственный университет имени М.В. Ломоносова, физический факультет
Москва, Россия

* E-mail: ryzhikovaju@physics.msu.ru

Поступила в редакцию 29.07.2019
После доработки 30.08.2019
Принята к публикации 27.09.2019

Полный текст (PDF)

Аннотация

Проведена оценка влияния структурных изменений фракталоподобных многослойных структур с вставками из метаматериалов на устойчивость формы фрактальных паттернов их оптических спектров. На основе расчетов в рамках модели аппроксимантов получены скейлинговые параметры, определяющие связь между особенностями структур и их оптическими спектрами.

ВВЕДЕНИЕ

Общетеоретические аспекты исследований многослойных структур с метаслоями имеют отношение к важной фундаментальной проблеме, направленной на установление общих закономерностей, определяющих связь между особенностями структуры фракталоподобных систем и скейлинговыми свойствами зондирующего излучения [1, 2]. Всестороннее ее решение позволит усовершенствовать фрактальные методы оптической диагностики многослойных систем различной геометрии.

В настоящее время проводятся многочисленные исследования, посвященные изучению свойств разнообразных многослойных структур с фрактальными признаками и возможностей их практического использования [24]. В частности, такие многослойные структуры применяются при создании новых фрактальных антенн, сенсоров для детектирования биологических и химических агентов, узкополосных фильтров, широкополосных поглотителей, а также в других технических устройствах.

Тем не менее, оптические характеристики аппроксимантов фракталоподобных многослойных систем с метаматериалами на данный момент изучены не достаточно полно. Свойственная многим из них фрактальность в значительной степени определяет их оптические свойства. При этом существует необходимость в определении степени влияния различных факторов на самоподобие их спектральных характеристик.

Применение аппроксимантов различной геометрии позволяет технически упростить процедуру получения структур с заданным набором оптических характеристик. Предварительные исследования [5, 6] указывают на перспективность применения аппроксимантов для совершенствования новых средств оптической диагностики. Путем регистрации паттернов – отдельных элементов в характеристиках зондирующего излучения, появляется возможность проводить идентификацию многослойных систем с определенным типом симметрии и оценить степень их структурных дефектов.

Цель настоящей работы состоит в оценке влияния различных изменений исследуемых многослойных структур с вставками из метаматериалов на устойчивость формы фрактальных паттернов их оптических спектров. Предполагается, что изменения могут быть внесены в многослойную систему переходом к модели аппроксимантов [6], изготовлением ряда слоев на основе широко применяющихся метаматериалов, характеризующихся разными дисперсионными соотношениями [78], а также варьированием принципа ее построения [9]. Особое внимание уделено применению паттерного анализа [10, 11] к спектральным характеристикам многослойных структур с учетом поглощения в метаслоях.

МОДЕЛЬ МНОГОСЛОЙНЫХ СТРУКТУР С МЕТАСЛОЯМИ

В настоящей работе рассматривается модель многослойных структур и их аппроксимантов, составленных из двух типов слоев $A$ и $B$. Слои $A$ выполнены из метаматериала, который в определенном спектральном диапазоне характеризуется отрицательным показателем преломления. При этом слои $B$ выполнены из пористого кварца с показателем преломления ${{n}_{B}}.$ Толщины слоев считались равными ${{d}_{A}} = 0.6$ см и ${{d}_{B}} = 1.2$ см [12].

Фазовые набеги в слоях многослойных систем определяются следующим выражением:

${{\Phi }_{{j,k}}} = \frac{{2\pi {{f}_{k}}{{{\rm N}}_{{j,k}}}{{d}_{j}}}}{c},$
где $j$ – номер слоя, $c$ – скорость света, ${{d}_{j}}$ – толщина слоя с номером j, ${{{\rm N}}_{{j,k}}}$ – значение показателя преломления j-го слоя c учетом частоты излучения $f$ и геометрического чередования слоев $A$ и $B.$ Дискретизация величины $f$ задается формулой
${{f}_{k}} = 1.5(1 + 0.0033k),$
где $k = 0 \ldots {{\tilde {N}}_{{max}}}$ – коэффициенты дискретизации, ${{\tilde {N}}_{{max}}}$ – дискретное значение, ограничивающее частотный диапазон.

Для построения аппроксимантов многослойных структур задается начальная структура на базе фракталоподобных числовых последовательностей ${{S}_{l}} = \left\{ {A,B} \right\},$ где $l$ – уровень генерации, A и B – составляющие элементы последовательности. Используемые последовательности ${{S}_{l}}$ определяют закон чередования элементов в первичной структуре. В многослойных структурах этот закон определяет распределение слоев с высоким и низким показателем преломления. Например, для систем m-боначчи (m = 2) аппроксиманты ${{{\rm A}}_{l}}$ имеют вид (3):

$\begin{gathered} {{{\text{A}}}_{0}} = {{\left\{ {\underbrace B_{{{S}_{0}}}} \right\}}^{p}},\,\,\,\,{{{\text{A}}}_{1}} = {{\left\{ {\underbrace A_{{{S}_{1}}}} \right\}}^{p}},\,\,\,\,{{{\text{A}}}_{2}} = {{\left\{ {\underbrace {AB}_{{{S}_{2}}}} \right\}}^{p}},\; \\ {{{\text{A}}}_{3}} = {{\left\{ {\underbrace {ABA}_{{{S}_{3}}}} \right\}}^{p}},\,\,\,\,{{{\text{A}}}_{4}} = {{\left\{ {\underbrace {ABAAB}_{{{S}_{4}}}} \right\}}^{p}},\,\,\,\, \\ {{{\text{A}}}_{5}} = {{\left\{ {\underbrace {ABAABABA}_{{{S}_{5}}}} \right\}}^{p}},\,\,\,\, \ldots ,\,\,\,\,{{{\text{A}}}_{{l + 1}}} = {{\left\{ {{{S}_{l}}{{S}_{{l - 1}}}} \right\}}^{p}}, \\ \end{gathered} $
где p – период аппроксиманта, то есть количество элементарных ячеек ${{S}_{l}}$ в рассматриваемой многослойной структуре.

Самоподобные структурные свойства систем m-боначчи можно описать параметром скейлинга $\zeta ,$ который определяется как предел количества элементов в последовательности Sl + 1 к количеству элементов в Sl при $l \to \infty .$ Так, при $m = 2$ получаем $\zeta \approx 1.618.$ Для $m = 3$ и $m = 4$ получаем $\zeta \approx 1.839$ и $\zeta \approx 1.927,$ соответственно. Значения структурных параметров соответствуют литературным данным [5, 9]. Отметим, что при m = 2 системы m-боначчи и Фибоначчи совпадают.

Диэлектрическая проницаемость ${{\varepsilon }_{A}}$ и магнитная восприимчивость ${{\mu }_{A}}$ метаматериала определяется следующим образом [7]:

$\begin{gathered} {{\varepsilon }_{A}}(f) = 1 + \frac{{{{5}^{2}}}}{{{{{0.9}}^{2}} - {{f}^{2}} - if\gamma }} + \frac{{{{{10}}^{2}}}}{{{{{11.5}}^{2}} - {{f}^{2}} - if\gamma }}; \\ {{\mu }_{A}}(f) = 1 + \frac{{{{3}^{2}}}}{{{{{0.902}}^{2}} - {{f}^{2}} - if\gamma }}, \\ \end{gathered} $
где $f$ – частота электромагнитного излучения, $i$ – мнимая единица, $\gamma $ – величина, характеризующая потери (величины $f$ и $\gamma $ записаны в ГГц). На рис. 1 приведены дисперсионные зависимости (4) для слоев из метаматериала с учетом дискретизации частоты (2).

Рис. 1.

Дисперсионные закономерности $\varepsilon (k,\gamma ),$ $\mu (k,\gamma )$ при разных потерях $\gamma {\text{:}}$ a – действительная часть $\varepsilon (k,\gamma ),$ $\mu (k,\gamma ),$ б – мнимая часть $\varepsilon (k,\gamma ),$ $\mu (k,\gamma ).$ Функции 1, 2$\gamma = 0.05$ ГГц и 3, 4$\gamma = 0.9$ Ггц. $\varepsilon (k,\gamma )$ – обозначены черным цветом. M, P, D – выделенные области.

Анализ соотношений (4) показывает, что дисперсионные закономерности можно разделить на три области (рис. 1). Первая область M – слои $A$ обладают свойствами метаматериалов ${{\varepsilon }_{A}} < 0,$ ${{\mu }_{A}} < 0,$ вторая область P – переходная с ${{\varepsilon }_{A}} < 0,$ ${{\mu }_{A}} > 0,$ и третья область D${{\varepsilon }_{A}} > 0,$ ${{\mu }_{A}} > 0,$ где материал слоев $A$ приобретает свойства диэлектрика. При варьировании значений $\gamma \in \left[ {0,0.9} \right]$ границы этих областей незначительно изменяются. Параметры окружающей среды принимались равными $\varepsilon = 1,$ $\mu = 1.$

СПЕКТРАЛЬНЫЕ СВОЙСТВА СТРУКТУР С МЕТАМАТЕРИАЛАМИ

Для расчетов спектральных характеристик фракталоподобных многослойных структур применяется матричный подход [13] с использованием логарифмического представления [1] и закона Френеля для метаматериалов [14]: $r = - \ln ({{T}_{k}}),$ где ${{T}_{k}}$ – величина коэффициента пропускания по мощности.

В результате проведенных расчетов было показано, что включение в многослойную систему метаматериалов с учетом их поглощения существенно видоизменяет структуру спектральных характеристик многослойных фракталоподобных систем во всех выделенных областях (рис. 1). Исследование таких изменений проводилось с помощью паттерного анализа [11], основанного на фиксации и определении особенностей отдельных фрагментов в спектральных характеристиках многослойных структур.

На рис. 2 представлена зависимость $r$ от поглощения $\gamma $ многослойной системы m-боначчи в случае m = 2 с учетом дисперсионных эффектов (4). Выделенные области ab, bc, de, fg представляют собой паттерны. Из рис. 2 видно, что наличие поглощения сильно влияет на фракталоподобную структуру начальной спектральной характеристики, соответствующей $\gamma = 0.$ При этом наблюдается ее сглаживание для всех $k,$ и как следствие потеря фрактальных свойств спектра. При изменении $\gamma $ наиболее устойчивой областью с точки зрения сохранения скейлинга является центральная часть спектра (паттерн de) вплоть до $\gamma = 0.55$ Ггц. Паттерн de соответствует области D (рис. 1). Для остальных участков спектра фиксация паттерных образований с некоторыми искажениями возможна при $\gamma \leqslant 0.1$ Ггц. Отметим, что спектральные характеристики анализируемой многослойной структуры и ее аппроксимантов близки. Коэффициенты взаимной корреляции между спектрами анализируемых структур (рис. 2) 2 и 4, 3 и 5 принимали значения от 0.91 до 0.98 для разных спектральных фрагментов.

Рис. 2.

Спектральные характеристики многослойной системы m-боначчи в случае m = 2, ${{n}_{B}} = 1.5$ при изменении коэффициента дискретизации частоты в пределах $k = 0{\kern 1pt} - {\kern 1pt} 2000.$ Нижняя линия 1 соответствует первичной структуре с числом слоев J = 234 при $\gamma = 0$ Ггц, линии 2 и 3 – первичной структуре с поглощением $\gamma = 0.05$ и $0.9$ ГГц, соответственно. Пунктирные линии 4 и 5 – аппроксиманту ${{{\rm A}}_{6}} = {{\left\{ {{{S}_{6}}} \right\}}^{{18}}}$ для систем 2 и 3, соответственно. Области ab, bc, de, fg – паттерны.

Проведенный анализ показал, что наличие поглощения метаслоев оказывает существенное сглаживающее влияние на самоподобные свойства спектральных характеристик многослойных структур и их аппроксимантов.

Результаты моделирования относятся к случаю, когда фазовые набеги (1) в слоях по абсолютной величине были одинаковыми. Если же соотношения между геометрическими размерами слоев меняются, то наступает разбалансировка фазовых набегов, и из-за сильных искажений формы паттернов их идентификация не всегда представляется возможной.

Как показывают результаты моделирования, фрактальные свойства оптических характеристик систем m-боначчи значительно проявляются при $m = 2$ и $m = 3.$ Увеличение m вызывает трансформацию формы паттернов. При этом из-за эффекта фазовой компенсации исчезает часть резонансных пиков, и спектр становится близким к спектру периодических систем.

В ходе работы был определен ряд идентифицирующих параметров – локальных коэффициентов скейлинга – присущих выделенным паттернам оптических характеристик анализируемых систем. Так, для наиболее устойчивого к изменению поглощения паттерна de локальные параметры скейлинга равны: ${{\zeta }_{1}} = {{de} \mathord{\left/ {\vphantom {{de} {d{{e}_{1}}}}} \right. \kern-0em} {d{{e}_{1}}}} \approx 1.62,$ ${{\zeta }_{2}} = {{d{{e}_{1}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{d{{e}_{1}}} {{{e}_{1}}e}}} \right. \kern-0em} {{{e}_{1}}e}} \approx 1.6.$ Значения скейлинговых параметров для паттерна de близки к коэффициенту Золотого сечения $\zeta \approx 1.618.$ Их оценка позволяет установить количественную связь между структурными особенностями исследуемых объектов и фрактальными свойствами взаимодействующего с ними светового излучения.

Несмотря на то, что форма паттернов в разных спектральных областях имеет заметные отличия, их геометрия, определяемая взаимным расположением внутренних пиков, близка между собой. Тем самым можно утверждать, что при определенных условиях регистрируемые в спектральных характеристиках паттерны могут служить ориентиром при оценке скейлинговых свойств рассматриваемых многослойных систем и их аппроксимантов.

Полученные результаты позволяют существенно дополнить диагностический метод [1] на основе паттерного анализа применительно к аппроксимантам фракталоподобных многослойных структур с метаслоями.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Результаты моделирования указывают на заметное влияние поглощения и дисперсии метаслоев, а также эффектов фазовой компенсации и разбалансированности фазовых набегов в слоях при анализе скейлинга в оптических характеристиках многослойных структур с метаслоями. Дисперсия вызывает искажение формы выделяемых паттернов, поглощение метаслоев приводит к сглаживанию спектральных характеристик во всех рассмотренных частотных областях. Эффекты фазовой компенсации в зависимости от соотношения числа слоев разных типов в некоторых случаях могут практически полностью подавить образование паттерных элементов (системы с одинаковым количеством первичных элементов $A$ и $B$).

Выполненный анализ характеристик многослойных структур с метаслоями указывает на возможность установления взаимно однозначной связи между их структурными особенностями и спектрами пропускания на основе выявления паттерных образований и определения коэффициентов скейлинга в узком интервале изменения поглощения $\gamma .$

Полученные результаты являются существенным дополнением паттерного подхода оптической диагностики, базирующегося на определении скейлинговых параметров фракталоподобных многослойных структур аппроксимантов с метаслоями [6, 15].

Работа выполнена при финансовой поддержке РФФИ (грант 18-01-00723a).

Список литературы

  1. Ryzhikova Yu., Mukhartova Iu., Ryzhikov S. // J. Phys. Conf. Ser. 2018. V. 1141. Art. № 012059.

  2. Ружицкая Д.Д., Рыжикова Ю.В., Рыжиков С.Б. // Изв. РАН. Сер. физ. 2018. № 11. С. 1512; Ruzhitskaya D.D., Ryzhikova Yu V., Ryzhikov S.B. // Bull. Russ. Acad. Sci. Phys. 2018. V. 82. № 11. P. 1375.

  3. Кравченко В.Ф., Кравченко О.В. Конструктивные методы алгебры логики, атомарных функций, вейвлетов, фракталов в задачах физики и техники. М.: Техносфера, 2018.

  4. Krzysztofik W.J. // Microwave Rev. 2013. V. 19. № 2. P. 3.

  5. Давыдова М.Г., Короленко П.В., Рыжикова Ю.В. // Вестн. Моск. ун-та. Сер. 3. Физ., астрон. 2016. № 4. С. 56; Davydova M.G., Korolenko P.V., Ryzhikova Yu.V. // Moscow Univ. Phys. Bull. 2016. V. 71. № 4. P. 395.

  6. Ryzhikova Y.V., Korolenko P.V., Ryzhikov S.B. // PIERS. 2017. P. 2742.

  7. Aghajamali A., Javanmardi B., Barati M., Wu C.-J. // Optik. 2014. V. 125. P. 839.

  8. Li J., Zhou L., Chan C.T., Sheng P. // Phys. Rev. Lett. 2003. V. 90. № 8. Art. № 083901.

  9. Machado F., Ferrando V., Furlan W.D., Monsoriu Ju.A. // Opt. Expr. 2017. V. 25. № 7. P. 8267.

  10. Korolenko P.V., Ryzhikov S.B., Ryzhikova Yu.V. // Phys. Wave Phenom. 2013. V. 21. № 4. P. 256.

  11. Davydova M.G., Korolenko P.V., Ryzhikov S.B., Ryzhikova Yu.V. // Phys. Wave Phenom. 2016. V. 24. № 1. P. 17.

  12. Daninthe H., Foteinopoulou S., Soukoulis C.M. // Photon. Nanostruct. Fundam. Appl. 2006. V. 4. № 3. P. 123.

  13. Путилин Э.С. Оптические покрытия. СПб.: СПбГУ ИТМО, 2010.

  14. Веселаго В.Г. // УФН. 2003. Т. 173. № 3. С. 790; Veselago V.G. // Phys. Usp. 2003. V. 46. P. 764.

  15. Короленко П.В., Логачев П.А., Рыжиков С.Б., Рыжикова Ю.В. // Физ. осн. приборостр. 2014. Т. 3. № 3. С. 66.

Дополнительные материалы отсутствуют.