Кристаллография, 2020, T. 65, № 6, стр. 939-942

Вторичное излучение в микроалмазах с NV-центрами

В. С. Горелик 12*, С. А. Савинов 1, В. В. Сычев 1, D. Bi 2

1 Физический институт им. П.Н. Лебедева РАН
Москва, Россия

2 Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана
Москва, Россия

* E-mail: gorelik@sci.lebedev.ru

Поступила в редакцию 29.03.2020
После доработки 10.04.2020
Принята к публикации 10.04.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Исследованы закономерности в спектрах вторичного излучения (флюоресценции и комбинационного рассеяния света) в одиночных микрокристаллах алмаза. При возбуждении инфракрасным лазерным излучением в спектре комбинационного рассеяния обнаружено проявление фундаментальной алмазной моды с частотой 1332 см–1 и двухфононной полосы с максимумом на частоте 2615 см–1. В спектрах флуоресценции зарегистрированы бесфононные линии NV-центров с выраженной фононной структурой.

ВВЕДЕНИЕ

Алмаз характеризуется наличием ряда уникальных свойств: химической стойкостью, механической прочностью, большой шириной запрещенной зоны, рекордной теплопроводностью и высокой температурой Дебая. Оптические свойства кристаллов алмаза, в частности спектры фотолюминесценции (ФЛ), были объектом многочисленных исследований [13]. Исследования спектров комбинационного рассеяния (КР) в различных типах алмазов описаны в [413]. В спектрах КР естественных алмазов присутствовал интенсивный пик с частотой 1332 см–1, соответствующий оптическому фонону вблизи центра зоны Бриллюэна (с квазиимпульсом, близким к нулю). При большой интенсивности возбуждающего излучения в спектре КР естественных алмазов зарегистрирован [8, 9] малоинтенсивный континуум КР второго порядка, соответствующий двухфононным процессам рассеяния с участием пар фононов со всей зоны Бриллюэна, включая ее границы. При наличии примесей в естественных алмазах в спектрах вторичного излучения проявлялись также люминесцентные полосы, обусловленные девозбуждением примесных центров. В связи с большой шириной (5 эВ) запрещенной зоны кристаллов алмаза ФЛ в беспримесных алмазах практически отсутствовала, и образцы были бесцветными.

Среди нескольких сотен зарегистрированных центров окраски [1] наиболее распространены и изучены центры со встроенными в кристаллическую решетку алмаза атомами азота. Из них наибольшее внимание привлекают NV-центры, образованные атомом азота с вакансией, расположенной по соседству по диагонали {111} гранецентрированной кубической решетки алмаза. Центры существуют в двух зарядовых состояниях: нейтральном NV0 и отрицательно заряженном NV, причем оптические свойства последнего демонстрируют спин-зависимый характер ФЛ. Парамагнетизм NV-центра с возможностью оптической записи и считывания спинового состояния стал основой для исследований по квантовым технологиям [14] (защищенные законами квантовой физики каналы связи, квантовые компьютеры, квантовые сенсоры). Исследования квантовой памяти на ядрах 13С вылились в новое направление: оптически индуцированную гиперполяризуемость, обеспечивающую гигантский рост чувствительности ядерного магнитного резонанса и магнитно-резонансной томографии [15]. Еще одна перспективная область применения микроалмазов – создание флуоресцентных меток для защиты промышленной продукции и документов.

Коммерчески доступные микрокристаллы алмаза с содержанием примеси азота от 100 промилле (тип Ib) получают методом синтеза при высоком давлении и высокой температуре (High Pressure – High Temperature, HPHT). Вопрос о применимости производимых в промышленных масштабах порошков микроалмазов требует разработки методик анализа оптического качества образцов. Возможное решение состоит в сочетании метода спектроскопии КР, дающего информацию о качестве кристаллической матрицы, и анализа спектров ФЛ, отражающего соотношение концентраций NV0- и NV-центров.

Целью данной работы является исследование закономерностей спектров фотолюминесценции и комбинационного рассеяния в одиночных микрокристаллах алмаза, синтезированных по технологии HPHT. Решение этой задачи будет способствовать применению коммерчески доступных микроалмазов для разработок в области новых квантовых и биотехнологий, а также для защиты рынка промышленной продукции и ценных бумаг от контрафакта.

ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНАЯ ЧАСТЬ

Исследуемые алмазные микрокристаллы (рис. 1а, 1б) представляли собой образцы желто-зеленого цвета, имеющие вид близких по размеру (d = 250–300 мкм) правильных многогранников. Цвет образцов связан с присутствием в них примесных NV-центров. Аналогичные микрокристаллы, изготовленные по HPHT-технологии, исследованы ранее методом КР при возбуждении инфракрасным излучением лазера с длиной волны генерации λ0 = 785 нм [16, 17]. В настоящей работе для исследования спектров КР в одиночном кристалле алмаза использован метод инфракрасного возбуждения по методике, изложенной в [16, 17]. Кроме того, для возбуждения спектров вторичного излучения (ФЛ и КР) использовали лазер с длиной волны генерации λ0 = 532 нм. С целью исключения вклада в анализируемые спектры ФЛ сигнала от подложки образцы были впечатаны в лунку с индием (рис. 1б).

Рис. 1.

Искусственные микрокристаллы алмаза: а – вид микроалмазов размером 250–300 мкм, б – одиночный микроалмаз, внедренный в индиевую подложку.

Исследование спектров вторичного излучения проводили на установке, схема которой приведена на рис. 2. В качестве источника возбуждающего излучения применяли непрерывный лазер (1) с длиной волны генерации λ0 = 532 нм и мощностью 1 мВт. Лазерное излучение после полосового интерференционного фильтра (3) отражалось от дихроичного светоделителя (4) и микрообъективом (5) фокусировалось на образец (6). Излучение ФЛ и КР собиралось тем же объективом и, последовательно пройдя дихроичный фильтр (4) и нотч-фильтр (7), линзой (8) фокусировалось на входную щель спектрометра типа “SpectraPro-2300i” (9) с охлаждаемой светочувствительной CCD-матрицей “PIXIS-100”.

Рис. 2.

Схема экспериментальной установки для исследования вторичного излучения в микроалмазах: 1 – лазер, 2 – аттенюатор, 3 – полосовой интерференционный светофильтр, 4 – дихроичный светоделитель, 5 – микрообъектив ×40, 6 – образец, 7 – нотч-фильтр, 8 – линза, 9 – спектрометр, 10 – компьютер.

Регистрацию спектров вторичного излучения и их первичную обработку проводили под управлением специализированной компьютерной программы “WinSpec”. Спектральное разрешение спектрометра составляло 0.3 нм, пространственное разрешение ∼1 мкм. Полный спектр вторичного излучения микроалмазов в диапазоне 550–800 нм регистрировали при экспозициях около 10 с. Измерения проводили при комнатной температуре.

РЕЗУЛЬТАТЫ ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ

Вид спектра спонтанного КР в микрокристалле алмаза размером 300 мкм, полученный при возбуждении лазерным излучением с длиной волны генерации λ0 = 785 нм, приведен на рис. 3. В спектре обнаруживается интенсивный пик КР с частотой 1332 см–1. Кроме фундаментального пика в спектре присутствует двухфононный пик с частотным сдвигом 2615 см–1.

Рис. 3.

Нормированный спектр КР образца микроалмаза размером 300 мкм. Длина волны возбуждающего излучения λ0 = 785 нм.

На рис. 4 представлены спектры вторичного излучения одиночного алмаза при возбуждении лазером с длиной волны генерации λ0 = 532 нм при интенсивности падающего на образец излучения 104 и 105 Вт/см2. На этом рисунке кроме фундаментального алмазного пика КР с частотой 1332 см–1 присутствуют интенсивные полосы ФЛ. Максимумы ФЛ вблизи 576 и 637 нм относятся к бесфононным линиям (ZPL) ФЛ незаряженных NV0 и заряженных NV-центров соответственно. Полосы фононных повторений парамагнитных NV-центров простираются в спектре до 800 нм. Поскольку в исследованных алмазах концентрация примесных атомов азота составляет более 100 промилле, в ближайшем окружении NV-центра имеется достаточно много электронов для формирования NV-зарядовых состояний [18].

Рис. 4.

Спектры ФЛ микроалмаза размером 300 мкм для двух интенсивностей лазерного излучения 105 Вт/см2 (тонкая линия) и 104 Вт/см2 (толстая линия), нормированные на величину сигнала КР: а – обзорный спектр, б – участок спектра, содержащий бесфононную линию NV0. Длина волны возбуждающего излучения λ0 = 532 нм.

При повышении интенсивности лазерного излучения от 104 до 105 Вт/см2 наблюдается известный эффект фотоионизации NV-центров и преобразование их в NV0-центры [19], что отражается в росте величины пика ZPL NV0-центра (рис. 4б). При этом процесс носит обратимый характер: при снижении интенсивности до исходного уровня вид спектра восстанавливается.

Отметим, что в ходе экспериментов не было обнаружено заметных изменений в спектрах как при картировании отдельного образца, так и при его замене на другой образец из данной серии. Это свидетельствует о высоком качестве микрокристаллов и отсутствии неоднородностей в пространственном распределении NV-центров в образце.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

На основе выполненных измерений с высоким пространственным разрешением (~1 мкм) установлено, что в спектрах вторичного излучения одиночных микрокристаллов алмаза размером d = 250–300 мкм, изготовленных по технологии HPHT, кроме фундаментальной полосы КР с частотным сдвигом 1332 см–1 обнаруживаются интенсивные пики ФЛ. Данные пики обусловлены присутствием при комнатной температуре в исследованных микрокристаллах парамагнитных NV-центров, соответствующих бесфононным примесным экситонам в видимой области спектра.

HPHT-микрокристаллы алмазов с высокой концентрацией парамагнитных NV-центров представляют интерес для создания упорядоченной электронной магнитной структуры при наложении постоянного магнитного поля. Содержание в синтезированных микрокристаллах алмазов небольшого количества изотопов С13 представляется перспективным также для поляризации ядерных спинов. Высокая фотостабильность и биосовместимость микрокристаллов алмаза открывают возможности их использования в области биофизических и квантовых приложений.

Работа выполнена при поддержке Российского фонда фундаментальных исследований (гранты № 18-02-00181, 20-52-00002) и China Scholarship Council.

Список литературы

  1. Zaitsev A.M. Optical Properties of Diamond. A Data Handbook. Berlin: Springer, 2001. 486 p.

  2. Агальцов А.М., Горелик В.С., Рахматуллаев И.А. // ЖТФ. 1997. Т. 67. № 11. С. 113.

  3. Миков С.Н., Иго А.В., Горелик В.С. // ФТТ. 1999. Т. 41. № 6. С. 1110.

  4. Robertson R., Fox J.J. // Nature. 1930. V. 125. № 3158. P. 704. https://doi.org/10.1038/125704a0

  5. Krishnan R.S. // Proc. Indian Acad. Sci. A. 1947. V. 26. № 6. P. 399. https://doi.org/10.1007/BF03170898

  6. Krishnamurt D. // Proc. Indian Acad. Sci. A. 1954. V. 40. № 5. P. 211. https://doi.org/10.1007/BF03047399

  7. Smith H.M.J. // R. Soc. 1947. V. 248. P. 105.

  8. Dolling G., Cowley R.A. // Proc. Phys. Soc. 1966. V. 88. № 2. P. 463. https://doi.org/10.1088/0370-1328/88/2/318

  9. Solin S.A., Ramdas A.K. // Phys. Rev. B. 1970. V. 1. № 4. P. 1687. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.1.1687

  10. Горелик В.С., Алексенко А.Е., Спицын Б.В., Файзуллов Т.Ф. // Краткие сообщения по физике ФИАН. 1989. № 2. С. 37.

  11. Горелик В.С., Миков С.Н., Иго А.В. // Краткие сообщения по физике ФИАН. 1995. № 11–12. С. 20.

  12. Миков С.Н., Иго А.В., Горелик В.С. // ФТТ. 1995. Т. 37. № 10. С. 3033.

  13. Горелик В.С., Иго А.В., Миков С.Н. // ЖЭТФ. 1996. Т. 109. № 6. С. 2141.

  14. Цуканов А.В. // Микроэлектроника. 2012. Т. 41. № 2. С. 104.

  15. Shenderova O.A., Shames A.I., Nunn N.A. et al. // J. Vac. Sci. Technol. B. 2019. V. 37. № 3. P. 030802. https://doi.org/10.1116/1.5089898

  16. Горелик В.С., Скрабатун А.В., Bi D. // Кристаллография. 2019. Т. 64. № 3. С. 405.

  17. Горелик В.С., Скрабатун А.В., Bi D. // Оптика и спектроскопия. 2019. Т. 126. № 5. С. 614.

  18. Doherty M.W., Manson N.B., Delaney P. et al. // Phys. Rep. 2013. V. 528. № 1. P. 1. https://doi.org/10.1016/j.physrep.2013.02.001

  19. Manson N.B., Harrison J.P. // Diamond Relat. Mater. 2005. V. 14. № 10. P. 1705. https://doi.org/10.1016/j.diamond.2005.06.027

Дополнительные материалы отсутствуют.