Российские нанотехнологии, 2021, T. 16, № 3, стр. 364-368

ЗАРЯДОВОЕ СОСТОЯНИЕ МЕДИ В ТЕРМОЭЛЕКТРИКЕ Sb2 – xCuxTe3

В. А. Кульбачинский 123*, В. Г. Кытин 1, Е. А. Константинова 1

1 Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова
Москва, Россия

2 Московский физико-технический институт
Долгопрудный, Россия

3 Национальный исследовательский центр “Курчатовский институт”
Москва, Россия

* E-mail: kulb@mig.phys.msu.ru

Поступила в редакцию 25.11.2020
После доработки 25.11.2020
Принята к публикации 14.12.2020

Полный текст (PDF)

Аннотация

Представлены результаты исследования электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и термоэлектрических свойств в интервале температур 77 < T < 350 K монокристаллических образцов Sb2 –xCuxTe3 (x = 0, 0.01, 0.07, 0.10), синтезированных методом Бриджмена. Измерения ЭПР показывают, что атомы меди в исследованных образцах скорее всего находятся в бесспиновом состоянии Cu+1. Концентрация дырок, проводимость сильно возрастают, а коэффициент Зеебека незначительно уменьшается при легировании Sb2Te3 медью. Теплопроводность образцов, легированных Cu, несколько выше, чем у исходного Sb2Te3. В результате термоэлектрическая эффективность ZT возрастает с увеличением содержания Cu при T > 300 K.

ВВЕДЕНИЕ

Термоэлектрические материалы Bi2Te3 и Sb2Te3 являются объектом фундаментальных исследований для лучшего понимания их термоэлектрических свойств и их связи со структурой, точечными дефектами, легированием [1]. Стимулом для таких исследований является применение этих материалов в термоэлектрических устройствах при комнатных температурах. Sb2Te3 – известный термоэлектрический материал [1], а также известный топологический изолятор [2, 3]. Однако эффективность термоэлектрического материала ограничена его низким значением термоэлектрической эффективности ZT = σS2T/κ, где σ – проводимость, S – коэффициент Зеебека, κ – теплопроводность. Эффективный метод тонкой подгонки транспортных свойств, а именно σ, S и κ, заключается в легировании Sb2Te3 [46]. Sb2Te3 – слоистый кристалл, имеющий ромбоэдрическую структуру и пр. гр. $R\bar {3}m - D_{{3d}}^{5}$ с осями симметрии второго C2 и третьего C3 порядка. Кристаллическая решетка образована периодически упорядоченными слоями, лежащими в плоскости, перпендикулярной оси C3. Каждый слой состоит из пяти атомных плоскостей (квинтетов), образующих последовательность Te1–Sb–Te2–Sb–Te1. Здесь Te1 и Te2 – атомы Te в различных положениях. В каждом отдельном слое атомы похожи и образуют плоскую гексагональную решетку. Атомы каждого последующего слоя расположены над центрами треугольников, образованных атомами предыдущего слоя, т.е. атомы Te1 и Sb занимают октаэдрические позиции в структуре тетрадимита. Химическая связь внутри квинтетов является ковалентно-ионной. Между квинтетами существуют сравнительно большое расстояние и слабая связь, создаваемая силами Ван-дер-Ваальса. Это отвечает за анизотропию проводимости, термоэдс и другие свойства монокристаллов. Кристаллы Sb2Te3 имеют высокую концентрацию дырок из-за наличия большого количества заряженных точечных дефектов. Монокристаллы Sb2Te3 имеют различные типы дефектов: вакансии Sb и Te, атомы в междоузлиях, антиструктурные SbTe (атом Sb в положении Te) дефекты TeSb (атом Te в положении Sb), примесные антиструктурные дефекты, примесные атомы в межузельных позициях и т.д. Поскольку антиструктурные дефекты заряжены отрицательно, Sb2Te3, выращенный в стехиометрических условиях, всегда обладает проводимостью p-типа и имеет высокую концентрацию дырок. Слабая полярность связей Sb–Te способствует образованию антиструктурных дефектов. Изменение полярности связей, вызванное легированием или смещением стехиометрии, приводит к изменению концентрации антиструктурных дефектов. Если предположить, что заряд антиструктурных дефектов компенсируется дырками, любое изменение концентрации антиструктурных дефектов будет соответствовать изменению концентрации дырок. Легирование Sb2Te3 оказываeт сильное влияние на концентрацию точечных дефектов и, следовательно, концентрацию носителей заряда. Поэтому легирование элементами определенных групп периодической Таблицы элементов им. Д.И. Менделеева может иметь донорный или акцепторный эффект не в зависимости от номера группы, а в результате влияния легирующего элемента на полярность связи. В качестве примера можно привести элемент III группы индий, обладающий донорным эффектом в Sb2Te3 [7].

Цель настоящей работы – исследовать влияние легирования Cu на электронный парамагнитный резонанс (ЭПР) и термоэлектрические свойства монокристаллов p-Sb2 –xCuxTe3 в интервале температур 77–350 К.

ЭКСПЕРИМЕНТ

Исследованы монокристаллические образцы p-типа теллурида сурьмы (Sb2Te3), легированные медью, выращенные методом Бриджмена из поликристаллических материалов. Сначала синтезировали поликристаллические образцы из 99.999% чистых элементов в стехиометрическом соотношении в кварцевой ампуле. В стехиометрический поликристалл для легирования добавляли медь, чтобы впоследствии образцы имели состав Sb2 –xCuxTe3 (x = 0, 0.01, 0.07, 0.10). После приготовления поликристалла необходимого состава выращивали монокристаллы. Выращенные монокристаллы освобождали из кварцевой ампулы и кололи в жидком азоте перпендикулярно оси С3, которая после выращивания всегда была перпендикулярна продольной оси слитка. Образцы для измерений в форме параллелепипеда со средним размером 1 × 1 × 5 мм3 с длинной осью, направленной вдоль оси C2, вырезали с помощью электроэрозионного метода. Токовые и потенциальные выводы к образцу делали из медной проволоки диаметром 30 мкм, в качестве припоя использовали сплав Bi + 4% Sb. Исследовали монокристаллические образцы p-Sb2Te3, легирован-ного медью. Измерения ЭПР проводили для получения информации о зарядовом состоянии атомов Cu в Sb2 –xCuxTe3. Как правило, медь может находиться в состоянии Cu+1 или Cu+2 в химических соединениях. Ионы Cu+1 имеют нулевой спин, в то время как ионы Cu+2 имеют спин 1/2 и соответствующий магнитный момент. Для измерений ЭПР были подготовлены образцы площадью ~4 мм2 и толщиной ~0.1 мкм. Измерения ЭПР проводили с использованием спектрометра Bruecker E500 X-диапазона. Микроволновая частота была близка к 9 ГГц. При такой частоте глубина скин-слоя близка к 2 мкм для кристаллов с 2 ат. % Cu, что превышает толщину чешуек, приготовленных для измерения ЭПР. Для получения спектров ЭПР пять образцов с различным содержанием меди с описанными выше размерами были помещены в резонатор спектрометра. Не для всех исследованных образцов был обнаружен сигнал. Общий объем, который может вносить вклад в сигнал ЭПР, близок к 0.07 мм3 для образца с содержанием 10% Cu при условии, что микроволновое излучение проникает в каждый образец с обеих сторон. Для образца с 2 ат. % Cu в этом объеме содержится около 1.7 × 1018 ионов меди. Чувствительность используемого спектрометра ЭПР составляет 1011 спин/Гс. Это означает, что либо доля ионов Cu+2 очень мала, либо релаксация спина ионов Cu+2 происходит нереально быстро. Даже если ширина линии ЭПР составляет 1000 Гс, доля ионов Cu+2 составляет менее 0.01%. Таким образом, атомы меди в исследованных образцах Sb2 –xCuxTe3 (x = 0, 0.01, 0.07, 0.10) наиболее вероятно находятся в бесспиновом состоянии Cu+1.

РЕЗУЛЬТАТЫ ИЗМЕРЕНИЙ И ИХ ОБСУЖДЕНИЕ

Эффект Шубникова–де Гааза. Зонная структура кристаллов Sb2Te3 имеет две зоны проводимости (1 – нижняя зона проводимости (LCB), 2 – верхняя зона проводимости (UCB)) и две валентные зоны (3 – зона легких дырок (LHB), 4 – зона тяжелых дырок (HHB)). Особенность кристалла в том, что точки экстремумов зоны находятся внутри первой зоны Бриллюэна. Наличие зоны тяжелых дырок следует как из расчетов, так и из экспериментальных данных [7, 8]. Более того, потолок зоны легких дырок расположен над потолком зоны тяжелых дырок примерно на 0.03 эВ [9]. Кроме того, поверхностные состояния дают конус Дирака в спектре [10]. Обе валентные зоны в Sb2Te3 имеют шесть эллипсоидов поверхности Ферми, которые центрированы в плоскости симметрии. Во всех образцах наблюдался эффект Шубникова–де Гааза, позволивший рассчитать энергию Ферми ЕF дырок, концентрацию легких дырок PSdH и квантовую подвижность µq дырок в зависимости от величины х в Sb2 –xCuxTe3 [11, 12]. Величины для исследованных в данной работе образцов приведены в табл. 1.

Таблица 1.

Частота осцилляций Шубникова–де Гааза F, энергия Ферми ЕF, концентрация легких дырок PSdH и квантовая подвижность µq для Sb2 –xCuxTe3 [11, 12]

Состав F, Тл ЕF, мэВ PSdH, 1019см–3 µq, см2/В с
Sb2Te3 54.6 103.4 3.39 1100
Sb1.99Cu0.01Te3 73.6 139.4 5.31 890
Sb1.97Cu0.03Te3 78.3 148.3 5.83 1050
Sb1.95Cu0.05Te3 79.0 149.6 5.90 860
Sb1.93Cu0.07Te3 84.0 159.1 6.47 1000
Sb1.90Cu0.10Te3 134.3 254.4 13.09 630

Как хорошо видно из таблицы, медь оказывает сильное акцепторное действие, концентрация дырок заметно увеличивается при легировании медью Sb2Te3.

Температурные зависимости сопротивления исследуемых образцов Sb2 –xCuxTe3 приведены на рис. 1а. Для всех образцов сопротивление R уменьшается с понижением температуры и насыщается при низких температурах. В интервале 100–300 K зависимость R(T) подчиняется степенному закону с показателем степени m = 1.2 для образца Sb2Te3. Отклонение от m = 1.5, характерного для рассеяния на фононах, скорее всего связано с вкладом рассеяния на ионизированных примесях. Показатель степени практически не изменяется при легировании Cu до максимальных изученных концентраций. Отметим, что для других примесей ситуация иная. В качестве примера приведем температурные зависимости сопротивления для монокристаллов Sb2 –xSnxTe3 [13]. С увеличением содержания олова показатель степени сильно уменьшается и при x = 0.0075 равен m = 0.6 [13], что соответствует увеличению вклада рассеяния на примесях (рис. 1б).

Рис. 1.

Температурные зависимости сопротивления для монокристаллов Sb2 –xCuxTe3 (а) и Sb2 –xSnxTe3 [13] (б).

Термоэлектрические свойства. В работе исследованы монокристаллы Sb2 –xCuxTe3 (x = 0, 0.01, 0.07, 0.10). На рис. 2а приведены температурные зависимости коэффициента Зеебека S для монокристаллов образцов Sb2 –xCuxTe3. Коэффициент Зеебека S положительный, поскольку кристаллы имеют проводимость p-типа. Видно, что с понижением температуры значение S уменьшается. Наибольшее значение S наблюдается выше комнатной температуры. С увеличением легирования медью коэффициент Зеебека уменьшается во всем интервале температур. График температурной зависимости теплопроводности κ (рис. 2б) показывает, что при легировании Cu теплопроводность κ вблизи комнатной температуры практически не изменяется в Sb2 –xCuxTe3 вплоть до x = 0.07. При снижении температуры ниже 150 K значение κ становится меньше, чем в нелегированном образце. Такое поведение объясняется тем, что рассеяние фононов на примесях, с одной стороны, играет важную роль в легированном медью образце при низких температурах, что снижает теплопроводность решетки. С другой стороны, концентрация носителей заряда увеличивается, что вносит больший вклад в электронную теплопроводность. Эти два процесса приводят к такой зависимости κ(T): с увеличением легирования до x = 0.10 концентрация носителей заряда становится большой, и электронная часть играет существенную роль в теплопроводности, что приводит к увеличению значения κ в образце с x = = 0.10. На рис. 3а приведены температурные зависимости электропроводности σ в образцах монокристалла Sb2 –xCuxTe3. При измерениях учитывали эффект Пельтье, возникающий в термоэлектрических материалах при прохождении тока и изменении кажущегося сопротивления. Графики показывают, что, во-первых, проводимость сильно возрастает при легировании и, во-вторых, с понижением температуры проводимость увеличивается во всех образцах. Металлический тип зависимости σ(Т) связан с высокой концентрацией дырок и вырождением энергетического спектра. Как видно из рис. 1а, построенного в логарифмическом масштабе, преобладает рассеяние на фононах. На рис. 3б приведена температурная зависимость безразмерной термоэлектрической эффективности ZT, рассчитанной по данным трех предыдущих графиков. Значения ZT увеличиваются с температурой, достигая ~0.22 при T = 325 K в чистом Sb2Te3. Легирование медью приводит к увеличению ZT при температуре 330 K до 0.24 при x = 0.07. Если вспомнить, что ZT = S 2σT/κ, становится ясно, что причина увеличения термоэлектрической эффективности заключается в сильном увеличении проводимости σ (рис. 2б) с небольшим уменьшением термоэдс S (рис. 2а) и относительно незначительным увеличением теплопроводности κ (рис. 2б) при x < 0.07.

Рис. 2.

Температурные зависимости термоэдс S (а) и теплопроводности κ (б) для монокристаллов Sb2 –xCuxTe3 с различными x (1 – 0, 2 – 0.01, 3 – 0.07, 4 – 0.10).

Рис. 3.

Температурные зависимости проводимости σ (а) и безразмерной термоэлектрической эффективности ZT (б) для монокристаллов Sb2 –xCuxTe3 с различными x: 1 – 0, 2 – 0.01, 3 – 0.07, 4 – 0.10.

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Таким образом, замена сурьмы на медь оказывает акцепторный эффект в теллуриде сурьмы. По данным ЭПР атомы меди в исследованных образцах скорее всего находятся в бесспиновом состоянии Cu+1. Легирование Sb2Te3 медью практически не изменило механизм рассеяния носителей, близкий к рассеянию на фононах при T > > 100 K. То есть ионы Cu не сильно увеличивают рассеяние по сравнению с другими примесями, например оловом. Электропроводность сильно возрастает при легировании Cu, термоэдс немного уменьшается, теплопроводность увеличивается только при максимальном содержании Cu. Это приводит к росту термоэлектрической эффективности при легировании при Т > 300 K.

Список литературы

  1. Scherrer H., Scherrer S. // Macro to Nano Handbook / Ed. Rowe D.M. London; New York: CRC Press, Taylor and Francis Group, 2006.

  2. Wang G., Zhu X., Wen J. et al // Nano Res. 2010. V. 3. P. 874. https://doi.org/10.1007/s12274-010-0060-2

  3. Jiang Y., Wang Y., Chen M. et al. // Phys. Rev. Lett. 2012. V. 108. P. 016401. https://doi.org/10.1103/PhysRevLett.108.016401

  4. Snyder G.J., Toberer E.S. // Nature Mater. 2008. V. 7. P. 105. https://doi.org/10.1038/nmat2090

  5. Kulbachinskii V.A., Kudryashov A.A., Kytin V.G. // Semiconductors. 2015. V. 49. P. 767. https://doi.org/10.1063/1.4983693

  6. Tarasov P.M., Kulbachinski V.A., Kytin V.G. // JETP. 2007. V. 105. P. 21. https://doi.org/10.1134/S1063776107070060

  7. Kulbachinskii V.A., Dashevskii Z.M., Inoue M. et al. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. P. 10915. https://doi.org/10.1134/S1063776107070060

  8. Thonhauser T., Scheidemantel T.J., Sofo J.O. et al. // Phys. Rev. B. 2003. V. 68. P. 085201. https://doi.org/10.1103/PhysRevB.68.085201

  9. Kulbachinskii V.A., Miura N., Nakagawa H. et al. // J. Phys.: Condens. Matter. 1999. V. 11. P. 5273. http://iopscience.iop.org/0953-8984/11/27/304

  10. Qi X.-L., Zhang S.-C. // Rev. Mod. Phys. 2011. V. 83. P. 1057. https://doi.org/10.1103/RevModPhys.83.1057

  11. Кульбачинский В.А., Зиновьев Д.А., Маслов Н.В., Кытин В.Г. // ЖЭТФ. 2019. Т. 155. № 6. С. 1091. https://doi.org/10.1134/S0044451019060130

  12. Исмаилов Ж.Т., Кульбачинский В.А. // Bulletin of the Karaganda University. “Physics” series. 2020. № 1 (97). С. 26. https://doi.org/10.31489/2020Ph1/26-34

  13. Kulbachinskii V.A., Kaminsky A.Yu., Kindo K. et al. // Phys. Status solidi. B. 2002. V. 229. P. 1467. https://doi.org/10.1002/1521-3951(200202)229:3<1467::AID-PSSB1467>3.0.CO;2-T

Дополнительные материалы отсутствуют.