Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2021, № 8, стр. 95-99
Изменение оптических свойств вблизи границы раздела самофокусирующихся нелинейных сред в зависимости от интенсивности локализованного светового пучка
С. Е. Савотченко *
Белгородский государственный технологический университет им. В.Г. Шухова
308012 Белгород, Россия
* E-mail: savotchenkose@mail.ru
Поступила в редакцию 29.11.2020
После доработки 27.01.2021
Принята к публикации 30.01.2021
Аннотация
Предложена модель, в которой локализованное распространение света описывается нелинейным уравнением Шредингера с меняющимися скачкообразно параметрами и положительным коэффициентом квадратичной нелинейности, а также с точечным потенциалом, моделирующим взаимодействие возбуждений с границей раздела слоев волновода. Найдено точное решение уравнения и проанализированы его параметры в зависимости от интенсивности такого взаимодействия и амплитуды поля на дефекте. Показано, что при взаимодействии волны с границей раздела слоев волновода снижается амплитуда поля на дефекте. Описаны изменения свойств области вблизи границы, связанные с особенностями структуры поля в локализованном пучке света.
ВВЕДЕНИЕ
Оптические свойства нелинейных слоистых структур находят широкое техническое применение в различных оптических устройствах. Для теоретического описания распространяющихся вдоль границ раздела сред локализованных пучков света часто используется нелинейное уравнение Шредингера [1]. Известно множество форм нелинейного члена в этом уравнении, таких как степенная [2] (квадратичная или керровская – ее частный случай [3]), логарифмическая [4], насыщаемая [5], ступенчатая [6–11]. Недавно в [12] было предложено использовать модель, в которой нелинейный коэффициент меняется скачком в зависимости от амплитуды решения. Также изучали взаимодействие локализованных в пространстве возбуждений (волн, в том числе и солитонов) с дефектами [13]. Такое взаимодействие моделируется потенциалом в нелинейном уравнении Шредингера. Для получения результатов в точном аналитическом виде применяется приближение точечного потенциала с дельта-функцией Дирака. Решения нелинейного уравнения Шредингера с таким потенциалом и со скачкообразным изменением линейного слагаемого были получены в [14].
Изменения оптических свойств приповерхностных слоев кристаллов в зависимости от интенсивности излучения наблюдались в [15]. Поэтому возникает интерес построения моделей для теоретического изучения механизмов контроля изменений оптических свойств вследствие распространения высокоинтенсивного излучения вдоль приграничных областей среды в волноводах.
В настоящей работе для моделирования особенностей локализованного распространения света вдоль границы раздела нелинейных сред предлагается использовать нелинейное уравнение Шредингера с точечным потенциалом и особой формой нелинейного слагаемого. В предлагаемой модели при достижении амплитуды волны (интенсивности света) определенной величины линейный коэффициент преломления и коэффициент квадратичной нелинейности керровского типа меняются скачком. Такая модель удобна для теоретического описания изменения оптических свойств приграничных областей сред вблизи зоны контакта в зависимости от интенсивности распространяющегося пучка света, а также позволяет получать основные результаты в явном аналитическом виде.
ФОРМУЛИРОВКА И УРАВНЕНИЯ МОДЕЛИ
Приближение точечного потенциала можно использовать для моделирования ультратонкого слоя между широкими слоями нелинейного волновода, когда характерный масштаб локализации возмущений параметров среды, создаваемых им, существенно превосходит его толщину. В этом случае ультратонкий слой можно считать плоским дефектом, расположенным в плоскости x = 0 и разделяющим два нелинейных широких слоя (полубесконечных в поперечном к границе направлении). Вдоль такого ультратонкого слоя, расположенного на оси Ох, будет происходить локализация пучка света. Возмущения в широких слоях будем считать однородными вдоль плоскости дефекта yz и неоднородными в поперечном направлении вдоль оси Ох.
Поэтому для описания стационарного распределения пучка света, локализованного в поперечном к плоскости дефекта направлении, будем использовать одномерное нелинейное уравнение Шредингера в традиционной форме:
где δ(x) – дельта-функция Дирака. В нелинейной оптике принято, что u(х) – y-компонента напряженности электрического поля [16], E – константа распространения (или эффективный показатель преломления), m = 1/2D > 0, D – коэффициент дифракции (всюду постоянный), $\Omega (\left| u \right|)$ – функция, пропорциональная показателю преломления и описывающая оптические свойства широких слоев волновода, в том числе их нелинейный отклик [17, 18].Интенсивность взаимодействия волны с дефектом U0 пропорциональна показателю преломления в ультратонкой границе раздела широких слоев nb: U0 ∼ hnb, где h – толщина прослойки (малая величина); при U0 > 0 дефект отталкивающий, а при U0 < 0 – притягивающий. Более детальную формулировку физической модели, приводящей к стационарному нелинейному уравнению Шредингера (1), можно найти в [17, 18].
На границе раздела линейных сред с постоянной и одинаковой всюду характеристикой Ω локализованное состояние существует только в случае притяжения (U0 < 0) и описывается экспоненциально убывающим полем [19]:
где c энергией локального уровняВ случае контакта линейной среды с нелинейной, в которой характеристика Ω (невозмущенный показатель преломления) зависит от поля переключения, условие локализации меняется [7]. Пусть первоначально среда характеризуется квадратичной самофокусирующейся нелинейностью с параметром
по обе его стороны от дефекта при |u| < us, где us > 0 – пороговое значение поля переключения. Затем с ростом поля происходит мгновенный скачок до другого значения при |u| > us. Здесь коэффициенты Ω1, 2 и α1, 2 считаются постоянными и положительными. Положительные значения коэффициентов нелинейности соответствуют самофокусирующейся нелинейности. Случай U0 = 0 и α1,2 = 0 был рассмотрен в [7–11], U0 = 0 и α1,2 ≠ 0 – в [12], U0 ≠ 0 и α1,2 = 0 – в [14].В результате вблизи дефекта, где |u| > us, формируется симметричная область (оптический домен) конечной ширины 2xs с оптическими свойствами, отличающимися от остальной среды. Образование такого домена обусловлено специфической структурой поля локализованного состояния, которая состоит из различных компонентов внутри домена и вне него [7–12, 14].
ЛОКАЛИЗОВАННЫЕ СОСТОЯНИЯ
Структура поля локализованного состояния характеризуется симметрией (u(–x) = u(x)) и при E < Ω1,2 определяется составляющими, описываемыми солитонным решением стационарного нелинейного уравнения Шредингера (1):
(2)
$u(x) = {{{{{{q}_{{1,2}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{q}_{{1,2}}}} {{\text{ch(}}{{q}_{{1,2}}}(x \mp {{x}_{{1,2}}}))}}} \right. \kern-0em} {{\text{ch(}}{{q}_{{1,2}}}(x \mp {{x}_{{1,2}}}))}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{{q}_{{1,2}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{q}_{{1,2}}}} {{\text{ch(}}{{q}_{{1,2}}}(x \mp {{x}_{{1,2}}}))}}} \right. \kern-0em} {{\text{ch(}}{{q}_{{1,2}}}(x \mp {{x}_{{1,2}}}))}}} {\sqrt {m{{\alpha }_{{1,2}}}} }}} \right. \kern-0em} {\sqrt {m{{\alpha }_{{1,2}}}} }},$Все параметры локализованного состояния (2) определяются из уравнения (1) и условий непрерывности поля и скачка его производной на границе раздела сред х = 0 [14], а также непрерывности поля и его производной при х = ±xs – координата, при которой поле локализованного состояния равно полю переключения: |u(xs)| = us [7].
Важно отметить, что положение границы домена xs не является исходным параметром модели, а определяется в ходе решения задачи как функция коэффициентов нелинейного уравнения Шредингера (1).
Из указанных условий для поля получаем соотношения:
(3)
$\begin{gathered} {{{{{{q}_{1}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{q}_{1}}} {{\text{ch(}}{{q}_{1}}({{x}_{s}} - {{x}_{1}}))}}} \right. \kern-0em} {{\text{ch(}}{{q}_{1}}({{x}_{s}} - {{x}_{1}}))}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{{q}_{1}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{q}_{1}}} {{\text{ch(}}{{q}_{1}}({{x}_{s}} - {{x}_{1}}))}}} \right. \kern-0em} {{\text{ch(}}{{q}_{1}}({{x}_{s}} - {{x}_{1}}))}}} {\sqrt {m{{\alpha }_{1}}} }}} \right. \kern-0em} {\sqrt {m{{\alpha }_{1}}} }} = \\ = {{{{{{q}_{2}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{q}_{2}}} {{\text{ch(}}{{q}_{2}}({{x}_{s}} - {{x}_{2}}))}}} \right. \kern-0em} {{\text{ch(}}{{q}_{2}}({{x}_{s}} - {{x}_{2}}))}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{{{q}_{2}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{q}_{2}}} {{\text{ch(}}{{q}_{2}}({{x}_{s}} - {{x}_{2}}))}}} \right. \kern-0em} {{\text{ch(}}{{q}_{2}}({{x}_{s}} - {{x}_{2}}))}}} {\sqrt {m{{\alpha }_{2}}} }}} \right. \kern-0em} {\sqrt {m{{\alpha }_{2}}} }} = {{u}_{s}}, \\ \end{gathered} $(4)
${{q}_{1}}{\text{th}}{{q}_{1}}({{x}_{s}} - {{x}_{1}}) = {{q}_{2}}{\text{th}}{{q}_{2}}({{x}_{s}} - {{x}_{2}}),$Из (3)–(5) следует, что пороговое значение поля переключения не является произвольным параметром, а полностью определяется свойствами среды:
Из (3)–(5) удается найти в явном виде все параметры решения (2):
(6)
${{x}_{2}}(E,{{U}_{0}}) = \frac{1}{{\sqrt {2m({{\Omega }_{2}} - E)} }}{\text{arth}}\left( {{{U}_{0}}\sqrt {\frac{m}{{2({{\Omega }_{2}} - E)}}} } \right),$(7)
$\begin{gathered} {{x}_{1}}(E,{{U}_{0}}) = {{x}_{s}}(E,{{U}_{0}}) - \frac{1}{{\sqrt {2m({{\Omega }_{1}} - E)} }} \times \\ \times \,\,{\text{arch}}\sqrt {\frac{{{{\alpha }_{1}} - {{\alpha }_{2}}}}{{{{\alpha }_{1}}}}\frac{{{{\Omega }_{1}} - E}}{{{{\Omega }_{1}} - {{\Omega }_{2}}}}} , \\ \end{gathered} $(8)
$\begin{gathered} {{x}_{s}}(E,{{U}_{0}}) = \frac{1}{{\sqrt {2m({{\Omega }_{2}} - E)} }} \times \\ \times \,\,\left\{ {{\text{arth}}\left( {{{U}_{0}}\sqrt {\frac{m}{{2({{\Omega }_{2}} - E)}}} } \right) + {\text{arch}}\sqrt {\frac{{{{\alpha }_{1}} - {{\alpha }_{2}}}}{{{{\alpha }_{2}}}}\frac{{{{\Omega }_{2}} - E}}{{{{\Omega }_{1}} - {{\Omega }_{2}}}}} } \right\}. \\ \end{gathered} $(9)
$u_{0}^{2}(E,{{U}_{0}}) = {{2{{{({{E}_{L}}({{\Omega }_{2}}) - E)}}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{2{{{({{E}_{L}}({{\Omega }_{2}}) - E)}}^{{{1 \mathord{\left/ {\vphantom {1 2}} \right. \kern-0em} 2}}}}} {{{\alpha }_{2}}}}} \right. \kern-0em} {{{\alpha }_{2}}}},$Для существования решения (2) должно выполняться условие u0 > us. Амплитуда поля в плоскости дефекта (9) убывает квадратичным образом с увеличением “мощности” дефекта при E ≤ EL(Ω2). Максимальная амплитуда (9) достигается при отсутствии взаимодействия волны с дефектом. Получается, что наличие такого взаимодействия приводит к снижению амплитуды в плоскости дефекта.
ОБСУЖДЕНИЕ
Выражения (6)–(9) определяют зависимости параметров локализованного состояния как функции Е, являющейся в данном контексте свободным параметром. Такой подход к анализу обычно используется в нелинейной оптике, когда параметр Е выступает в роли константы распространения (или эффективного показателя преломления) [20]. Все характеристики световых поверхностных волн и локализованных пучков света обычно выражаются через константу распространения. Это связано с тем, что в реальных экспериментах ее может варьировать путем изменения угла падения светового луча на плоскость дефекта (границу раздела).
В теории нелинейных колебаний и солитонов принято выражать энергию (или частоту) через амплитуду колебаний [21]. Частоты колебаний в нелинейном молекулярном кристалле находятся вне непрерывного спектра и зависят от амплитуды колебаний [22]. Устойчивость таких колебаний обусловлена ангармонизмом межмолекулярного взаимодействия. Поэтому представляется важным проанализировать зависимость энергии E локализованных состояний и других характеристик от амплитуды поля u0 на дефекте. Тогда из (9) получаем энергию локального состояния в виде:
(10)
$E({{u}_{0}},{{U}_{0}}) = {{\Omega }_{2}} - {{\left( {{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}} \right)} \mathord{\left/ {\vphantom {{\left( {{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}} \right)} 2}} \right. \kern-0em} 2}.$Параметры решения (2) также можно выразить через амплитуду поля на дефекте с использованием (10):
(11)
$\begin{gathered} {{x}_{2}}({{u}_{0}},{{U}_{0}}) = \frac{1}{{\sqrt {m\left( {{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}} \right)} }} \times \\ \times \,\,{\text{arth}}\left( {{{U}_{0}}\sqrt {\frac{m}{{{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}}}} } \right), \\ \end{gathered} $(12)
$\begin{gathered} {{x}_{1}}({{u}_{0}},{{U}_{0}}) = {{x}_{s}}({{u}_{0}},{{U}_{0}}) - \\ - \,\,\frac{1}{{\sqrt {m\left[ {2({{\Omega }_{1}} - {{\Omega }_{2}}) + {{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}} \right]} }} \times \\ \times \,\,{\text{arch}}\sqrt {\left( {1 + \frac{{{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}}}{{2({{\Omega }_{1}} - {{\Omega }_{2}})}}} \right)\left( {1 - \frac{{{{\alpha }_{2}}}}{{{{\alpha }_{1}}}}} \right)} , \\ \end{gathered} $(13)
$\begin{gathered} {{x}_{s}}({{u}_{0}},{{U}_{0}}) = \frac{1}{{\sqrt {m\left( {{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}} \right)} }} \times \\ \times \,\,\left\{ {{\text{arth}}\left( {{{U}_{0}}\sqrt {\frac{m}{{{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}}}} } \right) + } \right. \\ \left. { + \,\,{\text{arch}}\sqrt {\frac{{{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2} + mU_{0}^{2}}}{{2({{\Omega }_{1}} - {{\Omega }_{2}})}}\left( {1 - \frac{{{{\alpha }_{2}}}}{{{{\alpha }_{1}}}}} \right)} } \right\}. \\ \end{gathered} $(14)
${{x}_{s}}({{u}_{0}},{{U}_{0}}) \approx x_{s}^{{(0)}}({{u}_{0}}) + {{{{U}_{0}}} \mathord{\left/ {\vphantom {{{{U}_{0}}} {{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2}}}} \right. \kern-0em} {{{\alpha }_{2}}u_{0}^{2}}},$С ростом интенсивности взаимодействия в случае притягивающего дефекта толщина домена уменьшается, а в случае отталкивающего − увеличивается.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
В работе найдено точное решение нелинейного уравнения Шредингера с меняющимися скачкообразно параметрами, в том числе положительным коэффициентом квадратичной нелинейности, а также точечным потенциалом, моделирующим взаимодействие волны с ультратонкой границей раздела, рассматриваемой в качестве плоского дефекта.
Проанализированы параметры полученного решения в зависимости от “мощности” дефекта и амплитуды поля на дефекте. Найденное решение существует только в случае “потенциальной ямы” конечной мощности. Показано, что взаимодействие волн с плоским дефектом приводит к новым возможностям управления профилем локализации пучка света вдоль границы раздела нелинейных сред. Взаимодействие волн с дефектом в среде со скачком квадратичной нелинейности позволяет снизить амплитуду поля на границе по сравнению с полем в приграничных областях.
Полученные в работе результаты могут иметь значение при проектировании элементов электронно-оптических устройств, использующих контролируемую локализацию волн вдоль слоев. Предложенная теория расширяет представления о механизмах формирования нелинейных локализованных состояний и возможности управления ими.
Список литературы
Додд Р., Эйлбек Дж., Гиббон Дж., Моррис Х. Солитоны и нелинейные волновые уравнения. М.: Мир, 1988. 694 с.
Kursseva V., Tikhov S., Valovik D. // J. Nonlinear Opt. Phys. Mat. 2019. V. 28. P. 1950009.
Malomed B.A., Mihalache D. // Romanian J. Phys. 2019. V. 64. P. 106.
Zhan K., Tian H., Li X. et al. // Sci. Rep. 2016. V. 6. P. 32990.
Christian J.M., McDonald G.S., Chamorro-Posada P. // J. Opt. Soc. Am. B. 2009. V. 26. P. 2323.
Kaplan A.E. // IEEE J. Quantum Electronics. 1985. V. QE-21. P. 1538.
Хаджи П.И., Федоров Л.В. // ЖТФ. 1991. Т. 61. С. 110.
Ляхомская К.Д., Хаджи П.И. // ЖТФ. 2000. Т. 70. С. 86.
Savotchenko S.E. // Romanian J. Phys. 2020. V. 65. P. 202.
Савотченко С.Е. // ФТТ. 2020. Т. 62. С. 1260.
Савотченко С.Е. // Письма в ЖТФ. 2020. Т. 46. Вып. 16. С. 43.
Savotchenko S.E. // Phys. Lett. A. 2020. V. 384. P. 126451.
Kivshar Yu.S., Kosevich A.M., Chubykalo O.A. // Phys. Rev. A. 1990. V. 65. P. 1677.
Савотченко С.Е. // ЖЭТФ. 2020. Т. 158. Вып. 2(8). С. 1.
Jarque E.C., Malyshev V.A. // Opt. Commun. 1997. V. 142. P. 66.
Sukhorukov A.A., Kivshar Yu.S. // J. Opt. Soc. Am. B. 2002. V. 19. P. 772.
Савотченко С.Е. // Оптика и спектроскопия. 2019. Т. 126. Вып. 5. С. 554.
Савотченко С.Е. // Поверхность. Рентген., синхротр. и нейтрон. исслед. 2020. № 7. С. 79. https://doi.org/10.31857/S1028096020050155
Елютин П.В., Кривченков В.Д. Квантовая механика (с задачами). М.: Физматлит, 2001. 304 с.
Кившарь Ю.С., Агравал Г.П. Оптические солитоны. От волоконных световодов до фотонных кристаллов. М.: Физматлит, 2005. 648 с.
Косевич А.М., Ковалев А.С. Введение в нелинейную физическую механику. Киев; Наукова думка, 1989. 304 с.
Овчинников А.А. // ЖЭТФ. 1970. Т. 30. С. 147.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования