Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2022, № 11, стр. 15-19
Метод опорного слоя Gd в рефлектометрии поляризованных нейтронов
Е. С. Никова a, b, *, Ю. А. Саламатов a, Е. А. Кравцов a, b, В. В. Проглядо a, В. Д. Жакетов c, М. А. Миляев a
a Институт физики металлов им. М.Н. Михеева УрО РАН
620108 Екатеринбург, Россия
b Уральский Федеральный университет
620002 Екатеринбург, Россия
c Лаборатория нейтронной физики им. И.М. Франка ОИЯИ
141980 Дубна, Россия
* E-mail: e.nikova@mail.ru
Поступила в редакцию 28.01.2022
После доработки 15.03.2022
Принята к публикации 15.03.2022
- EDN: CJBKCC
- DOI: 10.31857/S1028096022110176
Аннотация
Рассмотрена возможность использования резонансного рассеяния нейтронов на атомах гадолиния в рефлектометрии поляризованных нейтронов для определения потенциала взаимодействия и расчета структурных и магнитных характеристик многослойных металлических пленок. Приведены экспериментальные данные рефлектометрии поляризованных нейтронов для пленок Fe/Cr/Fe с ферромагнитным и антиферромагнитным упорядочением слоев Fe. При использовании модуля и фазы коэффициента отражения, восстановленных для исследуемой части образца, были определены структурные характеристики и типы магнитного упорядочения слоев. Обработку проводили совместно для двух каналов рассеяния. Для каждого канала одновременно анализировали модуль и фазу.
ВВЕДЕНИЕ
Метод опорного слоя применяется для решения фазовой проблемы, в частности, в рефлектометрических исследованиях многослойных наногетероструктур [1, 2]. Он заключается в нанесении на исследуемую систему слоя с известными характеристиками, которые можно контролируемо изменять. Данный метод успешно применен в нейтронной рефлектометрии при изучении немагнитных систем [3–6]. В качестве опорного слоя применяли ферромагнитный металл и при помощи внешнего магнитного поля изменяли величину и направление его намагниченности.
Для изучения магнитных систем метод был модифицирован. В качестве опорного слоя было предложено использовать гадолиний, ядра изотопов которого взаимодействуют с нейтронами резонансным образом [7]. Хотя длины рассеяния тепловых нейтронов для большинства элементов не зависят от их энергии, известны изотопы (113Cd, 157Gd, 149Sm и другие), для которых наблюдаются резонансные эффекты рассеяния и поглощения тепловых нейтронов. Это свойство использовано в некоторых исследованиях [8–10].
В нейтронной рефлектометрии, в том числе рефлектометрии поляризованных нейтронов, использование гадолиния в качестве опорного слоя позволяет определить модуль и фазу коэффициента отражения многослойных наноструктур [11].
В настоящей работе экспериментально определены структурные и магнитные характеристики металлических многослойных пленок.
МЕТОДИКА
Для определения комплексного коэффициента отражения с использованием опорного слоя Gd необходимо провести три рефлектометрических эксперимента. При использовании времяпролетного рефлектометра необходимо изменять угол падения, в случае использования монохроматического излучения – длину волны падающего пучка. Благодаря энергетической зависимости плотности длины рассеяния Gd будут получены три различные кривые $I\left( q \right)$.
При анализе образец независимо от числа фактических слоев условно рассматривают как двухслойный. Характеристики одного слоя (опорного, содержащего Gd) известны и изменяются в каждом эксперименте. Характеристики второго слоя – исследуемой части – неизвестны, но постоянны. В этом случае коэффициент отражения rg неизвестной части образца представляет собой точку на окружности радиуса $\rho $ с центром $\gamma $, которая лежит в комплексной плоскости [2]:
(1)
$\gamma = \frac{{R{{h}_{{22}}}h_{{12}}^{{\text{*}}} - {{h}_{{21}}}h_{{11}}^{{\text{*}}}}}{{R{{h}_{{12}}}h_{{12}}^{{\text{*}}} - {{h}_{{11}}}h_{{11}}^{{\text{*}}}}},$(2)
$\rho = \sqrt R \frac{{\left| {{{h}_{{11}}}{{h}_{{22}}} - {{h}_{{12}}}{{h}_{{21}}}} \right|}}{{R{{h}_{{12}}}h_{{12}}^{{\text{*}}} - {{h}_{{11}}}h_{{11}}^{{\text{*}}}}},$Чтобы однозначно определить точку окружности, которая соответствует коэффициенту отражения, имеющему физический смысл, необходимо провести три эксперимента. Точка пересечения трех окружностей и будет соответствовать искомому коэффициенту отражения, а ее положение рассчитывается по формуле:
(3)
${{r}_{g}} = \frac{{{{A}_{1}}\left( {{{\gamma }_{2}} - {{\gamma }_{3}}} \right) + {{A}_{2}}\left( {{{\gamma }_{3}} - {{\gamma }_{1}}} \right) + {{A}_{3}}\left( {{{\gamma }_{1}} - {{\gamma }_{2}}} \right)}}{{\gamma _{1}^{{\text{*}}}\left( {{{\gamma }_{2}} - {{\gamma }_{3}}} \right) + \gamma _{2}^{{\text{*}}}\left( {{{\gamma }_{3}} - {{\gamma }_{1}}} \right) + \gamma _{3}^{{\text{*}}}\left( {{{\gamma }_{1}} - {{\gamma }_{2}}} \right)}}.$Можно провести два эксперимента, а не три [13]. Тогда будут получены два решения, одно из которых не имеет физического смысла. Выбор правильного решения в этом случае осуществляется на основании априорной информации об образце.
Зная модуль и фазу коэффициента отражения, можно провести уточнение характеристик исследуемой структуры так, чтобы обеспечить наиболее оптимальное соответствие одновременно модуля и фазы комплексного коэффициента отражения для всех каналов рассеяния нейтронов, для которых проводились эксперименты.
В случае системы с неколлинеарным магнитным упорядочением возникают четыре канала рассеяния нейтронов – два без переворота спина “+ +” и “– –” и два с переворотом спина “+ –” и “– +”, которые совпадают друг с другом. Каждый канал рассеяния описывается собственным потенциалом взаимодействия [14]:
(4)
$\begin{gathered} {{V}_{{ + + }}}\left( x \right) = 4\pi \left[ {{{\delta }_{n}}\left( x \right) + {{\delta }_{m}}\left( x \right)\cos \alpha + i{\kern 1pt} {{\beta }_{n}}\left( x \right)} \right], \\ {{V}_{{ - {\kern 1pt} - }}}\left( x \right) = 4\pi \left[ {{{\delta }_{n}}\left( x \right) - {{\delta }_{m}}\left( x \right)\cos \alpha + i{\kern 1pt} {{\beta }_{n}}\left( x \right)} \right], \\ {{V}_{{ + {\kern 1pt} - }}}\left( x \right) = {{V}_{{ - + }}}\left( x \right) = 4\pi {{\delta }_{m}}\left( x \right)\sin \alpha . \\ \end{gathered} $Таким образом, вместо расчета потенциалов взаимодействия можно определить набор характеристик для каждого слоя: толщины, ядерные и магнитные плотности длин рассеяния, шероховатости границ, направления магнитных моментов. Математически эти характеристики могут быть сведены в один вектор неизвестных величин, которые уточняются по любому алгоритму спуска так, чтобы обеспечить наиболее оптимальное совпадение одновременно для всех имеющихся наборов экспериментальных данных (модули и фазы для всех измеренных каналов рассеяния). В настоящей работе для решения обратной задачи применяли алгоритм Левенберга–Марквардта. По уточненным характеристикам при необходимости могут быть построены потенциалы взаимодействия для каждого канала рассеяния.
ЭКСПЕРИМЕНТ И РЕЗУЛЬТАТЫ
На установке ULVAC (ИФМ УрО РАН, Екатеринбург) методом высоковакуумного магнетронного распыления были синтезированы образцы: Al2O3//Cr(100 Å)/Fe(100 Å)/Cr(10.5 Å)/Fe(100Å)/ Cr(20Å)/Gd(50 Å)/Cr(50 Å) и Al2O3//Cr(100 Å)/ Fe(90 Å)/Cr(23 Å)/Fe(90 Å)/Gd(50 Å)/Cr(50 Å). В обоих образцах элемент структуры Gd(50 Å)/ Cr(50 Å) выступал в качестве опорного слоя. Слой хрома использовался для защиты слоя гадолиния от окисления. Спектры отражения поляризованных нейтронов были измерены на времяпролетном рефлектометре РЕМУР импульсного реактора ИБР-2 (ОИЯИ, Дубна).
Для каждого образца были измерены рефлектометрические спектры при трех различных углах скольжения и двух типах поляризации (“+” и “–”). Углы выбирали таким образом, чтобы использовать диапазон длин волн нейтронов, в котором наблюдаются максимальные отличия рефлектометрических спектров. Измерения проводили в диапазоне $q$ от 0.015 до 0.055 Å–1 во внешнем магнитном поле 24 Э.
По известным характеристикам опорного слоя Gd/Cr были рассчитаны модули и фазы комплексного коэффициента отражения для исследуемой части образца. Модуль и фаза для каналов рассеяния “+ +” и “– –” в образце Al2O3//Cr(100 Å)/ Fe(100 Å)/Cr(10.5 Å)/Fe(100 Å)/Cr(20 Å) представлены на рис. 1, в образце Al2O3//Cr(100 Å)/Fe(90 Å)/ Cr(23 Å)/Fe(90 Å) – на рис. 2. Скачки фазы связаны с тем, что процедура расчета определяет фазу в диапазоне от –π до +π. Каналы рассеяния “+ –” и “– +” были измерены в эксперименте, но из-за низкой интенсивности и сильной зашумленности не включены в обработку эксперимента.
В табл. 1 и 2 приведены результаты определения толщин слоев (h, Å) и углов отклонения магнитного момента слоя от направления внешнего поля как характеристик, представляющих наибольший практический интерес. Углы отклонения магнитного момента в каждом слое Fe от направления внешнего магнитного поля Н для исследуемых систем приведены на рис. 3.
Таблица 1.
Слой | Номинальная толщина h0, Å | Экспериментальная толщина h, Å | Угол отклонения магнитного момента, град |
---|---|---|---|
Cr | 100 | 106 | – |
Fe | 100 | 88 | 83 |
Cr | 10.5 | 8 | – |
Fe | 100 | 78 | –98 |
Cr | 20 | 24 | – |
Таблица 2.
Слой | Номинальная толщина h0, Å | Экспериментальная толщина h, Å | Угол отклонения магнитного момента, град |
---|---|---|---|
Cr | 100 | 96 | – |
Fe | 90 | 78 | 21 |
Cr | 23 | 23 | – |
Fe | 90 | 77 | –19 |
В первом образце экспериментально определена толщина слоя хрома 8 Å, что соответствует первому антиферромагнитному максимуму. Во втором образце экспериментально найденная толщина слоя Cr равна 23 Å и соответствует второму антиферромагнитному максимуму. Из полученных результатов видно, что слабое внешнее поле практически не изменяет антиферромагнитное упорядочение в первом образце, однако приводит второй образец в состояние, близкое к ферромагнитному, так как в нем обменное взаимодействие гораздо слабее.
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
В работе показано, что применение опорного слоя Gd позволяет проводить анализ экспериментальных рефлектометрических данных для магнитных многослойных пленок. Были исследованы два образца с различным типом упорядочения магнитных моментов. В обоих случаях удалось определить как толщины слоев, так и ориентацию магнитных моментов в каждом слое. Совместная обработка модуля и фазы для двух каналов рассеяния снижает неоднозначность получаемого результата.
Список литературы
Majkrzak C.F., Berk N.F. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. P. 10827.
De Haan V.O., van Well A.A., Sacks P.E., Adenwalla S., Felcher G.P. // Phys. B. 1996. V. 221. P. 524.
Majkrzak C.F., Berk N.F. // Phys. Rev. B. 1998. V. 58. P. 15416.
Majkrzak C.F., Berk N.F., Silin V., Meuse C.W. // Physica B. 2000. V. 283. P. 248.
De Haan V.O., van Well A.A., Adenwalla S., Felcher G.P. // Phys. Rev. B. 1995. V. 52. P. 10831.
Lipperheide R., Weber M., Leeb H. // Phys. Rev. B. 2000. V. 283. P. 242.
Salamatov Yu.A., Kravtsov E.A. // J. Surf. Invest.: X-ray, Synchrotron Neutron Tech. 2016. V. 10. № 6. P. 1169.
Brockhouse B.N. // Canad. J. Phys. 1953. V. 31. P. 432.
Peterson S.W., Smit H.G. // Phys. Rev. Lett. 1961. V. 6. P. 7.
Smit H.G., Peterson S.W. // J. Phys. 1964. V. 25. P. 615.
Nikova E.S., Salamatov Yu.A., Kravtsov E.A., Ustinov V.V. // Superlattices and Microstructures. 2017. V. 109. P. 201.
Никова Е.С., Саламатов Ю.А., Кравцов Е.А., Макарова М.В., Проглядо В.В., Устинов В.В., Боднарчук В.И., Нагорный А.В. // Физика металлов и металловедение. 2019. Т. 120. С. 913.
Majkrzak C.F., Berk N.F., Perez-Salas U.A. // Langmuir. 2003. V. 19. P. 7796.
Lekner J. Theory of Reflection of Electromagnetic and Particle Waves. Dordrecht: Springer Science–Business Media, 1987. 281 p.
Дополнительные материалы отсутствуют.
Инструменты
Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования