Приборы и техника эксперимента, 2021, № 4, стр. 79-88

ФИЗИЧЕСКОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ВОЗДЕЙСТВИЯ АТОМАРНОГО КИСЛОРОДА ИОНОСФЕРЫ ЗЕМЛИ НА ПОЛИМЕРЫ КОСМИЧЕСКИХ АППАРАТОВ

В. А. Шувалов a*, Н. А. Токмак a, Н. И. Письменный a, Г. С. Кочубей a

a Институт технической механики Национальной академии наук Украины
49600 Днепр-5, ул. Лешко-Попеля, 15, Украина

* E-mail: vashuvalov@ukr.net

Поступила в редакцию 06.08.2020
После доработки 01.02.2021
Принята к публикации 10.02.2021

Полный текст (PDF)

Аннотация

Разработана процедура физического (стендового) моделирования длительного взаимодействия полимерных конструкционных материалов космических аппаратов с атомарным кислородом в ионосфере Земли с применением высокоэнергичных ионов атомарного кислорода потоков разреженной плазмы и эталонного полимера полиимида kapton-H. В качестве условия эквивалентности физического взаимодействия атомарного кислорода с полимерами используется равенство потерь массы материала в ионосфере и на стенде. Показано, что при облучении полимера kapton-H потоками атомарного кислорода с энергиями 30–80 эВ деградацию полимера определяет химическое травление. При этом флюенс атомарного кислорода и коэффициент ускорения стендовых испытаний практически на два порядка больше, чем коэффициент ускорения при облучении полиимида kapton-H потоками атомарного кислорода с энергией 5 эВ.

Околоспутниковая среда на высотах 200–700 км агрессивна по отношению к полимерным материалам космического аппарата (к.а.). Экспозиция полимеров на орбитальных станциях МКС, “Мир”, на к.а. Space Shuttle и др. на высотах ~350 км [13] показала, что коэффициенты эрозии материалов (унос массы, уменьшение толщины пленок) пропорциональны флюенсу атомарного кислорода (АК). Появился термин “полиимидный эквивалентный флюенс АК”. В качестве эталонного к воздействию АК полимера принят полиимид kapton-H.

Атомарный кислород на высотах 200–700 км ионизован; степень ионизации изменяется от 10–4 до 10–1 [4]. Физико-химическое воздействие АК на полимерные материалы и покрытия к.а. в атмосфере Земли характеризуют взаимосвязанные процессы обмена энергией, массой и зарядом между частицами окружающей среды и поверхностью при бесстолкновительном обтекании к.а. частично ионизованным газом. Положительные ионы АК с энергией ~5–10 эВ выполняют роль радиационного химического активатора поверхности материала к.а. Природа такого воздействия связана с нейтрализацией ионов, приводящей к возбуждению в полупроводниках и диэлектриках электронно-дырочных пар, сохраняющихся достаточно долго в поверхностном слое толщиной ~10 атомарных монослоев [46].

В условиях бесстолкновительного обтекания к.а. потоком частично ионизованного диссоциированного кислорода в атмосфере Земли с вероятностью, близкой к единице, непосредственно с поверхностью к.а. взаимодействует нейтральный атом кислорода с кинетической энергией иона в момент нейтрализации. Близость процессов физико-химического взаимодействия в системах “ион – твердое тело” и “нейтрал – твердое тело” подтверждается близостью значений коэффициентов аккомодации импульса и энергии, коэффициентов гетерогенной рекомбинации атомов и атомарных ионов кислорода, азота и водорода на бомбардируемых поверхностях [7].

Исследования кинетики процесса взаимодействия плазмы атомарно-молекулярного кислорода с полиимидом kapton-H [5, 8] свидетельствуют о том, что молекулярный кислород инертен и участия в химических реакциях не принимает. Определяющим является процесс окислительной деструкции полимеров с участием АК. Соотношение скоростей газовыделения продуктов химического травления CO, CO2, H2O и H2 остается постоянным и в диапазоне 290–400 К не зависит от температуры материала и параметров разряда: вид частиц, химически воздействующий на пленку, не изменяется.

Механизм разрушения полимерных материалов – покрытий наружных поверхностей к.а. связан, как минимум, с двумя видами воздействия: физическим (кинетическим) распылением и химическим травлением. Следствием воздействия АК на полимеры являются: унос массы, изменение термооптических свойств поверхности, ухудшение физико-механических свойств из-за эрозии поверхности (снижение прочности полимеров).

Информация об изменениях свойств полимерных материалов наружных поверхностей к.а. под воздействием АК при длительной эксплуатации в ионосфере Земли может быть получена только экспериментально – по результатам летных или стендовых испытаний. Одним из путей решения задачи является физическое моделирование или имитация воздействия потоков АК на материалы в специализированных стендах.

Условиям экспозиции полимеров в ионосфере Земли на высотах 700–200 км при среднем уровне солнечной активности соответствуют следующие значения параметров АК [4, 9, 10]:

– энергия частиц EАК ≈ 4.7–5.0 эВ (на круговой орбите скорость Uк.а. ≈ 7.5–7.8 км/с);

– концентрация атомов NАК ≈ 1 ⋅ 106–4 ⋅ 109 см−3;

– поток частиц ΦАК = NАКUк.а. ≈ 8 ⋅ 1011–3 ⋅ 1015 атомовО/(см2 ⋅ с);

– годовой флюенс FАК = NАКUк.а.t ≈ 2.5 ⋅ 1019–9 ⋅ 1022 атомовО/см2, где $t$ – время экспозиции.

На специализированных стендах генераторы, использующие лазерную детонацию, электронно-циклотронный резонанс, высокочастотный разряд и др. генерируют, как правило, импульсные и стационарные потоки АК с энергией частиц EАК ≈ 5–10 эВ и ΦАК ≈ 1015–1016 атомовО/(см2 · с) [411, 12].

Натурные исследования [10, 13] показали, что химическая деградация полимеров продолжается в течение всего времени экспозиции на орбите.

Стендовые исследования деградации полимеров при длительном воздействии АК должны соответствовать времени экспозиции и орбитальным флюенсам АК. Реализация таких условий в импульсных и стационарных потоках АК при EАК ≈ 5 эВ на специализированных стендах затруднительна.

Для решения задачи физического моделирования длительного воздействия потоков АК на полимерные материалы к.а. могут быть использованы потоки плазмы атомарно-молекулярного кислорода с повышенной (N iАК ≈ 109–1010 см−3) концентрацией частиц при энергиях ионов EiАК ≈ 5 эВ или потоки плазмы с энергией ионов АК EiАК ≈ ≈ 30–80 эВ и ΦiАК ≥ 1016 атомовО/см2 с.

Целью данной работы является разработка процедуры физического моделирования длительного взаимодействия полимерных конструкционных материалов к.а. при высоких флюенсах АК в ионосфере Земли путем облучения их на стенде высокоэнергичными ионами потоков разреженной плазмы атомарно-молекулярного кислорода (Ei АК ≈ 5–80 эВ).

УСЛОВИЯ ФИЗИЧЕСКОГО МОДЕЛИРОВАНИЯ ДЛИТЕЛЬНОГО ВОЗДЕЙСТВИЯ ПОТОКОВ АТОМАРНОГО КИСЛОРОДА НА ПОЛИМЕРНЫЕ МАТЕРИАЛЫ К.А.

В качестве критерия эквивалентности при физическом (стендовом) моделировании длительного воздействия высокоскоростных потоков АК принято условие равенства уноса массы ΔMW или уменьшения толщины полимерной пленки δxW при экспозиции ее в ионосфере Земли и на специализированном стенде

(1)
$\Delta M_{W}^{{(N)}} = \Delta M_{W}^{{(M)}}\quad {\text{или}}\quad \delta x_{W}^{{{\text{(}}N{\text{)}}}} = \delta x_{W}^{{{\text{(}}M{\text{)}}}},$
где индекс “N” соответствует натурным условиям ионосфере Земли; “M” – условиям стендовых испытаний. Так как ΔMW = ρW Re FАК = ρW δxWW и Re – плотность и объемный коэффициент потери массы тестируемого материала), то из (1) следует соотношение, устанавливающее связь между параметрами, характеризующими условия эксплуатации материалов в ионосфере Земли, с их значениями при тестировании образца материала на стенде
(2)
$F_{{AK}}^{{(N)}}(E_{{AK}}^{{(N)}}) = F_{{AK}}^{{(M)}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}){{R}_{e}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}){\text{/}}{{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}}),$
где $E_{{AK}}^{{(N)}}$ = 5 эВ, $E_{{iAK}}^{{(M)}}$ – энергия ионов АК в потоке плазмы атомарно-молекулярного кислорода на стенде.

Из (2) следуют условия для коэффициента ускорения испытаний на стенде

(3)
${{k}_{y}} = \frac{{{{t}^{{(N)}}}}}{{{{t}^{{(M)}}}}} = \frac{{N_{{iAK}}^{{(M)}}}}{{N_{{AK}}^{{(N)}}}}{{\left( {\frac{{E_{{iAK}}^{{(M)}}}}{{E_{{AK}}^{{(N)}}}}} \right)}^{{0.5}}}\frac{{{{R}_{e}}(E_{{iAK}}^{{(M)}})}}{{{{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}})}}.$

Режимы испытаний:

1. $E_{{iAK}}^{{(M)}} = E_{{AK}}^{{(N)}}$ = 5 эВ и ${{R}_{e}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}) = {{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$,тогда

(4)
${{k}_{{1y}}} = \frac{{{{t}^{{(N)}}}}}{{{{t}^{{(M)}}}}} = \frac{{N_{{iAK}}^{{(M)}}}}{{N_{{AK}}^{{(N)}}}} > 1;$

2. $E_{{iAK}}^{{(M)}} > E_{{AK}}^{{(N)}}$ и ${{R}_{e}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}) > {{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$,

тогда

(5)
${{k}_{{2y}}} = \frac{{{{t}^{{(N)}}}}}{{{{t}^{{(M)}}}}} = {{k}_{{1y}}}\xi ,$
где $\xi = {{\left( {\frac{{E_{{iAK}}^{{(M)}}}}{{E_{{AK}}^{{(N)}}}}} \right)}^{{0.5}}}\frac{{{{R}_{e}}(E_{{iAK}}^{{(M)}})}}{{{{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}})}} \gg 1.$

Из (4), (5) следует ${{k}_{{2y}}} \gg {{k}_{{1y}}},$ т.е. процесс испытаний в режиме 1 “ускоряется” пропорционально $\xi $. При стендовых испытаниях полимерного материала по результатам измерения потери массы $\Delta {{M}_{W}}(E_{{iAK}}^{{(M)}})$ и (или) уменьшения толщины δxW $(E_{{iAK}}^{{(M)}})$ для известных значений параметров, характеризующих условия тестирования $F_{{iAK}}^{{(M)}},E_{{iAK}}^{{(M)}},$ t(M), вычисляется объемный коэффициент потери массы полимера

(6)
${{R}_{e}}_{{_{W}}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}) = \frac{{\Delta M_{W}^{{(M)}}}}{{{{\rho }_{W}}F_{{iAK}}^{{(M)}}}} = \frac{{\delta {{x}_{W}}}}{{F_{{iAK}}^{{(M)}}}}.$

Для оценки значений параметров ${{F}_{{AK}}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$ и ${{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}}),$ характеризующих условия эксплуатации материала в ионосфере, в соотношении (2) может быть использован полиимид kapton-H в качестве эталонного материала. Из отношения $\Delta {{M}_{W}}{\text{/}}\Delta {{M}_{k}}$ = = ${{\rho }_{W}}{{R}_{{{{e}_{W}}}}}{{F}_{W}}{\text{/}}{{\rho }_{k}}{{R}_{{{{e}_{k}}}}}{{F}_{k}} = {{\rho }_{W}}\delta {{x}_{W}}{\text{/}}{{\rho }_{k}}\delta {{x}_{k}}$ следует

(7)
${{R}_{{{{e}_{W}}}}}({{E}_{{iAK}}}) = {{R}_{{{{e}_{k}}}}}({{E}_{{iAK}}}) \times \frac{{\delta {{x}_{W}}({{E}_{{iAK}}})}}{{\delta {{x}_{k}}({{E}_{{iAK}}})}}\frac{{{{F}_{k}}({{E}_{{iAK}}})}}{{{{F}_{W}}({{E}_{{iAK}}})}},$
где индекс “W” – тестируемый материал, “k” – полиимид kapton-H.

Для фиксированных значений флюенса АК соотношение (7) запишется в виде

(8)
${{R}_{{{{e}_{W}}}}}(E_{{AK}}^{{(N)}}) = {{R}_{{{{e}_{k}}}}}(E_{{AK}}^{{(N)}})\frac{{\delta {{x}_{W}}({{E}_{{iAK}}})}}{{\delta {{x}_{k}}({{E}_{{iAK}}})}}.$

Величина флюенса ${{F}_{{AK}}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$ для условий эксплуатации тестируемого полимера в ионосфере, соответствующих условиям стендовых испытаний, определится из (2) после подстановки ${{R}_{e}}({{E}_{{iAK}}})$ и ${{R}_{e}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$ из (6), (8).

Область допустимых нагрузок при ускоренных испытаниях определяется условием для плотностей потока АК $\Phi _{{AK}}^{{(N)}} \leqslant \Phi _{{AK}}^{{(M)}} \leqslant \Phi _{{AK}}^{{(\max )}}$ [14]. При физическом стендовом моделировании длительного взаимодействия потока АК с материалами к.а. это условие соответствует требованию: процессы на поверхности тестируемого материала, инициированные одним соударением, не должны перекрываться во времени. На стенде для концентрации и плотности потока должны выполняться условия $N_{{AK}}^{{(M)}}\, \leqslant \,{{10}^{{12}}}$ см−3 и $\Phi _{{AK}}^{{(M)}}\, \leqslant \,{{10}^{{18}}}$ атомовО/(см2 · с). Эти условия приемлемы для большинства материалов к.а.: для полимеров $\Phi _{{AK}}^{{(\max )}} \leqslant {{10}^{{20}}}$ атомовО/(см2 · с), для металлов – $\Phi _{{AK}}^{{(\max )}} \leqslant {{10}^{{27}}}$ атомовО/(см2 · с) [14].

ТЕХНИКА ЭКСПЕРИМЕНТА

Экспериментальные исследования проводились на стенде Института технической механики НАН Украины. Стенд относится к классу плазменных газодинамических труб. Безмасляная откачивающая система производительностью по воздуху до 50 м3/с (вакуумный электроразрядный агрегат и система турбомолекулярных насосов), наличие криопанелей, охлаждаемых жидким азотом, дают возможность создавать в вакуумной камере стенда – цилиндре ∅1.2 м и длиной 3.5 м – статическое разрежение ~1 ⋅ 10−5 Па, а при натекании газа ~1 ⋅ 10−3 Па.

Образцы испытуемых материалов и диагностические средства стенда размещены на подвижных платформах (верхней и нижней) с четырьмя степенями свободы каждая. Платформы обеспечивают угловые и поперечные перемещения в горизонтальной плоскости, перемещения в вертикальной плоскости и вращение вокруг вертикальной оси. Точность отсчета для линейных перемещений – 0.5 мм, для угловых – 0.5°. В ходе эксперимента образцы испытуемых материалов и диагностические зонды могут перемещаться практически в любую точку потока плазмы и объема вакуумной камеры стенда.

В качестве испытуемых материалов использовались полимерные пленки толщиной ${{x}_{W}} \approx $ 50.7 мкм: полиимид kapton-H (C2H10O5N2, объемная плотность ${{\rho }_{W}} \approx $ 1.42 г/см3) и тефлон FEP-100A ((C2F4)n, ${{\rho }_{W}} \approx $ 2.15 г/см3). Образцы изготовлены в виде дисков ∅50 мм с диаметром облучаемой поверхности пленки ~45 мм. Испытуемые материалы размещены на подложке – диске из алюминий-магниевого сплава АМг-6М толщиной 3 мм, который выполняет роль термостата. Образцы испытуемых материалов в потоке плазмы показаны на рис. 1. Диаметр рабочей зоны струи на расстоянии 60 см от среза источника плазмы равен ~20 см. Рабочая зона струи плазмы – область с равномерным распределением концентраций и скорости ионов АК. Измерение и контроль температуры пленки и подложки осуществлялись миниатюрными термопарами ∅0.1 мм. В ходе экспериментов температура пленок не превышала ~350 К.

Рис. 1.

Образцы испытуемых материалов в потоке плазмы, генерируемом газоразрядным ускорителем на стенде. 1 – kapton-H, 2 – тефлон FEP-100A.

Для измерения весовых характеристик тестируемых материалов использовались аналитические весы с погрешностью не более 1 ⋅ 10−4 г. Унесенная масса – разность показаний весов за 1 ч до и через 1 ч после экспозиции в потоке плазмы. Такое взвешивание вне вакуумной камеры с интервалом 1 ч до и после вакуумирования и облучения плазмой обеспечивает идентичные условия определения массы. Доля адсорбированного газа при экспозиции образца в воздухе при атмосферном давлении составляет 10−15% от потери массы полиимида kаpton-H при облучении его в течение 1 ч ионами АК с энергией ${{E}_{{iAK}}}$ = 5 эВ.

В качестве источника высокоэнергичных ионов потоков плазмы атомарно-молекулярного кислорода $({{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}} + {\text{O}}_{{\text{2}}}^{{\text{ + }}})$ использовался газоразрядный ускоритель с “саморазгоном” плазмы (с ионизацией рабочего тела ${{{\text{O}}}_{{\text{2}}}}$ электронным ударом и осцилляцией электронов во внешнем магнитном поле). Применение ускорителя плазмы позволяет получать в рабочей части вакуумной камеры стенда (области с равномерным распределением плотности, скорости ионов и индукции внешнего магнитного поля) потоки АК с концентрацией ${{N}_{{iAK}}} \approx {{10}^{8}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} {{10}^{{10}}}$ см−3 и энергией ионов ${{E}_{{iAK}}} \approx 5{\kern 1pt} - {\kern 1pt} 100$ эВ. Энергия направленного движения потока ионов ${{E}_{{iAK}}}$ контролируется многоэлектродным зондом. Разброс измеренных значений ${{E}_{{iAK}}}$ не превосходит ±4.5%.

На образцы воздействуют ионы и быстрые нейтральные атомы АК. Суммарный флюенс АК в месте расположения образцов полимерных материалов может быть представлен в виде суммы флюенса ионов ${{F}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}}$ и флюенса ${{F}_{{\text{O}}}}$ быстрых нейтральных атомов

(9)
$\begin{gathered} {{F}_{{AK}}} \approx {{F}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}} + {{F}_{{\text{O}}}} = {{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}{{U}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}t + \\ \, + {{N}_{{\text{O}}}}{{U}_{{\text{O}}}}t \approx {{\xi }_{{di}}}{{N}_{{i\sum }}}{{U}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}t\left( {1 + \frac{{{{N}_{{\text{O}}}}{{U}_{{\text{O}}}}}}{{{{N}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}}{{U}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}}}}} \right), \\ \end{gathered} $
где ${{N}_{{\text{O}}}}$ и ${{U}_{{\text{O}}}}$ – концентрация и скорость быстрых нейтральных атомов кислорода.

ИОНЫ АТОМАРНОГО КИСЛОРОДА В ПОТОКЕ ПЛАЗМЫ

Для определения концентрации ионов в потоке разреженной плазмы на стенде используется система электрических зондов [15]. Регистрация вольт-амперных характеристик зондов производится в автоматическом режиме. Погрешность измерения зондового тока не более ±2%. Потенциал плазмы измеряется по точке расхождения характеристик холодного и нагретого зонда. Разброс значений потенциала плазмы не превосходит ±4%. Пик ионного тока насыщения, регистрируемый зондом при вращении в горизонтальной плоскости (вокруг вертикальной оси), соответствует ориентации оси зонда вдоль по потоку, а полуширина пика ионного тока насыщения пропорциональна степени неизотермичности разреженной плазмы – отношению температуры ионов к температуре электронов ${{T}_{i}}{\text{/}}{{T}_{e}}$.

Электрический цилиндрический зонд используется и для определения степени диссоциации ${{\xi }_{{di}}}$ ионного компонента потока плазмы атомарно-молекулярного кислорода непосредственно в рабочей части струи у поверхности испытуемых образцов. Степень диссоциации ионного компонента плазмы атомарно-молекулярного кислорода можно представить в виде

$\frac{{{{N}_{{ia}}}}}{{{{N}_{{i\sum }}}}} = \frac{{{{N}_{{ia}}}}}{{{{N}_{{ia}}} + {{N}_{{im}}}}} = {{\xi }_{{di}}},$
а ионный ток насыщения ${{I}_{{i\Sigma }}}$ на цилиндрический зонд, ориентированный перпендикулярно вектору скорости потока плазмы, равен
${{I}_{{i\sum }}} = {{I}_{{ia}}} + {{I}_{{im}}} = \frac{{(1 + 0.4{{\xi }_{{di}}}){{A}_{p}}}}{\pi }e{{N}_{{i\sum }}}{{U}_{{im}}}\sqrt {1 + \frac{{2e{{\varphi }_{W}}}}{{{{M}_{i}}U_{{im}}^{2}}}} ,$
степень диссоциации ионного компонента определится по формуле
${{\xi }_{{di}}} \approx 2.5\left[ {{{I}_{{i\Sigma }}}{\text{/}}\left( {{{I}_{{0i}}}\sqrt {1 + \frac{{2e\,{{\varphi }_{W}}}}{{{{M}_{i}}U_{{im}}^{2}}}} } \right) - 1} \right].$
Здесь ${{N}_{{i\sum }}} = {{N}_{{ia}}} + {{N}_{{im}}}$ (индекс “а” соответствует атомарным, “m” – молекулярным ионам кислорода); ${{I}_{{ia}}}$, ${{I}_{{im}}}$ – ионный ток насыщения атомарных и молекулярных ионов; ${{A}_{p}}$ – площадь поверхности зонда; $e$ – заряд электрона; ${{U}_{{im}}}$, ${{M}_{i}}$ – скорость и масса молекулярных ионов; ${{\varphi }_{W}} = {{\varphi }_{p}} - \varphi {}_{0}$ – потенциал зонда ${{\varphi }_{p}}$ относительно потенциала плазмы ${{\varphi }_{0}}$; ${{I}_{{0i}}} = ({{A}_{p}}{\text{/}}\pi ){{N}_{{i\sum }}}{{U}_{{im}}}$ – ионный ток на зонд при ${{\varphi }_{W}} = 0$.

Параллельно с электрическими зондами для определения концентрации заряженных частиц в потоке плазмы служит микроволновый интерферометр, работающий на частоте 5.45 ГГц. Равенство значений концентраций заряженных частиц по результатам зондовых и микроволновых измерений позволяет, с использованием условия квазинейтральности плазмы, оценить:

– наличие отрицательных ионов в потоке плазмы атомарно-молекулярного кислорода, ${{({{N}_{e}}\, + \,N_{i}^{ - })}_{{{\text{probe}}}}}$ ≈ ≈ Nemicrowave, где ${{N}_{e}}$ – концентрации электронов, $N_{i}^{ - }$ – концентрация отрицательных ионов;

– суммарную концентрацию положительных атомарных и молекулярных ионов ${{N}_{e}} \approx {{N}_{{i\sum }}}$ = Nia + Nim.

Такой подход оправдан, так как микроволновая диагностика основана на рассеянии электромагнитного излучения на свободных электронах ионизованной среды.

Состав остаточного газа в вакуумной камере стенда контролируется масс-спектрометром МХ 7307 [16]. По результатам масс-спектроскопического анализа при статическом давлении 2 ⋅ 10−5 Па в остаточном газе в вакуумной камере стенда преобладают CO + N2 и H2 с концентрацией нейтральных молекул ${{N}_{n}} \approx 4.8 \cdot {{10}^{9}}$ см−3. При рабочем давлении 5 ⋅ 10−3 Па в плазменной струе основными компонентами являются быстрые ионы ${{{\text{O}}}^{ + }}$ и ${\text{O}}_{2}^{ + }$. В камере ионизации и на срезе ускорителя плазма практически полностью ионизована ${{N}_{{{{{\text{O}}}^{ + }} + {\text{O}}_{2}^{ + }}}} \approx {{N}_{{i\sum }}} \approx {{N}_{e}}$. В рабочем сечении струи суммарная концентрация ионов ${{N}_{{i\sum }}} \approx 6 \cdot {{10}^{9}}$ см3. Концентрация ионов ${{{\text{O}}}^{ + }}$ атомарного кислорода при ${{\xi }_{{di}}} \approx 0.7$ равна ${{N}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}} \approx 4 \cdot {{10}^{9}}$ см−3, а ионов ${\text{O}}_{2}^{ + }$ молекулярного кислорода – ${{N}_{{{\text{O}}_{2}^{ + }}}} \approx 2 \cdot {{10}^{9}}$ см−3. Приведенные оценки позволяют определить флюенс ионов АК ${{F}_{{AK}}} \approx {{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}{{U}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}t$, воздействующих на полимеры в потоке плазмы атомарно-молекулярного кислорода.

БЫСТРЫЕ НЕЙТРАЛЬНЫЕ АТОМЫ В ПОТОКЕ ПЛАЗМЫ

Концентрация ${{N}_{{\text{O}}}}$ быстрых $({{U}_{{\text{O}}}} \approx {{U}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}})$ нейтральных атомов АК, возникших при соударениях частиц, пропорциональна коэффициентам:

– радиационной и ударно-радиационной рекомбинаций ${{\beta }_{r}}$ при захвате свободных электронов быстрыми ионами АК (${{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}} + {{e}^{ - }} \to {\text{O}} + h\nu $; $h\nu $ – электромагнитное излучение);

– диссоциативной рекомбинации ${{\beta }_{{dis}}}$ электронов плазмы с молекулярными ионами $({\text{O}}_{{\text{2}}}^{{\text{ + }}}{\text{ + }}{{e}^{ - }} \to $ → O + O);

– ионно-молекулярных обменных реакций ${{\beta }_{{im}}}$ (перезарядка ионов ${{{\text{O}}}^{ + }}$ при столкновениях с нейтральными молекулами остаточного газа и кислорода).

На рис. 2 приведены зависимости коэффициентов радиационной и ударно-радиационной ${{\beta }_{r}}$ рекомбинации свободных электронов при столкновениях с положительными ионами от температуры ${{T}_{e}}$ электронов в потоке разреженной плазмы. При этом принято [17]: сечение $\sigma _{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}^{r}$ радиационного захвата электронов положительными ионами ${{{\text{O}}}^{ + }}$ на уровни атомов АК с главным квантовым числом $q = 1,2,3$, …, 12 равно сечению $\sigma _{{{{{\text{H}}}^{ + }}}}^{r}$ захвата электронов протонами ${{{\text{H}}}^{ + }}$ с $q = 1,{\text{ }}2,{\text{ }}3$, …, 12, т.е. для высоких уровней энергии захвата электрона положительным ионом ${{\beta }_{r}}({{{\text{O}}}^{ + }}) \approx {{\beta }_{r}}({{{\text{H}}}^{ + }})$. Для температуры электронов плазмы ${{T}_{e}} \approx 3$ эВ (стенд) значение коэффициента ${{\beta }_{r}}$ и количество актов рекомбинации в одну секунду: ${{n}_{r}} \approx {{\beta }_{r}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}}{{N}_{e}}$ приведены в табл. 1. Этим значениям соответствует максимальная концентрация образовавшихся быстрых нейтральных атомов кислорода $N_{{\text{O}}}^{r} \approx {{n}_{r}}{\text{/}}{{\nu }_{{ei}}}$ (${{\nu }_{{ei}}}$ – частота соударения “ион АК – электрон”).

Рис. 2.

Зависимости коэффициентов радиационной и ударно-радиационной ${{\beta }_{r}}$ рекомбинации при столкновениях свободных электронов с положительными ионами от температуры ${{T}_{e}}$ электронов: 1 – данные [18] для ${{{\text{H}}}^{ + }}$; 2 – значения из [19] для ${{{\text{O}}}^{ + }}$; 3 – расчетные значения [20], ${{{\text{H}}}^{ + }}$ при ${{10}^{8}} \leqslant {{N}_{e}} \leqslant {{10}^{{12}}}$ см−3; 4 – [19], ${{{\text{H}}}^{ + }}$; 5 – значение коэффициента ${{\beta }_{r}}({{{\text{O}}}^{ + }})$ из [18]; 6 – аппроксимация ${{\beta }_{r}} \approx 2.7 \cdot {{10}^{{ - 13}}}{{T}_{e}}^{{ - 0.75}}$ из [21]; 7 и 8 – расчетные значения ${{\beta }_{r}}$ в плазме ${{{\text{H}}}^{ + }}$, [18] и [22] для ${{10}^{9}} \leqslant {{N}_{e}} \leqslant {{10}^{{11}}}$ см−3 соответственно (7 − показан разброс значений для диапазона ${{10}^{{10}}} \leqslant {{N}_{e}} \leqslant {{10}^{{12}}}$ см−3); 9 – аппроксимация авторов ${{\beta }_{r}} \approx 4.8 \cdot {{10}^{{ - 13}}}{{T}_{e}}^{{ - 0.95}}$.

Таблица 1.

Параметры, характеризующие образование быстрых нейтральных атомов АК при столкновительных реакциях в потоке плазмы атомарно-молекулярного кислорода на стенде

Реакции Коэффициенты рекомбинации $\beta $, см3 Количество актов рекомбинации n, см−3 · с−1 Концентрация быстрых нейтральных атомов кислорода ${{N}_{{\text{O}}}}$, см−3
Радиационная и ударно-радиационная рекомбинация 2.2 ⋅ 10−13 5.3 ⋅ 106 1.7 ⋅ 102
Диссоциативная рекомбинация 4 ⋅ (10–11−10–10) 5.6 ⋅ (107−108) 103−104
Ионно-молекулярные обменные реакции (0.3−4) ⋅ 10−11 (0.24−3.2) ⋅ 108 1.6 ⋅ 107−2.4 ⋅ 105

Для коэффициента диссоциативной рекомбинации ${{\beta }_{{dis}}}$ в ионосферной плазме на высотах ~200−500 км при температурах электронов ${{T}_{e}} \sim 1300{\kern 1pt} - {\kern 1pt} 2500$ К [19, 23] приняты наиболее вероятные значения ${{\beta }_{{dis}}} \approx {{10}^{{ - 9}}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} {{10}^{{ - 8}}}$ см3/с. С учетом температурной зависимости ${{\beta }_{{dis}}} \sim T_{e}^{{{{ - 3} \mathord{\left/ {\vphantom {{ - 3} 2}} \right. \kern-0em} 2}}}$ [21, 23, 24] для оценки величины коэффициента ${{\beta }_{{dis}}}$ может быть использована аппроксимация βdis ${{\beta }_{{0dis}}}{{({{T}_{e}}{\text{/}}{{T}_{{0e}}})}^{{ - 3/2}}}$, где ${{T}_{{0e}}} \approx 2000$ К и ${{\beta }_{{0dis}}} \approx {{10}^{{ - 9}}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} {{10}^{{ - 8}}}$ см3/с. Для температуры электронов на стенде ${{T}_{e}} \approx $ 3.5 ⋅ 104 К (3 эВ) значение ${{\beta }_{{dis}}}$ приведено в табл. 1. Табличное значение ${{\beta }_{{dis}}}$ согласуется с измеренным при температуре ${{T}_{e}} \approx 1 \cdot {{10}^{4}}$ К значением коэффициента, приведенным в [25, 26]. Число актов рекомбинации ${{n}_{{dis}}} \approx {{\beta }_{{dis}}}{{N}_{{{\text{O}}_{2}^{ + }}}}{{N}_{e}}$ и диапазон значений концентрации $N_{{\text{O}}}^{{dis}} \approx {{n}_{{dis}}}{\text{/}}{{\nu }_{{ei}}}$ быстрых нейтральных атомов АК для стенда приведено в табл. 1.

Быстрые нейтральные атомы АК в плазме атомарно-молекулярного кислорода образуются и в результате ионно-молекулярной обменной реакции ${{{\text{O}}}^{ + }} + {{{\text{O}}}_{2}} \to {\text{O}}_{2}^{ + } + {\text{O}}$. Расчетные и экспериментальные значения коэффициента ${{\beta }_{{im}}}$ для этой реакции из [19, 23], а также количества актов рекомбинации ${{n}_{{im}}} \approx {{\beta }_{{im}}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}}{{N}_{{{{{\text{O}}}_{2}}}}}$ с образованием нейтральных атомов АК на стенде, соответствующих этому диапазону значений коэффициента ${{\beta }_{{im}}}$, приведены в табл. 1. Если ${{N}_{{{{{\text{O}}}_{2}}}}} \approx {{N}_{{{\text{O}}_{2}^{ + }}}}$, то для частиц с энергией ~5−100 эВ частота столкновений ионов ${{{\text{O}}}^{ + }}$ с молекулами О2 соответствует диапазону значений ${{\nu }_{{im}}} \approx 2 \cdot {{10}^{1}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} 1 \cdot {{10}^{2}}$ с−1 [18, 27]. Количество быстрых нейтральных атомов, образовавшихся при ионно-молекулярной обменной реакции, на стенде равно $N_{{\text{O}}}^{{im}} = {{n}_{{im}}}{\text{/}}{{\nu }_{{im}}}$ (табл. 1).

Часть быстрых атомов О, образовавшихся в результате реакций рекомбинации с заряженными частицами плазмы, исчезает из объема в результате реакций рекомбинации при столкновениях с молекулами остаточного газа – CO, N2 и H2 [26, 28]. Концентрация остаточных газов (без расхода газа) ${{N}_{n}} \approx 4.8 \cdot {{10}^{9}}$ см−3. Максимальные значения коэффициентов рекомбинации атомов О с молекулами CO, N2 и H2 при тепловых скоростях не превосходят константы скорости упругого (газокинетического) столкновения ${{\beta }_{{am}}} \sim {{10}^{{ - 10}}}$ см3 с−1 [28]. При высоких энергиях константа скорости рекомбинации приближается к газокинетическим значениям [28].

Средние значения коэффициентов рекомбинации ${{\beta }_{{am}}}$ [см3 с−1] при столкновениях атомов АК с молекулами остаточного газа: H2 – 6 ⋅ 10−16–2 ⋅ 10−10, N2 – 3 ⋅ 10−17–6 ⋅ 10−11, СО – 2 ⋅ 10−14–7 ⋅ 10−11 [26, 28]. С использованием этих данных и данных табл. 1 для концентрации быстрых нейтральных атомов, образующихся в результате обменно-столкновительных реакций на стенде, получим:

– радиационная и ударно-радиационная рекомбинация $N_{{\text{O}}}^{r}{\text{/}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}} \approx 4 \cdot {{10}^{{ - 8}}}$;

– диссоциативная рекомбинация $N_{{\text{O}}}^{{dis}}{\text{/}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}$ ≈ ≈ $2.5 \cdot ({{10}^{{ - 7}}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} {{10}^{{ - 6}}})$;

– ионно-обменные столкновения $N_{{\text{O}}}^{{im}}{\text{/}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}$ ≈ ≈ $6 \cdot {{10}^{{ - 5}}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} 4 \cdot {{10}^{{ - 3}}}$;

– столкновения с остаточными газами $N_{{\text{O}}}^{{am}}{\text{/}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}$ ≈ ≈ ${{10}^{{ - 1}}}{\kern 1pt} - {\kern 1pt} {{10}^{{ - 5}}}$.

Таким образом, с учетом столкновительных реакций для быстрых атомов АК и ионов АК с высокой точностью выполняется условие ${{N}_{{\text{O}}}}{{U}_{{\text{O}}}}{\text{/}}{{N}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}{{U}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}} \ll 1$.

При облучении испытываемых образцов потоком плазмы атомарно-молекулярного кислорода определяющим является воздействие ионов АК, и формула (9) может быть представлена в виде

(10)
${{F}_{{AK}}} \approx {{F}_{{{{{\text{O}}}^{ + }}}}} \approx {{\xi }_{{di}}}{{N}_{{i\sum }}}{{U}_{{{{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}}}}}t.$

ПОТЕРЯ МАССЫ ПОЛИМЕРАМИ ПРИ ОБЛУЧЕНИИ ВЫСОКОЭНЕРГИЧНЫМИ ИОНАМИ АК

На рис. 3 приведены зависимости уноса массы $\Delta {{M}_{W}}$ полиимида kapton-H и тефлона FEP-100A от флюенса ${{F}_{{AK}}}$ (энергия частиц 5 эВ).

Рис. 3.

Зависимости уноса массы $\Delta {{M}_{W}}$ полимеров kapton-H (18) и тефлон FEP-100A (9–18) от флюенса ${{F}_{{AK}}}$ (энергия частиц 5 эВ): 1 – измерения авторов в потоке ионов АК; 2 – к.а. Space Shuttle (миссия STS-41G [1]; 3 – данные [29]; 4 – измерение на орбитальной станции (о.с.) “Мир” (программа “Компласт”) [2, 3, 6]; 5 – [10]; 6 – расчеты по программе АТOМОХ [9]; 7 – измерения [30]; 8 – расчет авторов для ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}$ = = 3.07 · 10–24 см3/атомовО; 9 – измерение авторов; 10 – данные [31, 32]; 11 – Lockhed FEP [33]; 12 – [34]; 13 – эксперимент “Компласт” на о.с. “Мир” [23]; 14 – расчеты по программе АТОМОХ [9]; 15 – измерения [35]; 16 – данные [36]; 17 – стендовые измерения [30]; 18 – расчет авторов для ${{R}_{{{{e}_{k}}}}} = 0.23$ · 10–24 см3/атомовО.

Приведенные рис. 3 зависимости свидетельствуют о том, что при фиксированных значениях флюенса АК для полимерных пленок полиимид kapton-H и тефлон FEP-100A при ${{E}_{{AK}}} \approx 5$ эВ отношения $\Delta {{M}_{k}}{\text{/}}\Delta {{M}_{{FEP}}} \approx {\text{const}}$ и $\delta {{x}_{k}}{\text{/}}\delta {{x}_{{FEP}}}\, \approx \,{\text{const}}$. Аналогичное соотношение имеет место и для других полиимидных пленок ПМ-1Э, ПМ-А и полиэтилена [16].

Зависимость объемного коэффициента потери массы ${{R}_{e}}$ полиимида kapton-H и тефлона FEP-100A от энергии ионов АК представлены на рис. 4.

Рис. 4.

Зависимость объемного коэффициента потери массы ${{R}_{e}}$ полимеров kapton-H (18) и тефлон FEP-100A (916) от энергии ионов АК: 1 – измерения авторов в потоках ионов АК с энергиями ${{E}_{{iAK}}} \approx 5$; 31.6; 70; 75; 80 и 90 эВ; 2, 3, 5 – данные [4]; 4 – [12], ${{E}_{{iAK}}}$ ≈ ≈ 30 эВ; 6 – о.с. “Мир” [2, 6, 10]; 7 – [35]; 8 – аппроксимация авторов ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}\, = \,0.4{{({{\alpha }_{i}}{{E}_{{iAK}}})}^{{1.268}}}$ · 10–24 см3/атомовО, где ${{\alpha }_{i}} \approx 1$ эВ−1; 9 – измерения авторов; 10 – данные [37]; 11 – ЦАГИ [35]; 12 – [38]; 13 – [39]; 14 – о.с. “Мир” [2]; 15 – измерения [40]; 16 – аппроксимация авторов ${{R}_{e}}_{{{\text{FEP}}}} \approx 0.3{{({{\alpha }_{i}}{{E}_{{iAK}}})}^{{1.268}}}$ · 10–25 см3/атомовО.

Для фиксированных значений энергии ионов АК и флюенса ${{F}_{{AK}}}$ из приведенных на рис. 3 и 4 зависимостей $\Delta {{M}_{W}}({{F}_{{AK}}})$ и ${{R}_{e}}({{E}_{{iAK}}})$ следует $\Delta {{M}_{W}}{\text{/}}\Delta {{M}_{k}}$ = = const и ${{R}_{e}}_{{_{W}}}{\text{/}}{{R}_{{{{e}_{k}}}}} = {\text{const}}$. Аналогичные данные при ${{E}_{{AK}}} = 5$ эВ (спутниковые измерения) и ${{E}_{{iAK}}}$ = = 20 эВ (стендовые испытания) для широкого ряда полимеров: $\Delta {{M}_{W}}{\text{/}}\Delta {{M}_{k}} \approx {\text{const}}$ и ${{\rho }_{W}}{{R}_{{{{e}_{W}}}}}{\text{/}}{{\rho }_{k}}{{R}_{{{{e}_{k}}}}}$ = = const приведены в [41].

На рис. 5 приведены зависимости потери массы полиимида kapton-H от флюенса высокоэнергичных ионов О+, ${\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$, ${\text{X}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ и ${{{\text{N}}}^{ + }}{\text{ + N}}_{2}^{ + }$.

Рис. 5.

Зависимости потери массы полиимида kapton-H от флюенса высокоэнергичных ионов О+, ${\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$, ${\text{X}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ и ${{{\text{N}}}^{ + }}{\text{ + N}}_{2}^{ + }$. 13 – данные [12]: 1 – облучение ионами АК с энергией ${{E}_{{iAK}}}$ = 30 эВ, 2 – ионы ${\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ (${{E}_{{i{\text{N}}{{{\text{e}}}^{ + }}}}} = 30$ эВ), 3 – ионы ${\text{X}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ (${{E}_{{i{\text{X}}{{{\text{e}}}^{ + }}}}} = 150$ эВ); 4 – усредненная кривая при облучении полиимида ионами ${\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ (${{E}_{{i{\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}}}} = 30$ эВ; ${{V}_{{i{\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}}}} = 1.7 \cdot {{10}^{4}}$ м/с) и ионами ${\text{X}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ (${{E}_{{i{\text{X}}{{{\text{e}}}^{ + }}}}} = 150$ эВ; ${{V}_{{i{\text{X}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}}}} = 1.7 \cdot {{10}^{4}}$ м/с); 5, 6 – измерения авторов в потоках ионов АК (${{E}_{{iAK}}} \approx 31.6$ эВ и 80 эВ); 7, 8 – расчетные значения ${{R}_{{{{e}_{k}}}}} = 0.4$i; ${{E}_{{iAK}}}{{)}^{{1.268}}}$ · 10–24 см3/атомовО для ${{E}_{{iAK}}} \approx 31.6$ эВ и 80 эВ; 9 – измерения авторов в потоке ионов N+ + ${\text{N}}_{2}^{ + }$ с энергией ${{E}_{i}} \approx 80$ эВ (потоки кислорода и азота – плазма со степенью диссоциации ионного компонента ${{\xi }_{{di}}} \approx 0.63$); 10 – усредняющая зависимость для измеренных значений $\Delta {{M}_{k}}$ в потоке ${{{\text{N}}}^{ + }} + {\text{N}}_{2}^{ + }$.

Унос массы полиимида при облучении ионами ${{{\text{O}}}^{{\text{ + }}}} + {\text{O}}_{2}^{ + }$ определяют два механизма: кинетическое распыление и химическое травление. При облучении полимера ионами ${\text{N}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$, ${\text{X}}{{{\text{e}}}^{{\text{ + }}}}$ и ${{{\text{N}}}^{ + }} + {\text{N}}_{2}^{ + }$ унос массы определяет только кинетическое распыление. Приведенные на рис. 5 данные свидетельствуют о том, что при одинаковых энергиях ионов унос массы полиимида kapton-H за счет кинетического распыления практически на порядок меньше $\Delta {{M}_{k}}$ из-за химического травления.

При проведении испытаний в потоке АК отношение измеренной величины $\delta {{x}_{W}}$ полимера к рассчитанной $\delta {{x}_{k}}$ для фиксированных значений ${{E}_{{iAK}}}$ и ${{F}_{{iAK}}}$ $\delta {{x}_{W}}({{E}_{{iAK}}}){\text{/}}\delta {{x}_{k}}({{E}_{{iAK}}})$ = $\delta {{x}_{W}}(5\,эВ){\text{/}}\delta {{x}_{k}}$ (5 эВ) позволяет оценить величину объемного коэффициента уноса массы испытуемого полимера: ${{R}_{{{{e}_{W}}}}}$ (5 эВ) = ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}(5\,эВ)\delta {{x}_{W}}{\text{/}}\delta {{x}_{k}}$ = ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}$ (5 эВ) $\Delta {{M}_{W}}{{\rho }_{k}}{\text{/}}\Delta {{M}_{k}}{{\rho }_{W}}$.

Искомыми величинами при проведении испытаний полимерных конструкционных материалов космических аппаратов при облучении их высокоэнергичными ионами АК являются объемный коэффициент уноса массы ${{R}_{{{{e}_{W}}}}}$ и флюенс ${{F}_{{AK}}}$, соответствующие условиям эксплуатации полимера в ионосфере Земли при энергиях атомов кислорода $E_{{AK}}^{{(N)}} \approx $ 5 эВ. Процедура определения ${{R}_{{{{e}_{W}}}}}$ ($E_{{AK}}^{{(N)}} \approx 5$ эВ) и $F_{{AK}}^{{(N)}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$ включает несколько последовательных операций:

1) на стенде в потоке ионов АК энергией ${{E}_{{iAK}}}$ и флюенсом ${{F}_{{iAK}}}({{E}_{{iAK}}})$ измеряется потеря массы $\Delta {{M}_{W}}({{E}_{{iAK}}}$, FiAK) материала или соответствующее уменьшение толщины полимерной пленки $\delta {{x}_{W}}({{E}_{{iAK}}}$, FiAK);

2) величина объемного коэффициента потери ионов полимера вычисляется по формуле ${{R}_{{{{e}_{W}}}}}({{E}_{{iAK}}}) = \delta {{x}_{W}}({{E}_{{iAK}}}){\text{/}}{{F}_{{iAK}}}({{E}_{{iAK}}})$;

3) для объемного коэффициента потери массы эталонного полимера kapton-H используется соотношение ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}({{F}_{{iAK}}})$ = $0.4{{({{\alpha }_{i}}{{E}_{{iAK}}})}^{{1.268}}} \cdot {{10}^{{ - 24}}}$ см3/атомовО;

4) при фиксированном ${{F}_{{iAK}}}$ флюенсе $\delta {{x}_{W}}({{E}_{{iAK}}}){\text{/}}\delta {{x}_{k}}({{E}_{{iAK}}})$ = ${{R}_{{{{e}_{W}}}}}({{E}_{{iAK}}}){\text{/}}{{R}_{{{{e}_{k}}}}}({{E}_{{iAK}}}) = {\text{const}}$ искомая величина объемного коэффициента потери массы определяется по формуле ${{R}_{{{{e}_{W}}}}}(5\;{\text{эВ}})$ = = ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}({{E}_{N}} = 5\;эВ){{R}_{{{{e}_{W}}}}}({{E}_{{iAK}}}){\text{/}}{{R}_{{{{e}_{k}}}}}({{E}_{{iAK}}})$, а искомый флюенс АК – из соотношения $F_{{AK}}^{{(N)}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$ = = $F_{{iAK}}^{{(M)}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}){{R}_{{{{e}_{k}}}}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}){\text{/}}{{R}_{{{{e}_{k}}}}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$.

При стендовых испытаниях ${{E}_{{iAK}}}$ = 80 эВ, ${{N}_{{iAK}}} \simeq 4 \cdot {{10}^{9}}$ см−3 и времени экспозиции полимера в потоке плазмы АК ${{t}^{{(M)}}} \simeq 3\;ч$ = 1.08 · 104 с и флюенсе $F_{{iAK}}^{{(M)}}(E_{{iAK}}^{{(M)}})$ = 1.34 · 1020 см−2 следует ${{R}_{{{{e}_{k}}}}}(E_{{iAK}}^{{(M)}}) \approx 1.04 \cdot {{10}^{{ - 22}}}$ см3/атомовО, а $F_{{AK}}^{{(N)}}(E_{{AK}}^{{(N)}})$ ≃ ≃ 4.5 · 1021 см−2. В ионосфере при $E_{{AK}}^{{(N)}} = 5$ эВ и среднем уровне солнечной активности флюенс $F_{{AK}}^{{(N)}}$ = 4.5 · 1021 см−2 соответствует годовой экспозиции полимера на высоте $h \approx 380$ км (МКС). При ${{E}_{{iAK}}} = 80$ эВ коэффициент ускорения стендовых испытаний полиимида kapton-H по формуле (5) равен ${{k}_{{2y}}} \approx 3000$, в то время как при облучении полимера потоком АК с энергией ионов ${{E}_{{iAK}}} = 5$ эВ коэффициент ускорения ${{k}_{{1y}}} \approx 20$формула (4).

ЗАКЛЮЧЕНИЕ

Разработана процедура проведения стендовых испытаний полимерных материалов на стойкость к длительному воздействию атомарного кислорода в ионосфере Земли. Процедура включает облучение полимеров высокоэнергичными (30−80 эВ) ионами АК потока разреженной плазмы и использование полиимида kapton-H в качестве эталонного материала. Критерием эквивалентности условий физического моделирования длительного взаимодействия “полимер – АК” в ионосфере и экспозиции “полимер – поток ионов” на стенде служит равенство потери массы материала. Для обоснования процедуры используются зависимости уноса массы и объемного коэффициента потери массы полиимида kapton-H и тефлона FEP-100A от флюенса и энергии ионов АК.

Установлено:

– при облучении полиимида kapton-H ионами АК с энергией 30−80 эВ унос массы за счет химического травления практически на порядок больше, чем потери, обусловленные кинетическим распылением;

– коэффициент ускорения стендовых испытаний при облучении полимера высокоэнергичными ионами ${{k}_{{2y}}} \approx 3000$ на два порядка больше, чем коэффициент ускорения ${{k}_{{1y}}} \approx 20$ в потоке АК с энергией частиц 5 эВ.

Список литературы

  1. Zimcik D.G., Maag C.R. // J. Spacecraft and Rockets. 1988. V. 25. № 2. P. 162. https://doi.org/10.2514/3.25965

  2. Мильничук В.К., Клиншпонт Э.Р., Пасевич О.Ф., Ананьева О.В. // Химия высоких энергий. 2013. Т. 47. № 6. С. 442. https://doi.org/10.7868/S0023119713060069

  3. Allegri G., Corradi S., Marchetti M., Milinchuk V.K. // Proc. 9th ISMSE, ESA, SP-540. Netherlands, Noordwijk. 2003. P. 255.

  4. Гужова С.К., Новиков Л.С., Черник В.Н., Скурат В.Е. // Модель космоса (научно-информационное издание). Т. 2. Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов / Под ред. М.И. Панасюка, Л.С. Новикова. М.: КДУ, 2007. С. 171.

  5. Кувалдина Е.В., Любимов В.К., Рыбкин В.В. // Химия высоких энергий. 1992. Т. 26. № 5. С. 475.

  6. Ананьева О.А., Милинчук В.К., Загорский Д.Л. // Химия высоких энергий. 2007. Т. 41. № 6. С. 445. https://doi.org/1134/S001814390706001X

  7. Шувалов В.А. Моделирование взаимодействия тел с ионосферой. Киев: Наукова думка, 1995.

  8. Yokota K., Tagawa M. // J. Spacecraft and Rockets. 2007. V. 4. № 2. P. 434. https://doi.org/10.2514/1.15038

  9. ECSS-E-10-04A. Space Engineering: Space Environment. Noordwijk: ESTRC, 2000.

  10. Pippin H.G., Normand E., Woll S.L.B. // J. Spacecr. Rockets. 2004. V. 41. № 3. P. 322. https://doi.org/10/ 2514/1.10725

  11. Kleiman J., Iskanderava Z., Duminenko Y., Horodetsky S. // Proc. 9th ISMSE. ESTEC. Noordwijk. 2003. P. 313.

  12. Наукоемкие технологии в технике. Т. 17. Воздействие космической среды на материалы и оборудование космических аппаратов / Под ред. К.С. Касаева. М.: ЗАО НИИ ЭНЦИТЕХ, 2000.

  13. Gonzalez R.I., Tomczac S.J., Milton T.K., Garton D.G. // Proc. 9th ISMSE. Noordwijk: ESTEC, 2003. P. 113.

  14. Войценя В.С., Гужова С.К., Титов В.И. Воздействие низкотемпературной плазмы и электромагнитного излучения на материалы. М.: Энергоатомиздат, 1991.

  15. Шувалов В.А., Письменный Н.И., Лазученков Д.Н., Кочубей Г.С. // ПТЭ. 2013. № 4. С. 98. https://doi.org/10.7868/S0032816213040125

  16. Шувалов В.А., Токмак Н.А., Резниченко Н.П. // ПТЭ. 2016. № 3. С. 114. https://doi.org/10.7868/S0032816216020269

  17. Грановский В.А. Электрический ток в газе. Общие вопросы электродинамики. М.−Л.: Гостехиздат, 1952.

  18. Мак-Даниель И. Процессы столкновений в ионизированных газах. М.: Мир, 1967.

  19. Альперт Я.Л. Распространение электромагнитных волн и ионосфера. М.: Наука, 1972.

  20. Mитчнер M., Кругер И. Частично ионизированные газы. М.: Мир, 1976.

  21. Райзер Ю.П. Физика газового разряда. М.: Наука, 1992.

  22. Голант В.Е., Жилинский А.П., Сахаров И.Е. Основы физики плазмы. М.: Атомиздат, 1977.

  23. Смирнов Б.М. Атомные столкновения и элементарные процессы в плазме. М.: Атомиздат, 1968.

  24. Бонд Дж., Уотсон К., Уэли Дж. Физическая теория газовой динамики. М.: Мир, 1968.

  25. Бугаенко Л.Т., Кузьмин М.Г., Полак Л.С. Химия высоких температур. М.: Химия, 1988.

  26. Полак Л.С., Овсянников А.А., Словецкий Д.И., Вурзель Ф.Б. Теоретическая и прикладная плазмохимия. М.: Наука, 1975.

  27. Гинзбург В.А. Распространение электромагнитных волн в плазме. М.: Наука, 1967.

  28. Смирнов Б.В. Возбужденные атомы. М.: Энергоиздат, 1982.

  29. Tagawa M., Yokota K. // Acta Astronautica. 2008. V. 62. № 2−3. P. 203. https://doi.org/10.1016/j.actaastro.2006.12.043

  30. Grossman E., Gouzman I., Lempert G., Noter Y., Lifshitz Y. // J. Spacecraft and Rockets. 2004. V. 41. № 3. P. 356. https://doi.org/10.2514/1.10890

  31. Banks B.A., Backus J.A., Manno M.V., Waters D.L., Cameron K.C., De Groh K.K. // J. Spacecraft and Rockets. 2011. V. 48. № 1. P. 14. https://doi.org/10.2514/1.48849

  32. Скурат В.Е. // Химия высоких энергий. 2016. Т. 50. № 6. С. 503. https://doi.org/10.7868/S0023119316060188

  33. De Groh K., Smith D.C. // Proc. 7th ISME ESA. SP-390. Toulouse, France. 1997. Noordwijk: ESTEC, 2997. P. 255.

  34. Miller S., Banks B., Waters D. // Proc. 10th ISMSE and 8th ICPMSE. Collioure, France. 2006. Noordwijk: ESTEC, 2006. P. 120.

  35. Никифоров А.П., Терновой А.Н., Самсонов П.В., Скурат В.Е. // Химическая физика. 2002. Т. 21. № 5. С. 73.

  36. Reddy M.R. // J. Materials Science. 1995. V. 2. P. 281. https://doi.org/10.1007/BF00354389

  37. Grossman E., Gouzman I. // Nucl. Instrum. and Methods in Phys. Res. 2003. V. B208. P. 48. https://doi.org/10.1016/S0168-583X(03)00640-2

  38. Banks B.A., Waters D.L., Thorson S.F., De Groh K.K., Snyder A. Miller S. // Proc. 10th ISMSE and 8th ICPMSE. 2006. Collioure, France. ESA. SP-616.

  39. Cazanbon B., Paillous A., Siffre J., Thomas R. // J. Spacecraft and Rockets. 1998. V. 35. № 6. P. 797. https://doi.org/10.2514/2.3402

  40. Vered R., Lempert G.D., Grossman E., Haruvy Y., Marom G., Singer G., Lifshitz Y. // Proc. 6th ISMSE. ESA. Noordwijk: Netherlands, 1994. P. 175.

  41. Chernik V.N., Novikov L.S., Akiskin A.I. // Proc. 10th ISMSE and 8th ICPMSE. Collioure, France. 2006. P. 127.

Дополнительные материалы отсутствуют.